IEC 60352-4 AMD 1-2000 Solderless connections - Part 4 Solderless non-accessible insulation displacement connections general requirements test methods and pract.pdf

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1、 STD.IEC b0352-4-ENGL 1794 111 4644691 0737320 620 111 NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD CE1 IEC 60352-4 1994 AMENDEMENT 1 AMENDMENT 1 2 O O O - O 7 Amendement 1 Connexions sans soudure - Partie 4: Connexions autodenudantes, non accessibles sans soudure - Rgles gnrales, mthodes dessai et g

2、uide pratique Amendment 1 Solderless connections - Part 4: Solderless non-accessible insulation displacement connections - General requirements, test methods and practical guidance O IEC 2000 Droits de reproduction rservs - Copyright - all rights reserved International Electrotechnical Commission Te

3、lefax: +41 22 919 0300 3, rue de Varemb Geneva, Switzerland IEC web site http:/www.iec.ch e-mail: inmailiec.ch CODE PRIX Commission Electrotechnique Internationale PRICECODE R International Electrotechnical Commission MemnyHaponHan HTPOTXHHWCH HOMHCCWR Pour prix. voir catalogue en vigueur O For pric

4、e. see current catalogue STD.IEC 60352-4-ENGL 3774 111 4844893 0737323 5b7 48Bl908iFDIS -2- 60352-4 amend. 1 O CEl:2000 48B1937iRVD AVANT-PROPOS Le prsent amendement a t tabli par le sous-comit 48B: Connec.,.urs, du comit d?tudes 48 de la CEI: Composants lectromcaniques et structures mcaniques pour

5、quipements lectroniques. t Le texte de cet amendement est issu des documents suivants: I FDIS I Rapportdevote I Le rapport de vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti l?approbation de cet amendement. Le comit a dcid que le contenu de la publication de ba

6、se et de ses amendements ne sera pas modifi avant 2003. A cette date, la publication sera reconduite; supprime; amende. remplace par une dition rvise, ou Page 2 SOMMAIRE Remplacer Section 4 et les articles 14 a 18 par ce qui suit: 14 15 16 17 18 19 20 21 22 SECTION 4 - GUIDE PRATIQUE Gnralits Inform

7、ations sur les outils Informations sur les contacts Informations sur les fils Informations sur les connexions Connexions CAD, visibles dans le botier Connexions CAD, caches dans le botier Informations gnrales complmentaires sur les connexions CAD des connecteurs m ulticon tacts Remarques finales 603

8、52-4 Amend. 1 O IEC:2000 -3- FDIS FOREWORD Report on Voting This amendment has been prepared by subcommittee 486: Connectors, of IEC technical committee 48: Electromechanical components and mechanical structures for electronic equipment. 48Bl908lFDIS 48819371 RVD Full information on the voting for t

9、he approval of this amendment can be found in the Report on Voting in the above table. The committee has decided that the contents of the base publication and its amendments will remain unchanged until 2003. At this date, the publication will be reconfirmed; withdrawn; amended. replaced by a revised

10、 edition, or Page 3 CONTENTS Replace Section 4 and clauses 14 to 18 by the following: 14 15 16 17 18 19 20 21 22 SECTION 4 - PRACTICAL GUIDANCE General Tool information Termination information Wire information Connection information ID connections, open housing design ID connections, closed housing

11、design General additional information about ID connections as part of a multi-pole connector Final remarks STDmIEC 60352-4-ENGL L774 111 4844891 0737323 33T -4- 60352-4 amend. 1 O CEI:2000 Page 8 INTRODUCTION Ajouter le nouveau texte suivant aprs la figure 1: Le guide 109 de la CE1 met en vidence le

12、 besoin de rduire lincidence dun produit sur lenvironnement naturel tout au long du cycle de vie du produit. II est entendu que quelques-unes des matires autorises dans cette norme peuvent avoir un effet ngatif sur lenvironnement. Ds que les progrs technologiques conduiront des alternatives acceptab

13、les pour ces matires, celles-ci seront limines de la prsente norme. Page 10 3 References normatives Ajouter les nouvelles rfrences suivantes: Guide 109 de la CEI:1995, Aspects lis a lenvironnement - Prise en compte dans les normes lectrotechniques de produit CE1 6051 2-1 1 -7:1996, Composants lectro

14、mcaniques pour quipements lectroniques - Procdures dessai de base et mthodes de mesure - Partie 1 I: Essais climatiques - Section 7: Essai I Ig: Essai de corrosion dans un flux de mlange de gaz Page 42 12.4.3 Corrosion en atmosphre industrielle Remplacer le titre et le texte de ce paragraphe par ce

15、qui suit: 12.4.3 Essai de corrosion dans un flux de melange de gaz Lessai doit tre effectu conformment lessai 1 lg de la CE1 60512-1 1-7. Sauf indication contraire dans la spcification particulire, les critres suivants doivent tre appliqus: Mthode: 1 Dure de lexposition: 10 jours NOTE Cette mthode e

16、st un essai de mlange de deux gaz. HS: so2: 100 * 20 (10-9 VOI/VOI) 500 * i 00 (1 0-9 VOI/VOI) 60352-4 Amend. 1 O IEC:2000 -5- Page 9 INTRODUCTION Add, after Figure 1, the following new text: IEC Guide 109 advocates the need to minimise the impact of a product on the natural environment throughout t

17、he product life cycle. It is understood that some of the materials permitted in this standard may have a negative environmental impact. As technological advances lead to acceptable alternatives for these materials, they will be eliminated from the standard. Page 11 3 Normative references Add the fol

18、lowing new references: IEC Guide 109: 1995, Environmental aspects - Inclusion in electrotechnical product standards IEC 6051 2-1 1 -7:1996, Electromechanical components for electronic equipment - Basic testing procedures and measuring methods - Part 7 1: Climatic tests - Section 7: Test 1 lg: Flowin

19、g mixed gas corrosion test Page 43 12.4.3 Corrosion, industrial atmosphere Replace the title and the text of this subclause by the following: 12.4.3 Flowing mixed gas, corrosion test The test shall be carried out in accordance with test 1 lg of IEC 60512-1 1-7. Unless otherwise specified by the deta

20、il specification, the following details shall apply: Method: 1 Duration of exposure: 10 days NOTE This test is a method with two mixed gases. H,S: so2: 100 i 20 (10-9 VOI/VOI) 500 i 100 (10-9 VOVVOI) STD.IEC 60352-4-ENGL 1774 4844891 O737325 LO2 Pour un diamtre de fil seulement 20 et 2 (optionnel)a

21、2b et 2 (optionnel)c -6- 60352-4 amend. 1 O CEI:2000 Pour une gamme de diamtres de fils Maximum Minimum 20 et 2 20 et 2 (0ptionnei)a (optionnel)a 2b et 2 ( optionnel)c Page 46 Remplacer le tableau 3 existant par le nouveau tableau 3 suivant: Programme dessais de base 13.2 Programme dessais complet 1

22、3.3 Tableau 3 - Nombre de specimens requis 13.2.2.1 20 et 2 (optionnel)a 13.2.2.2 13.3.2.1.1 2 (optionnel)a 13.3.2.1.2 20 13.3.2.1.3 20 13.3.2.1.4 20 13.3.2.2 Pro- I Paragra- I Connexions non rutilisables dessais diamtre de fil seulement Pour une gamme de diamtres de fils Maximum 20 et 2 (optionnel)

23、a 2 (optionnel)a 20 20 20 Minimum 20 et 2 (0ptionnel)a 2 (optionnel)a 20 20 20 40b et 2 (optionnel)c (0ptionnel)c 3 pour microsection : pour recablage des connexions (avec le mme contact, voir 12.2.3) pour recablage des connexions (avec le mme contact, voir 12.2.3) et microsection 13.2.2.1 Essai des

24、 connexions CAD non accessibles des contacts rutilisables ou non rutilisables Remplacer la premire phrase par ce qui suit: Pour essayer les connexions CAD non rutilisables, il est requis 20 spcimens et 2 spcimens (optionnel), et en complment, si les contacts qui admettent une gamme de diamtres de fi

25、ls doivent tre essays, 20 spcimens et 2 spcimens (optionnel). Page 48 13.2.2.2 Essais complmentaires des connexions CAD non accessibles des contacts rutilisables Remplacer la premire ligne par ce qui suit: Pour essayer les connexions CAD rutilisables, il est requis en complment 2 spcimens et 2 spcim

26、ens (optionnel). STD.IEC 60352-4-ENGL 1994 E 4844893 0737326 049 W Maximum 60352-4 Amend. 1 O IEC:2000 Minimum -7- Basic test schedu I e 13.2 Page 47 Replace the existing table 3 by the following new table 3: 13.2.2.1 13.2.2.2 Table 3 - Number of specimens required Full test schedule 13.3 13.3.2.1.1

27、 13.3.2.1.2 13.3.2.1.3 13.3.2.1.4 13.3.2.2 2 (optional)a 20 20 20 Non-reusable terminations I Reusable terminations 2 (optional)a 2 (optional)a 20 20 20 20 20 20 For one wire diameter only diameter only 20 and 2 (optional)a 20 and 2 (optional)a 20 and 2 (optional)a 20and2 I 20and2 I 20and2 (optional

28、)a (optional)a (optional)a I 1 2b and 2 I 2b and 2 (optional)c (optional)c 2 (optional)a 20 20 20 2 (optional)a 20 20 20 2 (optional)a 20 20 20 40b and 2 (optional)c 40b and I (optional)c a for microsection for repeated connection (with the same termination, see 12.2.3) for reDeated connection (with

29、 the same termination. see 12.2.3) and microsection 13.2.2.1 Testing of non-accessible ID connections with reusable or non-reusable terminations Replace the first sentence by the following. For testing non-reusable ID terminations, 20 specimens and 2 specimens (optional) are required, and additional

30、ly, if terminations suitable for a range of wire diameters are to be tested, 20 specimens and 2 specimens (optional). Page 49 13.2.2.2 Additional testing of non-accessible ID connections with reusable terminations Replace the first line by the following: For testing reusable ID terminations addition

31、ally 2 specimens and 2 specimens (optional) are required. STD.IEC 60352-4-ENGL 1794 111 4844893 0737327 T85 -8- 60352-4 amend. 1 O CEI:2000 Page 50 13.3.2.1 Essai des connexions CAD non accessibles des contacts rutilisables ou non rutilisables Remplacer la premire phrase par ce qui suit: Pour essaye

32、r les connexions CAD non rutilisables, il est requis 60 spcimens et 2 spcimens (optionnel), et en complment, si les contacts qui admettent une gamme de diamtres de fils doivent tre essays, 60 spcimens et 2 spcimens (optionnel). Page 56 13.3.2.2 Essai complmentaire des connexions CAD non accessibles

33、des contacts rutilisables Remplacer la premire ligne par ce qui suit: Pour essayer les connexions CAD rutilisables, il est requis en complment 40 specimens et 2 spcimens (optionnel). 60352-4 Amend. 1 O IEC:2000 -9- Page 51 13.3.2.1 Testing of non-accessible ID connections with reusable or non-reusab

34、le terminations Replace the first sentence by the following: For testing non-reusable ID terminations, 60 specimens and 2 specimens optional are required, and additionally, if terminations suitable for a range of wire diameters are to be tested, 60 specimens and 2 specimens (optional). Page 57 13.3.

35、2.2 Additional testing of non-accessible ID-connections with reusable terminations Replace the first line by the following: For testing reusable ID terminations additionally 40 specimens and 2 specimens (optional) are required. - 10- 60352-4 amend. 1 O CEI:2000 Page 58 Remplacer la figure 1 I exista

36、nte par la nouvelle figure 11 suivante: Examen des pices Examen gnral des contacts CAD et des fils 12.1 20 ou 22 kits de pieces pour contacts CAD rutilisables ou non rutilisables 2 x (20 ou 22) kits de pieces pour contacts CAD rutilisables ou non rutilisables admettant une gamme de fils ou en complm

37、ent 2 ou 4 kits de pices pour contacts CAD rutilisables - Examen visuel essai la - Examen de dimension et de masse essai 1 b Prparation des spcimens Examen initial des connexions CAD 20 ou 22 spcimens pour contacts CAD rutilisables ou non rutilisables 2 x (20 ou 22) spcimens pour contacts CAD rutili

38、sables ou non rutilisables admettant une gamme de fils ou en complment 2 ou 4 spcimens pour contacts CAD rutilisables I - Examen visuel essai la I Essais I Contact CAD rutilisable ou non rutilisable 20 spcimens ou pour une gamme de fils 2 x 20 spcimens Rsistance de contact 2d2k Pliage du fil 12.2.1

39、Variations rapides de temprature 1 1 d Chaleur humide Rsistance de contact 2d2b cyclique llrr une gamme de fils 2 x 2 spcimens - Microsection 12.2.4 u Contact CAD rutilisable en complment I 2 spcimens (essai optionnel) 2 spcimens - Rsistance - Recblage des - Rsistance connexions 12.2.3 - Recblage de

40、s connexions 12.2.3 1 - Microsection 12.2.4 IEC 155U2000 Figure 11 - Programme dessais de base (voir 13.2) 60352-4 Amend. 1 O IEC:2000 -11 - Non-reusable or reusable ID terminations Page 59 Reusable ID terminations additionally Replace the existing figure I1 by the following new figure 17: I Examina

41、tion of parts I General examination of ID terminations and wires 12.1 20 or 22 sets of parts for non-reusable or reusable ID terminations or 2 x (20 or 22) sets of parts for non-reusable or reusable ID terminations suitable for a wire range additionally 2 or 4 sets of parts for reusable ID terminati

42、ons I - Visual examination test la - Examination of dimensions and mass test 1 b I Preparation of specimens I Initial examination of ID connections 20 or 22 specimens for non-reusable or reusable ID terminations or 2 x (20 or 22) specimens for non-reusable or reusable ID terminations suitable for a

43、wire range additionally 2 or 4 specimens for reusable ID terminations 20 specimens or for a wire range 2 x 20 specimens Contact resistance 2d2b Bending of the wire 12.2.1 Rapid change of temperature 11 d Damp heat, Contact resistance 2d2t cyclic llrr 2 specimens or for a wire range 2 x 2 specimens 2

44、 specimens (optional test) (optional test) - Microsection 12.2.4 - Contact - Repeated con- nection and disconnection 12.2.3 resistance - Contact - Repeated con- nection and disconnection 12.2.3 - Microsection 12.2.4 I Figure 11 - Basic test schedule (see 13.2) STD.IEC 60352-4-ENGL 1994 I YB44891 073

45、7333 40b m - 12 - 60352-4 amend. 1 O CEI:2000 Page 60 Remplacer la figure 12 existante par la nouvelle figure 12 suivante: Examen des pices Examen gnral des contacts CAD et des fils 12.1 60 ou 62 kits de pices pour contacts CAD rutilisables ou non rutilisables 2 x (60 ou 62) kits de pices pour conta

46、cts CAD rutilisables ou non rutilisables ou admettant une gamme de fils en complment 40 ou 42 kits de pices pour contacts CAD rutilisables - Examen visuel essai la - Examen de dimension et de masse essai 1 b I Prparation des sdcimens Examen initial des connexions CAD 62 spcimens pour contacts CAD ru

47、tilisables ou non rutilisables 2 x (60 ou 62) spcimens pour contacts CAD rutilisables ou non rutilisables ou admettant une gamme de fils en complment 40 ou 42 spcimens pour contacts CAD rutilisables - Examen visuel essai la I - I I Essais 1 i I Contact CAD rutilisable ou non rutilisable - I Contact

48、CAD rutilisable en complment 12.2.3 I l I I 2 spcimens ou 20 spcimens ou 20 spcimens ou 20 spcimens ou 2 x 2 specimens 2 x 20 2x20 (essai optionnei)a) spcimens a) spcimens a) spcimens a) I I I I 20 spcimens 20 spcimens 2 spcimens (essai optionnel) - Rsistance de atmosphre - Squence climatique - Rsistance de contact 2d2b Il I ai Deux fois le nombre de spcimens pour une gamme de fils - Microsection 12.2.4 Groupe C Rsistance de contact 2d20 Vibrations plus perturbation de contact 6d et 6e Vanations rapides de temprature 11 ( Squence climatique 115 Rsistance de contact 2dZb Groupe D Flux de m