IEC 61788-9-2005 Superconductivity - Part 9 Measurements for bulk high temperature superconductors - Trapped flux density of large grain oxide superconductors《超导性.第9部分 成批高温超导体的测量.大粒氧化物超导体的陷波流量密度》.pdf

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1、 NORME INTERNATIONALECEIIECINTERNATIONAL STANDARD 61788-9Premire ditionFirst edition2005-04Supraconductivit Partie 9: Mesures pour supraconducteurs haute temprature massifs Densit de flux rsiduel des oxydes supraconducteurs gros grains Superconductivity Part 9: Measurements for bulk high temperature

2、 superconductors Trapped flux density of large grain oxide superconductors Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 61788-9:2005 Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1. Editions con

3、solides Les versions consolides de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant l

4、es amendements 1 et 2. Informations supplmentaires sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo-nibles dans

5、le Catalogue des publications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes qui a labor cette publication, ainsi que la liste des publications parues, sont galement

6、disponibles par lintermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/searchpub) vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux critres, comprenant des recherches textuelles, par comit dtudes o

7、u date de publication. Des informations en ligne sont galement disponibles sur les nouvelles publications, les publications remplaces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publications parues (www.iec.ch/online_news/justpub) est aussi dispo-nible par courr

8、ier lectronique. Veuillez prendre contact avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplmentaires, prenez contact avec le Service clients: Email: custserviec.ch Tl: +41

9、22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publication numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated editions The IEC is now publishing consolidated versions of its publications.

10、For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC publications The technical content of IEC publications is kept under consta

11、nt review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. Information on the subjects under

12、consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publications The on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.c

13、h/searchpub) enables you to search by a variety of criteria including text searches, technical committees and date of publication. On-line information is also available on recently issued publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda. IEC Just Published This summary of rec

14、ently issued publications (www.iec.ch/online_news/justpub) is also available by email. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding this publication or need further assistance, please contact the Customer

15、Service Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 . NORME INTERNATIONALECEIIECINTERNATIONAL STANDARD 61788-9Premire ditionFirst edition2005-04Supraconductivit Partie 9: Mesures pour supraconducteurs haute temprature massifs Densit de flux rsiduel des oxydes supracondu

16、cteurs gros grains Superconductivity Part 9: Measurements for bulk high temperature superconductors Trapped flux density of large grain oxide superconductors Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2005 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved A

17、ucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any mea

18、ns, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, SwitzerlandTelephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web:

19、 www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODE R Commission Electrotechnique InternationaleInternational Electrotechnical Commission 2 61788-9 CEI:2005 SOMMAIRE AVANT-PROPOS4 INTRODUCTION.8 1 Domaine dapplication 10 2 Rfrences normatives.10 3 Termes et dfinitions 10 4 Principe10 5 Exigences 14 6 Appareillage .16

20、7 Procdure de mesure .18 8 Prcision et justesse de la mthode dessai .18 9 Rapport dessai 20 Annexe A (informative) Informations complmentaires relatives aux Articles 3 6.22 Annexe B (informative) Mesures de la force de lvitation des supraconducteurs haute temprature massifs .28 Annexe C (informative

21、) Rapport dessai (exemple).34 Bibliographie.38 Figure 1 Principe de la densit de flux rsiduel dans un supraconducteur massif.12 Figure 2 Vue schmatique de linstallation exprimentale 14 Figure A.1 Dpendance de lpaisseur de la densit de flux rsiduel (Bz)22 Figure A.2 Dpendance de lentrefer du champ ma

22、gntique.26 Figure C.1 Carte de distribution de densit de flux rsiduel36 61788-9 IEC:2005 3 CONTENTS FOREWORD.5 INTRODUCTION.9 1 Scope.11 2 Normative references .11 3 Terms and definitions .11 4 Principle .11 5 Requirements .15 6 Apparatus.17 7 Measurement procedure.19 8 Precision and accuracy of the

23、 test method19 9 Test report21 Annex A (informative) Additional information related to Clauses 3 to 6.23 Annex B (informative) Measurements for levitation force of bulk high temperature superconductors .29 Annex C (informative) Test report (example)35 Bibliography39 Figure 1 Principle of trapped flu

24、x density in bulk superconductor .13 Figure 2 Schematic view of the experimental set-up15 Figure A.1 Thickness dependence of the trapped flux density (Bz).23 Figure A.2 Gap dependence of the field strength .27 Figure C.1 Distribution map of trapped flux density 37 4 61788-9 CEI:2005 COMMISSION LECTR

25、OTECHNIQUE INTERNATIONALE _ SUPRACONDUCTIVIT Partie 9: Mesures pour supraconducteurs haute temprature massifs Densit de flux rsiduel des oxydes supraconducteurs gros grains AVANT-PROPOS 1) La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est une organisation mondiale de normalisation compose de l

26、ensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI entre autres activits publie des Normes intern

27、ationales, des Spcifications techniques, des Rapports techniques, des Spcifications accessibles au public (PAS) et des Guides (ci-aprs dnomms “Publication(s) de la CEI“). Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer

28、. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2) Les dc

29、isions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesure du possible, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux de la CEI intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3) Les Publications de la CEI se prsentent s

30、ous la forme de recommandations internationales et sont agres comme telles par les Comits nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEI sassure de lexactitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne peut pas tre tenue responsable de lventuelle mauvaise

31、 utilisation ou interprtation qui en est faite par un quelconque utilisateur final. 4) Dans le but dencourager luniformit internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent, dans toute la mesure possible, appliquer de faon transparente les Publications de la CEI dans leurs publications nationa

32、les et rgionales. Toutes divergences entre toutes Publications de la CEI et toutes publications nationales ou rgionales correspondantes doivent tre indiques en termes clairs dans ces dernires. 5) La CEI na prvu aucune procdure de marquage valant indication dapprobation et nengage pas sa responsabili

33、t pour les quipements dclars conformes une de ses Publications. 6) Tous les utilisateurs doivent sassurer quils sont en possession de la dernire dition de cette publication. 7) Aucune responsabilit ne doit tre impute la CEI, ses administrateurs, employs, auxiliaires ou mandataires, y compris ses exp

34、erts particuliers et les membres de ses comits dtudes et des Comits nationaux de la CEI, pour tout prjudice caus en cas de dommages corporels et matriels, ou de tout autre dommage de quelque nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les cots (y compris les frais de justice) et les

35、dpenses dcoulant de la publication ou de lutilisation de cette Publication de la CEI ou de toute autre Publication de la CEI, ou au crdit qui lui est accord. 8) Lattention est attire sur les rfrences normatives cites dans cette publication. Lutilisation de publications rfrences est obligatoire pour

36、une application correcte de la prsente publication. 9) Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Publication de la CEI peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi

37、de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence. La Norme internationale CEI 61788-9 a t tablie par le Comit dEtudes 90 de la CEI: Supraconductivit. Le texte de cette norme est issu des documents suivants: FDIS Rapport de vote 90/167/FDIS 90/175/RVD Le rapport de vote indiqu dans

38、le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de cette norme. Cette publication a t rdige selon les Directives ISO/CEI, Partie 2. . 61788-9 IEC:2005 5 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION _ SUPERCONDUCTIVITY Part 9: Measurements for bulk high temperature sup

39、erconductors Trapped flux density of large grain oxide superconductors FOREWORD 1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of IEC is to promote intern

40、ational co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, IEC publishes International Standards, Technical Specifications, Technical Reports, Publicly Available Specifications (PAS) and Guides (hereafter

41、 referred to as “IEC Publication(s)”). Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participa

42、te in this preparation. IEC collaborates closely with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations. 2) The formal decisions or agreements of IEC on technical matters express, as nearly as possible, an int

43、ernational consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all interested IEC National Committees. 3) IEC Publications have the form of recommendations for international use and are accepted by IEC National Committees in that sense. While all reas

44、onable efforts are made to ensure that the technical content of IEC Publications is accurate, IEC cannot be held responsible for the way in which they are used or for any misinterpretation by any end user. 4) In order to promote international uniformity, IEC National Committees undertake to apply IE

45、C Publications transparently to the maximum extent possible in their national and regional publications. Any divergence between any IEC Publication and the corresponding national or regional publication shall be clearly indicated in the latter. 5) IEC provides no marking procedure to indicate its ap

46、proval and cannot be rendered responsible for any equipment declared to be in conformity with an IEC Publication. 6) All users should ensure that they have the latest edition of this publication. 7) No liability shall attach to IEC or its directors, employees, servants or agents including individual

47、 experts and members of its technical committees and IEC National Committees for any personal injury, property damage or other damage of any nature whatsoever, whether direct or indirect, or for costs (including legal fees) and expenses arising out of the publication, use of, or reliance upon, this

48、IEC Publication or any other IEC Publications. 8) Attention is drawn to the Normative references cited in this publication. Use of the referenced publications is indispensable for the correct application of this publication. 9) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this IEC Publication may be the subject of patent rights. IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. International Standard IEC 61788-9 has been prepared by