IEC 60664-3-2003 Insulation coordination for equipment within low-voltage systems - Part 3 Use of coating potting or moulding for protection against pollution《低压系统内设备的绝缘配合.第3部分 防污染用铸封或压模涂层的使用》.pdf

《IEC 60664-3-2003 Insulation coordination for equipment within low-voltage systems - Part 3 Use of coating potting or moulding for protection against pollution《低压系统内设备的绝缘配合.第3部分 防污染用铸封或压模涂层的使用》.pdf》由会员分享，可在线阅读，更多相关《IEC 60664-3-2003 Insulation coordination for equipment within low-voltage systems - Part 3 Use of coating potting or moulding for protection against pollution《低压系统内设备的绝缘配合.第3部分 防污染用铸封或压模涂层的使用》.pdf（56页珍藏版）》请在麦多课文档分享上搜索。

1、NORMEINTERNATIONALECEIIECINTERNATIONALSTANDARD60664-3Deuxime ditionSecond edition2003-02Coordination de lisolement des matrielsdans les systmes (rseaux) basse tension Partie 3:Utilisation de revtement, dempotage ou demoulage pour la protection contre la pollutionInsulation coordination for equipment

2、within low-voltage systems Part 3:Use of coating, potting or mouldingfor protection against pollutionNumro de rfrenceReference numberCEI/IEC 60664-3:2003PUBLICATION FONDAMENTALE DE SCURITBASIC SAFETY PUBLICATIONCopyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IE

3、CNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-Numrotation des publicationsDepuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEIsont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1devient la CEI 60034-1.Editions consolidesLes versions consolides de certaines publicat

4、ions de laCEI incorporant les amendements sont disponibles. Parexemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquentrespectivement la publication de base, la publication debase incorporant lamendement 1, et la publication debase incorporant les amendements 1 et 2.Informations supplmentairessur les p

5、ublications de la CEILe contenu technique des publications de la CEI estconstamment revu par la CEI afin quil reflte ltatactuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo-nibles dans le Catalogue des publications de la CEI(voir ci-dessous) en plu

6、s des nouvelles ditions,amendements et corrigenda. Des informations sur lessujets ltude et lavancement des travaux entreprispar le comit dtudes qui a labor cette publication,ainsi que la liste des publications parues, sontgalement disponibles par lintermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Cat

7、alogue des publications de la CEILe catalogue en ligne sur le site web de la CEI(http:/www.iec.ch/searchpub/cur_fut.htm) vous permetde faire des recherches en utilisant de nombreuxcritres, comprenant des recherches textuelles, parcomit dtudes ou date de publication. Desinformations en ligne sont gal

8、ement disponibles surles nouvelles publications, les publications rempla-ces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just PublishedCe rsum des dernires publications parues(http:/www.iec.ch/online_news/justpub/jp_entry.htm)est aussi disponible par courrier lectronique.Veuillez prendre contact a

9、vec le Service client(voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clientsSi vous avez des questions au sujet de cettepublication ou avez besoin de renseignementssupplmentaires, prenez contact avec le Serviceclients:Email: custserviec.chTl: +41 22 919 02 11Fax: +41 22 919 03 00Publication numbe

10、ringAs from 1 January 1997 all IEC publications areissued with a designation in the 60000 series. Forexample, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.Consolidated editionsThe IEC is now publishing consolidated versions of itspublications. For example, edition numbers 1.0, 1.1and 1.2 refer, respec

11、tively, to the base publication,the base publication incorporating amendment 1 andthe base publication incorporating amendments 1and 2.Further information on IEC publicationsThe technical content of IEC publications is keptunder constant review by the IEC, thus ensuring thatthe content reflects curr

12、ent technology. Informationrelating to this publication, including its validity, isavailable in the IEC Catalogue of publications(see below) in addition to new editions, amendmentsand corrigenda. Information on the subjects underconsideration and work in progress undertaken by thetechnical committee

13、 which has prepared thispublication, as well as the list of publications issued,is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publicationsThe on-line catalogue on the IEC web site(http:/www.iec.ch/searchpub/cur_fut.htm) enablesyou to search by a variety of criteria

14、 including textsearches, technical committees and date ofpublication. On-line information is also availableon recently issued publications, withdrawn andreplaced publications, as well as corrigenda. IEC Just Published This summary of recently issued publications(http:/www.iec.ch/online_news/justpub/

15、jp_entry.htm)is also available by email. Please contact theCustomer Service Centre (see below) for furtherinformation. Customer Service CentreIf you have any questions regarding thispublication or need further assistance, pleasecontact the Customer Service Centre:Email: custserviec.chTel: +41 22 919

16、 02 11Fax: +41 22 919 03 00.Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-NORMEINTERNATIONALECEIIECINTERNATIONALSTANDARD60664-3Deuxime ditionSecond edition2003-02Coordination

17、de lisolement des matrielsdans les systmes (rseaux) basse tension Partie 3:Utilisation de revtement, dempotage ou demoulage pour la protection contre la pollutionInsulation coordination for equipmentwithin low-voltage systems Part 3:Use of coating, potting or mouldingfor protection against pollution

18、Pour prix, voir catalogue en vigueurFor price, see current catalogue IEC 2003 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reservedAucune partie de cette publication ne peut tre reproduite niutilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd,lectronique ou mcanique, y compris la photo

19、-copie et lesmicrofilms, sans laccord crit de lditeur.No part of this publication may be reproduced or utilized in anyform or by any means, electronic or mechanical, includingphotocopying and microfilm, without permission in writing fromthe publisher.International Electrotechnical Commission, 3, rue

20、 de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, SwitzerlandTelephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.chCommission Electrotechnique InternationaleInternational Electrotechnical Commission TCODE PRIXPRICE CODEPUBLICATION FONDAMENTALE DE SCURITBASIC SAFETY PUBLI

21、CATIONCopyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,- 2 60664-3 CEI:2003SOMMAIREAVANT-PROPOS . 4INTRODUCTION .101 Domaine dapplication.122 Rfrences normatives .123 Dfinitions 1

22、44 Prescriptions de conception 164.1 Principes .164.2 Plage dapplication concernant lenvironnement.164.3 Prescriptions pour les types de protection .164.4 Procdures de dimensionnement.185 Essais.205.1 Gnralits205.2 Eprouvettes pour effectuer les essais de revtements .225.3 Echantillons pour les essa

23、is des moulages et de lempotage .225.4 Prparation des prouvettes dessai 225.5 Essai de rsistance lraflure 225.6 Examen visuel .245.7 Conditionnement des prouvettes dessai 245.8 Essais mcaniques et lectriques aprs conditionnement et lectromigration 285.9 Essais additionnels32Annexe A (normative) Ordr

24、e des essais .34Annexe B (normative) Dcisions du comit dtudes 36Annexe C (normative) Cartes cblage imprim pour revtements dessai 38Bibliographie.46Figure 1 Essai de rsistance lraflure pour couches de protection24Figure C.1 Configuration de lprouvette dessai 42Figure C.2 Configuration des pastilles e

25、t des conducteurs adjacents44Tableau 1 Espacements minimaux pour la protection de type 220Tableau 2 Conditionnement de chaleur sche 26Tableau 3 Degrs des svrits pour variation rapide de temprature26Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for Resa

26、leNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-60664-3 IEC:2003 3 CONTENTSFOREWORD 5INTRODUCTION .111 Scope .132 Normative references133 Definitions 154 Design requirements.174.1 Principles 174.2 Application range regarding environment.174.3 Requirements for the types of protec

27、tion174.4 Dimensioning procedures 195 Tests 215.1 General .215.2 Specimens for testing coatings 235.3 Specimens for testing mouldings and potting .235.4 Preparation of test specimens235.5 Scratch resistance test 235.6 Visual examination 255.7 Conditioning of the test specimens 255.8 Mechanical and e

28、lectrical tests after conditioning and electromigration295.9 Additional tests33Annex A (normative) Test sequence.35Annex B (normative) Technical committees decisions37Annex C (normative) Printed wiring board for testing coatings39Bibliography47Figure 1 Scratch resistance test for protecting layers .

29、25Figure C.1 Configuration of the test specimen43Figure C.2 Configuration of lands and adjacent conductors 45Table 1 Minimum spacings for type 2 protection .21Table 2 Dry heat conditioning.27Table 3 Degrees of severities for rapid change of temperature.27Copyright International Electrotechnical Comm

30、ission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,- 4 60664-3 CEI:2003INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION_COORDINATION DE LISOLEMENT DES MATRIELSDANS LES SYSTMES (RSEAUX) BASSE TENSION Partie 3: Utilisation de revtement

31、, dempotage ou de moulagepour la protection contre la pollutionAVANT-PROPOS1) La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisationcompose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI apour objet de favoriser la

32、coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans lesdomaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI, entre autres activits, publie des Normesinternationales. Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit nationalintress par le s

33、ujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et nongouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitementavec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre lesdeux o

34、rganisations.2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesuredu possible, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux intressssont reprsents dans chaque comit dtudes.3) Les documents produits se prsent

35、ent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publiscomme normes, spcifications techniques, rapports techniques ou guides et agrs comme tels par lesComits nationaux.4) Dans le but dencourager lunification internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent appliquer defaon tran

36、sparente, dans toute la mesure possible, les normes internationales de la CEI dans leurs normesnationales et rgionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou rgionalecorrespondante doit tre indique en termes clairs dans cette dernire.5) La CEI na fix aucune procdure conc

37、ernant le marquage comme indication dapprobation et sa responsabilitnest pas engage quand un matriel est dclar conforme lune de ses normes.6) Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente norme internationale peuvent fairelobjet de droits de proprit intellectuelle ou de dro

38、its analogues. La CEI ne saurait tre tenue pourresponsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence.La Norme internationale CEI 60664-3 a t tablie par le comit dtudes 109 de la CEI:Coordination de lisolement pour le matriel basse tension.Cette secon

39、de dition annule et remplace la premire dition parue en 1992, dont elleconstitue une rvision technique.Elle a le statut de publication fondamentale de scurit, conformment au Guide CEI 104.Le texte de la prsente norme est issu des documents suivants:FDIS Rapport de vote109/24/FDIS 109/31/RVDLe rappor

40、t de vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayantabouti lapprobation de cette norme.Cette publication a t rdige selon les Directives ISO/CEI, Partie 2.Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reprodu

41、ction or networking permitted without license from IHS-,-60664-3 IEC:2003 5 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION_INSULATION COORDINATION FOR EQUIPMENTWITHIN LOW-VOLTAGE SYSTEMS Part 3: Use of coating, potting or mouldingfor protection against pollutionFOREWORD1) The IEC (International Electrote

42、chnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprisingall national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promoteinternational co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. Tothis

43、end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation isentrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with mayparticipate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organiz

44、ations liaisingwith the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the InternationalOrganization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between thetwo organizations.2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical

45、 matters express, as nearly as possible, aninternational consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representationfrom all interested National Committees.3) The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the fo

46、rmof standards, technical specifications, technical reports or guides and they are accepted by the NationalCommittees in that sense.4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC InternationalStandards transparently to the maximum extent possible in

47、their national and regional standards. Anydivergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearlyindicated in the latter.5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for anyequipment declared to

48、be in conformity with one of its standards.6) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the subjectof patent rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.International Standard IEC 60664-3 has been prepared by IEC technical committee 109:Insulation coordination for lo