IEC 60534-4-2006 Industrial process control valves - Part 4 Inspection and routine testing《工业过程控制阀.第4部分 检验和常规试验》.pdf

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1、 NORME INTERNATIONALECEIIECINTERNATIONAL STANDARD 60534-4Troisime ditionThird edition2006-06Vannes de rgulation des processus industriels Partie 4: Inspection et essais individuels Industrial-process control valves Part 4: Inspection and routine testing Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 6053

2、4-4:2006 Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1. Editions consolides Les versions consolides de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exe

3、mple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Informations supplmentaires sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications d

4、e la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo-nibles dans le Catalogue des publications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des i

5、nformations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes qui a labor cette publication, ainsi que la liste des publications parues, sont galement disponibles par lintermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en li

6、gne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/searchpub) vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux critres, comprenant des recherches textuelles, par comit dtudes ou date de publication. Des informations en ligne sont galement disponibles sur les nouvelles publications, les publicatio

7、ns remplaces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publications parues (www.iec.ch/online_news/justpub) est aussi dispo-nible par courrier lectronique. Veuillez prendre contact avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clien

8、ts Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplmentaires, prenez contact avec le Service clients: Email: custserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publication numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a de

9、signation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated editions The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorpor

10、ating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC publications The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to this publicatio

11、n, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as

12、the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publications The on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/searchpub) enables you to search by a variety of criteria including text searches, technical committees and date of pub

13、lication. On-line information is also available on recently issued publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda. IEC Just Published This summary of recently issued publications (www.iec.ch/online_news/justpub) is also available by email. Please contact the Customer Servic

14、e Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 . NORME INTERNATIONALECEIIECINTERNATION

15、AL STANDARD 60534-4Troisime ditionThird edition2006-06Vannes de rgulation des processus industriels Partie 4: Inspection et essais individuels Industrial-process control valves Part 4: Inspection and routine testing Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2006 Droit

16、s de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publicati

17、on may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, SwitzerlandTelephone: +41 22 919

18、 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODE S Commission Electrotechnique InternationaleInternational Electrotechnical Commission 2 60534-4 CEI:2006 SOMMAIRE AVANT-PROPOS 4 1 Domaine dapplication.10 2 Rfrences normatives .10 3 Termes et dfinitions .10 4

19、 Exigences.14 4.1 Epreuve hydrostatique .14 4.2 Essai de fuite au sige.14 4.3 Essai de garniture dtanchit 16 4.4 Essai de course nominale 16 4.5 Essais de zone dinsensibilit.16 4.6 Essais complmentaires 16 5 Procdures dessai .16 5.1 Instruments de mesure 16 5.2 Fluide dessai 18 5.3 Outillage dessai

20、18 5.4 Epreuve hydrostatique .18 5.5 Fuite au sige22 5.6 Essai de la garniture dtanchit 26 5.7 Essai de course nominale de la vanne .26 5.8 Essais de zone dinsensibilit.28 5.8.1 Appareillage dessai.28 5.8.2 Procdure dessai 28 5.8.3 Critres dacceptation 30 Annexe A (informative) Exemples de calculs d

21、e fuite au sige .32 Annexe B (informative) Rcapitulation des inspections et essais individuels (selon la CEI 60534-4) 40 Figure 1 Hystrsis et zone dinsensibilit.12 Tableau 1 Essais14 Tableau 2 Dure minimale de lpreuve hydrostatique de lenveloppe .20 Tableau 3 Fuite au sige maximale pour chaque class

22、e de fuite .24 Tableau 4 Valeurs maximales recommandes de lerreur de zone dinsensibilit.30 Tableau A.1 Dbit maximal admissible de fuite au sige pour chaque classe de fuite38 60534-4 IEC:2006 3 CONTENTS FOREWORD.5 1 Scope.11 2 Normative references .11 3 Terms and definitions .11 4 Requirements .15 4.

23、1 Hydrostatic test .15 4.2 Seat leakage test 15 4.3 Packing test 17 4.4 Rated valve travel test.17 4.5 Dead band tests 17 4.6 Additional tests17 5 Tests procedures17 5.1 Measuring instruments 17 5.2 Test medium .19 5.3 Test fixtures 19 5.4 Hydrostatic test .19 5.5 Seat leak test 23 5.6 Packing test

24、27 5.7 Rated valve travel test.27 5.8 Dead band tests 29 Annex A (informative) Example calculations of seat leakage33 Annex B (informative) Inspection and routine testing checklist (per IEC 60534-4) .41 Figure 1 Hysteresis and dead band13 Table 1 Tests.15 Table 2 Minimum duration of hydrostatic test

25、s of shell .21 Table 3 Maximum seat leakage for each leakage class 25 Table 4 Maximum recommended values of dead band error.31 Table A.1 Maximum seat leakage for each leakage class.39 4 60534-4 CEI:2006 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ VANNES DE RGULATION DES PROCESSUS INDUSTRIELS Partie

26、4: Inspection et essais individuels AVANT-PROPOS 1) La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration international

27、e pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI entre autres activits publie des Normes internationales, des Spcifications techniques, des Rapports techniques, des Spcifications accessibles au public (PAS) et des Guides (ci-aprs dn

28、omms “Publication(s) de la CEI“). Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux.

29、La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesure du possible, un accord internationa

30、l sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux de la CEI intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3) Les Publications de la CEI se prsentent sous la forme de recommandations internationales et sont agres comme telles par les Comits nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnab

31、les sont entrepris afin que la CEI sassure de lexactitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne peut pas tre tenue responsable de lventuelle mauvaise utilisation ou interprtation qui en est faite par un quelconque utilisateur final. 4) Dans le but dencourager luniformit internationale,

32、 les Comits nationaux de la CEI sengagent, dans toute la mesure possible, appliquer de faon transparente les Publications de la CEI dans leurs publications nationales et rgionales. Toutes divergences entre toutes Publications de la CEI et toutes publications nationales ou rgionales correspondantes d

33、oivent tre indiques en termes clairs dans ces dernires. 5) La CEI na prvu aucune procdure de marquage valant indication dapprobation et nengage pas sa responsabilit pour les quipements dclars conformes une de ses Publications. 6) Tous les utilisateurs doivent sassurer quils sont en possession de la

34、dernire dition de cette publication. 7) Aucune responsabilit ne doit tre impute la CEI, ses administrateurs, employs, auxiliaires ou mandataires, y compris ses experts particuliers et les membres de ses comits dtudes et des Comits nationaux de la CEI, pour tout prjudice caus en cas de dommages corpo

35、rels et matriels, ou de tout autre dommage de quelque nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les cots (y compris les frais de justice) et les dpenses dcoulant de la publication ou de lutilisation de cette Publication de la CEI ou de toute autre Publication de la CEI, ou au crdit

36、 qui lui est accord. 8) Lattention est attire sur les rfrences normatives cites dans cette publication. Lutilisation de publications rfrences est obligatoire pour une application correcte de la prsente publication. 9) Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Publicatio

37、n de la CEI peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence. La Norme internationale CEI 60534-4 a t tablie par le sous-comit 65B:

38、 Dispositifs, du comit dtudes 65 de la CEI: Mesure et commande dans les processus industriels. Cette troisime dition annule et remplace la deuxime dition parue en 1999, dont elle constitue une rvision technique. Les modifications techniques majeures par rapport ldition prcdente sont les suivantes. L

39、a norme a t rvise pour : a) clarifier la lecture des exigences; b) introduire la mesure de la classe dtanchit V avec lair; c) supprimer des exigences dinspection car elle sont du domaine contractuel. 60534-4 IEC:2006 5 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION _ INDUSTRIAL-PROCESS CONTROL VALVES Par

40、t 4: Inspection and routine testing FOREWORD 1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of IEC is to promote international co-operation on all questio

41、ns concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, IEC publishes International Standards, Technical Specifications, Technical Reports, Publicly Available Specifications (PAS) and Guides (hereafter referred to as “IEC Publication(s)

42、”). Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. IEC collabo

43、rates closely with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations. 2) The formal decisions or agreements of IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international consensus of opinion on

44、the relevant subjects since each technical committee has representation from all interested IEC National Committees. 3) IEC Publications have the form of recommendations for international use and are accepted by IEC National Committees in that sense. While all reasonable efforts are made to ensure t

45、hat the technical content of IEC Publications is accurate, IEC cannot be held responsible for the way in which they are used or for any misinterpretation by any end user. 4) In order to promote international uniformity, IEC National Committees undertake to apply IEC Publications transparently to the

46、 maximum extent possible in their national and regional publications. Any divergence between any IEC Publication and the corresponding national or regional publication shall be clearly indicated in the latter. 5) IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered respo

47、nsible for any equipment declared to be in conformity with an IEC Publication. 6) All users should ensure that they have the latest edition of this publication. 7) No liability shall attach to IEC or its directors, employees, servants or agents including individual experts and members of its technic

48、al committees and IEC National Committees for any personal injury, property damage or other damage of any nature whatsoever, whether direct or indirect, or for costs (including legal fees) and expenses arising out of the publication, use of, or reliance upon, this IEC Publication or any other IEC Publications. 8) Attention is drawn to the Normative references cited in this publication. Use of the referenced publications is indispensable for the correct application of this pub