IEC 60480-2004 Guidelines for the checking and treatment of sulfur hexafluoride (SF6) taken from electrical equipment and specification for its re-use《从电气设备中取出六氟化硫(SF6)的检验和处理指南及其再使用规范》.pdf

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1、 NORME INTERNATIONALECEIIECINTERNATIONAL STANDARD 60480Deuxime ditionSecond edition2004-10Lignes directrices relatives au contrle et au traitement de lhexafluorure de soufre (SF6) prlev sur le matriel lectrique et spcification en vue de sa rutilisation Guidelines for the checking and treatment of su

2、lfur hexafluoride (SF6) taken from electrical equipment and specification for its re-use Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 60480:2004 Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1.

3、Editions consolides Les versions consolides de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base i

4、ncorporant les amendements 1 et 2. Informations supplmentaires sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo-

5、nibles dans le Catalogue des publications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes qui a labor cette publication, ainsi que la liste des publications parues, so

6、nt galement disponibles par lintermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/searchpub) vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux critres, comprenant des recherches textuelles, par co

7、mit dtudes ou date de publication. Des informations en ligne sont galement disponibles sur les nouvelles publications, les publications remplaces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publications parues (www.iec.ch/online_news/justpub) est aussi dispo-nib

8、le par courrier lectronique. Veuillez prendre contact avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplmentaires, prenez contact avec le Service clients: Email: custserviec

9、.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publication numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated editions The IEC is now publishing consolidated versions of its pu

10、blications. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC publications The technical content of IEC publications is kept

11、under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. Information on the sub

12、jects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publications The on-line catalogue on the IEC web sit

13、e (www.iec.ch/searchpub) enables you to search by a variety of criteria including text searches, technical committees and date of publication. On-line information is also available on recently issued publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda. IEC Just Published This su

14、mmary of recently issued publications (www.iec.ch/online_news/justpub) is also available by email. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding this publication or need further assistance, please contact t

15、he Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 . NORME INTERNATIONALECEIIECINTERNATIONAL STANDARD 60480Deuxime ditionSecond edition2004-10Lignes directrices relatives au contrle et au traitement de lhexafluorure de soufre (SF6) prlev sur le matriel lect

16、rique et spcification en vue de sa rutilisation Guidelines for the checking and treatment of sulfur hexafluoride (SF6) taken from electrical equipment and specification for its re-use Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2004 Droits de reproduction rservs Copyrig

17、ht - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized

18、 in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, SwitzerlandTelephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00

19、 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODE V Commission Electrotechnique InternationaleInternational Electrotechnical Commission 2 60480 CEI:2004 SOMMAIRE AVANT-PROPOS 6 INTRODUCTION.10 1 Domaine dapplication.12 2 Rfrences normatives .12 3 Termes et dfinitions 14 3.1 Termes gnraux 14

20、 3.2 Aspects lis aux matriaux 14 3.3 Aspects lis lenvironnement.16 4 Applications types du SF6.18 5 Impurets et leurs sources18 5.1 Remarque dintroduction18 5.2 Impurets du fait du traitement et en service18 5.3 Impurets dans le matriel possdant uniquement une fonction disolation.18 5.4 Impurets dan

21、s le matriel de coupure.18 5.5 Impurets dues des arcs internes .20 6 Aspects lis lenvironnement20 6.1 Remarque dintroduction20 6.2 Impact sur lcosystme 20 6.3 Appauvrissement en ozone20 6.4 Effet de serre 20 6.5 Produits de dcomposition.20 6.6 Conclusion 20 7 Sant et scurit.22 7.1 Remarque dintroduc

22、tion22 7.2 Prcautions ncessaires prendre avec le SF6.22 7.3 Prcautions ncessaires prendre avec le SF6 usag .22 7.4 Considrations dordre sanitaire.24 8 Spcification de la qualit pour la rutilisation de SF6 dans un appareillage nouveau ou existant24 8.1 Logigramme de dcision pour le SF6 retir du matri

23、el lectrique pour le traitement24 8.2 Niveaux dimpurets maximum acceptables pour la rutilisation du SF6.28 9 Mthodes analytiques pour le SF6 et leur signification .28 9.1 Gnralits28 9.2 Analyse sur site .30 9.3 Analyse en laboratoire .32 10 Traitement, stockage et transport34 10.1 Remarque dintroduc

24、tion34 10.2 Matriel de traitement du gaz.34 10.3 Prescriptions de scurit gnrales .34 10.4 Condition du SF6dans une enveloppe36 10.5 Extraction de SF6usag dune enveloppe 38 10.6 Stockage et transport du SF6 usag.38 60480 IEC:2004 3 CONTENTS FOREWORD.7 INTRODUCTION.11 1 Scope.13 2 Normative references

25、13 3 Terms and definitions .15 3.1 General terms15 3.2 Material aspects 15 3.3 Environmental aspects.17 4 Typical applications of SF619 5 Impurities and their sources 19 5.1 Introductory remark .19 5.2 Impurities from handling and in service 19 5.3 Impurities in equipment having only an insulating f

26、unction19 5.4 Impurities in switching equipment.19 5.5 Impurities from internal arcs 21 6 Environmental aspects21 6.1 Introductory remark .21 6.2 Impact on the ecosystem .21 6.3 Ozone depletion 21 6.4 Greenhouse effect .21 6.5 Decomposition products 21 6.6 Conclusion 21 7 Health and safety23 7.1 Int

27、roductory remark .23 7.2 Precautions necessary with SF6.23 7.3 Necessary precautions with used SF623 7.4 Health considerations 25 8 Quality specification for re-use of SF6in new or existing switchgear 25 8.1 Decision flowchart for SF6 removed from electrical equipment for treatment.25 8.2 Maximum ac

28、ceptable impurity levels for re-use of SF6.29 9 Analytical methods for SF6 and their significance 29 9.1 General .29 9.2 On-site analysis.31 9.3 Laboratory analysis33 10 Handling, storage and transportation.35 10.1 Introductory remark .35 10.2 Gas handling equipment 35 10.3 General safety requiremen

29、ts 35 10.4 Condition of the SF6in an enclosure 37 10.5 Removing used SF6from an enclosure 39 10.6 Storage and transportation of used SF6.39 4 60480 CEI:2004 Annexe A (informative) Variation maximale des niveaux dhumidit tolrables pour la rutilisation .40 Annexe B (informative) Description des diffre

30、ntes mthodes danalyse (sur site et en laboratoire) .44 Annexe C (informative) Recommandations et procdures de rgnration sur site60 Bibliographie.66 Figure 1 Logigramme de dcision pour la destination du SF6 retir .26 Figure 2 Logigramme de dcision pour une analyse sur site .30 Figure A.1 Niveau dhumi

31、dit (ppmv) en fonction de la pression de gaz p40 Figure B.1 Montage dchantillonnage du gaz SF6: vacuation44 Figure B.2 Montage dchantillonnage du gaz SF6: purge .46 Figure B.3 Chromatogramme de gaz type de SF6dcompos (analyse ralise avec une colonne Q Porapak)52 Figure B.4 Spectre IR du SF6 contamin

32、 58 Tableau 1 Origine des impurets du SF618 Tableau 2 Niveaux dimpurets acceptable maximum .28 Tableau 3 Mthodes sur site.32 Tableau 4 Mthodes de laboratoire.32 Tableau B.1 Rponse relative du dtecteur de conductivit thermique 54 Tableau B.2 Frquences des pics dabsorption pour le SF6et ses impurets 5

33、8 Tableau C.1 Oprations suggres de rgnration .60 Tableau C.2 Adsorbants types pour diverses impurets du SF662 Tableau C.3 Rsum des rgles de transport du SF664 60480 IEC:2004 5 Annex A (informative) Derivation of maximum tolerable moisture levels for re-use .41 Annex B (informative) Description of th

34、e different methods of analysis (on-site and laboratory) 45 Annex C (informative) Reclaiming recommendations and procedures on-site .61 Bibliography67 Figure 1 Decision flow chart for the destination of removed SF627 Figure 2 Decision flow chart for on-site analysis .31 Figure A.1 Moisture levels (p

35、pmv) as a function of gas pressure p 41 Figure B.1 SF6gas sampling set-up: evacuation.45 Figure B.2 SF6gas sampling set-up: purging 47 Figure B.3 Typical gas chromatogram of decomposed SF6.53 (analysis performed with a Porapak Q column) 53 Figure B.4 IR spectrum of contaminated SF659 Table 1 Origin

36、of SF6impurities19 Table 2 Maximum acceptable impurity levels 29 Table 3 On-site methods 33 Table 4 Laboratory methods .33 Table B.1 Thermal conductivity detector relative response factor 55 Table B.2 Peak absorption of SF6and contaminants.59 Table C.1 Suggested reclaiming operations 61 Table C.2 Ty

37、pical adsorbents for various SF6impurities .63 Table C.3 Summary of SF6transportation regulations.65 6 60480 CEI:2004 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ LIGNES DIRECTRICES RELATIVES AU CONTRLE ET AU TRAITEMENT DE LHEXAFLUORURE DE SOUFRE (SF6) PRLEV SUR LE MATRIEL LECTRIQUE ET SPCIFICATION E

38、N VUE DE SA RUTILISATION AVANT-PROPOS 1) La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour tout

39、es les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI entre autres activits publie des Normes internationales, des Spcifications techniques, des Rapports techniques, des Spcifications accessibles au public (PAS) et des Guides (ci-aprs dnomms “Publi

40、cation(s) de la CEI“). Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI coll

41、abore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesure du possible, un accord international sur les s

42、ujets tudis, tant donn que les Comits nationaux de la CEI intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3) Les Publications de la CEI se prsentent sous la forme de recommandations internationales et sont agres comme telles par les Comits nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont en

43、trepris afin que la CEI sassure de lexactitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne peut pas tre tenue responsable de lventuelle mauvaise utilisation ou interprtation qui en est faite par un quelconque utilisateur final. 4) Dans le but dencourager luniformit internationale, les Comits

44、 nationaux de la CEI sengagent, dans toute la mesure possible, appliquer de faon transparente les Publications de la CEI dans leurs publications nationales et rgionales. Toutes divergences entre toutes Publications de la CEI et toutes publications nationales ou rgionales correspondantes doivent tre

45、indiques en termes clairs dans ces dernires. 5) La CEI na prvu aucune procdure de marquage valant indication dapprobation et nengage pas sa responsabilit pour les quipements dclars conformes une de ses Publications. 6) Tous les utilisateurs doivent sassurer quils sont en possession de la dernire dit

46、ion de cette publication. 7) Aucune responsabilit ne doit tre impute la CEI, ses administrateurs, employs, auxiliaires ou mandataires, y compris ses experts particuliers et les membres de ses comits dtudes et des Comits nationaux de la CEI, pour tout prjudice caus en cas de dommages corporels et mat

47、riels, ou de tout autre dommage de quelque nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les cots (y compris les frais de justice) et les dpenses dcoulant de la publication ou de lutilisation de cette Publication de la CEI ou de toute autre Publication de la CEI, ou au crdit qui lui es

48、t accord. 8) Lattention est attire sur les rfrences normatives cites dans cette publication. Lutilisation de publications rfrences est obligatoire pour une application correcte de la prsente publication. 9) Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Publication de la CEI peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saur