IEC 60191-2 AMD 16-2007 Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 2 Dimensions Amendment 16《半导体器件的机械标准化.第2部分 尺寸.修改件16》.pdf

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1、 INTERNATIONAL STANDARD IEC CEINORME INTERNATIONALE 60191-2 AMENDMENT 16 AMENDEMENT 16 2007-07 CODE PRIX PRICE CODE Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue G Amendment 16 Mechanical standardization of semiconductor devices Part 2: Dimensions Amendement 16 Normalisation

2、mcanique des dispositifs semiconducteurs Partie 2: Dimensions The sheets contained in this amendment are to be inserted in Publication 60191-2 Les feuilles de cet amendement sont insrer dans la Publication 60191-2 60191-2 Amend. 16 CEI/IEC:2007 INSTRUCTIONS POUR LINSERTION DES NOUVELLES PAGES DANS L

3、A CEI 60191-2 Remplacer la page de titre existante par la nouvelle page de titre. Retirer la page 60191 IEC I existante contenant la prface et la remplacer par la nouvelle page 60191 IEC I contenant la prface lamendement 16 (2007). Chapitre I: Ajouter les nouvelles feuilles suivantes: 60191 IEC I-17

4、EE - a/b/c. INSTRUCTIONS FOR THE INSERTION OF NEW PAGES IN IEC 60191-2 Replace the existing title page with the new title page. Remove the existing page 60191 IEC I containing the preface and insert in its place the new page 60191 IEC I containing the preface to Amendment 16 (2007). Chapter I: Add t

5、he following new sheets: 60191 IEC I-177E - a/b/c. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. Aucune partie de cette publication ne peut tre r

6、eproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, Switzerland Telephone: +41 22 919 02 1

7、1 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch Commission Electrotechnique Internationale International Electrotechnical Commission INTERNATIONAL STANDARD IEC CEINORME INTERNATIONALE 60191-2 First edition Premire dition 1966 Amended in accordance with Supplement: Modifie selon les

8、Complments: A (1967), B (1969), C (1970), D (1971), E (1974), F (1976), G (1978), H (1978), J (1980), K (1981), L (1982), M (1983), N (1987), P (1988), Q (1990), R (1995), S (1995), T(1995), U(1997), V(1998), W(1999), X(1999), Y(2000), Z(2000) et/and Amendement/Amendment 1 (2001), 2(2001), 3(2001),

9、4(2001), 5(2002), 6(2002), 7(2002), 8(2003), 9(2003), 10(2004), 11(2004), 12(2006), 13(2006), 14(2006), 15(2006), 16(2007) Mechanical standardization of semiconductor devices Part 2: Dimensions Normalisation mcanique des dispositifs semiconducteurs Partie 2: Dimensions COMMISSION LECTROTECHNIQUE INT

10、ERNATIONALE INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION PUBLICATION 191-2 PUBLICATION 191-2 NORMALISATION MCANIQUE DES DISPOSITIFS SEMICONDUCTEURS DEUXIME PARTIE: DIMENSIONS MECHANICAL STANDARDIZATION OF SEMICONDUCTOR DEVICES PART 2: DIMENSIONS SOMMAIRE PRAMBULE PRFACE CONCEPTION DE LA NORMALISATION M

11、CANIQUE Chapitre 00 VALEURS RECOMMANDES POUR CER- TAINES DIMENSIONS DE DESSINS DE DISPOSITIFS SEMICONDUCTEURS Chapitre 0 DESSINS DENCOMBREMENTS. Chapitre I TYPES DE DISPOSITIFS SEMICONDUC- TEURS GNRALEMENT MONTS DANS LES BOTIERS DU CHAPITRE I DESSINS DEMBASES Chapitre II DESSINS DE BOTIERS Chapitre

12、III DESSINS DE CALIBRES . Chapitre IV TABLEAUX MONTRANT LES ASSOCIA- TIONS ENTRE LES BOTIERS ET LES EMBASES. Chapitre V DESSINS OBSOLTES COMPLMENTS AUX LISTES DE CODES NATIONAUX FIGURANT SUR LES FEUILLES DES NORMES DE LA PUBLICATION 191-2 DE LA CEI SUPPRESSIONS DANS LES LISTES DE CODES NATIONAUX FIG

13、URANT SUR LES FEUILLES DE NORMES DE LA PUBLICATION 191-2 DE LA CEI CONTENTS FOREWORD PREFACE PHILOSOPHY OF MECHANICAL STAN- DARDIZATION Chapter 00 RECOMMENDED VALUES FOR CERTAIN DIMENSIONS OF DRAWINGS OF SEMI- CONDUCTOR DEVICES Chapter 0 DEVICE OUTLINE DRAWINGS. Chapter I TYPES OF SEMICONDUCTOR DEVI

14、CES GENERALLY MOUNTED IN THE PACKAGES OF CHAPTER I BASE DRAWINGS. Chapter II CASE OUTLINE DRAWINGS Chapter III GAUGE DRAWINGS . Chapter IV TABLES SHOWING ASSOCIATIONS BE- TWEEN CASE OUTLINES AND BASES. Chapter V OBSOLETE DRAWINGS ADDITIONS TO THE LISTS OF NATIONAL CODES APPEARING ON THE STANDARD SHE

15、ETS OF IEC PUBLICATION 191-2 DELETIONS TO THE LISTS OF NATIONAL CODES APPEARING ON THE STANDARD SHEETS OF IEC PUBLICATION 191-2 Publication CEI 191-2 Date: 1987 IEC Publication 191-2 Date: 1987 60191-2 amend. 16 CEI/IEC:2007 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ Amendement 16 (2007) la CEI 601

16、91-2 (1966) NORMALISATION MCANIQUE DES DISPOSITIFS SEMICONDUCTEURS Partie 2: Dimensions AVANT-PROPOS 1) La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a

17、 pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI entre autres activits publie des Normes internationales, des Spcifications techniques, des Rapports techniques, des Spcifications a

18、ccessibles au public (PAS) et des Guides (ci-aprs dnomms “Publication(s) de la CEI“). Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en lia

19、ison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent

20、, dans la mesure du possible, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux de la CEI intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3) Les Publications de la CEI se prsentent sous la forme de recommandations internationales et sont agres comme telles par les Co

21、mits nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEI sassure de lexactitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne peut pas tre tenue responsable de lventuelle mauvaise utilisation ou interprtation qui en est faite par un quelconque utilisateur final. 4

22、) Dans le but dencourager luniformit internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent, dans toute la mesure possible, appliquer de faon transparente les Publications de la CEI dans leurs publications nationales et rgionales. Toutes divergences entre toutes Publications de la CEI et toutes pu

23、blications nationales ou rgionales correspondantes doivent tre indiques en termes clairs dans ces dernires. 5) La CEI na prvu aucune procdure de marquage valant indication dapprobation et nengage pas sa responsabilit pour les quipements dclars conformes une de ses Publications. 6) Tous les utilisate

24、urs doivent sassurer quils sont en possession de la dernire dition de cette publication. 7) Aucune responsabilit ne doit tre impute la CEI, ses administrateurs, employs, auxiliaires ou mandataires, y compris ses experts particuliers et les membres de ses comits dtudes et des Comits nationaux de la C

25、EI, pour tout prjudice caus en cas de dommages corporels et matriels, ou de tout autre dommage de quelque nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les cots (y compris les frais de justice) et les dpenses dcoulant de la publication ou de lutilisation de cette Publication de la CEI

26、ou de toute autre Publication de la CEI, ou au crdit qui lui est accord. 8) Lattention est attire sur les rfrences normatives cites dans cette publication. Lutilisation de publications rfrences est obligatoire pour une application correcte de la prsente publication. 9) Lattention est attire sur le f

27、ait que certains des lments de la prsente Publication de la CEI peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence PRFACE LAMENDEMENT

28、 16 (2007) Le prsent amendement a t tabli par le sous-comit 47D: Normalisation mcanique des dispositifs semiconducteurs du comit dtudes 47 de la CEI: Dispositifs semiconducteurs. Le texte de cette norme est issu des documents suivants: FDIS Rapport de vote 47D/687/FDIS 47D/697/RVD Le rapport de vote

29、 indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de cette norme. 60191-2 IEC I Date: 2007 Publication IEC 60191-2 60191-2 Amend. 16 CEI/IEC:2007 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION _ Amendment 16 (2007) to IEC 60191-2 (1966) MECHANICAL STANDARDIZA

30、TION OF SEMICONDUCTOR DEVICES Part 2: Dimensions FOREWORD 1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of IEC is to promote international co-operation o

31、n all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, IEC publishes International Standards, Technical Specifications, Technical Reports, Publicly Available Specifications (PAS) and Guides (hereafter referred to as “IEC P

32、ublication(s)”). Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation

33、. IEC collaborates closely with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations. 2) The formal decisions or agreements of IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international consensus o

34、f opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all interested IEC National Committees. 3) IEC Publications have the form of recommendations for international use and are accepted by IEC National Committees in that sense. While all reasonable efforts are mad

35、e to ensure that the technical content of IEC Publications is accurate, IEC cannot be held responsible for the way in which they are used or for any misinterpretation by any end user. 4) In order to promote international uniformity, IEC National Committees undertake to apply IEC Publications transpa

36、rently to the maximum extent possible in their national and regional publications. Any divergence between any IEC Publication and the corresponding national or regional publication shall be clearly indicated in the latter. 5) IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be r

37、endered responsible for any equipment declared to be in conformity with an IEC Publication. 6) All users should ensure that they have the latest edition of this publication. 7) No liability shall attach to IEC or its directors, employees, servants or agents including individual experts and members o

38、f its technical committees and IEC National Committees for any personal injury, property damage or other damage of any nature whatsoever, whether direct or indirect, or for costs (including legal fees) and expenses arising out of the publication, use of, or reliance upon, this IEC Publication or any

39、 other IEC Publications. 8) Attention is drawn to the Normative references cited in this publication. Use of the referenced publications is indispensable for the correct application of this publication. 9) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this IEC Publication may be

40、 the subject of patent rights. IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. PREFACE TO AMENDMENT 16 (2007) This amendment has been prepared by subcommittee 47D: Mechanical standardization of semiconductor devices of IEC technical committee 47: Semiconductor device

41、s. The text of this standard is based on the following documents: FDIS Report on voting 47D/687/FDIS 47D/697/RVD Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on voting indicated in the above table. 60191-2 IEC I Date: 2007 Publication IEC 60191-2 60191-

42、2 CEI:1987 CHAPITRE 00 CONCEPTION DE LA NORMALISATION MCANIQUE 1. Rgles fondamentales Lors de la runion tenue Montreux (juin 1981), le Comit dEtudes n 47 adopta les rgles fondamentales suivantes qui remplacent celles adoptes Copenhague en octobre 1962: A. Toute proposition nouvelle devra tre soumise

43、 ltude prliminaire dun groupe de travail convenablement qualifi (note 1) avant circulation dans un document Secrtariat. B. Le groupe de travail qualifi devra tudier les nouvelles propositions avec les objectifs suivants: 1. Aboutir une normalisation active en nacceptant que les botiers qui sont sout

44、enus internationalement. 2. Spcifier de faon prcise les dimensions en vue dassurer linterchangeabilit et de faciliter les manipulations automatiques. 3. Reconsidrer continuellement les dessins existants et proposer la suppression de ceux qui ne sont plus soutenus. C. Il ne sera procd la discussion d

45、un dessin de botier que sil a le soutien pralable dau moins trois pays. D. Un dessin ne sera introduit dans la Publication 191-2 de la CEI que si au moins trois des pays qui le soutiennent ont fourni leur numro de code national (ou exprim un soutien formel sils ne possdent pas de numro de code). Not

46、es 1. Lors de la runion du Comit dEtudes n 47 Orlando (fvrier 1980), il a t admis dtendre le domaine dactivit du GT7 de faon quil couvre aussi bien la normalisation mcanique des semiconducteurs discrets que celle des circuits intgrs. Il a t galement admis que, compte tenu de llargissement de son dom

47、aine dactivit, le GT7 serait le groupe de travail qualifi mentionn dans le paragraphe A. En vue dviter que lintroduction du GT7 dans le processus suivi par le Comit dEtudes n 47 pour prparer des documents secrtariat sur la normalisation mcanique provoque des dlais supplmentaires, le GT7 a t autoris

48、obtenir de la part des trois pays concerns, ou plus, la confirmation directe du maintien de leur appui pour ces propositions. 2. Lors de la runion du Comit dEtudes n 47 Montreux (juin 1981), il a t admis que les runions du GT7 sintgreraient dans les runions du Comit dEtudes n 47. Cependant, certaine propositions peuvent ncessiter un temps dtudes dpassant la dure dune runion du Comit dEtudes n 47 et en consquence requrir une ou plusieurs runions du GT7 entre deux ru