IEC 60068-2-70-1995 Environmental testing - Part 2 Tests - Test Xb Abrasion of markings and letterings caused by rubbing of fingers and hands《环境试验 第2-70部分 试验 试验Xb 由手指和手的磨擦引起的标志和字的磨损》.pdf
《IEC 60068-2-70-1995 Environmental testing - Part 2 Tests - Test Xb Abrasion of markings and letterings caused by rubbing of fingers and hands《环境试验 第2-70部分 试验 试验Xb 由手指和手的磨擦引起的标志和字的磨损》.pdf》由会员分享,可在线阅读,更多相关《IEC 60068-2-70-1995 Environmental testing - Part 2 Tests - Test Xb Abrasion of markings and letterings caused by rubbing of fingers and hands《环境试验 第2-70部分 试验 试验Xb 由手指和手的磨擦引起的标志和字的磨损》.pdf(24页珍藏版)》请在麦多课文档分享上搜索。
1、NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD CE1 IEC 68-2-70 Premire dition First edition 1995-1 2 Essais denvironnement - Partie 2: Essais - Essai Xb: Effacement des marquages et inscriptions par friction des doigts et des mains Environmental testing - Part 2: Tests - Test Xb: Abrasion of markings a
2、nd letterings caused by rubbing of fingers and hands Numro de rfrence Reference number CEIAEC 68-2-70: 1995 Validit de la prsente publication Le contenu technique des publications de la CE1 est cons- tamment revu par la CE1 afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs la
3、 date de reconfirmation de la publication sont disponibles auprs du Bureau Central de la CEI. Les renseignements relatifs ces rvisions, ltablis- sement des ditions rvises et aux amendements peuvent tre obtenus auprs des Comits nationaux de la CE1 et dans les documents ci-dessous: Bulletin de la CE1
4、Annuaire de la CE1 Publi annuellement Catalogue des publications de la CE1 Publi annuellement et mis jour rgulirement Terminologie En ce qui concerne la terminologie gnrale, le lecteur se reportera la CE1 50: Vocabulaire Electrotechnique lnter- national (VEI), qui se prsente sous forme de chapitres
5、spars traitant chacun dun sujet dfini. Des dtails complets sur le VE1 peuvent tre obtenus sur demande. Voir galement le dictionnaire multilingue de la CEI. Les termes et dfinitions figurant dans la prsente publi- cation ont t soit tirs du VEI, soit spcifiquement approuvs aux fins de cette publicatio
6、n. Symboles graphiques et littraux Pour les symboles graphiques, les symboles littraux et les signes dusage gnral approuvs par la CEI, le lecteur consultera: - la CE1 27: Symboles littraux a utiliser en lectro-technique; - la CE1 417: Symboles graphiques utilisables sur le matriel. Index, relev et c
7、ompilation des feuilles individuelles; - I a CE I 6 7 7 : Symboles graphiques pour schmas; et pour les appareils lectromdicaux, - la CE1 878: Symboles graphiques pour quipements lectriques en pratique mdicale. Les symboles et signes contenus dans la prsente publi- cation ont t soit tirs de la CE1 27
8、, de la GEI 417, de la CE1 617 et/ou de la CE1 878, soit spcifiquement approuvs aux fins de cette publication. Publications de la CE1 tablies par le mme comit dtudes Lattention du lecteur est attire sur les listes figurant la fin de cette publication, qui numrent les publications de la CE1 prpares p
9、ar le comit dtudes qui a tabli la prsente publication. Validity of this publication The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to the date of the reconfirmation of the publicatio
10、n is available from the IEC Central Office. Information on the revision work, the issue of revised editions and amendments may be obtained from IEC National Committees and from the following IEC sources: IEC Bulletin 0 IEC Yearbook Catalogue of IEC publications Published yearly Published yearly with
11、 regular updates Terminology For general terminology, readers are referred to IEC 50: International Electrotechnical Vocabulaiy (i EV), which is issued in the form of separate chapters each dealing with a specific field. Full details of the IEV will be supplied on request. See also the IEC Multiling
12、ual Dictionary. The terms and definitions contained in the present publi- cation have either been taken from the IEV or have been specifically approved for the purpose of this publication. Graphical and letter symbols For graphical symbols, and letter symbols and signs approved by the IEC for genera
13、l use, readers are referred to publications: - IEC 27: Letter symbols to be used in electrical technology; - IEC 417: Graphical symbols for use on equipment. Index, survey and compilation of the single sheets; - IEC 677: Graphicalsymbols for diagrams; and for medical electrical equipment, - equipmen
14、t in medical practice. IEC 878: Graphical symbols for electromedical The symbols and signs contained in the present publication have either been taken from IEC 27, IEC 417, IEC 617 andlor IEC 878, or have been specifically approved for the purpose of this publication. IEC publications prepared by th
15、e same technical committee The attention of readers is drawn to the end pages of this publication which list the IEC publications issued by the technical committee which has prepared the present publication. NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD CE1 IEC 6812170 Premire dition First edition 199
16、5-1 2 Essais denvironnement - Partie 2: Essais - Essai Xb: Effacement des marquages et inscriptions par friction des doigts et des mains Environmental testing - Part 2: Tests - Test Xb: Abrasion of markings and letterings caused by rubbing of fingers and hands 0 CE1 1995 Droits de reproduction rserv
17、s - Copyright - all rights reserved Auwne partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que soit et par auwn pro- cd, lectronique ou mcanique. y compris !a photocopie et les microfilms. sans laccord nt de Idteur. No pari of this publication may be reprodud or utilu
18、ed in any form or by any means, eledronic or mechanical, including photooopying and microfilm, wkhout permission in writing from the publisher. Bureau Central de la Commission Electrotechnique Internationale 3, rue de Varemb Genve. Suisse Commission Electrotechnique Internationale CODE PRIX Internat
19、ional Electrotechnical Commission PRICE CODE K Mewytiapontm 3nerpoexqecna KOMHCCHR Pour prix. voir catalogue en vigueur For price. see current catalogue -2- SOMMAI RE 68-2-70 O CEI:1995 Pages AVANT-PROPOS INTRODUCTION . Articles 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 Domaine dapplication Rfrence normative . Des
20、cription gnrale Description de lappareillage dessai . 4.1 Appareillage dessai . 4.2 Tissu dessai 4.3 Liquides dessai . Svrit Prconditionnement . Mesures initiales . Essai . Mesures intermdiaires . Reprise . Mesures finales . Informations devant tre donnes dans la spcification particuliere Annexe A .
21、 Schma de lappareillage dessai pour lessai Xb . 4 4 8 8 8 8 8 10 12 12 12 14 14 14 14 14 14 16 68-2-70 O IEC:1995 -3- CONTENTS Page FOREWORD INTRODUCTION . Clause 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 Scope . Normative reference . General description Description of the test apparatus . 4.1 Test apparatus . 4.2
22、 Test fabric 4.3 Test liquids . Severity Preconditioning . Initial measurements Testing . Intermediate measurements Recovery Final measurements . Information to be given in the relevant specification . Annex A . Schematic drawing of a test apparatus for test Xb 5 5 9 9 9 9 9 11 13 13 13 15 15 15 15
23、15 15 17 -4- 68-2-70 O CEI:1995 COM M ISS I ON L ECT ROT ECH N I Q U E I NTE R NAT I o NALE ESSAIS DENVIRONNEMENT - Partie 2: Essais - Essai Xb: Effacement des marquages et inscriptions par friction des doigts et des mains AVANT-PROPOS 1) La CE1 (Commission Electrotechnique Internationale) est une o
24、rganisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CE1 a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la
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