IEC 60068-2-66-1994 Environmental testing - Part 2 Test methods - Test Cx Damp heat steady state (unsaturated pressurized vapour)《环境试验 第2-66部分 试验方法 试验Cx 稳态湿热(不饱合加压蒸汽)》.pdf

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1、NORME I NTE RN AT1 ON ALE INTERNATIONAL STANDARD CE1 I EC 6812-66 Premire dition First edition 1994-06 PUBLICATION FONDAMENTALE DE SCURIT BASIC SAFETY PUBLICATION Essais denvironnement - Partie 2: Mthodes dessai - Essai Cx: Essai continu de chaleur humide (vapeur pressurise non sature) Environmental

2、 testing - Part 2: Test methods - Test Cx: Damp heat, steady state (unsaturated pressurized vapour) Numro de reference Reference number CEi/IEC 68-2-66: 1994 Numros des publications Depuis le ler janvier 1997, les publications de la CE1 sont numrotes partir de 60000. Publications consolides Les vers

3、ions consolides de certaines publications de la CE1 incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1

4、 et 2. Validit de la prsente publication Le contenu technique des publications de la CE1 est constamment revu par la CE1 afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs la date de re- confirmation de la publication sont disponibles dans le Catalogue de la CEI. Les renseigne

5、ments relatifs des questions ltude et des travaux en cours entrepris par le comit technique qui a tabli cette publication, ainsi que la liste des publications tablies, se trouvent dans les documents ci-dessous: (Site web de la CEI* Catalogue des publications de la CE1 Publi annuellement et mis jour

6、rgulirement (Catalogue en ligne)* Disponible la fois au , sur la page de titre. Numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. Consolidated publications Consolidated versions of some IEC publications including amendments are available. For ex

7、ample, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incor- porating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Validity of this publication The technical content of IEC publications is kept under constant review by th

8、e IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to the date of the reconfirmation of the publication is available in the IEC catalogue. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical com- mittee which has prepa

9、red this publication, as well as the list of publications issued, is to be found at the following IEC sources: IEC web site* Catalogue of IEC publications Published yearly with regular updates (On-line catalogue)* Available both at the IEC web site* and as a printed periodical IEC Bulletin Terminolo

10、gy, graphical and letter symbols For general terminology, readers are referred to I EC 60 050: International Electrotechnical Vocabulary (IEV). For graphical symbols, and letter symbols and signs approved by the IEC for general use, readers are referred to publications IEC 60027: Letter symbols to b

11、e used in electrical technology, IEC 60417: Graphical symbols for use on equipment. Index, survey and compilation of the single sheets and IEC 60617: Graphical symbols for diagrams. * See web site address on title page. NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD CE1 IEC 68=2=66 Premire dition First

12、 edition 1994-06 PUBLICATION FONDAMENTALE DE SCURIT BASIC SAFETY PUBLICATION Essais denvironnement - Partie 2: Mthodes dessai - Essai Cx: Essai continu de chaleur humide (vapeur pressurise non sature) Environmental testing - Part 2: Test methods - Test Cx: Damp heat, steady state (unsaturated pressu

13、rized vapour) O CE1 1994 Droits de reproduction rservs - Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelgue forme que soit et par aucun pro- cd. ledronique ou mcanique. y wmpns h photocopie et lec microfilms. sans laccord kit de Idlteur

14、No patt of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means. electronic or mechanical, mcluding photocapying and microfilm. whoul permission in wriiting from the publisher. Bureau Central de la Commission Eiectrotechnique internationale 3, rue de Varemb Geneve, Suisse Commi

15、ssion Eiectrotechnique internationale CODE PRIX internationai Eiectrotechnicai Commission PRICE CODE Q MewwapontiaR 3nelcrpoex.recna KOMHCCHR Pour prix, voir catalogue en vigueur For price. see current catalogue -2- SOMMAI RE 68-2-66 O CEI:1994 Pages AVANT-PROPOS . 4 Articles 5 6 7 8 9 10 Domaine da

16、pplication . Description gnrale . Description de lappareillage dessai Svrits . Mesures initiales Epreuve . Mesures intermdiaires Reprise Mesures finales Renseignements que doit donner la spcification particulire Annexes A Tableau de vapeur . B Signification physique de lessai . C Dtermination de lhu

17、midit D Appareillage dessai et utilisation 6 6 6 8 10 10 12 12 14 14 16 22 24 28 68-2-66 O IEC:1994 -3- CONTENTS Page FOREWORD . 5 Clause 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 Scope . General description . Description of test apparatus . Severities Initial measurements . Testing Intermediate measurements . Recovery

18、. Final measurements Information to be given in the relevant specification 7 7 7 9 11 11 13 13 15 15 Annexes A Steam table 17 B Physical significance of the test 23 C Determination of humidity . 25 D Test apparatus and handling . 29 -4- 68-2-66 O CEI:1994 DIS 50B( BC)342 COMMISSION LECTROTECHNIQUE I

19、NTERNATIONALE Rapport de vote 50B( BC)345 ESSAIS DENVIRONNEMENT - Partie 2: Mthodes dessai - Essai Cx: Essai continu de chaleur humide (vapeur pressurise non sature) AVANT-PROPOS La CE1 (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble d

20、es comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CE1 a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI, entre autres activits, publie des Normes internationale

21、s. Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CE1 collabore troitement ave

22、c lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. Les dcisions ou accords officiels de la CE1 en ce qui concerne les questions techniques, prpars par les comits dtudes o sont reprsents tous les Comits nationaux sintressant ces

23、questions, expriment dans la plus grande mesure possible un accord international sur les sujets examins. Ces dcisions constituent des recommandations internationales publies sous forme de normes, de rapports techniques ou de guides et agres comme telles par les Comits nationaux. Dans le but dencoura

24、ger lunification internationale, les Comits nationaux de la CE1 sengagent appliquer de faon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CE1 dans leurs normes nationales et rgionales. Toute divergence entre la norme de la CE1 et la norme nationale ou rgionale corresp

25、ondante doit tre indique en termes clairs dans cette dernire. La Norme internationale CE1 68-2-66 a t tablie par le sous-comit 508: Essais climatiques, du comit dtudes 50 de la CEI: Essais denvironnement. Le texte de cette norme est issu des documents suivants: Le rapport de vote indiqu dans le tabl

26、eau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de cette norme. Elle a le statut dune publication fondamentale de scurit, conformment au guide CE1 104. La CE1 68 comprend les parties suivantes, prsentes sous le titre gnral: Essais denvironnement . - Premire partie: Gnrali

27、ts et guide - Deuxime partie: Essais - Troisime partie: Informations de base - Quatrime partie: Renseignements destins aux rdacteurs de spcifications - - Partie 5: Guide pour la rdaction des mthodes dessai Rsums dessais Lannexe A fait partie intgrante de cette norme. Les annexes B, C et D sont donne

28、s uniquement a titre dinformation. 68-2-66 O IEC:1994 -5- INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION ENVIRONMENTAL TESTING - Part 2: Test methods - Test Cx: Damp heat, steady state (unsaturated pressurized vapour) FOREWORD The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organizatio

29、n for standardization comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote international cooperation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, the

30、 IEC publishes International Standards. Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory work. international, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also particip

31、ate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations. The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters, prepared by technical committee

32、s on which all the National Committees having a special interest therein are represented, express, as nearly as possible, an international consensus of opinion on the subjects dealt with. They have the form of recommendations for international use published in the form of standards, technical report

33、s or guides and they are accepted by the National Committees in that sense. In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any divergence betw

34、een the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearly indicated in the latter. International Standard IEC 68-2-66 has been prepared by sub-committee 508: Climatic tests, of IEC technical committee 50: Environmental testing. The text of this standard is based on th

35、e following documents: DIS I Report on voting 1 I Full information on the voting for the approval of this standard can be on voting indicated in the above table. found in the report It has the status of a basic safety publication in accordance with IEC Guide 104. IEC 68 consists of the following par

36、ts, under the general title: Environmental testing. - Part 1: General and guidance - Part 2: Tests - Part 3: Background information - Part 4: Information for specification writers - Test summaries - Part 5: Guide to drafting of test methods Annex A forms an integral part of this standard. Annexes B,

37、 C and D are for information only. -6- 68-2-66 O CE111 994 ESSAIS DENVIRONNEMENT - Partie 2: Mthodes dessai - Essai Cx: Essai continu de chaleur humide (vapeur pressurise non sature) 1 Domaine dapplication La prsente Norme internationale a pour objet de fournir une mthode dessai normalise permettant

38、 dvaluer, de manire acclre, la rsistance de produits lectrotechniques de petites dimensions, principalement de composants non hermtiquement fermes, la dgradation par la chaleur humide. Lessai na pas pour but dvaluer les effets externes tels que la corrosion et ia dformation. 2 Description gnrale Dan

39、s cet essai, le spcimen est soumis de trs hauts niveaux de chaleur humide non sature pendant une priode relativement courte. Une polarisation lectrique est habituellement applique. Etant donn la nature trs acclre de lessai, une considration trs particulire doit tre apporte au choix des conditions de

40、 lessai puisque ceci peut avoir un effet important sur le type de mode de dfaillance qui pourrait survenir (voir annexe B). Lessai propose trois tempratures une humidit relative de 85 %. La svrit de lessai est dfinie par la dure une des tempratures. II faut prendre garde de ne pas atteindre la tempr

41、ature maximale estime pour le spcimen et/ou la temprature critique de lun des matriaux dencapsulation. La temp- rature de transition de verre dun plastique est un exemple typique dune temperature de transition critique. Dans le cas de composants encapsules dans du plastique, la dgradation rsulte de

42、Iabsorp- tion de vapeur deau par le plastique et la pntration dhumidit le long des connexions. 3 Description de lappareillage dessai 3.1 Chambre dessai La chambre dessai doit tre construite de faon telle que: a) elle puisse produire les temperatures et humidits relatives donnes dans le tableau 1 et

43、supporter les valeurs de pression donnes dans larticle 4, note 3; b) eile puisse assurer les conditions contrles de temprature et dhumidit relative et de pression pendant lpreuve ainsi que la monte vers et ia descente depuis les conditions dessai spcifies; c) la temprature et lhumidit de la chambre

44、puissent tre pilotes laide de capteurs situs dans lespace de travail et/ou dans dautres rgions donnant le mme rsultat (par exemple gnrateur de vapeur). NOTE - La mesure directe de lhumidit relative pendant cet essai nest pas possible avec les techniques courantes. Un guide pour la dtermination de lh

45、umidit relative dans lespace de travail est donn dans lannexe C. 68-2-66 O IEC:1994 -7- ENVIRONMENTAL TESTING - Part 2: Test methods - Test Cx: Damp heat, steady state (unsaturated pressurized vapour) 1 Scope This International Standard provides a standard test procedure for the purpose of evaluatin

46、g, in an accelerated manner, the resistance of small electrotechnical products, primarily non- hermetically sealed components, to the deteriorative effect of damp heat. The test is not intended to evaluate external effects, such as corrosion and deformation. 2 General description In this test, the s

47、pecimen is subjected to very high levels of unsaturated damp heat for a relatively short period. Electrical bias is usually applied. Due to the very accelerated nature of the choice of test conditions, since this may mode which could occur (see annex B). test, careful consideration must be given to

48、the have an important effect on the type of failure The test provides three temperatures at a relative humidity of 85 %. The test severity is defined by the duration at one of the temperatures. Care shall be taken not to reach the maximum rated temperature of the specimen and/or the critical temperature of any encapsulating materials. The glass transition temperature of a plastic is a typical example of a critical transition temperature. In the case of plastic encapsulated components, degradation results from absorption of water-vapour by the plastic, and penetration