IEC 60050-521-2002 International Electrotechnical Vocabulary - Part 521 Semiconductor devices and integrated circuits《国际电工词汇.第521部分 半导体器件和集成电路》.pdf
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1、NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 60050-521 Deuxime dition Second edition 2002-05 Vocabulaire Electrotechnique International Partie 521 : Dispositifs semiconducteurs et circuits intgrs International Electrotechnical Vocabulary Part 521: Semiconductor devices and integrated circuits
2、 Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 60050-521:2002NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 60050-521 Deuxime dition Second edition 2002-05 Vocabulaire Electrotechnique International Partie 521 : Dispositifs semiconducteurs et circuits intgrs International Electrotechnical Vocabular
3、y Part 521: Semiconductor devices and integrated circuits Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2002 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit e
4、t par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing fr
5、om the publisher. International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, Switzerland Telephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODE XD Commission Electrotechnique Internationale International Electr
6、otechnical Commission II 60050-521 CEI:2002 SOMMAIRE AVANT-PROPOS IV INTRODUCTION Principes dtablissement et rgles suivies . VIII 1 Domaine dapplication 1 2 Rfrences normatives.1 3 Termes et dfinitions 3 Section 521-01 Notions de physique atomique.3 Section 521-02 Proprits des matriaux semiconducteu
7、rs15 Section 521-03 Traitement des matriaux semiconducteurs.44 Section 521-04 Types de dispositifs semiconducteurs.50 Section 521-05 Termes gnraux pour dispositifs semiconducteurs75 Section 521-06 Termes particuliers aux diodes 89 Section 521-07 Termes particuliers aux transistors 91 Section 521-08
8、Termes particuliers aux thyristors100 Section 521-09 Termes particuliers aux dispositifs effet hall et aux magntoresistances .106 Section 521-10 Termes particuliers aux circuits intgrs113 Section 521-11 Termes particuliers aux circuits intgrs numriques.117 INDEX en franais, anglais, chinois, alleman
9、d, espagnol, japonais, polonais, portugais et sudois12660050-521 IEC:2002 III CONTENTS FOREWORD V INTRODUCTION Principles and rules followed IX 1 Scope.2 2 Normative references .2 3 Terms and definitions .3 Section 521-01 Introduction to atomic physics .3 Section 521-02 Properties of semiconductor m
10、aterials.15 Section 521-03 Processing semiconductor materials44 Section 521-04 Types of semiconductor devices50 Section 521-05 General terms for semiconductor devices 75 Section 521-06 Specific terms for diodes .89 Section 521-07 Specific terms for transistors .91 Section 521-08 Specific terms for t
11、hyristors .100 Section 521-09 Specific terms for hall-effect devices and magnetoresistors.106 Section 521-10 Specific terms for integrated circuits113 Section 521-11 Specific terms for digital integrated circuits117 INDEX in French, English, Chinese, German, Spanish, Japanese, Polish, Portuguese and
12、 Swedish 126 IV 60050-521 CEI:2002 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ VOCABULAIRE LECTROTECHNIQUE INTERNATIONAL PARTIE 521 : DISPOSITIFS SEMICONDUCTEURS ET CIRCUITS INTGRS AVANT-PROPOS 1) La CEI (Commission lectrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation compo
13、se de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI, entre autres activits, publie des Norm
14、es internationales. Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabo
15、re troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesure du possible, un accord international sur les suje
16、ts tudis, tant donn que les Comits nationaux intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3) Les documents produits se prsentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publis comme normes, spcifications techniques, rapports techniques ou guides et agrs comme tels par les Com
17、its nationaux. 4) Dans le but dencourager lunification internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent appliquer de faon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes nationales et rgionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et
18、la norme nationale ou rgionale correspondante doit tre indique en termes clairs dans cette dernire. 5) La CEI na fix aucune procdure concernant le marquage comme indication dapprobation et sa responsabilit nest pas engage quand un matriel est dclar conforme lune de ses normes. 6) Lattention est atti
19、re sur le fait que certains des lments de la prsente Norme internationale peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence. La Norm
20、e internationale CEI 60050-521 a t tablie par le Groupe de Travail 1 du Comit dtudes 47 : Dispositifs semiconducteurs, sous la responsabilit du comit dtudes 1 de la CEI : Terminologie. Le texte de cette norme est issu des documents suivants : FDIS Rapport de vote 1/1830/FDIS 1/1835/RVD Le rapport de
21、 vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de cette norme. Cette deuxime dition de la CEI 60050-521 est issue de ldition originale de 1984 et des termes nouveaux ou modifis approuvs dans le FDIS en rfrence. Cette publication a t rdige selon l
22、es Directives ISO/CEI, Partie 3. Dans la prsente partie du VEI les termes et dfinitions sont donns en franais et en anglais : de plus, les termes sont indiqus en chinois (cn), allemand (de), espagnol (es), japonais (ja), polonais (pl), portugais (pt) et sudois (sv).60050-521 IEC:2002 V INTERNATIONAL
23、 ELECTROTECHNICAL COMMISSION _ INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL VOCABULARY PART 521: SEMICONDUCTOR DEVICES AND INTEGRATED CIRCUITS FOREWORD 1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising all national electrotechnical committees (IEC Na
24、tional Committees). The object of the IEC is to promote international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is entrusted to techni
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