GB T 5230 印制板用铜箔（报批稿）代替GB T5230-1995 .doc

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1、 ICS 77.150.30 H 62 GB/T5230-XXXX 代替 GB/T5230-1995 印 制 板 用 铜 箔 Copper foil for printedboards application (报批稿 ) 2000-XX-XX 发布 2000-XX-XX 实施 中华人民共和国国家标准 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中 国 国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 发布 GB/T5230-XXXX 前 言 本 标准参照 采用 IPC-4562（ 200）印制线路用金属箔 。 本 标准 与 IPC4562（ 2000） 相比， 在技术内容上的差异： 1)增加了延伸率和箔轮

2、廓术语和定 义。 2)增加了抗高温氧化性要求及试验方法规定。 3)删除了统计过程控制的有关要求。 4)增加了鉴定检验定义和鉴定检验项目规定。 5)增加了包装要求。 6)增加了附录 A（提示的附录）“国内外铜箔型号对照表” 7)规定了九种铜箔产品的型号。 本标准代替 GB/T5230-1995。 本标 准 附录 A 为资料性附录。 本 标准 由 全国印制电路标委会基材工作组 提 出 本 标准 由 全国有色金属标准化技术委员会 归口。 本 标准 起草单位：国营 704 厂、苏州福田金属有限公司 、中国电子技术标准化研究所。 本 标准 主要起草人：高艳茹 、 刘筠 、 王金瑞 、 孟庆统 。 本标准

3、所代替标准的历次版本发布情况为： GB/T5230-1985 GB/T5230-1995。 GB/T5230-XXXX 目 次 前言 1 范围 1 2 引用标准 1 3 术语和定义 1 3.1 延伸率 .1 3.2 轮廓因数 .1 3.3 箔轮廓 .1 4 分类和符号表示 .1 5 技术要求 .2 5.1 一般要求 2 5.2 外观 .2 5.3 尺寸 .3 5.4 物理性能要求 4 5.5 工艺要求 .4 5.6 加工质量 5 5.7 铜箔的特殊要求 5 6 质量保证规定 .5 6.1 检验责任 6 6.2 检验分类 .6 6.3 鉴定检验 6 6.4 质量一致性检验 .7 7 试验方法 9

4、 7.1 外观 9 7.2 针孔和气隙度 9 7.3 清洁度 .9 7.4 尺寸 9 7.5 厚度 9 7.6 箔轮廓和粗糙度 .9 7.7 拉伸强度 .9 7.8 疲劳延展性 9 7.9 延伸率 .10 7.10 剥离强度 10 7.11 载体与铜箔的分离 .10 7.12 铜箔的可蚀刻性 10 7.13 化学清洗 10 7.14 可焊性 10 7.15 处理完善性 10 7.16 纯度 10 7.17 质量电阻率 10 7.18 抗高温氧化性 10 8 包装和标记 .10 8.1 包装 .10 8.2 标记 .11 9 订货单（或合同）内容 .11 附录 A（提示的附录）国内外铜箔型号对照

5、 .12 印 制 板 用 铜 箔 1 范围 本标准规定了印制板用铜箔的分类、分级、技术要求、质量保证规定、试验方法、包装及标记。 本标准适用于刚性和挠性印制板用铜箔。 2 引用标准 下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。 GB/T2036 印制电路术语 GBXXXX-xxxx 印制板用金属箔试验方法 3 术语和定义 术语和定义除 符合 GB/T2036 的规定外， 下列术语和定义也

6、适用本标准 。 3.1 延伸率 elongation 试样在拉 伸负荷下断裂时 ,试样有效部分标线间的距离增量与初始标线间距离之比的百分率。 3.2 轮廓因数 profile factor 铜箔样品的总平均厚度超出根据铜箔密度和样品的实际单位面积质量所计算厚度的数值。 3.3 箔轮廓 foil profile 由箔加工和 (或 )增强粘接处理引起的箔表面的不平整度。 4 分类和符号表示 4.1 铜箔按其制造工艺分为电解箔和压延箔两种，符号表示如下： E：电解箔 W：压延箔 4.2 铜箔按加工特性分为九类 ,型号及特性表示见表 1。 4.3 铜箔采用的增 强粘结处理分为五类 ,符号表示如下 :

7、N：未经增强粘结处理，不防锈； P：未经增强粘结处理，双面防锈； S：单面增强粘结处理（粗糙面），双面防锈； D：双面增强粘结处理，双面防锈； R：光面增强粘结处理（阴极面），双面防锈 ; 4.4 铜箔光面和粗糙面的轮廓应该用两个专用符号来表示，其次序为光面在先，粗糙面在后。轮廓符号表示 如下 : X: 未经处理或粗化 ; S: 标准轮廓 ; L: 低轮廓 ; V: 甚低轮廓 ; 表 1 铜箔型号及特性 型 号 特 性 E-01 标准电解铜箔 E-02 高延伸性电解铜箔 E-03 高温延伸性电解铜箔 E-04 退火电解铜箔 E-05 可低温退火电解铜箔 W-01 压延锻造铜箔 W-02 轻冷压

8、延锻造铜箔 W-03 退火锻造铜箔 W-04 压延锻造可低温退火铜箔 4.5 铜箔按照特性的质量保证水平差异分为三级 : 1 级：适用于要求电路功能完整，机械性能和外观缺陷不重要的场合。 2 级：适用于电路设计、工艺及规范一致性要求允许局部区域不一致的应用场合。该级材料具有适中的保证等级。 3 级：该级材料适用于要求质量保证等级最高的应用场合。 5 技术要求 除非供需双方另有规定， 3 级材料用于军用电子设备。订货未指明质量等级视为 1 级，供需双方有争议时，优先次序如下： a 供需双方同意的采购订单； b 本 标准 。 5.1 一般要求 5.1.1 片箔 每张预定用途的片状铜箔应符合 5.2

9、 5.7 的要求。 5.1.2 卷箔 每卷预定用途的铜箔应符合 5.2 5.7 的要求。 5.2 外观 按 7.1 试验时 ,铜箔应满足 5.2.1 5.2.6 规定的要求 ,不应有影响使用的外观缺陷。 5.2.1 麻点和压痕 不应有直径大于 1.0mm的麻点和压痕（对于 3级铜箔）；每 300mm 300mm区域 ,直径小于或等于 1.0mm的麻点和压痕不应超过 2 个（对于 3 级铜箔）；对于直径小于铜箔标称厚度 5%的麻点和压痕可以忽略不计。 5.2.2 皱折 不应有永久变形性皱折。 5.2.3 划痕 划痕深度不应超过铜箔标称厚度的 20%;深度为铜箔标称厚度 5% -20%的划痕，每

10、300mm 300mm 区域 ， 划痕数不应超过 3 条；对深度小于标称铜箔厚度 5%的划痕 ,其长度无论多长可以忽略不计。 5.2.4 缺口和撕裂 不应有缺口和撕裂。 5.2.5 针孔和气隙度 对 17铜箔， 每 300mm 300mm 区域，染色浸透点的个数不应超过 5 个；对大于 17 m 铜箔，每300mm 300mm 区域染色浸透点的个数不应超过 3 个 ;当按 7.2 测定时 ,对小于 17 m 铜箔的针孔和气隙度的个数应由供需双方商定。 5.2.6 清洁度 不应有灰尘、污物、腐蚀、盐类、 油脂、指印、外来物及其它影响铜箔使用寿命、加工性能或外观的缺陷。 5.3 尺寸 当按 7.4

11、 试验时 , 应满足 5.3.1 5.3.5 规定的尺寸要求。 5.3.1 片状铜箔的长度和宽度 片状铜箔的长度和宽度应按采购文件规定。长度和宽度允许偏差为 3.2mm 或由供需双方商定。 5.3.2 卷状铜箔宽度 卷状铜箔宽度应按采购文件规定 ,卷状铜箔的宽度允许偏差为 1.6mm 或由供需双方商定。 5.3.3 厚度 当按 7.5 测定各种型号铜箔 (见 4.2)的厚度时 , 包括任何处理在内铜箔 的总厚度应符合表 2 规定。对于非标称单位面积质量的铜箔，厚度与单位面积质量的换算关系如下： 铜箔厚度（ m） =0.112 单位面积质量（ g/m2 ） ，式中 0.112 是按铜的密度为 8

12、.93g/cm3确定的一个系数。 对于 8.81 8.99 g/cm3所有密度的铜箔 ,该系数的误差在 1%之内。 5.3.3.1 电解铜箔 电解铜箔的最小厚度不应小于表 2 规定标称值的 90%，最大厚度不应超过最大箔轮廓（见 5.3.5）加表 2 规定铜箔标称值的 110%；对于 S 型铜箔（标准轮廓箔） ,没有最大厚度要求。 表 2 铜箔单位面积质量和厚度 质量代号 单位面积质量 g/m2 标称厚度 m 单位面积最大允许偏差 /( g/m2 ) E 型箔 W 型箔 E 45.1 5.1 10% 5% Q 75.9 8.5 T 106.8 12.0 H 152.5 17.1 M 228.8

13、 25.7 1 305.0 34.3 2 610.0 68.6 3 915.0 102.9 4 1220.0 137.2 5 1525.0 171.5 6 1830.0 205.7 7 2135.0 240.0 10 3050.0 342.9 14 4270.0 480.1 5.3.3.2 压延铜箔 压延铜箔的最小厚度不应小于表 2 规定标称值的 95%,最大厚度不应超过最大箔轮廓值加表 2 中标称厚度的 110%。对于 S 型箔（标准轮廓箔） ,没有最大厚度要求 5.3.4 单位面积质量 当按 7.5.2 测定时，包括 任何处理在内 , 各种代号铜箔的单位面积质量应符合表 2 规定。除非另有

14、规定 .电解铜箔和压延铜箔的单位面积质量偏差分别为 10%和 5%。 5.3.5 箔轮廓 当按 7.6 用 RZ（ DIN）或 RTM参数测定箔轮廓时 , 最大箔轮廓应符合表 3 规定。 表 3 最大箔轮廓 箔轮廓类型 轮廓 / m S 标准轮廓箔 不适用 L 低轮廓箔 10.2 V 甚低轮廓箔 5.1 X-未处理 或粗化 不适用 5.3.6 表面粗糙度 铜箔的表面粗糙度要求适用于未经处理的电解铜箔的光面和未经处理的压延箔面，当按 7.6 测定时 ,表面粗糙度算术平 均值 Ra 不应大于 0.43 m。 5.4 物理性能要求 5.4.1 拉伸强度 当按 7.7 测定时，铜箔的拉伸强度应符合表

15、4 规定。 5.4.2 疲劳延展性 当按 7.8 测定时 ,铜箔的疲劳延展性应符合表 4 规定。 5.4.3 延伸率 当按 7.9 测定时 , 铜箔的延伸率应符合表 4 规定 。 5.4.4 剥离强度 当按 7.10 测定时 ,剥离强度 应符合采购文件规定或由供需双方商定。 5.4.5 载体分离强度 当按 7.11 测定时 ,从铜箔上分离 载体膜 (或箔 )所需的力应符合采购文件规定值或由供需双方商定。 5.5 工艺要求 5.5.1 可蚀刻性 当按 7.12 评定时 ,铜箔的表面处理层和铜箔能用正常的蚀刻工艺除去。在同一卷中 ,处理层应均匀一致。 5.5.2 化学清洗 当按 7.13 评定时，

16、铜箔应显示外观均匀。 5.5.3 可焊性 当按 7.14 试验时 ,不应有焊料半润湿迹象。 5.5.4 处理完善性 当按 7.15 试验时 ,处理完善 性的实际要求应按采购文件规定或由供需双方商定。 5.5.5 抗高温氧化性 当按 7.18 试验时，铜箔表面不应有氧化变色。 表 4 铜箔的物理性能 性能 1 铜箔型号 拉伸强度 ， 最小值N/mm2 延伸率 2 ， 最小 值 % 疲劳延展性 最小值 % H 1 2 H 1 2 H 1 2 E-01 23 207 276 276 2 3 3 E-02 23 103 207 207 5 10 15 E-03 23 180 207 103 276 1

17、38 276 138 2 2 3 2 3 3 E-04 23 180 103 - 138 97 172 152 5 - 10 6 20 11 65 - 65 - 65 - E-05 23 180 103 - 138 - 138 - 5 - 10 - 10 - 25 - 25 - 25 - W-01 23 180 345 - 345 138 345 276 0.5 - 0.5 2 1.0 3 30 - 30 - 30 - W-02 23 180 - 177-345 - 177-345 - - 10-0.5 - 20-1 - - 65-30 - 65-30 - W-03 23 180 103 -

18、138 97 172 152 5 - 10 6 20 11 65 - 65 - 65 - W-043） 23 180 103 - 138 - 138 - 5 - 10 - 10 - 25 - 25 - 25 - 注 1： 表 4 中的所有值是在验收态条件下任一单独测量的最小值，铜箔的性能会随进一步的处理和时间的推移而变化。对于表 4 以外其它厚度铜箔的性能由供需双方商定。 注 2： 延伸率测量应采用 50mm 长的测量长度，在 23和 180下的试验速度分别为 50mm/min 和 1.3mm/min。 注 3： 表 4中低温退火铜箔的性能，退火条件为 177， 15min。 5.6 加工质量

19、 铜箔的加工方式应使其质量一致 ,不应有不规则的瘤状物、皱折、污物、油蚀、腐蚀物、盐类、油脂、指印、外来物、其它影响箔寿命、使用性或外观的缺陷。 5.7 铜箔的特殊要求 5.7.1 铜箔纯度 当按 7.16 试验时 ,未经表面处理铜箔的最低纯度 (银含量按铜计 )应符合以下要求 : 压延铜箔 ： 99.9% 电解铜箔 ： 99.8% 5.7.2 质量电阻率 当按 7.17 试验时 ,未经处理的电解铜箔 在 20时的质量电阻率应符合表 5 规定 ,未经处理的压延铜箔在 20时的质量电阻率应符合表 6 规定。 表 5 电解铜箔的质量电阻率（所有 E 型箔） 质量代号 质量电阻率 /( .g/m2

20、),最大值 E 0.181 Q 0.171 T 0.170 H 0.166 M 0.164 不小于 35 m 0.162 有要求时，供方应提供未经处理的铜箔样品以供分析。 表 6 压延铜箔的质量电阻率 (所有质量的箔 ) 铜箔型号 质量电阻率 /( .g/m2 ), 最大值 W-03 0.155 W-01， W-04 0.160 W-02 0.155-0.160(按回火 ) 6. 质量保证规定 6.1 检验责任 供货方对保证本 标准 规定的所有检验要求及执行的相关文件负责。供货方可使用自己的或其它适合的检测装置执行本 标准 规定的检验。采购机构保留对完成本 标准 规定检验供货方所必须具备的设备

21、进行审查的权力，以确保供应和服务满足本 标准 要求。 6.1.1 试验装置和检验设备 供货方应当建立并保留能执行本 标准 检验，具有足够精度、质量、数量的试验检测装置及检验设备，为了确保测量和试验装置的精度，校准系统的建立和维护应符合有关 标 准 。 6.1.2 样品制备 除非另有规定，试样应按供货方现有的方法制备。 6.1.3 标准实验室条件 除非另有规定，所有的测量和试验应在温度为 15 35，空气压力为 86kpa 106kpa 和相对湿度不大于 75%的条件下进行。 仲裁试验条件为：温度 23 1 ，相对湿度不大于 50% ，大气压力 86 kpa 106kpa 。 6.1.3.1 环

22、境试验箱允许温度偏差 当使用环境试验箱时，受试的试样只能放置在以下规定的工作区域内： a.工作区域内基准温度变化：试验箱的控 温装置应能使工作区域内任一单个基准点的温度偏差维持在 2。 b.工作范围空间温度变化：设计的试验箱，应使在工作范围内的任一时间、任一点的温度与基准点温度偏差为 3。在紧靠发热样品处除外。 6.1.3.2 基准条件 作为计算基础的基准条件，温度应为 25，空气压力 106kpa ，相对湿度为 50%。 6.1.3.3 允许偏差 除非另有规定，所有试验装置和环境的允许偏差为 5%或满足材料 标准 要求。 6.2 检验分类 本 标准 规定的检验分为两类： a鉴定检验 b.质量

23、一致性检验 6.3 鉴定检验 鉴定检验是以认可或证实供应是否具备合格供应商资格为目的而对其产品进行的检验。鉴定检验应在质量鉴定机构或双方同意的实验室进行。鉴定检验项目为本 标准 第 5 章规定的所有项目。鉴定检验样本应由正常生产中使用的设备和工艺生产，对于其属性不影响试验结果的试验样本（例如两种质量铜箔的可焊性），鉴定检验的样本可以合并，对于试验结果依赖于属性的场合，鉴定检验的样本不应合并。 6.3.1 检验频度 每种型号的铜箔都应进行一次鉴定检验。 当要求时 ,供货方应提供鉴定合 格的数据 ,以证明提供的材 料符合本 标准 。除非供需双方商定不需要重复鉴定检验。 6.3.2 产品交货检验 产

24、品的交货检验包括 A 组和 B 组检验，通过 A 组检验的产品在获得 B 组检验的结果之前就可以交货。 6.3.3 鉴定扩展 3 级材料的鉴定 合格可以扩展覆盖 2 级和 1 级材料， 2 级材料的鉴定合格可以扩展覆盖 1 级材料。 6.4 质量一致性检验 6.4.1 质量一致性检 验 质量一致性检验包括 A、 B、 C 组检验。 A、 B、 C 组的检验项目要求应符合表 7 规定。 表 7 质量一致性检验 项目 要求条款 方法条款 A 组检验 凹坑及压痕 5.2.1 7.1 皱 折 5.2.2 7.1 划 痕 5.2.3 7.1 缺口和撕裂 5.2.4 7.1 清 洁 度 5.2.6 7.3

25、 针孔和气隙度 5.2.5 7.2 厚 度 5.3.3 7.5 单位面积质量 5.2.4 7.6 可分离载体铜箔的厚度 5.3.3 7.5.2.1 可蚀刻载体铜箔的厚度 5.3.3 7.5.2.2 箔轮廓 5.3.5 7.6 表面粗糙度 5.3.6 7.6 23 拉伸强度 5.4.1 7.7 180 拉伸强度 4.4.1 7.7 延伸率 5.4.3 7.9 180 延伸率 5.4.3 7.9 剥离强度 5.4.4 7.10 载体分离强度 5.4.5 7.11 抗高温氧化性 5.5.5 7.18 B 组检验 疲劳延展性 5.4.2 7.8 可蚀刻性 5.5.1 7.1 化学清洗 5.5.2 7.

26、1 可焊性 5.5.3 7.1 处理完善性 5.5.4 7.1 质量电阻率 5.7.2 7.1 C 组检验 纯 度 5.7.1 7.1 6.4.1.1 检验频度 A、 B、 C 组检验频度应按表 8 规定。 6.4.1.2 批 在同一生产线上 ,采用基本相同的制造工艺过程生产的原始铜箔卷不超过 4500kg 为一批。 6.4.1.3 批量 批量是一批中包含单位产品的数量。 6.4.1.4 单位产品 单位产品是用来确定质量一致性检验从制造厂的一个原始铜箔卷上抽取样本的数量。铜箔的一个单位产品规定为 45kg。 对大于 7 m 的铜箔无此要求，由供需双方确定合适的抽样。 6.4.2 抽样方案 根据

27、质量性能保证水平差异抽样方案分为三种，见表。 表 8 批检方案 等 级 A 组 B 组 C 组 1% AQL/批 3 批 /个月 4 批 /12 个月 2 4% AQL/批 1 批 /3 个月 4 批 /12 个月 由供货方规定 6.4.3 样本单位 卷状商品一个样本单位规定为 1m。 6.4.4 A 组检验 A 组检验应包括表 7 规定的试验。 6.4.4.1 抽样方案 3 级材料和 2 级材料的抽样方案应按表 9 的规定。表 9 之外的抽样方案应由供货方核实，并适合于用户的检验要求。 1 级材料不要求抽样方案，由供货方规定。 表 9 批检抽样方案 批重量 kg 批量 要求的样本数 1 合格

28、判定数 1%AQL 4%AQL 0-350 0-8 2 0 0 351-700 9-15 3 0 701-1150 16-25 5 0 1151-2300 26-50 8 1 2301-4000 51-90 13 1 4001-4500 91-100 20 2 注 1： 对于无拼接的连续卷，超过 350kg时，样本数由供需双方协商减少。 6.4.4.2 拒收批 如果 A组检验结果不符合表 9规定 ,则该批产品不合格而被拒收。供货方可以筛选出有缺陷的产品后，重新提交检验。对重检批应采用供需双方协商的抽样方案进行检验。 6.4.5 B 组检验 B 组检验应包括表 7 规定的试验。 6.4.5.1

29、抽样方案 B 组检验用样本应从已通过 A 组检验的各批中选出的样本中随机抽取。抽样方案应按表 8 的规定。对 3 级材料在三个月中任意选择三批进行检验 ;对 2 级材料在三个月中任意选择一批进行检验； 1 级材料的抽样方案，由供货方规定。 6.4.5.2 B 组检验不合格 如果一个产品不能满足 B 组检验要求 ,则 B 组检验不合格。供货方应将出现不合格的所有项目转入按A 组检验抽样方案进行检验 , 并采取适当的纠正措施直至显示检验结果合格为止。 6.4.6 C 组检验 C 组检验应包括表 7 规定的试验。 6.4.6.1 抽样方案 C 组检验用样本应从已通过 A、 B 组检验的各批中选出的样

30、本中随机抽取 ,抽样方案应按表 8 规定。 3 级材料和 2 级材料在十二个月中任意选择四批进行检验 ; 1 级材料的抽样方案，由供货方规定。 6.4.6.2 C 组检验不合格 如果一个产品不能满足 C 组检验要求 ,则 C 组检验不合格。供货方应将出现不合格的所有项目转 入按 B 组检验抽样方案进行检验 ,并采取适当的纠正措施 ,直至显示检验结果合格为止。 7 试验方法 7.1 外观 试样应按 GBXXXX-XX 进行试验 ,整张试样用校正为 2.0/2.0 的正常视力检查 ,对于外观最差的 50mm 50mm 区域，采用 10 倍放大镜检查。 对于鉴定检验和质量一致性检验，批检方案（见表

31、9）要求的每个样本，至少应测试一块试样。 7.2 针孔和气隙度 针孔和气隙度检查应按 GBXXXX-XX 进行检验。对于附载体铜箔的针孔评定应按以下方法进行 : a. 从每卷上切下一块 300mm 300mm 附载体的铜箔样品 ; b. 把 铜箔样品与 2 张浸胶料或其它半透明载体层合； c. 复合之后，剥掉载体，将层压板的铜箔面朝上放在灯 光台的上方； d. 用 10 倍放大镜进行检验，针孔和气隙度以光亮点显示， 记录针孔个数 ,并用能分辨至 0.025mm的刻度镜测量针孔尺寸。 对于鉴定检验和质量一致性检验，批检方案所要求的每个样本，至少应测试一块试样 。 7.3 清洁度 用校正为 2.0

32、/2.0 的视力检查整张试样。 7.4 尺寸 铜箔的长度和宽度测量应使用适当的工具测量 ,测量应精确至 0.2mm。 7.5 厚度 7.5.1 铜箔厚度 铜箔的总机械厚度应用测微计测量 ,测量应精确至铜箔标称厚度的 1%以内。 对于鉴定检 验和质量一致性检验，批检方案所要求的每个样本，至少应测试一块试样。铜箔厚度的仲裁方法应按 GBXXXX-XX进行。 7.5.2 铜箔的单位面积质量 铜箔的单位面积质量应按 GBxxxx-xxxx 测量。允许使用较小的样品，面积的测量应精确至 1%。 对于鉴定检验和质量一致性检验，应从每个整卷横向切取 3 块试样，每卷至少应测试一次 。对于批检方案所要需要的从

33、同一整卷而来的每个连续样本，最少应测试一块试样。 7.5.2.1 可分离载体铜箔 测量可分离载体铜箔的单位面积质量厚度应按 GBXXXX-XX 进 行。对于鉴定检验和质量一致性检验，应从每个整卷横向切取 3 块试样，每卷至少应测试一次 。对于批检方案所需的从同一整卷而来的每个连续样本，最少应测试一块试样。 7.5.2.2 可蚀刻载体铜箔 测定可蚀刻载体铜箔的单位面积质量厚度应按 GBxxxx-xx 进行。对于鉴定检验和质量一致性检验，应从每个整卷横向切取 3 个试样，每卷至少应测试一次 。对于批检方案所要需的从同一整卷而来的每个连续样本，最少应测试一块试样。 7.6 箔轮廓和表面粗糙度 铜箔轮

34、廓和应按 GBxxxx-xx 进行测定测定。表面粗糙度按 GBxxxx-xx 中处理面的方法测定。对于鉴定检验和质量一致性检验，批检方案所需的每个样本至少应测试一块试样。 7.7 拉伸强度 拉伸强度应按 GBxxxx-xx 进行测定。对于鉴定检验和质量一致性检验 , 批检方案所需的每个样本最少应测试一块试样。 7.8 疲劳延展性 疲劳延展性应按 GBxxxx-xx 进行测定。批检方案所需的每个样本 ,每种箔等级 ,每种不同质量的铜箔最少应测试一块试样。 7.9 延伸率 延伸率应按 GBxxxx-xx 进行测定。对于鉴定检验和质量一致性检验，批检方案所需的每个样本至少应测试一块试样。 7.10

35、剥离强度 高温和接收态铜箔的剥离强度应按 GBxxxx-xx 进行测定。鉴定检验和质量一致性检验，批检方案所需的每个样本最少应测试一块试样。 7.10.1 带载体铜箔的剥离强度 对于小于 17 m 铜箔的剥离强度试验，应在剥掉载体之后进行。 (如果适用，铜箔应采用无光亮剂的酸性镀液加厚至 0.03mm-0.04mm)。 对于鉴定检验和质量一致性检 验，批检方案所需的每个样本最少应测试一块试样。 7.11 载体与铜箔的分离 载体与铜箔的分离应按 GBxxxx-xx 进行测定。对于鉴定检验和质量一致性检验，批检方案所需的每个样本最少应测试一块试样。 7.12 铜箔的可蚀刻性 铜箔的可蚀刻 性应按

36、GBxxxx-xx 进行测定。对于鉴定检验和质量一致性检验，批检方案所需的每个样本最少应测试一块试样。 7.13 化学清洗 铜箔的可化学清洗能力应按 GBxxxx-xx 予以评定。对于鉴定检验和质量一致性检验，批检方案所需的每种钝化类型的 铜箔样本最少应测试一块试样。 7.14 可焊性 铜箔的可焊性应按 GBxxxx-xx 进行测定。以下附加条件也适用： a.在助焊剂处理之前 ,铜箔可进行予清洗 在 60， 10%的 HCl（体积比）中浸泡 15s ，然后水洗、烘干处理； b.从铜箔卷的两边和卷中部切取 3 条 25mm 宽的铜箔条，其长度足够浸入约 50mm 深的焊料中。对于鉴定检验和质量一

37、致性检验，批检方案所需的每个样本、每种钝化形式的铜箔条最少应测试一块试样。 7.15 处理完善性 处理完善性应按 GBxxxx-xx 进行测定。对于鉴定检验和质量一致性检验，批检方案所需的每种质 量、每种处理类型的铜箔样本，最少应测试一块试样。 7.16 纯度 铜箔纯度应按 GBxxxx-xx 进行测定。对于鉴定检验和质量一致性检验，批检方案所需的每个样本最少应测试一块试样。 7.17 质量电阻率 质量电阻率应按 GBxxxx-xx 进行测定。对于鉴定检验和质量一致性检验，批检方案所需的每个样本，每种厚度小于和等于 34 m 的铜箔，最少应测试一块试样。 7.18 抗高温氧化性 在样本上切取

38、三块 100mm100mm 的铜箔试样，在 200烘箱中烘制 15 min，目检铜箔有无氧化变色。 8 包装和标记 8.1 包装 8.1.1 卷状铜箔的包装 8.1.1.1 拼接 除非供需双方另有规定 ,对于卷重 200kg 以上 , 厚度为 17 m 以下的铜箔，每卷中接头数不应超过 3个，厚度为 17 m 以上铜箔 ,每卷中接头数不应超过 2 个。每个接头位置应该用清楚、耐久的标志标明，接头伸出卷外的最大尺寸为 6.5mm。 8.1. 1.2 卷状铜箔应采用防潮材料密封包装，然后装入平板包装箱中，每箱中铜箔的重量由供需双方商定。每个包装应足以保证在运输过程中不被损坏。 8.1.2 片状铜箔

39、的包装 片状铜箔应摆放整齐 , 先用防潮材料密封包装 ,然后装入平板包装箱中 ,每箱中铜箔的重量由供需双方商定。每个包装应足以保证在运输过程中不被损坏。 8.2 标记 每个包装箱应作以下标记 : a) 制造厂名称 ,详细地址 ； b) 产品名称、产品标准编号 ； c) 毛重和净重 ； d) 铜箔等级、型号、规格 ； e) 制造厂的卷号 ； f) 厚度或单位面积质量 ； g) 宽度 。 9 订货单（或合同）内容 订购本标准所列材料的订货单（或合同）内应包括下 列内容； a） 本 标准 名称 ,标准 号及日期 ； b) 铜箔型号 ； c) 特殊删除和选择 ,其中包括允许的针孔 ,拼接要求 ； d) 卷重 ； e) 最小剥离强度要求 ； f) 铜箔宽度 ； h) 采用的增强粘接处理说明。 附录 A （ 资料性 附录） 国内外铜箔型号对照表 A1 国内外铜箔型号对照 见表 A1。 表 A1 IPC GB JIS IEC STD E 型 E-01 ECFI E1 HD E 型 E-02 ECF2 E2 THE E 型 E-03 ECF3 E3 ANN E 型 E-04 - - LTA E 型 E-05 - - AR W 型 W-01 - - LCR W 型 W-02 RCF1 R1 ANN W 型 W-03 RCF2 R2 LTA W 型 W-04 RCF3 R3