NF A05-150-1985 Steel products Techniques of micrographic examination 《钢铁产品 显微照相检查技术》.pdf
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1、- AFNL NF A05-1585 I LOI12372 0002342 657 I -. ISSN 0335-3931 NF A 05-1 50 Dcembre 1985 Produits en acier Tee hniques d examen micrograph que E : Steel products - Techniques of micrographic examination D : Stahierzeugnisse - Mikroskopische prfverfahren. Norme franaise homologue par dcision du Direct
2、eur Gnral de Iafnor le 20 novembre 1985 pour prendre effet le 20 dcembre 1985. Remplace la norme enregistre de mme indice de fvrier 1975. correspondance A la date de publication du prsent document, il nexiste pas de norme ni de travaux internationaux en cours sur ce sujet. analyse Cette norme donne
3、pour les diverses phases de la prparation dun chantillon en vue dun examen micrographique (cest-dire prlvement de lchantillon, pr- paration de la surface dexamen, ractifs utiliser pour lexamen des structures) les divers produits ou mthodes utiliser et les prcautions respecter en vue dun examen dans
4、les meilleurs conditions. Thesaurus International Technique : produit sidrurgique, acier, analyse micro- graphique, examen visuel, microstructure, inclusion non mtallique, prparation de surface. descripteurs modif ications corrections dite et diffuse par lassociation franaise de normalisation (afnor
5、), tour europe cedex 7 92080 paris la dfense - tl. : (1)42.91.55.55 afnor 85582 -_ 0 afnor 1985 18 tirage 85-1 1 AFNL NF A05-150 B5 1i032372 0002343 593 = Produits en acier Techniques dexamen micrographique NF A 05-1 50 8 Dcembre 1985 A VANT-PROPOS La prsente norme est techniquement identique /a nor
6、me enregistre de mme indice de 1975. Les diff- rences entre la prsente dition et celle de 1975 sont essentiellement rdactionnelles lexception de celle du paragraphe 3.3. I (un pr-polissage par des moyens autres que des papiers abrasifs est autoris). SOM MAIRE 1 2 3 3.1 3.2 3.3 4 4. I 4.2 5 5.1 5,2 5
7、.3 5.4 Page OBJET ET DOMAINE DAPPLICATION . 2 BUT DE LEXAMEN MICROGRAPHIQUE . 2 PRPARATION MICROGRAPHIQUE DE LCHANTILLON 3 Gnralits 3 Prlvement de lchantillon ,. 3 Prparation de la surface dexamen 3 RACTIFS POUR EXAMEN DES STRUCTURES Liste des ractifs dattaques micrographiques 5 Domaine dapplication
8、 et mode demploi des ractifs . 5 6 EXAMEN MICROGRAPHIQUE DES INCLUSIONS NON MTALLIQUES . Gnralits Mode dobservation . 1 O Types dinclusions et leurs caractres morphologiques 1 1 Ractifs dattaques slectives . 12 1 O 10 e ANNEXE - Classement des ractifs suivant leur but gnral et leur domaine demploi .
9、 , . . , . 19 1 OBJET ET DOMAINE DAPPLICATION La prsente norme a pour objet la description du mode opratoire des techniques dexamen micrographique dchantillons dacier : prlvement et polissage, ractifs dattaques micrographiques, mode dobservation de lchantillon dans le cas de lexamen des inclusions n
10、on mtalliques. 2 BUT DE LEXAMEN MICROGRAPHIQUE Lexamen micrographique a pour principal but la mise en vidence de la structure de lchantillon et des - - -.inr b) les vitesses de rotation des disques sont de lordre de 150 300 tr/min. II est noter que le facteur important est la vitesse linaire, celle-
11、ci variant rapidement lorsque lchantillon est au centre ou la priphrie du disque. c) dure de polissage La dure de polissage est variable suivant la nuance dacier : en moyenne 2 3 min par granulomtrie. 3.3.2 Polissage de finition a Trois principaux modes de polissage de finition sont gnralement utili
12、ss : - polissage lectrolytique, - polissage lalumine, - polissage la pte diamante. 3.3.2.1 Polissage lectrolytique Le polissage lectrolytique est bas sur le principe de la dissolution anodique. Lchantillon constitue lanode dune cellule lectrolytique dont le schma de principe est donn la figure 2. La
13、 cellule peut tre remplace par une lectrode en acier inoxydable ou en graphite entoure dune matire spongieuse imprgne de llectrolyte (polissage au tampon). Les conditions de polissage lectrolytique sont dfinies par le choixde llectrolyte, de la tension et intensit du courant et de la dure de polissa
14、ge. Toutes ces conditions sont lies la nature de lchantillon polir. Aucune rgle gnrale ne peut tre donne si ce nest que les valeurs de la tension et de lintensit retenir sont celles correspondant un maximum de rs i st a nce de I c h a nt i I I on. Remarque : II est noter que le polissage lectrolytiq
15、ue doit tre exclu pour lexamen des inclusions non mtalliques, celles-ci tant dchausses lors du polissage. Cependant, il offre lavantage dlimi- ner icrouissage superficiel provoqu par le pr-poiissage papier. Dans un certain nombre de cas, il y a intrt effectuer, avant polissage lectrolytique, un poli
16、ssage lalumine ou la pte diamante, pour viter davoir prolonger exagrment le polissage lectrolytique, ce qui conduit souvent de mauvais rsultats. e 3.3.2.2 Polissage lalumine Ce polissage consiste frotter lchantillon sur des disques de feutre ou drap, imbibs dune suspension dalumine. Les granulomtrie
17、s sont gnralement Caractrises par le temps ncessaire au dpt de lalumine en suspension, aprs agitation. Plus lalumine est fine, plus cette dure est longue : alumine 1 h, alumine 12h, etc. (I) Voir bibliographie. a (2) Une premire granulomtrie plus grossire peut tre utilise dans le cas de surface plus
18、 rugueuse. AFNL NF AOS-L50 85 I 3032372 0002346 2T2 I -5- NF A 05-1 50 A titre indicatif, deux granulomtries sont gnralement ncessaires : alumine 1 h et alumine 24 h, avec des e dures de polissage de 2 5 min par granulomtrie. Les vitesses de rotation du disque sont de lordre de 150 tr/min 750 tr/min
19、. Lchantillon est lav leau entre chaque granulomtrie et en fin de polissage, puis sch lair chaud. 3.3.2.3 Le polissage se fait comme prcdemment, lagent de polissage tant de la pte diamante rpartie Iaidedun diluant sur le disque. Diffrentes granulomtries, caractrises par la taille moyenne en micromtr
20、es des grains, sont utilises : par exemple 14 - 6 - 3 - 1 - 1/4. Un lavage de lchantillon, laide dun solvant appropri la pte diamante, est effectu chaque change- ment de granulomtrie et en fin de polissage. Lchantillon est ensuite sch lair chaud. A titre indicatif, le polissage peut comprendre les 2
21、 granulomtries suivantes : 6 et 1 pm avec des vitesses de rotation de 150 300 tr/min et une dure moyenne de 2 3 min par granulomtrie. Polissage la pte diamante 3.3.3 Attaques micrographiques Lchantillon poli peut tre observ directement sans attaque micrographique dans le cas dexamen, par exemple din
22、clusions non mtalliques, dhtrognits telles que fissures, porosits, etc. Lexamen de la structure ncessite une attaque micrographique agissant par attaque prfrentielle ou par coloration de certains constituants par rapport dautres. Lattaque micrographique donne des diffrences de relief ou de coloratio
23、n entre les diffrents constituants ou entre les cristaux diffremment orients dune mme phase, ce qui permet de les observer ; elle peut dans certains cas rvler des ingalits de concentration des solutions solides. e II est noter que le rsultat de lattaque micrographique dpend en premier lieu du soin e
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