KS D ISO 21270-2005 Surface chemical analysis-X-ray photoelectron and Auger electron spectrometers-Linearity of intensity scale《表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性》.pdf
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2、y of intensity scale 2003 ISO 21270 Surface chemical analysisX-ray photoelectron and Auger electron spectrometersLinearity of intensity scale , . 1. X 2 . . 2. . , . KS D ISO 18115 3. ECuCu L3VV E j jI AES XPS X i (flux) ik MH(E ) E X j jM i iML(E ) E X j jNH(E ) E X j jN i iNL(E ) E X j jN , k(1) m
3、ax e n 4. . AES D ISO 21270:2005 X (flux) 30 XPS , . (flux) . X 2 30 XPS , . . . . , . 6.1 , 6.2 6.3 . 6.4 , 6.5 . 6.6 Cu L3VV . X 30 X (flux) . 6.7 AES , XPS X . 6.8 X (flux) 30 XPS , X . 6.9 . , 6.10 . 5. . , 1/3 ( ), 12 . 6. 6.1 (flux) , AES XPS . 99.8 % Cu , 6.2 . 2 XPS . 2 99.8 % Cu . . 6.3 . 1
4、. 10 mm10 mm, 0.10.2 mm . 2. 10 mm10 mm , 0.1 0.2 mm . 6.2 6.2.1 1 % . 2 D ISO 21270:2005 6.2.2 , . 6.2.3 2 % . ( ) Cu . 6.6 6.8 ( ) 3 % . 1. 1 cm2 5 keV 30 A 1 ( ). 2. Cu AES XPS 3 6 . 6.2.4 1 . 2 . 6.4 . 6.3 6.3.1 . . . XPS 2, 7, 8 . 6.3.2 , . 6.4 . 6.46.10 , , , . . , , , . , . . 6.5 6.5.1 . . (X
5、PS ), 1 (AES ), , . . . , . 10 . . 6.5.2 AES , X (flux) 30 XPS , 6.6 (flux) . X (flux) 2 30 XPS 6.8 . 3 D ISO 21270:2005 6.6 (flux) 6.6.1 Cu Cu L3VV . X (flux) ECu 0.1 eV . 1 eV Cu L3VV (Fermi) 918.69 eV11, 12 , 914.2 eV. Mg X XPS 334.91 eV Al X 567.92 eV. 6.6.2 0.5 eV 0.1 eV 0.5 eV , 1 100 000 . AE
6、S XPS X (flux) 30 . (flux) 30 (flux) 5 % 6.4 . (flux) X , . AES 25 m 25 m (raster) , (Faraday) . 25 m . XPS (flux) , X . (flux) , . 6.7 (flux) 6.7.1 I 30 6.6.1 Ei Cu Ni 30 . N /I 30 . 1 N /I , Ni i i i i N /I , N /Iii i i= 0 k . k(1 ) k(1 ) . . 0 Nmax N N /I (1 ) . Ni i i max . . 6.7.2 Nmax . . 6.7.
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