KS C IEC 60749-24-2006 Semiconductor devices－Mechanical and climatic test methods－Part 24：Accelerated moisture resistance－Unbiased HAST《半导体器件 机械和气候试验方法 第24部分 加速抗湿性 无偏HAST》.pdf

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1、 KSKSKSKS SKSKSKS KSKSKS SKSKS KSKS SKS KS 2006 3 24 http:/www.kats.go.krKS C IEC 6074924 24： HAST KS C IEC 60749 24： 2006 (2011 )C IEC 60749 24： 2006 : ( ) ( ) ( ) ( ) : (http:/www.standard.go.kr) ： ： 2006 3 24 ： 2011 12 13 2011-0563 ： ： ( 02-509-7294) (http:/www.kats.go.kr). 10 5 , . ICS 31.080 KS

2、 C IEC 24： HAST 60749 24： 2006(2011 ) Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 24： Accelerated moisture resistance Unbiased HAST 2004 IEC 60749 24 Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 24： Accelerated moisture resistance Unbiased HAST . 1. (HAST) . (

3、) , . ( , ). , . IEC 60749(1996)( ) 3 4. c) . 2. . ( ) , . ( ) ( .) . IEC 60749 33 33： IEC 60749 5 5： 3. . 3.1 . (maximum thermal mass loading) - , - 50 , (DUTs) . 5. . 3.2 . 30 mm , . , . C IEC 60749 24： 2006 2 3.3 , . , . 3.4 1104m(1 M cm) . 4. , . IEC 60749 33 , . , . . IEC 60749 33 , HAST . (pin

4、-to-pin) (irrelevant) . , (Tg) (unrealistic) . HAST . 85 /85 % RH . HAST HAST . , 85 /85 % RH . IEC 60749 5 . 5. 1 , . 1 , (3)(4) ( )(1) (1) % ( )(2) (2) kPa A 1302 855 125 230 B 1102 855 105 122 HAST , . 85 /85 % RH . HAST HAST . , 85 /85 % RH . IEC 60749 5 . (1) (2) (3) . 6.4 . (4) HAST . . . . A

5、96 h B 264 h . . 2 0 2 0 C IEC 60749 24： 2006 3 6. . - - , . 30 , 40 % . 6.1 -(ramp -up) 3 . , . - DUT . 50 % , . . 6.2 -(ramp -down) ( 104 ) - , 3 . 104 - . . - . . , 50 % . 6.3 (clock) , - . 6.4 - , 48 . - 96 . . . , “ ” 1/3 . 130 /85 % RH 144 , 288 . 6.5 , . . 7. . . 8. . 9. . a) (5. ) b) (5. ) c

6、) (6.4 ) 24 ： HAST 153787 1 92 3(13) (02)26240114 (02)2624 0148 9 http:/ KSKSKSSKSKS KSKS SKS KSKS SKSKS KSKSKSKorean Agency for Technology and Standards http:/www.kats.go.kr KS C IEC 60749 24： 2006 Semiconductor devices Mechanical climatic test methodsPart 24：Acceleratedmoisture resistanceUnbiased HAS TICS 31.080