GB T 13397-2008 合金内氧化法银金属氧化物电触头技术条件.pdf

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1、ICS 2912099K 14 a雪中华人民共和国国家标准GBT 1 3397-2008代替GBT 13397-1992合金内氧化法银金属氧化物电触头技术条件Technical specification for silver-metaloxide electrical contacts by alloy internaloxidation method2008-04-23发布 2008-12-01实施宰瞀髁鬻瓣警糌瞥星发布中国国家标准化管理委员会“1”刚 置GBT 13397-2008本标准代替GBT 133971992(合金内氧化法银金属氧化物电触头技术条件。本标准与GBT 13397 1

2、992相比主要变化如下：删除了有关银氧化锡的内容；增加了术语和定义；修改了部分技术指标；检验规则按GBT l-1 2000的要求作了较大修改，抽检样品数量有所减少；增加了附录B。本标准的附录A为规范性附录、附录B为资料性附录。本标准由中国电器工业协会提出。本标准由全国电工合金标准化技术委员会归口。本标准负责起草单位：桂林电器科学研究所、中希合金有限公司、温州宏丰电工合金有限公司、绍兴县宏峰化学金属制品厂。本标准参加起草单位：上海电科电工材料有限公司、桂林金格电工电子材料科技有限公司、佛山精密电工合金有限公司、福达合金材料股份有限公司、广州市银玑电工合金有限公司。本标准主要起草人：谢永忠、郑元龙

3、、陈晓、陈达峰、陈京生、吴宇烨、刘辉、霍志文、王永根、王长明。本标准所代替标准的历次版本发布情况为：GBT 133971992。合金内氧化法银金属氧化物电触头技术条件GBT 13397-20081范围本标准规定了合金内氧化工艺制造的银氧化镉、银氧化锌、银氧化铜等银金属氧化物电触头(以下简称电触头)的要求、检测方法、检验规则、标志、包装与贮运等内容。本标准适用于合金内氧化工艺制造的银氧化镉、银氧化锌、银氧化铜等银金属氧化物电触头，这些产品主要应用于各种低压开关电器。2规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修

4、订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。GBT 282812003计数抽样检验程序第1部分：按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划(iclt ISO 28591：1999)GBT 29004电工术语电工合金(GBT 290041994，neq IEC 51)GBT 5586 电触头材料基本性能试验方法GBT 5587银基电触头基本形状、尺寸、符号及标注JBT 7774银氧化锌电触头材料化学分析方法JBT 7776银氧化镉电触头材料化学分析方法JBT 8753 电触头材料金相图谱JBT 898

5、5 电触头材料金相检验方法3术语和定义本标准除采用GBT 29004规定的术语外，还采用下列术语和定义。31添加物additives除主成分外，在制造过程中为改善电触头材料的力学或电气等性能而添加的物质，其添加量(质量分数)不超过1。32连续晶界沉淀物continuous grain boundary sedimentation在晶界连续沉积的金属氧化物。33贫氧化物亮带un-oxidated meml bright area在合金内氧化过程中，因溶质元素的扩散而形成的贫氧化物区域，称为贫氧化物亮带。34未氧化合金夹层un-oxidated alloy interlayer在合金内氧化过程中，

6、因溶质元素未氧化而形成的合金层。1GBT 13397-20084要求41外观电触头产品表面应无裂纹、鼓泡、缺边、缺角与明显凹陷及斑点，触头产品厚度小于或等于1 mm其边缘毛刺高度不应超过005 mm，触头产品厚度大于1 mm者毛刺高度不应超过01 mm。42尺寸公差、标注电触头的尺寸公差、标注应符合GBT 5587规定，或由供需双方协商决定。43化学成分电触头的化学成分应符合表1规定，或由供需双方商定。表1 电触头的化学成分(不含焊接层) 单位为质量分数，添加物总量电触头产品名称 代表符号 Ag CdO ZnO CuO内氧化银氧化镉(8) Ag-CdO(8)(IO) 余量 8土1内氧化银氧化镉

7、(8)T Ag_CdO(8)一T(Io) 余量 8土1 1_5内氧化银氧化镉(10) Ag-CdO(10)(I0) 余量 10士1内氧化银氧化镉(10)一T AgCdO(10)一T(L O) 余量 10士1 15内氧化银氧化镉(12) Ag-CdO(12)(Io) 余量 12士1内氧化银氧化镉(1Z)一T Ag-CdO(12)一T(IO) 余量 12土l 15内氧化银氧化镉(13) Ag-CdO(13)(L O) 余量 13土】内氧化银氧化镉(13)一T Ag_CdO(13)一T(IO) 余量 13士1 15内氧化银氧化镉(15) AgCDO(15)(IO) 余量 15土1内氧化银氧化镉(15

8、)一T Ag-CdO(15)一T(IO) 余量 15士1 15内氧化银氧化锌(8) ACZnO(8)(L o) 余量 8士1内氧化银氧化锌(8)一T AgZnO(8)一T(Io) 余量 8士1 10内氧化银氧化锌(10) Ag-ZnO(10)(IO) 余量 10士1内氧化银氧化锌(10)T Ag-ZnO(10)T(IO) 余量 10土1 10内氧化银氧化铜(10) Ag-CuO(10)(IO) 余量 10士1内氧化银氧化铜(10)一T Ag_CuO(10)一T(I0) 余量 10士1 1044物理、力学性能电触头的物理、力学性能应符合表2规定。表2电触头的物理、力学性能密度 电阻率 硬度电触头

9、产品名称 代表符号 gcm3 州1cm HB HV内氧化银氧化镉(8) Ag-CdO(8)(IO) 1005 200 65 68内氧化银氧化镉(8)一T Ag-CdO(8)(IO)一T 1005 300 67 70内氧化银氧化镉(10) Ag-CdO(10)(Io) 1000 210 65 68内氧化银氧化镉(10)一T Ag_CdO(10)(IO)一T 1000 320 69 722表2(续)GBT 13397-2008密度 电阻率 硬度电触头产品名称 代表符号 gcm3 “1cm HB HV内氧化银氧化镉(12) Ag-CdO(1Z)(Io) 990 230 67 70内氧化银氧化镉(12

10、)一T Ag_CdO(12)(IO)一T 990 340 69 72内氧化银氧化镉(13) Ag_CdO(13)(IO) 980 250 70 73内氧化银氧化镉(13)一T Ag_CdO(13)(IO)一T 980 350 74 77内氧化银氧化镉(15) Ag CdO(15)(IO) 975 270 70 73内氧化银氧化镉(15)一T Ag_Cd0(15)(IO)一T 975 350 74 77内氧化银氧化锌(8) AgZn0(8)(IO) 970 320 65 68内氧化银氧化锌(8)一T Ag-ZnO(8)(IO)一T 970 340 69 72内氧化银氧化锌(10) Ag-Zn0(

11、10)(Io) 955 340 71 74内氧化银氧化锌(10)T AgZnO(10)(Io)T 955 350 74 68内氧化银氧化铜(10) Ag-CuO(10)(I0) 960 250 65 68内氧化银氧化铜(10)一T Ag_CuO(10)(IO)一T 960 350 69 7245金相组织451 氧化物质点在银基体中应分布均匀(金相组织图例见JBT 8753)。452晶界中不应出现长度大于或等于150 pm、宽度大于或等于6 pm的连续晶界沉积物。453在试样磨片的整个观察面上，不允许有长度大于或等于30xm的气孔、100 pm长的夹杂物或i00 pm长的聚集氧化物。在任一视场内

12、(100)，最多允许有三处大于或等于10 pm而小于30 pm的气孔、大于或等于30 pm而小于100 ttm的夹杂物、大于或等于30 pm而小于100 pm的聚集氧化物，当上述允许值范围内的气孔、夹杂物、聚集氧化物同时存在时，共计不应超过三处。454电触头产品断面经磨光后观察，不应有未氧化的合金夹层，银氧化镉产品的贫氧化镉亮带宽度不应大于触头厚度的5，其他银金属氧化物产品的贫氧化物亮带宽度不应大于触头厚度的8，在内氧化过程中不应形成分层裂纹。455电触头产品的复合银焊接层厚度应为触头总厚度的1020，或由供需双方商定。银金属氧化物与银焊接层界面不应有裂纹及长度超过150 pm的连续黑色界线。

13、46其他要求461 银金属氧化物电触头产品的焊接面在外表不易区别时应有标记。462有特殊要求时，由供需双方协商决定。5检测方法51外观电触头产品的裂纹、鼓泡、凹陷、缺边、缺角采用目测，或借助于工具显微镜或投影仪观测。52尺寸外形尺寸、毛刺用读数精度值为002 mm的游标卡尺及分度值为001 mm的外径千分尺，或其他具有相同精度的仪器工具如投影仪等测试。53化学成分531 银氧化镉电触头的化学成分分析按JBT 7776进行。3GBT 13397-2008532银氧化锌电触头的化学成分分析按JBT 7774进行。533银氧化铜电触头的化学成分分析参照附录B或由供需双方商定。54物理与机械性能密度、

14、电阻率、硬度测定按GBT 5586进行。55金相组织金相组织检测按JBT 8985进行。6检验规则61组批规则由同一批配料、按相同的工艺、在同一设备制造出来的产品构成一个检验批。62出厂规定每个检验批的产品应由承制方质检部门检验合格后并附有检验合格证，方可出厂。63检验项目及其顺序检验项目为第4章规定的全部项目。采用合适的检验顺序，同一试样可进行多项性能检测。64抽样方案及判定规则641外观为逐件检查，按件判定。642尺寸检验按GBT 282812003规定，采用S-2特殊检验水平、正常检验二次抽样方案，接收质量限AQL值为40。643硬度检验按GBT 282812003规定，采用S-2特殊检

15、验水平、正常检验二次抽样方案，接收质量限AQL值为25。644化学成分、金相组织、密度、电阻率采用表3所示抽样方案及判定规则。表3化学成分、金相组织、密度、电阻率抽样方案及判定规则接收质量限(AQL)批量 样本 样本量 累计样本量Ac Re第一 2 2 0 *10 000第二 4 6 l 2第一 3 3 0 210 00130 000第二 6 9 1 2第一 4 4 0 230 00150 000第二 8 12 1 2第一 5 5 O 250 001100 000第二 10 15 1 2第一 6 6 1 3100 00l第二 12 18 2 3第一次抽样不合格时，从累计样本量的检验结果判定。6

16、5说明事项651 只有在42、43、44、45规定的所有检验项目符合本标准要求时，方判该批产品合格。652为方便本标准使用，附录A(规范性附录)给出了样本量字码和正常检验二次抽样方案。4GBT 1 3397-20087标志、包装和贮运71标志711每批产品应附有产品合格证，如用户需要，还应提供质量保证书。712产品标志应包含如下内容：a) 电触头材料名称(或代表符号)、型号或尺寸规格及批号(或生产日期)；b) 电触头数量(或净重)；c)检验日期；d)制造商名称及地址；e)检验员代号或检验部门印鉴。713产品质量保证书内容应包括：a) 电触头材料名称(或代表符号)、型号或尺寸规格及批号(或生产日

17、期)；b) 电触头材料产品性能和金相组织照片；c)检验日期；d)制造商名称；e)产品执行标准号和标准名称。72包装721 用塑料袋封装或用塑料袋封装后再进行盒装。722产品发运时应装于包装箱内，用松软的材料填实，每箱质量不宜超过15 kg，并应符合运输部门的规定。723在包装箱内应附有装箱单，装箱单应包含：a)袋(盒)的总数；b)各种型号或尺寸规格电触头的袋(盒)数；c)电触头净重；d)包装日期。724包装箱外应标明：a)制造商名称及地址；b)收货单位及地址；c)毛重及净重；d)防潮、防震标志。73贮运731产品应保存于干燥、无腐蚀气氛的场所。732产品拆封后应及时使用，不应长期露空存放。7。

18、33包装完好的产品可按普通货物运输。GBT 13397-2008附录A(规范性附录)正常检验二次抽样方案A1本附录引用的数据部分摘自GBT 28281 2003，以便使用本标准时查用。A2样本量字码见表A1，二次正常检查抽样表如表A2。表A1样本量字码特殊检验水平 一般检验水平批 量S_1 s-2 S_3 S-4 I 28 A A A A A A B915 A A A A A B C1625 A A B B B C D2650 A B B C C D E5190 B B C C C E F91150 B B C D D F G151280 B C D E E G H281500 B C D E

19、 F H J5011 200 C C E F G J K1 2013 200 C D E G H K L3 20110 000 C D F G J L M10 00135 000 C D F H K M N35 001150 000 D E G J L N P150 001500 000 D E G J M P Q500 001及其以上 D E H K N Q R表A2正常检验二次抽样方案接收质量限(AQL)样本量字码 样本 量本量 累计样本量 2 5 40 10Ac Re Ac Re Ac ReA 0 O O第一 2 2B第二 2 4第一 3 3 0 2C 介l 2第二 3 6第一 5 5

20、0 3D 口 O3 4第二 5 10第一 8 8 0 0 2 1 3E第二 8 16 1 2 4 5表A2(续)GBT 1 3397-2008接收质量限(AQL)样本量字码 样本 量本量 累计样本量 25 40 10Ac Re Ac Re Ac Re第一 13 13 0 2 0 3 2 5F第二 13 26 l 2 3 4 6 7第一 20 20 0 3 1 3 3 6G第二 20 40 3 4 4 5 9 lO第一 32 32 1 3 2 5 5 9H第二 32 64 4 5 6 7 12 13第一 50 50 2 5 3 6 7 1lJ第二 50 100 6 7 9 10 18 19第一

21、80 80 3 6 5 9 1l 16K第二 80 160 9 lO 12 13 26 27第一 125 125 5 9 7 11L第二 125 250 12 13 18 19第一 200 200 7 1l 11 16M第二 200 400 18 19 26 27第一 315 315 11 16 八N第二 315 630 26 27J第一 500 500 lP第二 500 1 000第一 800 800Q第二 800 1 600第一 1 250 1 250R第二 1 250 2 500O使用箭头下面的第一个抽样方案，如果样本量等于或超过批量，则执行。检验O使用箭头上面的第一个抽样方案；*使用对

22、应的一次抽样方案(或者使用下面适用的二次抽样方案)Ac接收数；Re梧螗赞7GBT 13397-2008附录B(资料性附录)银氧化铜中铜含量的测定B1方法要点试样以硝酸溶解后，利用高价铜盐与碘化钾在弱酸性溶液中形成碘化亚铜沉淀，游离出来的碘用硫代硫酸钠标准溶液滴定，以淀粉为指示剂。B2试剂B21硝酸：1+1。B22氨水：密度09 gcm3。B23尿素：固体。B24醋酸：36。B25碘化钾：30。B26硫氰酸铵；20。B27淀粉：1水溶液。B28硫代硫酸钠标准溶液：005 N。B3配制及标定B31配制称取试剂7 g溶解于经煮沸冷却的水中，加入无水碳酸钠02 g，溶解后用水稀释至1 L。存放于棕色瓶

23、中，避光保存一周后标定使用。B32标定称取纯铜(9999)o400 0 g于300 mL烧杯中，加入硝酸(1+1)10 mL，盖上表皿，加热溶解。加入浓硫酸5mL蒸至冒白烟。取下稍冷，加水50mL溶解盐类，冷却至室温移人200mL容量瓶中，用水稀释至刻度，摇均。准确吸取该溶液20mL于200mL锥形瓶中，用氨水稀释至蓝色出现。B4分析方法称取式样05 g放入300 mL锥形瓶中，加硝酸(1+1)10 mL，加热溶解，煮沸除去氮的氧化物，加人尿素1 g再煮沸1 min2 min(随时补充水)，稍冷，以氨水中和至溶液铜复离子之兰色出现为止，煮沸驱除多余的氨。加醋酸5 mL，冷却至18C以下，加碘化钾(30)10 mL，稍加振荡，以硫代硫酸钠标准溶液滴定至淡黄色，加入5 mL淀粉溶液，继续滴定至淡黄色，加硫氰酸铵(20)10 mL，最后滴定至兰色完全消失，出现清晰淡黄色即为终点。铜的质量分数按式B1计算：Cu()一TXVX 100(B1)U8式中：Cu()铜含量，质量分数，；T硫代硫酸钠标准溶液对铜的滴定度，单位为克毫升(gmL)V滴定硫代硫酸钠标准溶液的体积，单位为毫升(mL)；G 称取试样量，单位为克(g)。GBT 13397-2008