GB T 12859.201-2012 电子元器件质量评定体系规范 压电陶瓷谐振器 第2-1部分：空白详细规范-评定水平E.pdf

《GB T 12859.201-2012 电子元器件质量评定体系规范 压电陶瓷谐振器 第2-1部分：空白详细规范-评定水平E.pdf》由会员分享，可在线阅读，更多相关《GB T 12859.201-2012 电子元器件质量评定体系规范 压电陶瓷谐振器 第2-1部分：空白详细规范-评定水平E.pdf（12页珍藏版）》请在麦多课文档分享上搜索。

1、ICS 31. 140 L 21 ._-旦旦出.N豆豆运豆豆豆2-:V飞，-，:.-. i可f.1I Y，飞 ，二-.:f.: r: . 院飞飞飞._.飞:一一唱唱国中华人民共和国国家标准GB/T 12859.201-2012月EC61253-2-1 : 1993 代替GB/T12861-1991,GB/T 12863-1991 电子元器件质量评定体系规范压电陶瓷谐振器第会1部分:空白详细规范评定水平EPiezoelectric ceramic resonators一A specification in the IEC quality assessment system for electro

2、nic components (IECQ) -Part 2-1 : Blank detail specification Assessment level E (IEC 61253-2-1: 1993 , IDT) 2012-11-05发布2013-02-15实施只?飞)飞./、，吨rd岳jmIJ苦层n:tj中华人民共和国国家质量监督检验检菇总局峪非中国国家标准化管理委员会.llJ GB/T 12859.201-2012/IEC 61253-2-1: 1993 前GB/T 12859(电子元器件质量评定体系规范压电陶瓷谐振器分为如下几个部分z第1部分z总规范一鉴定批准p一一第2部分z分规范-一

3、鉴定批准z-一第2-1部分z空白详细规范一一评定水平E.本部分为GB/T12859的第2-1部分。本部分按照GB/T1. 1 -2009给出的规则起草。本部分代替GB/T12861-1991(电子设备用压电陶瓷谐振器空白详细规范低频压电陶墅谐振器评定水平E(可供认证用川和GB/T12863-1991 (电子设备用压电陶瓷谐振器空白详细规范高频压电陶瓷谐振器评定水平E(可供认证用)，与GB/T12861-1991和GB/T12863-1991相比，主要变化如下z二将低频压电陶瓷谐振器和高频压电陶瓷谐振器的要求合并为同一个空白详细规范;一一根据分规范修改相应的引用内容。本部分使用翻译法等同采用IE

4、C61253-2-1: 1993(压电陶瓷谐振器IEC电子元器件质量评定体系第2部分=分规范鉴定批准第一篇z空白详细规范一评定水平盼。本部分还作了下列编辑性修改z二二一用GB/T2828. 1-2003代替IEC410: 1973(计数检查抽样方案和程序)，前者与后者在使用中元技术性差异。本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。本部分由全国频率控制与选择用压电器件标准化技术委员会(SAC/TC182)归口。本部分起草单位z中国电子元件行业协会压电晶体分会、浙江嘉康电子股份有限公司。本部分主要起草人z章怡、姜连生、戴黎明、沈金叶。本部分所代替标准的历次版本发布情况为z二十一GB/T12861-

5、1991,GB/T 12863-1991. I GB/T 12859.201-2012月EC61253-2-1: 1993 百l t-J E司本空白详细规范是分规范的补充文件，规定了详细规范的格式、编排和最少内容的要求。不采用这些要求的详细规范可以认为是不符合相关规范规定的。制定详细规范时，应考虑分规范中2.3的内容。下列内容填人表中方括号内对应数字标注的位置处。详细规范的识别1 授权发布详细规范的机构z国际电工委员会或国家标准机构。2J IEC或国家标准的详细规范编号、发布日期及国家标准体系要求的更多的信息。3J IEC或国家标准的总规范编号和版本号。4J 空白详细规范编号。谐振器的识别5J

6、 谐振器型号的筒述。6J 典型的结构信息(适用时。7J 带有主要尺寸的外形图，这些尺寸是频率控制和选择用器件外形制图导则和/或国家标准或国际标准中对外形的要求，对于互换性很重要。还可以将这些尺寸在详细规范的附录中给出。8J 使用的评定水平或/和使用某个评定水平的应用组别。注E详细规范使用的评定水平应从GBjT12859. 22012分规范的3.5.4中选取。即只要各试验的分组不变，一个空白详细规范可组合使用几个评定水平。9J 最重要特性的参考数据，以能够比较不同型号的谐振器。详细规范的发布机构IJ 规范的版本号2J 发布日期第页，共页按GBjT12859. 1-2012 3J 4J 鉴定批准评

7、定质量的元器件外形图(见表1)7J 电子设备用压电陶瓷谐振器5J I (第三视角6J 评定水平:E8J 在本栏的尺寸范围内，允许其他形状.性能等级g 注z按本详细规范鉴定合格的元器件的有效信息在IECQC 001005中给出.E G/T 12859.201-2012月EC61253-2-1: 1993 电子元器件质量评定体系规范压电陶瓷谐振器第2-1部分:空白详细规范一一评定水平E1 一般鼓据1. 1 推荐的安装方法见GB/T12859. 2-2012的2.3.3.1.2 尺寸表1外形尺寸|丁?一I w I H I T I 注2尺寸应按最大值或标称值及其公差给出。1. 3 额定值和特性a) 工

8、作频率范围，-Hz -Hz (见表2); b) 工作频率偏差(初始频率准确度)，一%;0 工作频率的测量电路(见图1);d) 额定电压ze) 气候类别:-/-/-;f) 谐振电阻(见表2);g) 绝缘电阻zh) 温度特性。单位为毫米1 GB/T 12859.201-2012/IEC 61253-2-1: 1993 | 测时| 叫| J c I v I R I.j 圄1工作频率的测量电路表2工作频率及其对应的额定值和外壳尺寸工作频率范圈谐振电阻其他额定值. 对应的外壳尺寸)一一一1. 4 规范性引用文件GB/T 2828.12003计数抽样检验程序第1部分:接接收质量限CAQL)检索的避批检验抽

9、样计划(idtISO 2859-1 11999) GB/T 12859. 1-2012 电子元摇件质量评应体磊规范岳电陶瓷谐振器第1部分E总规范一鉴定批准(lEC61253-1:1993 ,MOD) GB/T 12859. 22012 电子元器件质量评定体系规范压电陶瓷谐振器第2部分=分规范鉴定批准(lEC61253-2:1993 ,MOD) IEC QC 001005: 2003 lEC电子元器件质量评定体系(IECQ)经IECQ-CECC体系(包括ISO9000)认可的企业、产品和服务的登记表(lECQuality Assessment System for Electronic Comp

10、onents (lECQ)-Register of firms , products and scrvices appra何dunder the IECQ-CECC system, including ISO 9000) 1. 5 标志谐振器及其初级包装的标志应符合GB/T12859. 2-2012中2.5的要求。注2元件标志及包装的细节应全部在详细规范中给出.1. 6 订货资料本部分包括的谐振器订单应以明文或代码形式给出，最少包含下列信息za) 额定工作频率zb) 工作频率偏差5c) 详细规范号及其版本信息。2 GB/T 12859.201-2012月EC61253-2-1: 1993 1.

11、7 放行批证明记录要求或不要求。1.8 附加信息(不用于检验目的)1.9 对总规范和/或分规范而言，附加的或增加的严酷度等级或要求注z仅当必要时，才附加或增加要求。表3其他特性本表用于增加的或比分规范严酷度等级更高的特性2 检验要求2. 1 程序2. 1. 1 鉴定批准程序应按GBjT12859.2-2012中3.4的规定。2. 1. 2 质量一致性检验的试验一览表见表4，它包括抽样、周期、严酷度等级和要求。检验批的构成按GB/T 12859.22012中3.5.1的规定。表4质量一政性检验的试验一览表试验章条号D或ND 试验条件1)II) AQI) 性能要求口一A组检验(逐批ND 5-4 2

12、.5 A1分组4.1日检按4.1，标志应清晰，并符合本部分1.5的规定4.1尺寸(规检)接本部分表1的规定A2分组ND E 1. 0 4.2.1工作频率见图1在规定的允许偏差内4.2.2谐振电阻矢量阻抗计法按4.2.2.24.2.3自由电容按4.2.3.24.2.4绝缘电阻方法:.按4.2.4.24.2.5耐电压方法:.元击穿或飞弧B组检验(逐批D 5-3 2.5 用漫润的引出端焊料自由流动4.5可焊性方法2或焊料在s内流动，表明镀锡良好3 GB/T 12859.201-2012月EC61253-2-1: 1993 表4(续)样本大小和试验章条号D或试验条件。合格判定数3)性能要求1)ND p

13、 咀c C组检验周期ND 6 9 1 C1A分组C1分组的部分样品4. 1尺寸见详细规范4.3引出端强度目检元可见损伤4.4耐焊接热方法见详细规范(方法1A)恢复时间:24h土2h 4.4.2最终测量目检无可见损伤，标志清晰工作频率Af/f符合4.2.2ClB分组D 6 18 l C1分组的其他样品4.6温度快速变化8A为下限温度类别8B为上限温度类别5个循环持续时间t=30rnin 恢复时间:24h土2h 4.6.3最终检验目检元可见损伤4.7振动安装方法见详细规范程序B4频率范围zHz-Hz 振帽:1.5 rnm或加速度196rn/s2 (取较小严酷度)试验总持续时间:6h 4.7.2最终

14、检验目检无可见损伤4.8碰撞(或冲击，见4.9)安装方法见详细规范碰撞次数z加速度2m/s2脉冲持续时间2ms4.9冲击(或碰撞，见4.8)安装方法见详细规范加速度2m/s2脉冲持续时间2ms4.8.2最终检验目检元可见损伤，标志清晰或4.9.2最终检验工作频率Af/f符合4.9.24 GB/T 12859.201-2012月EC61253-2-1: 1993 表4(续)r-一一一一-样本大小和试验章条号D或试验条件1)合格判定数3)性能要求uND p n c Cl分组D 6 27 2 CIA分组和CIB分组的全部样品4.10气候序列4.10.1高温温度2上限温度类别持续时间:16h 4.10

15、.2交变湿热第一个循环4.10.3低温温度z下限温度类别持续时间:2h 4.10.3.1最终检验目检元可见损伤4.10.4低气压详细规范气压:8.5kPa(85 mbar) 要求时4.10.4.3中间测量目检无击穿或飞弧4.10.5交变湿热(其余循恢复时间:24h士2h环)目检元可见损伤，标志清晰4.10.5.2最终检验工作频率AJ/J符合4.10.5.2谐振电阻ARo/Ro符合4.10.5.2自由电容ACtlC符合4.10.5.2绝缘电阻R;符合4.10.5.2C2分组D 6 15 1 4.11稳态湿热恢复时间:24h士2h4.11.3最终检验目检无可见损伤，标志清晰工作频率AJ/J符合4.

16、1l. 3 谐振电阻ARo/Ro符合4.11.3自由电容ACtlC符合4.11.3绝缘电阻R;符合4.11.3C3分组D 3 15 1 4. 12耐久性试验温度z上限温度类别持续时间:1000h 恢复时间:24h士2h4.12.3最终检验目检元可见损伤，标志清晰工作频率Af/J符合4.12.3谐振电阻ARo/Ro符合4.12.3自由电容ACtlC符合4.12.3绝缘电阻R;符合4.12.35 GB/T 12859.201-2012月EC61253回去1:1993试验章条号C4分组4.13工作频率的温度特性4.13.2最终检验D或ND D 表4(续)试验条件。基准温度:b，d，f工作频率样本大小

17、和合格判定数目p n 12 9 1) 试验和性能要求的章条号参见GB/T12859. 2-2012和本部分第1章。2) 检验水平和AQL从GB/T2828.1-2003中选取。3) 本表中gD 破坏性的zND 非破坏性的zIL 检验水平zAQL 接收质量限; 二周期(月); n 一-一样本量;c 一一合格判定数允许不合格数).6 性能要求1)c 1 I1t/t符合4.13.282FENAmNF国NFON-ON.mmNFH阁。华人民共和国家标准电子元器件质量评定体系规范压电陶瓷谐振器第2-1部分z空白详细规范一一评定水平EGB/T 12859. 201-2012/IEC 61253-2-1 :1993 国中* 中国标准出版社出版发行北京市朝阳区和平里西街甲2号(100013)北京市西城区三星凋北街16号(100045)网址总编室:(010)64275323发行中心:(010)51780235读者服务部:(010)68523946中国标准出版社秦皇岛印刷厂印刷各地新华书店经销* 印张O.75 字数12千字2013年5月第一次印刷开本880X 1230 1/16 2013年5月第一版* 书号:155066. 1-46419定价16.00元如有印装差错由本社发行中心调换版权专有侵权必究举报电话:(010)68510107打印H期:2013年5月22HF002A