GB T 12859.2-2012 电子元器件质量评定体系规范 压电陶瓷谐振器 第2部分:分规范-鉴定批准.pdf
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1、遥望ICS 31. 140 L 21 和国国家标准主K、中华人民GB/T 12859.2-2012 代替GB/T12860-1991 ,GB/T 12862-1991 电子元器件质量评定体系规范压电陶瓷谐振器第2部分:分规范鉴定批准Piezoelectric ceramic resonators一A specification in the IEC quality assessment system for electronic components (lECQ) -Part 2: Sectional specification- Qualification approval (IEC 612
2、53-2: 1993 , MOD) 2013-02-15实施2012-11-05发布发布中华人民共和国国家质量监督检验检痊总局中国国家标准化管理委员会人、也俨严ffm叫川崎时Jtpm之KJE/可稳定GB/T 12859.2-2012 吕次前言.m I 总则.1. 1 范围. 1. 2 目的1. 3 规范性引用文件.2 优先额定值、特性和详细规范制定导则.2.1 优先特性值2.2 优先额定值. 2.3 详细规范应给出的内容.2 2.4 术语.3 2.5 标志33 质量评定程序3.1 初始制造阶段. 3.2 结构相似元件3. 3 证明合格的试验记录.4 3.4 鉴定批准3.5 质量一致性检验-4
3、试验和测量程序4. 1 外观和尺寸检查.4.2 电气试验4.3 引出端强度.10 4.4 耐焊接热.4.5 可焊性4.6 温度快速变化.4. 7 振动.114.8 碰撞.124.9 冲击.12 4.10 气候序列.124.11 稳态湿热. 4. 12 耐久性试验4.13 工作频率的温度特性.15 附录A(资料性附录)本部分与IEC61253-2: 1993技术性差异及其原因I GB/T 12859.2-2012 前言GB/T 12859(电子元器件质量评定体系规范压电陶嚣谐振器分为如下几个部分z一第1部分z总规范鉴定批准z一一第2部分z分规范一一鉴定批准;一一第2-1部分z空白详细规范评定水平
4、E。本部分为GB/T12859的第2部分。本部分按照GB/T1. 1-2009给出的规则起草。本部分代替GB/T12860-1991(电子设备用压电陶瓷谐振器分规范低频压电陶瓷谐振器和GB/T 12862-1991 (电子设备用压电陶瓷谐振器分规范高频压电陶瓷谐振器),与GB/T12860 1991和GB/T12862-1991相比,主要变化如下z一一将低频压电陶瓷谐振器和高频压电陶瓷谐振器的要求合并为同一个分规范;一一根据总规范修改相应的引用内容。本部分使用重新起草法修改采用IEC61253-2: 1993(lEC电子元器件质量评定体系压电陶瓷谐振器第2部分z分规范一一鉴定批准儿本部分与IE
5、C61253-2 :1993相比存在技术性差异,这些差异涉及的条款已通过其外侧页边空白位置的垂直单线(1)进行了标示。附录A中给出了相应技术性差异及其原因的一览表。本部分还作了下列编辑性修改:一一采用的IEC标准编号是现行的目录编号,原标准的编号1253按IEC的规定在前面加叭一一用GB/T2828. 1-2003代替IEC410: 1973(计数检查抽样方案和程序),前者与后者在使用中元技术性差异z一一用环境试验国家标准GB/T2423代替对应的IEC60068,它们在本部分的引用中元技术性差异;一-4.2.5.1绝缘电阻的测量点;la和1c改为a和c。本部分由中华人民共和国工业和信息化部提
6、出。本部分由全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会SAC/TC182)归口。本部分起草单位z中国电子元件行业协会压电晶体分会,浙江嘉康电子股份有限公司。本部分主要起草人z姜连生、章怡、戴黎明、俞根明、李琳。本部分所代替标准的历次版本发布情况为2GB/T 12860-1991 ,GB/T 12862-1991。mu GB/T 12859.2-2012 1 总则1. 1 范围电子元器件质量评定体系规范压电陶瓷谐振器第2部分:分规范一一鉴定批准GB/T 12859的本部分规定了自总规范GB/T12859. 1-2012中选取的优先额定值和特性,以及适用的质量评定程序、适用的试验方法和测量方法。
7、本部分适用于GB/T12859电子设备的压电陶瓷谐振器,但不适用于元引线谐振器和多振子谐振器或带有其他电子元件的谐振器。1. 2 目的本部分给出了电子设备用压电陶瓷谐振器的一般性能要求。详细规范中规定的试验严酷度等级和要求应与本部分相等或高于本部分。1. 3 规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。GB/T 321-2005 优先数和优先数系。SO3:1973 , IDT) GB/T 2421. 1-2008 电工电子产品环境试验概述和指南(idtIEC 60068
8、-1: 1988) GB/T 2423(所有部分)电工电子产品环境试验第2部分z试验方法1)GB/T 2828. 1-2003 计数抽样检验程序第1部分z按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划(lSO2859-1: 1999 , IDT) GB/T 12859. 201-2012 电子元器件质量评定体系规范压电陶瓷谐振器第2-1部分z空白详细规范一一一评定水平E(lEC1253-2-1: 1993 , IDT) IEC 60642: 1979频率控制和选择用压电陶黯谐振器和谐振子第I章z标准值和试验条件第E章z测量和试验条件(Piezoelectricceramic resonators
9、 and resonator units for frequency control and selection-Chapter 1 :Standard values and conditions一ChapterII : Measuring and test conditions) IEC QC 001002-2: 1998 IEC电子元器件质量评定体系。ECQ)程序规则第2部分z文件(lECQuality assessment system for electronic components(lECQ)-Rules of procedure二Part2: Documen tation) IE
10、C QC 001002-3 :1 998 IEC电子元器件质量评定体系(lECQ)程序规则第3部分:批准程序(lEC Quality assessment system for electronic components(lECQ)-Rules of procedure-Part 3:Ap proval proced ures) 1) 上述引用文件及其版本采用总规范的相应试验条款。1 GB/T 12859.2-2012 2 优先额定值、特性和详细规范制定导则2. 1 优先特性值详细规范给出的值应优先从下列选取z2. 1. 1 优先气候类别本部分包括的谐振器根据GB/T242 1. 1-2008
11、总则的气候类别分类。下限温度类别和上限温度类别及稳态温热试验的持续时间从下列选取:下限温度类别:-55.C , -40 .C,-25.C和-10C; 上限温度类别:70C, 85 .C ,100 c和125.C; 稳态温热试验的持续时间4d , 10 d, 21 d和56d。低温试验和高温试验的严酷度等级分别是下限温度类别和上限温度类别。优先气候类别是z一55/85/56-55/85/21 -40/85/56 -40/85/21 -25/85/56 -25/85/21 2.2 优先额定值详细规范给出的值应优先从下列选取$2.2. 1 额定电BHUR)额定电压的优先值是GB/T321-2005的
12、R5系列值。若需其他值,应从R10系列中选取。2.2.2 额定工作频率元优先值。因为工作频率的额定值随每种振荡电路的预定用途而变化,2.2.3 额定工作频率偏差的优先值士1.0%;士0.5%;士0.3%。2.2.4 工作频率的温度特性工作频率在气候类别温度范围内相对于其在25c时的最大变化应在详细规范给定值以内(用百分数表征)。2.3 详细规范应给出的内容2.3.1 慨述详细规范应根据相关空白详细规范编写。详细规范中不应规定总规范、分规范或空白详细规范已有的要求。若详细规范包括更多的要求,应2 GB/T 12859.2-2012 在详细规范的1.9列出,并在试验一览表中标明,例如用星号。注2为
13、方便起见,2.3.1中给出的信息可以用表格形式列出。每个详细规范都应给出下列信息,且规定值应优先从本部分的相应条款中选取。2.3.2 外形固和尺寸谐振器应有图示,以便于识别,并便于与其他类型比较。影响其互换性和安装的尺寸及其公差应在详细规范中给出。所有尺寸应以mm为单位标出,然而,若原始尺寸以m为单位给出,应附加转换后的以mm为单位的公制尺寸。通常谐振器本体的长度、宽度和高度及引出端间距,或圆柱形元件本体的直径及长度和引出端的直径等应给出数值。必要时,如一个详细规范覆盖了一系列的指标(工作频率、谐振电阻)时,与之对应的尺寸及其公差应放在外形图下方的表中。当详细规范中的外形特征并非以上所述,则应
14、规定能充分描述谐振器的尺寸信息。若谐振器的设计不是用于印制板安装的,则应在详细规范中清楚地指明。2.3.3 安装详细规范应规定谐振器正常使用时的安装方式和振动、碰撞、冲击试验时的安装方式。谐振器应采用正常方式安装。谐振器的设计可以有特殊的安装装置并有使用要求。这种情况下详细规范应规定安装夹具,以及夹具在振动、碰撞、冲击试验时的使用。2.3.4 额定值和特性额定值和特性应符合本部分的下列要求及有关条款。2.3.4. 1 额定工作频率范围见2.2.2。注2一个详细规范中的谐振器可以有不同的频率范围,但应加下列规定J每一规格的可用频率范围在合格产品一览表(QPL)中给出。2.3.4.2 特殊参数可以
15、列出为设计和应用目的而必须对谐振器做适当规定的附加特性。2.3.4.3 焊接详细规范应规定可焊性和耐焊接热试验的试验方法、严酷度和要求。2.3.5标志详细规范应规定谐振器和包装的标志内容。与本部分2.5不同之处应特别指明。2.4 术语GB/T 12859. 1-2012界定的以及下列的术语和定义适用于本文件。2.4. 1 压电陶瓷谐振器piezoel配tricceramic resonator 路,占32:233了瓷元件构成的谐振器。该谐振器适用于需要高稳定和元频率调整的振荡电|2.5 标志应符合总规范GB/T12859. 1-2012和下列要求。3 GB/T 12859.2-2012 2.5
16、. 1 标志中给出的信息通常从下列选取。每个项目的重要程度与其所在位置的先后有关za) 额定工作频率;b) 工作频率偏差(见注); c) 特殊参数(见注); d) 制造日期(见注); e) 制造厂名称或商标50 制造厂识别代码zg) 相应的详细规范号。注:2.5. lb) ,c) ,d)所要求的信息可以代码形式放在制造厂或国别代码、型号或规格号的下面。2.5.2 谐振器上应清楚地标出2.5.1a)内容,并尽可能多地标出其余的项目。应避免任何标志内容的重复。2.5.3 装有谐振器的包装应清楚地标志2.5.1所列的全部内容。2.5.4 采用的任何附加的标志都不应引起混淆。3 质量评定程序3. 1
17、初始制造阶段初始制造阶段是压电陶瓷上的电极形成。3.2 结构相似元件谐振器的结构相似是由相似的工艺和材料制造的谐振器,尽管它们的外壳可能是不同的尺寸大小。3.3 证明合格的试验记录当详细规范有规定,且用户要求时,应提供总规范3.5.1要求的信息。耐久性试验之后,要求提供关于工作频率、谐振电阻、绝缘电阻等参数变化的信息。3.4 鉴定批准鉴定批准试验程序在总规范3.4中给出。基于逐批检验和周期检验的鉴定批准试验用一览表在本部分3.4.2中给出。采用固定样本大小的程序在3.4.1和3.4.2中给出。3.4. 1 基于固定样本大小的鉴定批准程序固定样本大小的程序在总规范3.4.2b)中规定。样本应在申
18、请批准的范围内具有代表性,可以是详细规范覆盖的整个范围,也可以不是整个范围。样本应由最高工作频率和最低工作频率的样品构成。若外壳尺寸多于四种,也应检验中间尺寸的外壳产品。因此,对于一个批准范围,要求的样品为6种值或4种值。若批准范围内少于4种值,被试样品应按4种值要求的数量。备用样品的作用如下ta) 每种值的一个备用样品可以用于代替0组中的不合格品。b) 每种值的另一个备用样品可以用于代替由于非制造厂的差错而造成的不合格品。0组的样品数量预计所有组别都进行试验。若非如此,则可以相应减小样品的数量。表1给出了鉴定批准试验的各组、各分组的样品数量及其允许不合格品数。3.4.2 试验表1和表2规定的
19、完整试验系列要求用于由一个详细规范覆盖的谐振器的批准。每组试验应按给4 GB/T 12859.2-2012 定的顺序进行。全部样本应经受0组试验,然后被分到其他各组。0组试验的不合格样品不得用于其他组的试验。当一个样品未能通过一个组的全部或部分试验时,计为一个不合格品当不合格品数不超过每组或每个分组规定的允许不合格品数,并且不超过规定的总的允许不合格品数时,将获得鉴定批准。注z表1和表2共同构成固定样本大小的试验一览表,表1包括不同试验或组别的抽样方案和允许不合格品数,而表2包括第4章中的试验细节,第4章中给出了试验条件和性能要求的全部摘要并指明出处。例如,详细规范中必须选择的试验方法或试验条
20、件。详细规范的质量一致性检验中应规定固定样本大小的试验一览表用的试验条件和试验方法。表1鉴定批准试验抽样方案和允许不合格晶数样本大小(的和允许不合格数(pd)本部分4种值或6种值c组号试验章条号每种值c最少被试样本大小cn Pd Pd 4n pd 6n d 总数总数。目检4.1 19 76 1 114 2b 尺寸4.1 工作频率4.2.1 谐振电阻4.2.2 自由电容4.2.3 绝缘电阻4.2.4 耐电压4.2.5 备用样品2 8 12 lA 引出端强度4.3 2 8 1 12 1 耐焊接热4.4 -_- -_. 卜-: lB 可焊性4.5 4 16 : 1 24 2b : 温度快速变化a4.
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