GB T 8360-1987 金属点阵常数的测定方法 X射线衍射仪法.pdf
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1、中华人民共和国11标准金属点阵常数的测定方法X射线衍射仪法The lattice cons阻ntd剧erminationof皿etals-Method 。fX-ray diffractometer UDC 669.$20 . 183. 6 GB 8360-87 本标准适用于X射线衍射仪精确测定立方晶系粉末物质的点阵常数。对块状试样和其他晶系的晶体,在实验技术上亦应参照使用固1 原理立方晶系物质点阵常数计算公式阶.J,.王ki+l:.达瓦式中zs一衍射线的序号ea,一一第z条衍射线计算的点阵常数,nm;h., k, l, 一第a条衍射线的衍射指数g 所用辐射波长,nm;。一)第s条街射线的半衍射
2、角,().误差公式2 试验仪器和试验条件2. 1 衍射仪衍射仪综合稳定度优于1%。生f= - cote l!.O 见附录A). ( 2 ) 测角仪的刻度准确度优于o.01 位的,试样台定位面与轴线的偏差应不大于0.01 mm,准直所用狭缝与实测时所用对应狭缝的中心线的偏差小于5m。注z本标准中仪器综告稳定度是指同一试验条件下对同一试样的同一衍射圃,每隔10mm测量吹衍射强度,在8h内所测街射强度值的相对标准偏差n_, 2. 2 仪器调整2. 2. 1 调整方法按仪器说明书要求进行,但必须注意如下几点2.2.1.1 焦点至衍射仪轴线的距离和轴线至接收狭缝的距离应相等2. 2. 1. 2 焦点中点
3、与各狭缝中点在赤道平面上。2. 2. 1. 3 焦点线、轴线及各狭缝中心线平行。2. 2. 2 2零位的校正仪器校正应在开机达到工作电流电压值)一小时后方可进行所用辐射、管电流、管电压以及扫描中华人民共和国冶金工业部198711 14批准1989-01-01实施99 GB 8360-87 一方向要与实测时一致,准直狭缝csO.05 mm,要求所测得街宣射线峰形对称并且用针孔法测定实际零度,用此实际零度进行计算。2. 2. 3 e零他的校正2. 2. 3. 1 8零位校正后其偏差要求小于0.01. 2. 2. 3, 2 分辨率试验采用硅标准物质,辐射同2.2.2,管焦点lOX1 mm,出射角s,
4、对于铜靶管电压35kV jilj 40 kV,管电流15mAjlj 25 mA,发散狭缝田l,接收狭缝RS=0.15mm,防散射狭缝SS=l0,要求可分辨出硅(111)的K.,和K.,衍射峰3试样的要求和J备3, 1 试样要求颗桩度要求o.55阳,结晶良好,成分均匀,无应力3, 2 试样制备3, 2. 1 试样架的选择采用瓢曲度小于0.01 mm的凹形试样架或具有相同瓢曲度的中空试样架3, 2. 2 制样方法3.2.2.1 中空试样架把试样架放在一块瓢曲度不大于0.01 mm的毛玻璃板上,将试样粉末均匀地撒在试样架的空心处,用块玻璃或金属板垂直压样成形,也可在试样上滴入至二滴无水乙醇再压样成形
5、,干燥后使用均用它们的底面做测量面。3. 2. 2. 2 凹形试样架将试样粉末撒在凹槽内,用瓢曲度不大于0.01 mm的毛玻璃板压样成形,使试样表面与试样架参考平面一致3.2.2.3试样表面的检查用刀口尺检查已制好的试样表面把刀口尺紧贴试样表面,目测其水平和垂直方向应均不见缝隙,且试样表面上无明显的压痕制好的试样表面要大于实验时X射线的照射区。4 试验步囔4, 1 辐射的选择辐射向2.2.2,必须保证2090以上的衍射线不少于五条,必要时可选用K.,和K,衍射线注z对Cu辐射,采用4. 2 衍射条件儿x o 1540598nm1 x., 0 154 442 8 nm1 Kl= O. 139 2
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