GB T 2423.35-2005 电工电子产品环境试验 第2部分;试验方法 试验Z AFc 散热和非散热试验样品的低温 振动(正弦)综合试验.pdf
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1、ICS 19.040 K 04 中华人民共和国国家标准G8/T 2423.35-2005/lEC 60068-2-50: 1983 II蕾(;8/12.123.35 1川日电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Z/AFc:散热和非散热试验样品的低温/振动(正弦)综合试验Environrnental testing for electrk and e1ec!ronic products-Part 2: Test Methods Test 冗/AFc: Cornbined cold/vibration (sinusoidal) tests for both heat-dissipating a
2、nd non-heat-dissipating specirnens (IEC 60068-2-50: 1983 , Basic cnvi ro口menlllesting procedur刊Parl 2:Tests-Tcst Z/八Fc:Combinedcold/vihration (sinu日。idal)lcsts for both hat-dissipaling and non-heallissipating日pecimens,ID丁)2005-08-26发布2006-04-01实施中华人民共和1:Ji1国家质量监督检验检瘟总要发布中国国蜜标准仲在现在吊甘标准搜搜网www.bzsos口.c
3、om各类标准行业资料免费下载GB/T 2423.35-2005/IEC 60068-2-50: 1983 目次前占. m 引言.,.,. IV 队l概述. ,. . . . . . . .川N0. 2 振动. N 0.3 温度E. N 0.4 规范性引用文件. . N 1 目的2 一般说明.3 试驹设备.4 严F.i等级. . 2 5 温度监测点的选择和监测温度的确定(仅适用于散热试验样品). 6 预处理初始检测.叮川. . . . 2 条件成验9 中阳j检测.白.,.白. . 3 刊恢复.川叫41 庭后检测. . . . 4 U 失效判据13 有关标准应具有的内容.因1非散热试验样品试验曲线
4、图. . . ., 5 图2散热试验样品试验曲线阁. . . 5 标准搜搜网各类标准行业资料免费下载GB/T 2423.35-2005/IEC 60068-2-50: 1983 前自本部分等同采用IEC60068-2-50: 1983和GB/T20000. 2-200I.对标准进行格式编排.本部分与GB/T2423.35 1986的主要有下列差异a)本部分的技术内容、编写格式及表达方法与IEC60068-2 , 50: 1983相一致.而GB/ T 2423. 35-1986的编写格式与IEC60068-2-50: 1983有差异。b) 本部分在规范性引用文件中,恢复了国际标准IEC60068
5、-2-50: 1983中未被GB/T2423.35一1986引用的街关标准和内容,如GI3/T2423. 43,删除了GI3/T2423. 35 -1986增加而国际标准IEC 60068-2-50: 1983中没有引用的有关标准和内容,如GI3/T2424. 22电工电子产品环境试验规程温度低温、高温)/振动(正弦)综合试验导则儿本部分由中国电器工业协会提出。本部分由全国电工电子产品环境条件与环绕试验标准化技术委员会归口。本部分起草单位2信息产业部电子第五研究所。本部分主要起草人z陈瑜红、纪春阳。本部分于1986年首次发布标准搜搜网各类标准行业资料免费下载皿G/T 2423.35一2005/
6、1EC60068-2-50: 1983 召|主=z1=1 0.1 概述木部分适用于散热和非散热试验样品的低泪/振动(正弦综合试验,基本上是试验Fc:振动(正弦)和试验A:低温的综合.本试验方法只适用于试验样品暴霞在低温条件下达到温度稳定的情况.1宇:敝热试验样品的民验程序不包桶样品稳定在试验温度时的通电情况.对于非散热试验样品的试验程序,当在攒动综合的条件下整求低温通电时,可在整个试串串期间进行指定的或连续的功能测试.。.2振动振动试验基本上等问于试验1CI可以采用试验F的一个或多个耐久试验程序,但此综合试验中不包括耐久条件试验之后的振动响应枪查.。.3温度测试散热试验样品的温度条件是以与自由
7、空气条件相同的为式使试验样品经受温度应力。由于在带振动台的试验箱中模拟自由空气条件的影响奋困难,所以本试验通常使用强迫空气循环,试验样品表面最热点作为温度的监测点,试验前,在规定环境温度的自由空气条件下,确定试验样品的监测点和监测温度。0.4 规范性引用文件下列文件中的条款,通过在GB/T2423的本部分的引用而成为本部分的条款.凡是注日期的引用文件.其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分。(;I:!/ 242 1 -1 99 电L电子产品环境试验第1部分总
8、贝(idtJEC 60068-1: 1988) GB/ T 2422- 1995 电工电子产品环境试验术语(eqv IEC 6006日.5-2:1990)GR/T 2423 . 1 .2001 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验A:低温(idtJEC 60068-2-1 ,1990 ) CB/ T 2423. 10电i电于产品环境试验第2部分:试验方法试验Fc和号则.振动(正弦)(C;8!T 2423.10-1995 ,idt JEC 60068-2-6,1982) GR 2423 . 22 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验N涌度变化(GB/T2423.22 2002 , I
9、EC 60068-2-11 : 1984 , lDT ) G/ T 2423. 43 电工电于产品环墟试验第2部分:试验方法元件、设备和其他产品在冲击(Ea)、碰撞(Eb)、振动(Fc和Fd)和稳态加速度G.)等动力学试验中的安装要求和导则(GB/T 2423.43-1 995 ,idt IEC 60068-217,19 82) (; 8/ T 2424.1 电正电于产品环境试验高温低温试扮导则(GB/T2424. 1-1989 , eqv IEC 60068-3-) N 标准搜搜网各类标准行业资料免费丁载GB/ T 2423.35-2005/IEC 60068公50:1983 电工电子产品环
10、境试验第2部分:试验方法试验Z/AFc:散热和非散热试验样品的低温/振动(iE弦)综合试验1 目的提供一个标准的试验程序以确定散热和非散热兀器件、设备或其他产品在低温与振动综合条件下使用、贮存和运输的适应性。2 一艘说明本试验是试验A:低源和试验Fc:振动(0吁弦)的综合试验.注:试验Ab和Ad要求在条件试酶的升温和降温过程中温度变化速率不超过1K/ minC 5 mn平均)。对于经受热冲击的试验样品(通常是指经受民验Aa的、并能经蛊试验Na租Nc快速泪度变化的试验样品).不受最大温度变化速率1K/min的限制对T这些试验样品.可以使用能满足试验A.(温度突变)条件的试验箱.试验样品除非已进行
11、过试验A和Fc(并记录其试验结果),台则应首先在试验室温度条件下进行振动试验,然后经受低泪试验,达到温度稳定后,试验样品再经受振动和低温的综合试验试骑自j丽见图l和图2,振动环境可以是以下一种或儿种:a) 耐久扫频试验,b) 振动响应检查,以及由振动响应检查得出版率上的耐久试验;c) 预定频率上的耐久试验。3 试验设备3.1 试验箱的要求3. 1. 1 非做热试验样晶的试验这类试验箱应满足试验Aa或八b中给出的要求(见第2草注入3. 1. 2 散热试验样晶的试验温度监测点的选择和盹祖l温度的确定.oJ在满足下述条件a)或者b)的试验箱(或室)中进行。a) 通常提供强迫空气循环的试拚箱能在低温条
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