GB T 22708-2008 绝缘子串元件的热机和机械性能试验.pdf

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1、ICS 2908010K 48 a目中华人民共和国国家标准GBT 22708-2008绝缘子串元件的热机和机械性能试验Thermalmechanical performance test and mechanicalperformance test on string insulator units2008-I 2-30发布(IECTR 60575：1977，MOD)2009-10-01实施丰瞀鹊鬻瓣警糌瞥星发布中国国家标准化管理委员会仪1”GBT 22708-2008目 次前言1范围2规范性引用文件3术语和定义4热机性能试验41试品安装42试验程序43结果判定5机械性能试验51试品安装52试

2、验程序53结果判定附录A(资料性附录)IECTR 60575：1977附录A原文A1背景一A2绝缘子力学A3关于热机性能试验的注解-一A4关于机械性能试验的注解一A6试验结果概述。A6试验结果判断标准A7结论附录B(资料性附录) 本标准章条编号与IECTR 60575：1977章条编号对照附录c(资料性附录) 本标准与IECTR 60575：1977技术性差异及原因111111233334446665789刖 舌GBT 22708-2008本标准修改采用IECTR 60575：1977绝缘子串元件的热机和机械性能试验(第一版)。本标准根据IECTR 60575：1977重新起草。为了方便比较，

3、在资料性附录B中列出了本标准条款与IEcTR 60575：1977条款的对照一览表。考虑到我国国情，在采用IECTR 60575：1977时，本标准做了一些修改。这些技术性差异用垂直单线标识在它们所涉及的条款页边空白处。在附录c中给出了这些技术差异及其原因的一览表以供参考。为了便于使用，本标准还做了下列编辑性修改：a)“本报告”一词改为“本标准”；b)删除IECTR 60575：1977的前言及目的，将目的中的注并人范围；c)增加了“规范性引用文件”和“术语和定义”两章。本标准的附录A、附录B、附录c均为资料性附录。本标准由中国电器工业协会提出。本标准由全国绝缘子标准化技术委员会(SACTc

4、80)归口。本标准起草单位：国家绝缘子避雷器质量监督检验中心、西安电瓷研究所、陕西省电力公司、辽宁省电力公司。本标准主要起草人：危鹏、姚君瑞、云涛、胡文岐、陈刚。本标准为首次发布。绝缘子串元件的热机和机械性能试验GBT 22708-20081范围本标准规定了标称电压高于1 000 V的交流和直流架空线路用的具有瓷或玻璃绝缘件的绝缘子串元件的热机和机械性能试验方法。本标准也适用于变电站中具有类似结构的绝缘子。注1：本标准适用于盘形悬式绝缘子串元件以及长棒形绝缘子串元件。注z：热机性能试验建议作为主要试验。而机械性能试验作为次要的附加试验，并仅用于抽查试验，是否需要进行及试品数量由供需双方协商。2

5、规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。GBT i0011 2003标称电压高于1 000 V的架空线路绝缘子第l部分：交流系统用瓷或玻璃绝缘子元件定义、试验方法和判定准则(IEC 603831：1 993，MOD)cBT 29008 电工术语 绝缘子(OBT 290081995，eqv IEC 60050471：1984)3术语和定义GBT 29008确立的术语和定义

6、适用于本标准。4热机性能试验41试品安装试品应在经逐个试验合格后的产品中抽取。试品在试验过程中应受拉伸负荷，试品可以串联或并联在试验机上，当并联时，每只试品应承受相等的拉伸负荷。42试验程序421循环试验绝缘子元件应承受四个24 h冷却和加热循环，并同时施加拉伸负荷，该负荷的大小保持在所规定的机电或机械破坏负荷的(6065)之间。每个24 h循环中，首先应将其冷却到一305(或-404-5)，然后将其加热到+40-t-5。应控制冷却和加热循环的温度偏差，以保证记录的冷却和加热温度之间的最小温差为70 K(或80 K)。在温度循环中最高温度和最低温度至少均应连续保持4 h。开始第一次冷热循环之前

7、，应在室温下在绝缘子上施加拉伸负荷。在每次加热期终结时，完全卸除该拉伸负荷，并再重新施加，但最后一次热循环除外。在第四次24 h循环之后，将其冷却到室温，除去拉伸负荷。该试验程序用图示法表示见图1。注：低温是否采用一40土5由供需双方协议，当低温采用一405时，最小温差为80 K。422破坏试验循环试验结束后，应在从绝缘子元件上卸除拉伸负荷的同一天，对绝缘子元件进行机电或机械破坏负荷试验，以确定绝缘子元件的性能。机电或机械破坏负荷试验应按GBT 100112003所规定的方法进行。1GBT 22708-2008负荷(机电)机 破坏负荷取10D作为规定的(机电)机械破坏负荷签6譬骚喇西瑚娲投镰酬

8、K蛾投州诺投蛾投嘣再翮o 24 48 72 06)门门门卜瓯虬u u时间h时间h圈1热机性能试验图示43结果判定在循环期间中，有任何一个绝缘子损坏，则不符合本标准。在本标准422中得到的破坏负荷值和破坏情况，应符合GBT 10011 2003的20d中型式试验判定程序的规定。把按GBT 100112003进行机电或机械破坏负荷试验得到的破坏负荷值和破坏情况，与按这里所规定的热机性能试验的最后阶段所进行的相同试验所得到的破坏负荷值和破坏情况相比较，以提供绝缘子元件性能的更多信息。注1：热机性能试验关系到与内部应力有关的绝辕子的基本结构。仅外形不同，即绝缘件的伞盘或金属附件的连接端不同者。可不再重

9、复此试验。当内部结构或制造过程改变时，必须重新试验。注2：当破坏发生在金属尉件，如铁帽的窝或u形槽，或绝缘子脚部位的时候，本试验不能提供关于内部应力区域方面的情况。只有采用适当加强的金属附件，使得破坏发生在绝缘子内部应力区域时，才可能研究绝缘子的基本结构。必须防止由于金属附件的加强而影响基本应力的分布。注3：可拆卸的连接件，例如长棒形绝缘子所用的，不属于此机械试验的范围，因为它们不是绝缘子内部结构的一部分(参见上述注2)。注4：如果希望不改变试验循环而且能随时发现绝缘件的机械破坏(击穿，可以在试验过程中对绝缘子元件(仅对B型元件)施加电压，25机械性能试验GBT 22708-200851试品安

10、装试品应在经逐个试验合格后的产品中抽取。试品在试验过程中应受拉伸负荷，试品可以串联或并联在试验机上。当并联时，每只试品应承受相等的拉伸负荷。52试验程序521循环试验对绝缘子元件施加拉伸负荷，该负荷的大小应在所规定的机电或机械破坏负荷的(6065)之间。该拉伸负荷达到规定值后应立即卸除，并连续4次此过程，也可以对施加负荷次数另做规定。注：拉伸负荷连续卸除多于4次，试验将更为有效。5，22破坏试验在施加和卸除负荷循环试验结束的同一天，对绝缘子元件进行机电或机械破坏负荷试验，以确定绝缘子元件的性能。机电或机械破坏负荷试验应按GBT 100112003所规定的方法进行。53结果判定在循环期间中，有任

11、何一个绝缘子损坏，则不符合本标准。在本标准522中得到的破坏负荷值和破坏情况，应符合GgT 1001，l一2003的204中型式试验判定程序的规定。把按GBT 100112003进行机电或机械破坏负荷试验得到的破坏负荷值和破坏情况，与按这里所规定的机械性能试验的最后阶段所进行的相同试验所得到的破坏负荷值和破坏情况相比较，以提供绝缘子元件性能的更多信息。注1：当破坏发生在金属附件，如铁帽的窝或u形槽，或绝缘子脚部位的时候，本试验不能提供关于内部应力区域方面的情况。只有采用适当加强的金属附件，使得破坏发生在绝缘子内部应力区域时，才可能研究绝缘子的基本结构。必须防止由于金属附件的加强而影响基本应力的

12、分布。注2：如果希望不改变试验循环而且鳇随时发现绝缘件的机械破坏(击穿)，可以在试验过程中对绝缘子元件(役对B型元件)施加电压。注3：这种机械性能试验只有在出现严重制造缺陷的情况下才比通常的机电或机械破坏负荷试验更有效。GBT 22708-2008附录A(资料性附录)IECTR 60575：1977附录A原文A，1背景应该注意，从机械的观点来看，IEC出版物383没有包含检验绝缘子在负荷变化和温度变化情况下的性能的任何试验。由于缺乏这种类型的试验，尽管绝缘子串元件可以满足IEC在该出版物中推荐的所有型式试验、抽查试验和逐个试验，但还是不能耐受住在运行中发生的负荷和温度变化。上述情况，以及在运行

13、中具有显著劣化率的不良绝缘子的性能就是各个国家进行种种试验的背景，并希望以一种标准形式来表示长时间试验或性能试验。现在由本报告提出的试验条文可作为不同国家试验实践的一个折衷方案。但是正如由A2条所看到的，这个方案本身还不够完善。A2绝缘子力学在考虑性能试验方法时，懂得绝缘子串的力学是重要的。因此，对这个题目要作一简短的论述。A21盘形悬式绝缘子图A1示出盘形悬式绝缘子的主要结构。在这种绝缘子中有三种不同的材料，按金属一胶合剂绝缘材料一胶合剂 金属的顺序组合在一起。在脚上的表面涂层胶合剂在绝缘件上的表面滁层图A1 盘形悬式绝缘子的横剖面金属材料比胶合剂及绝缘材料(如玻璃和瓷)具有较大的或大得多的

14、热膨胀系数，为了避免大的热应力，金属附件和绝缘件彼此之间必须是可移动的。因此，在外部拉伸负荷下的帽应起些弹性缓冲作用，且应可以沿邻接胶合剂的倾斜表面上下移动。脚也应起到同样的作用。在正常情况下，绝缘件的头部承受近于纯粹的压力。这种力是通过帽和脚的几何形状产生，并由胶合剂传递的。瓷和玻璃在压应力下是很坚固的材料。但是在拉应力或剪应力下它们就不那么坚固了。一个极小的帽的角度a(见图A2)可能造成帽的楔住变形，因此当负荷降低时，留下不希望有的残4GBT 22708-2008余应力。这个残余应力可随时间逐渐增加。另一方面，一个大的帽的角度a虽有利于复原的移动，但是可产生一个过大的剪切应力。类似的论点原

15、则上也适用于脚。因此，帽的平面角和脚的反作用表面对绝缘子元件的持久能力来说是很重要的。图A2帽的角度在帽发生楔住变形的情况下，温度下降可以在绝缘件的头部引起更大的压力，以产生附加的应力使得由于楔住而早已存在的那些不希望有的应力加大。当脚楔住的情况下，出现相反的关系，即当温度升高时脚膨胀而产生附加应力。A22长棒形绝缘子图A3表示了长棒形绝缘子的主要内部结构。这种绝缘子只有一个材料顺序：绝缘材料胶合剂金属。在帽上的表面涂层承受由热机和机槭性能试验引起的应力变化的绝缘子内部区域胶合剂在绝缘件上的表面涂层图A3长棒形绝缘子横剖面金属材料比所用的大部分胶合剂或绝缘材料(如瓷)具有较大的热膨胀系数。为了

16、避免绝缘子在负荷作用下温度化时产生不希望有的应力，绝缘子结构上要考虑到这点。5GBT 22708-2008帽的角度和绝缘件锥度(图A3中的ct。和a。)的正确选择是很重要的，这些角度宜在4 912。范围内，通常为8。在这样的角度下，当逐个机械试验(通常为最小破坏负荷的80)后，帽不能回到它原来的状态，而在绝缘件的锥形端仍处于紧张状态。温度弯化引起的热膨胀和运行中负荷的变化都不会引起绝缘件在帽中的进一步移动。在运行中，帽中的应力维持在弹性范围之内。过分小的角度能引起绝缘材料内过高的应力。温度下降将增加绝缘件锥形端的压力园而使在逐个试验时由于最初的位移所产生的应力增加。在这些条件下，帽的应力不超过

17、弹性极限。另一方面，很大的角度可能引起绝缘件上的过大的剪力。A23试验程序在A21和A222两种情况下，为了检验一个绝缘子在运行中发生负荷变化和温度变化的情况下是否具有满意的性能，亦即为了发现绝缘和金属附件是否胶装和配合得良好，这一性能的型式试验应包括在温度变化的同时施加负荷和除去负荷。最后把绝缘子元件试验到破坏，破坏试验的方法与IEC出版物383第26或27章规定的通常的机电或机械破坏负荷试验一样。此时，这种试验的最后阶段将证实绝缘子元件在破坏负荷方面将不受影响，或是上述的在温度变化的同时施加负荷和除去负荷的作用已使破坏负荷与通常的破坏负荷试验结果相比有明显的降低。这将是判断性能试验结果的主

18、要点。附加的判断准则可以是试验结果的分散性和破坏情况。总之，这样的性能试验结果判断应与通常的机电或机械破坏负荷试验全面地进行比较(参见A6)。注：参见43条注2，给出金属件破坏的有关信息还不可能发现绝缘子内部性能的变化。A，3关于热机性能试验的注解为了不超过一些帽和脚材料在正常情况下，即当绝缘子元件正常运行时的屈服点应力，其在4个冷却和加热的24 h循环期间施加的试验负荷被限定为规定机电或机械坏破坏负荷的60。对于温度循环，必须指出，其在每个24 h期间的冷却和加热循环是按实际情况选择的。如果实际情况需要的话，冷却可以在白天人工地进行。还应该注意，其4个24 h循环，加上最后试验的第五天的限制

19、同样是按实际情况规定的。因此整个试验将在一个正常的工作周内完成。从下述的试验结果可以看出没有必要延长试验时间。A4关于机械性能试验的注解除了规定作为一种型式试验的热机性能试验外，要求一种较简单的试验作为抽查试验，以代替几年前已删除的24 h机械试验。为此，加上机械性能试验以作为一种简化的性能试验，它包括了与热机性能试验中同样的机械负荷程序，但负荷不保持z4 h的时间且没有温度变化。这样一种抽查试验可以认为比已删除的24 h机械试验更有价值。但是很明显，其机械性能试验比热机性能试验的判断能力差得多(参见A5)。A5试验结果概述严格地按性能试验的条文，对21种单独型式或派生型式的盘形悬式绝缘子串元

20、件及9种单独型式或派生型式的长棒形绝缘子串元件进行了试验。所试验的绝缘子元件与11个国家中的16个或更多的制造厂有关系。这些国家是；中国、捷克、丹麦、法国、德国、匈牙利、意大利、日本、瑞典、英国和美国。试验是在捷克、法国、意大利、日本、瑞典和英国进行的。表A1和表A2概括了有关被试绝缘子元件的制造年份、额定负荷等级(规定的破坏负荷)和其他细节。关于所用的标志代号，应该注意，盘形悬式绝缘子元件以“CP”和从121的各种型式的编号来表示。同样，长棒形绝缘子元件以“LR”和从19的各种型式的编号来表示。6表A1 被试盘形悬式绝缘子串元件的特点GBT 22708-2008绝缘子串 额定机电或元件型式

21、制造年限 机械破坏负荷 备 注(标志代号) (相当于)1938 由于串中元件有电气缺陷，1977年从220 kV输电线路上取CPl 7 500 kgf1949和1950 下的元件CP2 1940和1948 7 500 kgf 在仓库中保存直到1971年试验的元件1946 6 800 kgf 在70 kV输电线路上运行17年后为供第二工作组(WG2)CP31947和1950 (1 5001b) 试验而取下的元件1968或1969年从输电线路上取下的元件，没有收到进一步CP4 1960 12 000 kgf的资料在220 kV输电线路上运行17年后为第二工作组试验而取CP5 1950和1951 9

22、 000 kgf 下的元件(CP5A)，其余元件在仓库中从1951年保存到1971年试验(CP5B)lO 000 kgf 在400 kV输电线路上运行9年后，为第二工作组试验而取CP6 1960(100 kN) 下的元件CP? 196Z 7 500 kgf 在仓库中保存到197t年第二工作组试验的元件19 OOO kgfCP8 1964和1965 在运行5年后为第二工作组试验而取下的元件(42 0001b)19 000 kgfCP9 1965 在运行5年后为第二工作组试验而取下的元件(42 OOOlb)6 800 kgfCPl0 1965 由工厂或仓库提供第二工作组试验的元件(15 0001b

23、)8 200 kgfCPll 1970 由工厂或仓库提供第二工作组试验的元件(18 000lb)11 300 kgfCPl2 1970 由工厂或仓库提供第二工作组试验的元件(25 0001b)1l 300 kgfCPl3 1970 从制造厂买来供第二工作组试验的元件(25 000lb)CPl4 1970 21 000 kgf 从1970年交货的一批中随机抽取的元件CP】5 1971 7 000 kgf 由制造厂提供作型式试验的元件11 300 kgfCPl6 1971 由制造厂提供第二工作组试验的元件(25 0001b)CPl7 1971 6 400 kgf 由制造厂提供作型式试验的元件CPl

24、8 1971 12 OOO kgf 由制造厂提供第二工作维试验的元件CPl9 1971 12 000 kgf 由制造厂提供第二工作组试验的元件C，P20 1970 8 000 kgf 由制造厂提供第二工作组试验的元件CP21 1952 8 000 kgf 运行15年后为第二工作组试验而取下的元件7GBT 22708-2008表A2被试的长棒形绝缘子串元件的特点绝缘子串 额定机械元件型式 制造年限 破坏负荷 备 注(标志代号) (kgf)LRl 1970 10 000 由制造厂提供第二工作组试验的元件，逐个试验负荷8 000 kgLR2 1970和197l 10 ooo 由制造厂提供第二工作组试

25、验的元件，逐个试验负荷8 000 kgfLR3 1970 15 OOO 由制造厂提供第二工作组试验的元件，逐个试验负荷12 000 kgILR4 1970 15 000 由制造厂提供第二工作组试验的元件，逐个试验负荷12 000 kgILR5 1970 15 000 由制造厂提供第二工作组试验的元件，逐个试验负荷12 000 kgfLR6 1970和】971 15 000 由制造厂提供第二工作组试验的元件，逐个试验负荷12 ooo kgfLR7 197l 13 ooo 从制造厂买来供第二工作组试验的元件，逐个试验负荷13 000 kgfLR8 1971 10 000 制造厂提供第二工作组试验的

26、元件，逐个试验负荷4 000 kgfLR9 1971 16 500 制造厂提供第二工作组试验的元件，逐个试验负荷6 600 kgf每一试验，即热机性能试验、机械性能试验和通常的机电或机械破坏负荷试验，各自使用的样品数为914个元件。表A3和表A4摘要示出了所得到的破坏负荷值，并注明了破坏情况。在这些摘要中，破坏负荷是用对额定机电或机械破坏负荷的比例来表示的。使用的统计术语是算术平均值和表示试验结果的分散性的标准差：葡一墨!鱼：墨!”S座R2一(意R)2ni=1 i=1 n一1参考抽样规则和接收判据(IEC报告，出版物591)，为了清晰地表示试验结果，表A3至表A6包含有标准差的图标资料和低于规

27、定等级的值。关于摘要中有关破坏情况的说明，应该注意到，“绝缘件的破坏”已经被用作盘形悬式绝缘子串元件的一般术语，它表示瓷绝缘件的击穿或根本破坏和钢化玻璃绝缘件的粉碎性破坏。在本概述中所包括的盘形悬式绝缘子串元件中，型式CPlcP5可归人比较旧的和近乎陈旧的这一类。它们是在二十世纪三十年代末期、四十年代和五十年代初期制造的。它们的运行性能不能令人满意。关于CPI、CP2、CP3和CP4型，从二十世纪四十年代末直至现在，有关输电线路上绝缘子的每年检查的统计资料是可利用的。这些统计资料示出各年劣化率的变化，每年10 000个元件中最高损坏率CPl元件为132只，CP2元件为21只，CP3元件为41只

28、，CP4元件为139只。CP5型绝缘子劣化率在每年10 000个元件中为22只。从表A3可见，这些劣化率的数字与这5种型式绝缘子元件的试验结果非常一致，这5种型式绝缘子经试验证明都不是安全可靠的。对CP6型绝缘子元件，已表明其运行劣化率约低于每年每10 000个元件中1只。这是否是偶然现象，因为它与试验时的破坏情况有所差别，12只元件进行通常的机电破坏负荷试验时有2只击穿，而12只进行机械性能试验时有5只击穿，12只进行热机性能试验时有7只击穿。CP7型绝缘子元件在输电线路上使用仅10年左右，这种型式的元件至今为止根据绝缘子统计在运行中是完善的。至于CP8、CPll、CPl2和CPl4型绝缘子

29、元件其试验结果与最好的运行经验相关。例如在瑞典，在定期检测输电线路的情况下，自二十世纪五十年代使用这些型式的绝缘子元件以来，据记载完全没有劣化率。只有极偶然地发现有少数元件是电气损坏的。还要指出，这样型式的绝缘子一般是以金属附件的破坏而不是以绝缘件的破坏作为其特征的。8GBT 22708-2008对于CP9绝缘子元件已表明没有劣化率的数字。CPl0和CPl3是同一来源的绝缘子元件而分别在法国和瑞典试验的。在两个国家都得到了不好的试验结果，CPl3元件是1970年在市场上正式出售的，CPl0元件也可以说成是近期产品，是1966年制造的。CPl5、CPl6、CPl7、CPl8、CPl9和CP20型

30、绝缘子元件是在19701972年提供试验的。由表A5可以看出，特别是CPl5元件和CPl7元件显示了不好的试验结果。对于是1952年制造的CP21型缘子元件，运行中有少数绝缘子串由于帽拉脱而损坏的记载。观察到该绝缘子元件在性能试验时也出现了那样的破坏。关于在本概述中所包含的长棒形绝缘子串元件，必须指出，试验结果仅涉及绝缘子元件，也就是说试验中没有包括和元件一起使用的可拆卸的连接件。略去可拆的连接件的理由在于这样在连接件不构成绝缘子整个内部结构的一部分。特别要提出注意的是，要从试验方法的观点来看有关LR4型元件的试验结果。在热机性能试验中，尽管预先施加过12 000 kgf的逐个试验负荷，在试验

31、的开始阶段在60的负荷，即9 000 kgf作用下，还有不少于8只帽破坏。在机械性能试验中，低于15 000 kgf额定负荷时，出现5只帽破坏。这些帽在低负荷下的破坏是由于被试批的帽材料的微观结构不良。在表A 7和表A 8中很简单的概括了所有的试验结果，示出了在低于额定负荷值下出现破坏的数量。GBT 22708-2008表A3盘形悬式绝缘子串元件CPlcP5试验结果摘要产三产再三三三；气在热机性能试验中平均值豆和标准差SL-二=-：一一再=爿在机械性能试验中平均值豆和标准差S卜_一再一在通常的机械破坏负荷试验中平均值豆和标准差so单个的数值绝缘子串元件型式 机电或机械破坏负荷 破坏情况(标志代

32、号)CPl 在热篙蜒一一井27只绝缘件破坏，其中有12只低(从线路上于额定负荷值取下的元件)8啦i一pI譬 26只绝缘件破坏，其中有11只低CP2 于额定负荷值和1只金属附件破坏CP3 i一i；圭罩39只绝缘件破坏其中有23只低(从线路上 i目于额定负荷值取下的元件)I-iHCP4 ；兰措试验中的所有值 28只绝缘件破坏，其中有26只低(gL线路上 于额定负荷值1只金属附件破坏取下的元件) L一一 1只帽拉脱CP5A 匪 Eiii刍(从线路上 i=d 31只绝缘件破坏，其中有2只低于额定负荷值，5只金属附件破坏取下的元件) 卜一i一CP5B 笪差一28只绝缘件破坏，其中有3只低于(仓库中额定负

33、荷值，2只金属附件破坏保存的元件) l卜一i一o o2 o：多o 6 01 8 i：o I，I z I4 1I 6 II 8 2o额定机电或机械破坏负荷、在热机性能试验开始阶段期间和机械性能试验开始阶段期间的负荷(在这个60负荷水平的圆“o”表示当负荷增加到那个数值时发生了破坏)】O三三三再三三三争I!5一表A4盘形悬式绝缘子串元件CP6一CPl3试验结果摘要在热机性能试验中平均值趸和标准差S=瓦=爿在机械性能试验中平均值耳和标准差s卜_一R1在通常的机械破坏负荷试验中平均值豆和标准差sO单个的数值GBT 22708-2008绝缘子串元件型式 机电或机械破坏负荷 破坏情况(标志代号)CP6 E

34、i引 14只绝缘件破坏。其中有1只低于(从线路上 bid 额定负荷值，21只金属附件破坏，取下的元件) LRJ 1只脚拉出苣三兰三R三三引CP715只绝缘件破坏，9只金属附件破坏I-i-ICP8 Ei爿(从线路上 耳爿2只绝缘件破坏，27只金属附件破坏，7只帽拉脱取下的元件)卜i一CP9 苣；i=爿 13只绝缘件破坏，其中有1只低于(被替按 的元件)(从线路上 =i刊 额定负荷值，15只金属附件破坏，取下的元件) -I-一 8只帽拉脱(被替换的元件未包括)22只绝缘件破坏，其中有2只低于CPl0额定负荷值卜一瓦_E瓦爿CPll i刊 仅金属件破坏卜瓦-IE瓦爿CPl2 再刊 仅金属件破坏I-再

35、一富i；b36只绝缘件破坏，其中有17只低CPl3 一i=d于额定负荷值Hi一o o2 o：，oj6 o：8 I：o I：2 lj4 1：6 lj8 2 o额定机电或机械破坏负荷矗热机性能试验开始阶段期间和机械性能试验开始阶段期间的负荷(在这个60负荷水平的圆“o”表示当负荷增加到那个数值时发生了破坏)GBT 22708-2008表A5盘形悬式绝缘子串元件CPl4CP21试验结果摘要E三三三!：!直在热机性能试验中平均值再和标准差s一瓦=爿在机械性能试验中平均值元和标准差S卜_一耳在通常的机械破坏负荷试验中平均值R和标准差So单个的数值绝缘子串元件型式 机电或机械破坏负荷 破坏情况(标志代号)

36、E-jCPl4 瓦d 仅金属附件破坏_1E兰兰葛三再 i；三爿CPl5 一i=刊24只绝缘件破坏，其中有6只低于额定负荷值，6只金属附件破坏一i一E&刍CPl6 i18只绝缘件破坏，其中有1只低于额定负荷值，12只金属附件破坏Li一8b兰 =兰再ii；引 29只绝缘件破坏，其中有7只低于CPl7 o=缸 =i=一 额定负荷值，1只在低于额定负荷值卜一i一 时帽拉脱|再ECPl8 j再1只绝缘件破坏，35只金属附件破坏一再卜|夏E5只绝缘件破坏，其中有2只低于CPl9 鬲j额定负荷值，31只金属附件破坏L鬲_Ei；j z9只绝缘件破坏，其中有1只低于CP20 b=一i=d 额定负荷值，6只金属附

37、件破坏，1只L一i一 脚拉出女 i一CP2l 26只绝缘件破坏，其中1只低于额(从线路上 be4 定负荷值，9只帽拉脱其中3只低于取下的元件) p瓦J 额定负荷值。 。12 。_。16 。18 L!。 l 12 114 lj6 i)8 2o额定机电或机械破坏负荷热机性能试验开始阶段期间和机械性能试验开始阶段期间的负荷(在这个60X负荷水平的圆“0”表示当负荷增加到那个数值时发生了破坏)12表A6长棒形绝缘子串元件试验结果摘要兰兰亍兰再三；号在热机性能试验中平均值豆和标准差s一万=刊在机械性能试验中平均值鬲和标准差s卜_一瓦一在通常的机械破坏负荷试验中平均值瓦和标准差So单个的数值GBT 227

38、08-2008绝缘子串元件型式 机电或机械破坏负荷 破坏情况(标志代号)E兰兰兰面三三爿LRl 一i刊36只绝缘件破坏，其中有1只低于额定负荷值卜一i一苣i引LR2 一i=刊 33只绝缘件破坏及3只帽拉脱卜一i_E=三再j!型LR3 b=i=一35只绝缘件破坏，其中有1只低于Li一 额定负荷值及1只帽破坏15只绝缘件及21只帽破坏，其中LR4 X=刊-卜一i一 有14只低于额定负荷值E三三三三三再三三三三目LR5 一i=刊34只绝缘件破坏，其中有1只低于额定负荷值及2只帽破坏卜一i一Eii!型LR6 =刊36只绝缘件破坏，其中有2只低于额定负荷值L一i一苣；三三再；三刍LR7 i刊 36只绝缘

39、件破坏卜一再一j再ELR8 2l帽破坏及3只帽拉脱面1爿再ELR9 24只帽拉脱卜耳u 0 2 0喜o 6 08 1 o 1 2 1 4 18 18 2 0额定机电或机械破坏负荷在热机性能试验开始阶段期间和机械性能试验开始阶段期间的负荷(在这个60负荷水平的圆“o”表示当负荷增加到那个数值时发生了破坏)13GBT 22708-2008表A7盘形悬式绝缘子串元件在低于额定负荷值下出现破坏的数量绝缘子串元件型式(标志代号) 热机性能试验 机械性能试验 通常的机电或机械破坏负荷试验CPl8 2 2(从线路上取下的元件)CP2 9 无 2CP38 7 8(从线路上取下的元件)CP410 8 8(从线路

40、上取下的元件)CP52 无 无(从线路上取下的元件)CP52 1 无(19511971年库存元件)CP6无 无 (1)5(从线路上取下的元件)CP7无 无(从线路下取下的元件)CP8无 无 无(从线路下取下的元件)CP9(1) 无 (1)1(从线路下取下的元件)CPl0 2 无CPll 无 无 无CPl2 无 无 无CPl3 7 5 5CPl4 无 无 无CPl5 5 1 无CPl6 无 无 1CPl7 3 4 1CPl8 无 无 无CPl9 无 2 无CP20 无 无 1CP214 无 无(从线路上取下的元件)8恰好低于额定负荷值破坏的元件。b被另一元件替换下的元件。14GBT 22708-

41、2008表A8长棒形绝缘子串元件在低于额定负荷值下出现破坏的数量绝缘子串元件型式(标志代号) 热机性能试验 机械性能试验 通常的机电或机械破坏负荷试验LRl (1) 无 无LR2 无 无 无LR3 元 1 无LR4 8 5 (1)LR5 1 无 无LR6 1 无 lLR7 无 无 无LR8 无 无LR9 无 无8恰好低于额定负荷值破坏的原件。A6试验结果判断标准正如从结果概述中看到的，某些型式的绝缘子其性能试验结果与通常的机电或机械破坏负荷试验结果完全一致，而另一些则不一致。显然可以说，在热机性能试验中所包含的温度变化及施加负荷与除去负荷在某种情况下对绝缘子串元件的机械强度有影响，同样在机械性

42、能试验中，仅仅施加负荷和除去负荷在某些情况下也会降低绝缘子的强度，但不太显著。就已讲到的运行经验来说，这些情况或多或少与现场中事故频率相关。相对的情况也是存在的，即在试验中良好的绝缘子性能与极好的运行记载相关。当判断性能试验结果时，基本对点是性能试验的结果与通常的机电或机械破坏负荷试验结果相一致。因此对通常的机电或机械破坏负荷试验所规定的机电或机械破坏负荷在性能试验中也应达到。考虑破坏情况可能是有帮助的。试验结果连同运行经验是接收或拒收这样一个不可争辩的依据。此外，可加上达到最大负荷和最终破坏之前不允许发生击穿这样一种严格的判断。在前面已提及的IEC报告(出版物591)中与平均值和标准差的公式

43、一起，推荐了一个计及平均值大小和标准差大小的指数Q。采用这个指数作为接收或拒收的一个基本依据是有效的。该指数由下式表示：Q。一R_-R so式中：R试验的平均值；R。规定的机电或机械破坏负荷(额定负荷值)；S标准差。因为设计准则和材料的不同，Q。的变化范围对不同的盘形悬式绝缘子的结构是不相同的，并且盘形悬式绝缘子的变化范围和长棒形绝缘子的变化范围也可能是不同的。下面给出相应于不同试品数量的不同接收常数K：试品数量 接收常数K5个元件 14010个元件 15815个元件 16520个元件 16925个元件 17230个元件 1731 5GBT 22708-2008如果Q，等于或大于接收常数K，则

44、认为满足了要求。这个要求的意思简单地说就是其瓦对于5只被试元件的情况应至少等于Q。+140S，而对于10只被试元件的情况应至少等于R，+158S，等等。已将表A3至表A6所给出的在性能试验中和通常的机电或机械破坏负荷试验中所得到的平均值和标准差值转化为Q，值(见表A9和表A10)。用括号标注的数字是低于接收常数的。表A9被试盘形悬式绝缘子串元件指数值Q。(参见表A3、表A4和表A5)绝缘子串元件型式 相应于热机性能 相应于机械性能 相应于通常的机电或机械破坏(标志代号) 试验结果的Q值 试验结果的Q值4 负荷试验结果的Q值CPl(208) (o88) (o84)(从线路上取下的元件)CP2 (

45、一)6 169 (051)CP3(一078) (O47) (一O46)(从线路上取下的元件)CP4()6 (097) (一102)(从线路上取下的元件)CP5(075) (116) 193(从线路上取下的元件)CP5(054) (041) (118)(1951971年库存元件)CP6l 98 290 222(从线路上取下的元件)CP7249 435(从线路上取下的元件)CP8666 793 42l(从线路上取下的元件)CP9 180。237 274(从线路上取下的元件) (O97)CPlO (O21) (147)CPll 706 492 1504CPl2 550 388 400CPl3 (一0

46、37) (007) (023)CPl4 800 405 6 79CPl5 (032) (131) (146)CPl6 210 2 53 (150)CPl7 (一065) (028) (138)CPl8 586 683 900CPl9 10 75 (150) 300CP20 438 (153) (14】)CP21(027) 467 644(从线路上取下的元件)8括号内的数字是低于接收常数K的。b在试验的开始阶段期间施加60的负荷后发现所有的绝缘子元件都已破坏。考虑了被替换元件时的Q|值。18GBT 22708-2008从表A9可以看到，盘形悬式绝缘子串元件CP6、CP7、CP8、CP9(被替换的元件不考虑)、CPll、CPl2、CPl4和CPl8在所有三项试验中均满足了接收常数K。同时还看到Q。值从18到1504差别很大。一般地说，大大超过接收常