GB T 18311.34-2003 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第3-34部分;检查和测量随机配接连接器的衰减.pdf
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1、ICS 33. 180. 20 L 50 中华人民共和国国家标准GB/T 1831 1. 34-2003/IEC 61300-3-34: 2001 纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第3-34部分:检查和测随机配接连接器的衰减Fibre optic interconnecting devices and passive components Basic test and measuremdt procedures-2003-11-24发布Part 3-34: Examinations and measurements一Attenuation of random mated conne
2、ctors CIEC 61300-3-34:2001,IDT) 2004-08-01实施中华国家质人民共和国监督检验检痊总局发布. 目。GBjT 18311.34-2003jl配61300-3-34,2001百草FF司本部分为GBjT18311的第34部分,并隶属于GBjT18309. 1-2001(纤维光学互连器件和元源器件基本试验和测量程序第1部分z总则和导则儿本部分等同采用IEC61300-3-34,2001(纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第3-34部分z检查和测量随机配接连接器的衰减)(英文版)。为便于使用,对于IEC61300-3-34,2001还作了下列编辑性修改=删
3、除IEC61300-3-34,2001的前言。纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序是系列国家标准,下面列出了这些国家标准的预计结构及其对应的IEC标准za) GBjT 18309.1-2001(纤维光学互连器件和元源器件基本试验和测量程序第1部分总则和导则)(idtIEC 61300-1,1995)。、b) GBjT 18310(纤维光学互连器件和元源器件基本试验和测量程序第2部分z试验一-GBjT18310.1-2002(纤维光学互连器件和元源器件基本试验和测量程序第2-1部分z试验振动(正弦)(IEC61300-2-1 ,1 995 , IDT) GBjT 18310.2-2001
4、(纤维光学互连器件和元源器件基本试验和测量程序第2-2部分z试验配接耐久性)(idtIEC 61300-2-2 ,1 995) GBjT 18310.3-2001(纤维光学互连器件和元源器件基本试验和测量程序第2-3部分s试验静态剪切力)(idtIEC 61300-2-3 ,1 995) 一-GB/T18310.4-2001(纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第2-4部分z试验光纤/光缆保持力)(idtIEC 61300-2-4 ,1 995) c) GB/T 18311(纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第3部分2检查和测量GB/T 1831 1. 1-2003(纤维光学
5、互连器件和无源器件基本试验和测量程序第3-1部分z检查和测量外观检查)(IEC61300-3-1 ,1 995 , IDT) 一-GB/T1831 1. 2-2001(纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第3-2部分z检查和测量单模纤维光学器件偏振依赖性)(idtIEC 61300-3-2 ,1995) GB!T 1831 1. 3-2001(纤维光学互连器件和元源器件基本试验和测量程序第3-3部分.检查和测量监测衰减和回波损耗变化(多路)(idt IEC 61300-3-3 ,1 997) 一-GB/T1831 1. 4-2003(纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第3-4
6、部分z检查和测量衰减)(IEC 61300-3-4 , 2001 , IDT) . 本部分由中华人民共和国信息产业部提出。本标准由中国电子技术标准化研究所(CESD归口。本部分起草单位:上海传输线研究所。本部分主要起草人=樊鹤峰、汤钧、程万茂、马磊、怀向芳、王锐臻。I GB/T 1831 1.34-2003/IEC 61300-3-34.2001 1 范围纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第3-34部分:检查和测量随机配接连接器的衰减本部分旨在规定测量随机配接的光连接器的衰减的统计分布和平均值所要求的程序.本部分术语衰减也可称为插入损耗。2 规范性引用文件下列文件中的条款通过GB/T
7、18311的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注目期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分。GB!T 18309.1-2001 纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第1部分s总则和导则(lEC61300-1.1995 , IDT) GB/T 1831 1. 12003纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第3-1部分:检查和测量外观检查(lEC61300-3-1 ,l995 ,IDT) 3 概述3. 1 试验方法本程序规定了测量
8、随机配接的光纤连接器衰减的两种方法。这两种方法都提供了从一个批次中选取的一组跳线(如适用,包括适配器),用于光学系统时所期望平均性能的估计值。为了保证测量提供一个统计上没有误差的估计值,跳线和所有适配器必须随机抽取。方法1规定了基于使用10根跳线(20个光连接器)和10个适配器的测量程序。在这个方法中所有的插头按顺序被用作基准插头,并且所有剩下的插头相对于选择准插头进行测试。基于360次测量的结果见图3所示的试验矩阵。方法I旨在用于设计定型试验的一部分,可能包括一个或多个供货方。定型一旦通过,方法2取决于过程控制的维持。然而,有争议时,应以方法1作为基准测量方法。方法2规定了基于15根跳线的测
9、量程序。选择的5根跳线作为基准跳线,每根基准跳线的一个插头被指定为基准插头。剩下的10根跳线的所有插头都相对于5根基准插头进行测量,100次测量结果如图6所示的试验矩阵。考虑到对于用户或者生产成品的供货方,就每天的常规检测而言,方法l所要求的测量次数非常大。因而,基于以上的原因,方法2可以作为一种替代的选择。注:在本测量方法中,采用基准插头或基准跳线这些术语来定义那些从批器件中随机选取的器件,相对于这些器件来进行比较测量。这不意味着这些基准插头或基准跳线对应的光器件是经过特别选取或特制的a3.2 预防措施如下的测试条件应该得到满足。3.2. 1 应采取预防措施保证包层模不影响测量,可通过光纤涂
10、覆层的作用将包层模消除。l GB/T 1831 1.34-2003/IEC 61300-3-34 ,2001 3.2.2 应采取措施确保测试中光纤位置在测量矶和P2期间保持固定,以避免由于弯曲损耗导致衰减变化。3.2.3 测试仪器的稳定性应不大于0.05dB或者所测衰减量的10%.两者中取较小者。应在整个测量期阅和工作温度范围内保持稳定性。不管是多模还是单模,所要求的测量分辨率应为0.01dBo 3.2.4 为了获得一致性的结果,在测试之前应清洁和检查所有的连接器和适配器,并按GB/T1831 1. 1 23进行外观检查。3.2.5 光纤内的光功率应保持在不发生非线性散射效应的电平。4 装置4
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