GB T 12565-1990 半导体器件 光电子器件分规范 (可供认证用).pdf

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1、中华人民共和国国家标准半导体器件光电子器件分规范可供认证用国家技术监督局 批准 实施范围半导体光发射器件光电子显示器件发光二极管红外发射二极管激光二极管半导体光敏器件光敏二极管光敏三极管光控闸流晶体管半导体图像器件光耦合器总则本规范应与其有关的总规范一起使用本规范规定了评定半导体光电子器件所需的质量评定程序检验要求 筛选顺序抽样要求试验和测试方法的细节有关文件半导体器件分立器件和集成电路总规范温度的推荐值优选值见 半导体器件分立器件和集成电路第一部分总则 第 条电压和电流的推荐值 优选值见 第 条质量评定程序初始的制造阶段和转包初始的制造阶段为下述之一单晶半导体器件改变纯 型或纯 型单晶半导体

2、材料的第一道工序多晶半导体器件在衬底上淀积多晶层结构相似器件器件型号按结构相似分组的关键依据是组内各种型号间的差别不影响试验结果对本文件来说结构相似器件是指由同一制造单位采用基本相同的设计和相同的材料工序和方法制造的器件通常仅因为制造上的变化使得它们被分为具有不同电特性光特性或辐射特性的各种型号为了获得鉴定批准和质量一致性检验所用的样品半导体光电子器件可以按下述规则分组附录 补充件 的图解释了这些规则的应用组和或 组中电和光特性测试的分组具有相同的器件设计 在同一生产线上制造的而差别仅在按电和光特性极限值进行分类的器件应根据这些不同的电和光特性极限值被分成各种型号分为不同型号的子批上述器件最好

3、应包含在同一详细规范中但是在任何情况下都应在鉴定批准试验报告中说明所采用的分组细节不同的电和光特性极限值对于那些适用于各子批的不同的电和光特性极限值的具体测试每个子批应抽取与各子批器件数相应的样品量上述具体测试的实例为光敏器件按不同的光敏灵敏度分成各个子批光耦合器按不同的输入传输比分成各个子批发光器件按不同的发光或辐射强度分成各个子批相同的电和光特性极限值对于那些适用于所有子批的相同的电或光特性极限值和测试条件的具体测试 用下述之一种测试评定总批由所有子批的相等的或成比例的数量组成的一组样品从总批中随机抽取的一组样品组和或 组中环境试验的分组用相同方法封装的具有相同内部机械结构基本型式 由相同

4、零部件制成的并经共同的密封和涂覆程序的器件 按下述可以认为是结构相似的 按规定抽取的一组样品可以评定该相似器件的总批注 相同零部件系指按相同图纸或相同规范自制的或购得的合格零部件相同生产线制成的器件上述分组能适用的试验有目检尺寸焊接可焊性和耐焊接热引出端强度腐蚀例如稳态湿热温度变化和湿热循环 或密封振动恒定加速度冲击注 相同生产线 系指具有等效的设备相同的工艺规程控制图或规范 使用相同零部件和材料 设置在同一厂区并能生产相同器件的生产线这些器件是指在相同生产线上制造的 并用相同零部件制成的管壳封装的不同生产线制成的器件上述分组能适用的试验限于目检尺寸焊接可焊性和耐焊接热引出端强度腐蚀例如稳态湿

5、热耐久性试验的分组除在详细规范另有规范外对于耐久性试验 例如电耐久性试验或干热试验而言 具有相同的器件设计在相同生产线上制造的而差别仅在按电或光特性极限值进行分类的器件 应根据这些不同的电或光特性极限值分为各种型号的子批 根据第 或 条的规定 这些子批之一中的器件可用作电耐久性试验上述器件最好应包含在同一详细规范中但是在任何情况下都应在鉴定批准试验报告中说明所采用的分组的细节在 组逐批 中规定试验时对于每种耐久性试验 倘若从下述规定的任一子批中抽取一组样品 则可以评定总批被选子批的器件总数同具有较低额定值或不太严格的特性极限值的所有其他子批的器件总数之和 不少于所有子批总批量的在生产过程中的前

6、三个月内 应对总批中在该周期内提交检验过的 具有最高额定值或最严格的电或光特性极限值的子批抽取适当的样品量进行电耐久性试验仅在 组周期 中规定试验时对于每种周期性耐久性试验 按照详细规范规定的样品量抽取的一组样品可评定总批样品最好从器件数量最多的子批中抽取而且应保证在较长的期限内适当轮换其他型号鉴定批准的检验要求应与本标准表 和表 规定的抽样要求一起 正常地采用 程序规则第 条的方法但是 如果采用有关的空白详细规范规定的抽样要求则允许采用 第 条的方法质量一致性检验组和分组的划分应按下列各表划分组和分组表 组 逐批分 组 检验或试验 引用标准 条件外部目检不工作 按规定电和光特性 有关标准按适

7、用方法的规定表 组 逐批关于 类见 第 条分 组 检验或试验 引用标准 条件尺寸互换性 按详细规范所给的外形图也可见附录电和光特性设计参数 有关标准 适用时按规定其他电和光特性 有关标准 适用时按规定 例如高温测量电和光极限值的验证 有关标准 适用时按规定引出端强度 按规定 例如引线弯曲可焊性 按规定温度快速变化继之以湿热循环或密封按规定 取决于封装温度变化 按规定 检查间歇失效恒定加速度 按规定 取决于封装如果空白详细规范要求时不适用电耐久性 有关标准按规定方法高温贮存 在高温贮存温度下放行批证明记录按空白详细规范中规定的计数数据注 半导体分立器件机械和气候试验方法不适用于超小型器件半导体器

8、件机械和气候试验方法仅适用于光耦合材料与芯片表面或内连引线直接接触的带尾纤器件基本环境试验程序 试验 温度的变化表 组 周期分组 检验或试验 引用标准 条件尺寸 按详细规范所给的图 也可见附录电和光特性设计参数 有关标准按规定其他电和光有关标准按规定 例如在极限温度下测量电和光极限值的验证 有关标准按规定结到管壳的热阻 有关标准按规定引出端强度 按规定 例如拉力或转矩耐焊接热 按规定温度快速变化继之以湿热循环或密封按规定 取决于封装机械冲击或振动继之以恒定加速度按规定 取决于封装如果空白详细规范要求时稳态湿热或湿热循环按规定 取决于封装电耐久性或等效的加速应力试验有关标准 按规定的条件高温贮存

9、 在最高贮存温度下低气压 在本组或 组中规定标志的耐久性 按规定放行批证明记录按空白详细规范规定的计数数据注 不适用于超小型器件组试验仅适用于鉴定批准 当要求时 应在空白详细规范中规定筛选当在详细规范或订货单中规定筛选时则应按表 对生产批中的全部器件进行筛选通常筛选在 组 组和 组检验之前进行 当在符合 组和 组逐批检验及 组周期检验的要求之后进行筛选时则应重新进行可焊性 密封和 组检验按详细规范的规定可以要求增加筛选后的试验筛选顺序应按表注 表 正在考虑中抽样要求表 组检验抽样要求分组 类 类 类类 类 类三端或多端器件二端器件三端或多端器件二端器件注 值用于每个分组中不合格器件的总数如果

10、组检验选择 那么只允许 分组采用批允许不合格品率的最大合格判定数为如果用 的检验证明某批中不合格器件的数量少于 则不要求对该批再进行本分组中光电参数的抽样检验表 组和 组检验抽样要求应采用分组类和 类类筛选等级注 批允许不合格品率的最大合格判定数为试验和测试方法见附录 参考件附录结构相似性补充件下面的示意图给出了生产中如何应用结构相似性的图例图 光敏晶体管和光耦合器的结构相似性图例附录尺寸补充件封装外形尺寸本附录列出了 组和 组应该检验的尺寸 并采用 半导体分立器件外形尺寸中标准化了的字母代表相应的尺寸器件外形 组 组单端引线安装例如具有底座 的 全部带有接线片的螺栓安装例如 或 全部扁平底座

11、安装例如具有底座 的 全部注 详细规范中引用 的外形图或按 规定绘制的外形图中除 组已包括之外的全部尺寸光学方面的有关尺寸适用处应在详细规范中给出光学方面的有关尺寸和在哪一组中检验附录机械试验加力的方向补充件取向对于施加的外力与器件取向有关的试验方法 其取向和所施加的方向应符合 附录 的图 和图 或下面的图 和图图 圆柱形器件对加力方向的取向图 为和有关详细规范共同规定的其他封装形式图 其他封装形式附录试验和测试方法参考件引用有关试验和测试方法如下表所示当详细规范要求并按下列规定时见 第条 则应使用这些方法表 发光二极管和红外发光二极管的一般测试方法引用代号 符号 名称 引用标准发光强度辐射强

12、度峰值发射波长光辐射带宽频谱辐射带宽辐射图 半强度角角偏差开关时间正向电压反向电流总电容光通量辐射功率正向电流截止频率注 正在考虑中表 光耦合器的一般测试方法引用代号 符号 名称 引用标准集电极发射极维持电压发射极集电极击穿电压集电极基极击穿电压发射极基极击穿电压集电极发射极饱和电压连续或重复峰值隔离电压或 试验浪涌隔离电压试验集电极发射极截止电流集电极基极截止电流电流传输比正向电流传输比的静态值输入输出间隔离电阻输入输出电容开关时间局部放电表 激光二极管的一般测试方法引用代号 符号 名称 引用标准相对噪声强度阈值电流峰值发射波长频谱辐射带宽纵模数目辐射功率发射源尺寸象散半强度角角偏差开关时间注 正在考虑中表 光敏二极管和光敏晶体管的一般测试方法引用代号 符号 名称 引用标准光电流暗电流集电极发射极饱和电压开关时间电容光敏二极管截止频率噪声等效功率噪声电流倍增因子过剩噪声系数注 正在考虑中附加说明本标准由中华人民共和国机械电子工业部提出本标准由机械电子工业部标准化研究所负责起草本标准主要起草人张彦秋