SJ Z 11352-2006 集成电路IP核测试数据交换格式和准则规范.pdf

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1、目U.l. 一一仁1 SJ/Z 11352 2006 11 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .111 且=仁习1. 1 1.2 1.3 1.4 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

2、. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

3、2 项规范. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

4、 4 2.1 2.2 2.3 2.4 3 IP 3.1 3.2 3.3 .2 .3 .4 . . . . . . . . . . .7 口D.9 IP 10 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

5、 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . B (规范D F t二日. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

6、 . . . . . . . . . 16 .21 (示.22 (示.23 也L.25 巴L.26 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2 jr ) VCD .28 口. . . . . . . . . . . . . 2 9 SJ/Z 11352 2006 晶E司旨日，Guidelines for VC Providers Specification Version 1.1) 石口旨口，参照H、。旨日，SoC设t, 计的指III SJ/Z 11352 2006 s全:.7G 日U 曰nu H ., -F 唱Ei,. ,. 民一0和1

7、tf、a b C 予夕U施加日, , d 能?e 1. 2. 5 test module 川，Vhm地、了如可元4，气.t:T.1、E、.t:ftl、1J-!1机均，、主主1I . _t ，. ,a. I I I、 /.!./I.J 、JD、，二点H;、1111. T、J:.J )(.H 1 J以.:.m织机VJ.、I.-I:J:乡:.J月飞，吃:AD，.IL!二l日JO, 1 L 1J,!1 伪、17.;1、ITI/u.J1. 2. 6 UDL user defined logic 日H、(&P: . Jj 口口口y飞。1. 3 日思。达些信息称之为测试交H-、日:且且J71、JA只咀/.J

8、IA吨二;YCJC,. r 、, H-. 工JC,. 、JC,. n I:pj J.-I J机可I.I., 、, 巳:;:.,.1 u:.J俨IJIJ 1-1 IJ.J. 1一L /LJ.1. / 。1、;-1、，r.hr、工口，I;:J立，L.F苦1. ,. . .咽.1. . - ,. .且I. 町.;c: IjJl、。。山一一日予 , , 一, IP 1. 3. 1 . Jj、=口. J二J、。UDL; . JC,. ; e) 主皿一l丛、口能，如:、d 。2 SJ/Z 11352 2006 1 (续条款号交付项格式软核固核硬核备注2.3.1 应用目标文档CM CM CM 根据E提供者

9、是否意透专有信息确定是否提供。2.3.2 使用文档CM CM CM 同上。2.3.3 约束文档CM CM 同上。2.3.4 诊断或特性信息可文档CR CR CR 可选的附加信息，根据是否选产生测试结果决定。2.3.5 关于测试模式的说明文档不宜规定62.4 试向和测试协议适用于所有的优先考虑法的数字IP，不包括存储器类P。2.4.1 试向和试协议VCD , CM CM CM 由IP提供者选择决定。格式WGL, lliEESTIL* 2.4.2 波形时序图CM CM CM 根据E提供者为达到测试覆需率所选用的方法决定。时序规范参数表根据E提供者为达到测试率所2.4.3 C岛fC岛4CM 选用的方

10、法决定。2.4.4 关于测试向和测试文档不宜规定。协议的说明关于波形和时序规范文档不宜规定。2.4.5 的说明* STIL标准试接口语言.(Standard Test Interface Language) 2 、1。, 口l能。2. 1 ， 81言，2. 1. 1 2. 1.3 IDD , 些呵。 a b 一C 三歹|o )11.口, d 歹UJ当。4 SJ/Z 11352 2006 多、，歹l。, 。2.2 、JlP合适的信，。, nnH 、古，但是、子。二监。止匕IYh. p V /、.A. ./ -.1 .，l:J.fv)lf庄何用工巴f田及企J)1.1-11叮7GVG/1、JJJ.!

11、tt:l 0 JJJ.! 咱.-嘎./、./ 口的卢，主主、.I I I、1:1.1、t._ t_、正.，.1.LL. I.L E r _ 、t冒.1、E飞F-、喧L, 、rme=t-、.止匕、. 口，J , 品二L、，至|止匕特的测、目的:许多测试块口以得出台不合的结口、/1、., A 口, l旦x、是=E=。, 。 nHn 2.2.2 兰111 1. :A:和2.2.4 J，中、 , 2.2.1出应v可、JI立其日在已2.2.2 A 口，。, 予歹11一. J 。2.2.4 兰三盖H、VA 口HO 。2.2.5 、能、。a 、rl立, D D T-A -DC , 元(如EEPROM，F

12、lash 6 SJ/Z 11352 2006 。日2.4 、口IP;r, IP。三。、lf、王三., , 。王三.日于IPEt、!当。王三。U三.!J3. 章节。 .r.t.1、J-口予夕uC , 日。., -F AU ,. ,. , , 。, 11、, 、口, , 、口。D 。2.4.1 品。0 1且-n uv 日VVCD CVerilog Change Dump) 。a C (运些信亏与控IP接口的所有信号节大14、;!-tl主Cl壶，杀，口口:cnY , b IP 、t G) : , d) VCD e 旨示f 2.4.2 , 口到IP。(时)予 a) VCD b 、II予(民、II予);

13、、II予, 。2.4.3 肘序规范。日VCD8、, VCD-1、。2.4.4 日前面章节, , 8 SJ/Z 11352 2006 -v , 。3.2 IP 争-fJh-, 局、nHH (京日，。IP , 节、I I守目3.2.1 , 一，己知的工、。 , , 日n、盖完匕芦1:1.1、已三三.工三3.2.2 扫描贝, , , 由E忽自习、I I射一个销存器/。些3 。, f3 。JG , 习斗叶斗。, v 。, , 。JG , 、n计(LSSD)、MUX扫。. 口。3.2.2.1 T E且D m民e 、同计指aJ同(如MUX-D，LSSD)。同的扫描时钟，而且, 口H, 司白色，口们口。,

14、比 , b LM C , d 斗斗司 , e , f g 3.2.3 , , DFT指10 SJ/Z 11352 2006 D Q C D Q C CLK CLK2 CLK2 O MUX 1 10 。D Q c D Q I c 扫描2 匕巳。!旦、百30 执日, 只日、913nl型3所示， , , 。O MUX D Q C 、CLK 扫描一使能3 , 。, 主皿曰且也, 况，口日l型4一刁亏H、D Q C D Q C D QI c D Q C 扫描一模式4 、阜步 li 12 , SJ/Z 11352 2006 LFSR BIST 控制器组合(全扫描)MISR , 司斗日(PRPG, Pse

15、udo Random Pattem Generator) , ultiple Input Signature Register)。内建自测话一，)。如3.2.4.1 川，旨日3U 日a b 、C 、日、JBIST U日d 口，e 日7巳叫态的能、，JJ议:g h) IP 3.2.5 , 。目、l口、JMarchMarch 。3.2.5.1 81ST BIST 予剑，BIST 比较器;能被BIST控制口比较器)和、14 SJ/Z 11352 2006 , IDD 多-.、多-, 11 E .r、, 。f , g ，.、口, , h 、。ID ID 、, 1 。U ID , ) . .1L1:f、

16、, , D D -J 、Z玉ZJEIDD 执日IP , 也红云，已歹已。3.3隔IP 口、rIP&UDL。当对IP, IP . J二J、flP, 。, 售主2歹已, 。IP和UDL8J响。。，I1. IVA口门;二二;二且心片上，京日日载到他IP上的测、图形可能会影响这个IP的测试。另，虽对IP、J Ipf故了测七、行狈;., , 。IP IP 。IP 。节、3. 3. 1 贝l画离的必IlI , 。, , 。E口、唱寸口J。3. 3. 1. 1 , 、-，.在监。IP8、其日10a H m中TD、况I, 、91 o r -F QU J ,. 、.、h情况16 SJ/Z 11352 2006

17、 IP1 品日，18 E1=1 IP2 D1=O E2=1 D2=O a)未添加输入隔离12 。13a) IPl IP1 X1 Y 入隔13 FF1 FF2 Y 、lIPEr、啊13b)被E Z a)没有初始化结果导致不安全状态 IP1 。1=1 E1=1 D1=O E2=1 D2=O b)添加输入隔离后IP2 , 只日日隔离仁X1 IP1 1 11 b)有输入隔离隔FF1 Q S R I 0 FF2 Q D2=1 b)一种初始化的方法。被测E 。日IP2 IP8J相U曰oSJ/Z 11352 2006 TCCs MUX N MUX MUX MUX IV 16 日图17所刁亏，前离。N IV

18、控制X E X N-NOImal imputs to IP (正常E输入)IV-Isolation Values to IP (IP隔离值1- Isolation Control (隔离控制)X-IP inputs (IP输入)X X X 告束手，。、11.:IJ, 一日I MUX IP MUX N-NOImal imputs to IP IV-Isolation Values to IP 1- Isolation Control X- IP inputs (正常E输入)(lp隔离值)(隔离控制(lp输入)I X MUX MUX 予习斗。20 多, SJ/Z 11352 2006 使用目标项口

19、晶圆筛选口封装测试口硅片缺陷分析列出中使用的实现方式测试协议故故障言在故型故拟器约束信22 B (规范性附录)IP测试模块表(示例)IP 口特性测试口老化/应力测试口功能验证口激光修复口激光修整口其他测试模块(请一一列举)SJ/Z 11352 2006 C. 8 1 1.桓正, 24 SJ/Z 11352 2006 E (规范性附录)1主LE. 1 本列出了IP至118, 巳1.1 日, 。况I, 。E. 1. 2 空白日于IP白俨口日巳1.3 。IPX , 。l局E.1.4 E. 1. 5 11驹出隔离m、26 2006 SJ/Z 11352 G VCD -日下的序罗l步:G. 1 G. 1

20、. 1 , 局H、予VCDI口撞去._，7G 。1. -步:G.1.2 V( I _ . I 坝lv 去(ep: , , , 日G. 1. 3 ，士，7巳, /1、, 日日。日VCDI口显示，, 、, 、工、JVCD阳县。28 SJ/Z 11352 2006 占 , 日, 4 4 Hn input delay time b 日。H.12 隔离inputisolation 、好IPEf、rIPH. 13 , 。必、, 、I前，H. 14 )申贾厚inputpulse width , AU 。H. 15 level 路节点信号强度表示H.16 manufacturing test IP提供者、I

21、P、口，口口。H. 17 节点node/区分狈1I、gIPJ、H.18 NRZ不归0、t字格式(non return to zero 、l日。H. 19 隔离outputisolation 旨IPH.20 , 。strobe time 口H.21 图(单)H.22 30 SJ/Z 11352 2006 H.33 test mode 1/0 isolation , IP , IP H.34 test module 在已L=口d山，WU口、, 。, 日. JD、些信，囚，。H.35 pattern H.36 test program t主匕、(AC、DCH.37 protocol 。日U 曰AU

22、日b 日0和1。已曰日H.38 test vector 日于IPEt、，。UH.39 川予timingIPEr吐相七、是测试图H.40 能至I。/、H.41 i正旷、。口、口口、r1、v nu / ., 出兀浩口、口口。H.42 val ue H.43 32 钮，阳凶回国N，中华人民共和国IP 和SJ/Z 11352 2006 * 中国电子技术标准化研究所编制中国电子技术标准化研究所发行电话:(010) 84029065 传真:(010) 64007812 地址:北京市安定门东大街1号编:100007 网址:* 开本:880 X 1230 1/16 2006年12月第一版印数:200 字数:83千字2006年12月第一次印刷定价:50元飞0107804

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