SJ 52146 2-2002 GS1113K型低功耗数码显示器详细规范.pdf

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1、乎也-I-FL 5980 主KJ，、飞；住SJ 52146/2-2002 GS1113 K型低工l 细Detail specification for low power dissipation numerical display for type GSl l 13K 2002-10-30发布2003-03-01实施中华人民共和国信息产业部批准一一一一中华人民共和国电子行业军用标准SJ 52146/2-2002 GS1113K型低功耗数码显示器详细规范Detail speci直巳ationfor low power dissipation numerical display for可peGSl

2、ll3K范围2003-03-01实施I 中华人民共和国信息产业部2002-10-30=25 C) 最大额定值最大额定值见表I 3.3 3.4 3. 4. 1 最大额定值表1JFMI) JFPMI) 2) v.1 PM到T onb T咆mA mA v m可c 20 150 4 455 -45 85 -55 100 叫一川一忡位 12) 3) 为每一发光段或每点的数值脉冲宽度为0.1ms，占空比为日，阳在25以上接7.5mW/C剧时斡主要光电特性峰已；，俨叫：.：就喜光电特性见表严：F 二/ / 表2主事先电特性附3.4,2 ！子？豆灯产卡扎叫以飞I,=7mA 1: l 叶飞拭飞向mAi飞毛？引T

3、 数；1乎？d牛：med.，；nm 称名. l I阳1V .益二、dpJ梢）主 年我t8 飞之1io . 0.: .注于品AJ二句：在；It之沪毛I 1；：i1_5 叩；r，20 mA 内i卡总亘在句附会耐心忡:i1;i在“最小10 刊号；：谷、！？几句1v：注：午升飞4令YDI J事仨l:J弘勾长比一波度一射强一发光值发峰g如呻JR 号码者立在发光强度正向电压反向电流run 二二f认字二飞毛：ljf：；他5:i 寸：“4: 二忌、手I.；：二s1;:2必陀、：可；：双方 a式 光谱辐射带宽I) 3 每月作为一个检验批。标志点：承制方商标：检验批识别代码包装物上的标志器件所有的标志（标志点除外

4、）；检验日期：数量。b. b. c. 。d. a. 3.5.2 SJ 52146/2-2002 4 质量保证规定4. 1 抽样和检验抽样和检验应按GJB2146和本规范的规定。4. 1 . 1 表4中A8分组进行检验和试验的样品可以用于Al、A2、A3、A7分组的检验和试验，通过A组检验的样品可以作为B组和C组检验和试验抽样的母体。4. 1.2 要求。在做C组检验中的寿命试验肘，可将B组340h寿命试验继续做到IOOOh，以达到C级检验4.2 筛选（仅对C级）筛选的步骤和条件应按GJB2146和表3的规定。表3筛选的步骤和条件步检验和试验GJB 128A 符号数值。单位条件骤方法号最小最大内部

5、目检封装前2072 2 高温寿命（非工作）1032 T缸巾IOOC,t=72h 3 温度循环1051 除最高温度100，循环10次外，其余按试验条件A.4 恒定加速度（不适用5 细检漏（不适用）6 m检漏（不适用）一7 中间光电测试发光强度GB15651 I卢7mAIv 10 med N,1.1 正向电压SJ 2355.2 Jp=7mA V冒1.8 v 反向电流SJ 2355.3 的.4v JR 10 A 8 老炼1038 试验条件B.T ，25C, I严160mA （全亮）1=96 h 9 最后测试去掉老炼条件后s 96h内完成正向电压变化量SJ 2355.2 I卢7mAltVpl 50 m

6、V 的绝对值发光强度变化量GB厅15651Ir= 7mA I tlv I 20/o!VD med 的绝对值N,I.I-反向电流SJ 2355.3 F气it=4v I民10 A 10 外部目检GJB 548A 外形无明显形变、外观无2009A 缺损，引线无明显锈蚀。其它按方法2009A!) 每发光段或每点的数值。4 一一一二一一一一二一一一一一二SJ 52146/2-2002 鉴定检验鉴定检验应按GJB2!46和本规范表4、表5、表6、表7的规定。质量致性检验质量一致性检验应包括A组（见表4）、B组（见表们、C组（见表6）中规定的检验和试验，以及下面的规定C组检验应在初始批时开始进行，然后在连续

7、生产过程中每隔六个月进行一次。如果合同中己作规定（见6.2），承制方应将质量致性检验数据连同产品一起4.3 4.4 4. 4. 1 4.4.2 提供。检验和试验方法检验和试验方法按表4、表5、表6、发7的规定。4.5 LfPD 7 7 5 7 run run 单位25 符号A 峰值发射波长光谱辐射带宽发光强度比l)检验或试验lIlli-lllilt- 7 外形无明显形变，外观无缺损，引线无明显锈蚀。其它按方法2日D9AGIB 548A 2009A AS分组外部目检5 每一发光段或每点的数值型仨I ) 2) SJ 52146/2-2002 表5B组检验检验方法号GIB 128A 条LTPD 件或

8、n(c) Bl分组标志耐久性1022 4 (0) B2分组15 可焊性I)2) 2026 B3分组15 温度循环1051 除最高温度1ooc，循环20次外，其余按试验条件A。综合温度湿度1021 省略初始条件，周期试验终点测试表7步骤1.B4分组10 稳态工作寿命1027 T皿b=25C,l,=160 rnA （全亮） t=340h 终点测试表7步骤2.BS分组10 高温寿命1032 T,tg=lCJC, t=340h 非工作）终点测试表7步骤2.1可使用光电参数不合格的样品做试验，2LTPD适用于受试器件的引线数，但试验的器件数不能少于3只。表6C组检验检验GIB 128A LTPD 方法号

9、条件或n(c)Cl分组2 CO) 物理尺寸I)2066 按图1 C2分组15 引线牢固性GJB548A 试验条件A一拉力2004A C3分组（不适用C4分组10 稳态工作寿命1026 r=b=2s，I,=!60 rnA （全亮）, t=1 OOOh 终点测试表7步骤2.cs分组20 温度循环1051 除高温为lCD外，循环25次外，其余按试验条件A.终点测试表7步骤1 1) 可使用电参数不合格的样品做试验6 一一一一一一一一一一、步骤zl 5 6 6.3 一一SJ 52146/2-2002 表7B组、C组的测试检验试验方法条件符号正向电压SJ 2355.2 I,=?mA 盯反向电流SJ 2355.3 民=4VI, 发光强度GB厅15651Ir丁mAIv N, I.I 正向电压SJ 2355.2 I,=?mA v. 反向电流SJ 2355.3 v，4 v J, 发光强度GBff 15651 I.=?mA Iv 即，I.I附加说R月2本规范由信息产业部电子第四研究所归口。本规范由华禹光谷股份有限公司半导体厂负责起草。本规范主要起草人：陈计划项目代号：BOIOl3。且一。数值I)单位最最大1.8 v 10 A 10 med 2.0 v 20 A 8 med 7