SJ 50597.1-1994 半导体集成电路JT54LS85型LS-TTL四位数值比较器详细规范.pdf

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1、中国电丁FL 5962 SJ 50597. 1 94 -Detail specification for type JT54LS85 LS-TTL 4bit magnitude 。fsemiconductor integrated circuit 1994-09-3(发布一中华人民共和国电子工业1994-12-01实批准 中华人民共和子行业军用标半导体集成电路口54LS85型LS TTL四位数值比较器详细规范Detail specification ror type JT54LS85 LS TTL4bit magnitude comparator or semiconductor lntegr

2、ated circuit 1范1.1 主题内容SJ 50597. 1 94 本规范规定了硅单片半导体的详细要求.成电路JT54LS85型LSTTL四位数以下简1.2 适用范围范适用的研制、生产和1.3 本规范给出的器件按器件型号、器件1.3.1 器件编号 、式、值和号应按GJB597(微电路总规范第3.6.2条的规定.1.3.1.1器件型号型号如下z器件型号件名称JT54LS85 四1. 3. 1. 2 器件等级作条件分类.器件等级应为GJB597第3.4条所规定的B级和1. 3. 1. 3 封装形式的Bl级.封装形式按GB7092 (半导封装形式如下:电路外形尺寸的规定。字母封装C I C2

3、0P3(陶瓷无引线片D I D16S3(陶程双列封装F I F16X2(陶鳖平封H I H16X2(陶瓷熔封平封装J I 116S3(陶封双列封装中华人民共和国电子工1994-09-30发布式1994-12-01 一1一SJ 50597.1 94 1.3.2 绝对绝对最大额定值如下z项目符号数单位小最大电电压V 一0.57.0 V 入电压V1 一1.57.0 v 贮存温度Ts -65 150 斗 功耗1)Po 110 mW 号I。08)Tb 300 T1 175 注:1)2)除按GJB548(微电1.3.3 推荐工作条件作条件如下z出流(105 方法5004, 项目.符号单位最小 最大V 4.

4、5 5.5 V 电平电压V田2.0 V + 入低电平电压V且0.7 v 出高电平电流IOH -400 uA 出低电平电流IOL 4 mA 工作环h -55 125 2 引用文件GB 3431. 1 82半导体集成电路文字符号电参数文字符号GB 3431.2 86 半导体集成电路文字符号引出端功能符号GB 3439一82半导体集成电路TTL电路测试宽法的GB 4590 84 半导体集成电路机械和气候试验方法GB 4728. 12 85电气图用图形符号二进制逻羁单元GB 7092 半导体集成电路外形尺寸GJ B548 88 微电子器件试验方法和程序GJB 597 88 微电路总规范GJB 1649

5、 93 电子产品防静电放电控制大纲3 3.1详各项要求应按GJB597和一2一规定.SJ 50597. 1 94 3.2 设计、结构相外形尺寸设计、结构和外形尺寸按GJB579和本规范 3.2.1 逻羁符号、逻羁图租引出号、逻辑图和引出端排列应符合图1的规定.，引出为俯视图.符号(D、F、H，J型83 U 1 lfi U VCC A I 11 13 I 7. fA跑D!1z口t A三Br I 6 tt I 1 IIt , F r 叫AZ 16 t 8 7 15吨I! A= B a 问嘈1119101117.1 :1 国。:r. KB, A. B% BI x AI AI E BI Ao B FA

6、B 20 uA V1=2.7V 入端J60 V=5.5V， AB 100 uA V1=1.0V 其余输300 Vcc=5.5V, AB -0.4 mA Vi=0.4V 其余输一1.2V=5.5V 一20一100mA Vcc=5.5V 20 mA CL=15pF士10，A ,B FAB. FA用42 RL=2kO士5.%c=级门Vcc盟5.0VA.B FA_B 2 42 E四-门AB 25 二级门CL=15pF士10.%AB,A=B , RL=2kO士5.%FAB FAB.A=B FAA=B ,FA_B (-级门36 -的有关分组.各个分组的电3的规定.-5一SJ 50597. 1 94 2电

7、项目分3) B BI 中中间老化后电A1 A1 A11l A11l A2.A3.A7.A9 A1.A2.A3.A7.A9.A10.A11 A2.A3.A7.A9 A一c-c点A1.A2.A3 A1 .A2.A3.A7 .A9 A1.A2.A3 的A10.A11 A1.A2.A3 D组终点电测试A1.A2.A3 注，1)PDA 见4.2条).3 JT54LS85电小分组引用GB 3439 条件.TA=25C) 单位Al Vo M条I v，嚣川V.VI=2. OV .Vu. =O. 7V. I佣=一0.4mA.2.5 v V=4.5V.V田=2.OV .VI=O. 7V. 1(跑回4mA0.4 v

8、 Vo也2.5条VDt 2.1条Iv，酷4.5V.ll1t=-18mA 一-1.5 v 1, 2.11条V=5.5V. V1=7.0V OV. AB.AB.AB.AB. CL=15pF士10%35 RL2kO土5%A.B-FA_B 图236 -门-卜AB.A=B. F 22 ns 二级门A=B FA_B B. FAB.A=B. 2 F 17 ns 二级门A=B FA_B B.A冒B.，F 30 (-级门A=B FA_B 门A岳-FABA=B FAB _n门A=B FA=B 门b 也r2.7V .3V .3V 固 I . 42 :lV 。VVOII VOL 39 28 26 36 4 t P1.

9、 H -一-VOfl , I .3V I . E 曲L6 VOL tPIII 图2负载线路和波形图tw = 500ns I t. 15ns I tp6由If=lMHzl 占空比，q=50%.二级管型号为2CK76.一8一单位ns SJ 50597. 1 94 3.6标志标志应按GJB597 3.7 微电路组的划分本规范所攒及的3.6条的 应11 电路组见GJB597附录E).4 定另日范和问规定时本鉴击，除在4肉，anan, 检验程序应按GJB597和GJB548方法5005的规定.致性检验之刑，件应按GJB548方法5004和本规范表4的规定进 表4若无其他规定，表中采用的方法系指GJB54

10、8的试验方法条件和要求BI 说明自 方法i条件目检2010 2010 条件BB 2001 2001 件F.Y1方向件D.Y1方向目.引线断落、外壳破裂、封盖脱落为失效.中阿老化前电试本规范Al分组本规范Al分级|由选择是否进行.老化1015 I试验条件D度:125-C 时间:160h) 10151试验条件D: 125C 时间:160h) 按本规范图3线路或等效 中间老化后电试Al分组范Al分组-9一 SJ 50597. 1 94 续表4条件和要求筛目B B, 说明方法条件5%本规范A1分组.当不合格品率不超过10%时可重新提交老化，但只允许一次方法条件10% ，本规范A1分组。当不合格品率不超

11、过20%时可重新提交老化，但只允许一次若老化前未进行中间电参试验，那麽老化后A1分组检出的失效数也应计入PDA内。PDA 计算最终电测试本规范A2，A3、A7，A9分组本规范A2，A3、|本项筛选后，若改变器件的A7、A9引线返工，则应再进行A1和A7分组试验。密封1014 1014 条FD qa nv nu ，、u一口阳量样质验或试验验粗一日一试检取定性选鉴致的2009 2009 可在发货前按批进行.5005 I 3.5条3 GN l) -图3老化线路和寿命试验线路图注Vcc=5V;R,=lKO; Rz =100; R3 =270. 脉冲发生器特性要求:G1 ，V旧=2.0-5.5V ,VL

12、=O. 5-0. 7V;/=100kHz;占空比，q=50%。G2，除f=50kHz外，其余与G1相同，且与G1同步。一10一SJ 50597. 1 94 、4.3 鉴定检验鉴定检验应按GJB597中4.4条的规定。所进行的检验应符合GJB548方法5005和本规拖A、B、C和D组检验(见4.4.1r4. 4. 4条的规定。4.4 质量一致性检验质量一致性检验应按GJB597中4.5条的规定。所进行的检验应符合GJB548方法5005和在规拖A、B、C和D组检验(见4.4. 14. 4. 4条)的规定。4.4.1 A组检验A组检验应按本规范表5的规定。电试验要求按本规范表2，各分组的具体电参数

13、测试按本规范表3的规定。各分组的测试可用一个样本进行。当所要求的样本大小超过批的大小时，允许100%检验。各分组的测试可按任意顺序进行，合格判定数(C)最大为2。表5A组拉验LTPD 试验B级器件Bl级._.一一_.-一.、.-一一一一一人1分组z 2 ZJL:下静态iA . 一一.一.一一一一U分组3 3 125C下静态测试-一人3分组5 5 55 C下静态测试-一一一人7分组2 2 25 C下功能测试呵甲骨_-一卢A9分组2 2 25C下开关测试牛一一一一-A 10分组3 125C下开关测试一一-一人11分组5 55C下开关测试4.4.2 B组检验B组检验应按本规范表6的规定。Bl B5分

14、组可用同一检验批中电性能不合格的器件作为样本。一11一若无其他试B1分组尺寸B2分组抗溶性B3分组可焊性B4分组内部自检和B5分级键合强度(1)热压焊或(2 B8分组(a)电测试(b)静电放电灵敏度等级(c)电测试SJ 50597. 1 94 表6B组检验，表中采用的方法系指GJB548的条件和要求B 件IB1 方法2016 2015 2022 或2003 2014 条件245士5CI 2011 I Ic D I A1分组GJB I xxx A1分组 2016 2015 2022 或2003 2014 条件245士5CI 2011 I Ic或D|不要求2 4.4.3 c组检验C组检验应按本规范

15、表7的规定。表7C组检验方法样晶数/(接收数或LTPD 2/(0) 4/(0) 15 1/(0) 7 15/(0) 若无其他规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法试验方法Cl分组稳态寿命1005 终点电试一12一条件和要求B B1 条件方法条件试验条件D1005 D 或E或E: 125 c : 125C 时间:1000h时间1000hI Al，A2，A3分Al.A2.A3分组见本规范组范表2和表3)表2和表3)样品或LTPD 5 说明LPTD系对引数而言，被试多于3个.|可在封工序|前的内部目栓|分组陆租|仅在初始定I :或产品重设|计时进行明采用本规艳3的SJ 50597. 1 94

16、 辑衰7条件和要求样晶!接收数)试B 仲BI J.It 说明方法条件条件LTPD C2分组 1010 试验条件C1010 斌件C15 恒定加速度2001 试验条件E2001 试验条件DY1方向Y1方向密封1014 1014 粗检目检按方法1010按方法1010的目判据的目检判据终点电测试A1.A2.A3分Al.A2.A3分组见本规拖组见本表2和表3)表2和表3)C3分组不要求A10分组觅125 c下开关测本规表2和3 试表3)C4分组不要求Al1分组见一55C下开关东规范表2和5 试袤的4.4.4 D组检验D组检验应按本规范表8的规定。JD1-D2、D5，D6、D7和D8分组可用同一检验批中电

17、性能不合格的器件为样本.表8D组检验若无其他规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法条件和要求l样品数!(搂_.一试B 器件BI级器件说明E方法|条件|方法条件LTPO 01分组尺寸I 2016 I I 2016 I 15 02分组引线牢固性2004 试验条件B.2004 试验条件B.(片(片体采用件0)用条件0)I 15 密封1014 粗( 一13一试D3帽密封目终点电D4分组机械冲密封自检终点电测试D5分组盐雾一14一SJ 50597.1一8 条件和要求B 方法i条件1011 B 15 C 100 1004 I片求引应力的11014 1 i按方法1004和1010的目I A1，A2，

18、A3分2002 2007 I 2001 I 11014 1 组范表2和表3)B A E Y1方向校方法2002和2007的自A1，A2，A3分表2和表3)1009 I试验条件A片体不要求引线弯曲应力Bl 件l方法l1011 1010 11004 1 11014 I 2002 I 2007 I 2001 1014 条件A 15 C 10次求专!应力按方法1004和1010的目俭A1，A2，A3分表2和表3)A A 件DY1方向按方法2002和2007的目捡Al，A2，A3分2和表3)l样品数/LTPD 1 15 a 15 15 说按GB4590第3.6条，时间:5创后和密封试点试D3分组的样品用

19、在I D4分组.Bl级器件用户有要求时，可进行此项试，条件和要求同BSJ 50597. 1 94 8 条件和要求试B 条件密封I 1014 粗目捡1009 的目06分内部水汽含量11018 1100C 水汽含量为， 5000ppm 时引粘BI 方法条件不要求样品数/(接收数或LTPO 3/(0) 5/(1) 2025 I不适用于片状I2025 子片状08 2024 I仅适用于熔封的外壳4.5 5 2024 I仅适用于熔封的外壳15 5/(0) 5.1 包装要求包装要求按GJB597第5.1条的规定.方法应按下列规定.4.5.1 电压和电电压的参考点为器件的GND端，电流约定以6 引出端为正。说

20、明当试验3个器件出现1个失效时，可加试2并且不失效.若第一次试撞时，可在鉴定机构认可的另室进行一一，若第二次过，则该批应被接收.LTPD系对引言.-15一 SJ 50597. 1 94 6.1 订货资料.订货合同应规定下列内臂Ea .完整的器件编号见(1.3. 1条); b. 需要时，对器件制造厂提供与所交付器件相应的检验批C. 南噎是町，对合格证书的要求Fd. 需事时，对产品或工艺的更改，通知采购单位的要求;的要求:e. 南要时，对失效分析包括GJB548方法5003要求的试验条件)、纠正措施和结果供报告的要求Fr. 对产品保证等级选择的要求:g. 南要时，对特殊载体、引线民度或引线形式的要求ph. 对认证标志的要求;i. 需要时，其他要求。6.2 缩写词、符号和定义本规范所用的缩写词、符号和定义按GJB597、GB3431.1和GB3431.2的规定。6.3 替代性件.范规定的器件其功能可替代普通工业用器件，不允许用普通工业用器件替代军用器附加说明:本规范由中国电子技术标准化研究所归口。本规范由北京人七八厂起草。本规范主要起草人s孙人杰.项目代号:JBl1002.一16一