SJ 50033 165-2003 半导体分立器件PIN0003型PIN二极管详细规范.pdf

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1、SJ 中华人民共和国电子行业军用标准FL 5961 SJ 50033/165-2003 半导体分立器件PIN0003型PIN二极管详细规范Semiconductor discrete devices Detail specification for type PIN0003 PIN diode 2003-12-15发布2004-03-01实施中华人民共和国信息产业部批准刚吕本规范是GJB33A-97 (半导体分立器件总规范的相关详细规范。本规范自信息产业部电子第四研究所归口。本规范起草单位:中国电子科技集团公司第五十五研究所。本规范主要起草人:黄玉英、李苏萍。SJ 50033/165-一200

2、3半导体分立器件PIN0003型PIN二极管详细规范范围本规范规定了PIN0003型PrN二极管(以2 引用文件下列文件中的有关条改单(不包括勘误的本的可能性。凡不GB/T 65 GJB 33A GJB 128A 3 要求3. 1 总则器件应符范为准。3. 2 设计、结3. 2. 1 概述器件的设计、3. 2. 2 引出端材器件采用金属陶3. 2. 3 器件结构本器件采用硅材料PIN3. 2. 4 外形尺寸外形尺寸见图l。D I I + 出尺寸代号D H 负极标志图l外形尺寸最小1. 1 1.1 SJ 50033/ 165-2003 引用文件，其后的任何修各方探讨使用其最新版时，应以本规单位为

3、毫米极限值最大1.3 1.4 SJ 50033/165-2003 3, 3 最大额定值和主要电特性3, 3, 1 最大额定值最大额定值见表10 表l最大额定值工作电压JR耗散功率PDa正向电流JF贮存温度Tst工作温度Top(TA=25C) V w 50 1.1 7 TA25C时，按6.68mWIK线性降额。3, 3. 2 主要电特性(TA=2SC)主要电特性见表2。参数符号反向电流JR 正向微分电阻rF 总电容Ctot(.30) 热阻R、飞IhJj-a 反向恢复时间trr 3, 4 电测试要求A 表2主要电特性条件JR=50V h=20 mA, f=50 Hz JR=30V, f=500kH

4、z JF = 100 mA, t = 1 s h= 10 mA, IR = 100 mA 电测试应符合GB厅6570-86及本规范的规定。3, 5 标志C -65200 规a值最小本器件极性标志见图1，器件外包装上的标志应符合GJB33A-97的规定。4 质量保证规定4. 1 抽样和检验除另有规定外，抽样和检验程序应按GJB33A-97和本规范的规定。4, 2 筛选(仅对JT和JCT级)C -65150 t 位;段10 A 2,2 Q 0.2 pF 150 K/ 20 ns 在鉴定检验和质量一致性检验之前，全部器件应按GJB33A-97和本规范表3的规定进行筛选，其测试应按本规范表4的规定进行

5、，超过本规范表4极限值的器件应予以剔除。表3筛选要求筛选GJB 128A-97 条件和要求方法号JCT和JT内部目检2074 仅对JCT级器件2 高温寿命1032 200C , 72 h 3 温度循环1051 试验条件C，20次4 恒定加速度2006 Y1方向，不要求保持1min , 196000 mls2 10 高温反偏1038 试验条件A，TA=150C , VR=40V, 48h II 中间测试IR、Ctot(剖)、rF2 筛12 功率老炼13 最后测试14 密封a) 细检漏粗检漏选l6 外观及机械检查未指明的试验不适用4. 3 鉴定检验鉴定检验应4.4 质量一致4.4.1 概述质量一致

6、组检验。4.4.2 A 生且A组检验4.4.3 B 主且B组检验4.4.4 C 生且C组检验应4. 5 检验和试验检验和试验方试验或检验, 方法GJ8128A-97 方法号1038 1071 SJ 50033/165-2003 表3(续)条件和要求JCT和JT试验条件8，TA=100 C，负扁压叠加正弦信号f=50 Hz , /FM=30 mA, IRM=30V , 96h 按本规范表4中A2分组规定;I L rFI O，I Q; I L C，川单位A1分组GJB 128A-97 外观及机械检验2071 LTPD=5 A2分组TA=25C 反向电流3.2 VR=50 V 116 lR 10 A

7、 总电容3.5 f= 500 kHz, VR =30 V (c=O) C.ot(-30) 0.2 pF 正向微分电阻3.4 f=50Hz, h=20 mA r 2.2 Q A3分组高温工作TA= 150C 反向电流3.2 VR=50 V 116 lR 20 A 低温工作TA=-65C (c=O) 反向电流3, 2 VR=50 V lR A A4分组116 反向恢复时间8.5 lF= 10 mA, lR = 100 mA (c=O) f 1 ns 3 SJ 50033/165-2003 表5B组检验GJB 128A-97 鉴定检验和大批小批量的质量极限值试验或检验量的质量一致性一致性检验最小|最

8、大方法条件检验抽样方案n/c Bl分组可焊性2026 LTPD=15 6/0 耐溶剂性1022 B2分组温度循环1051 试验条件C.25次密封1071 同筛选步骤14a)细检漏LTPD=10 6/0 b)粗检漏终点测试见表8步骤1.2. 5 B3分组稳态工作寿命1027 。TA=100 -5 C. 负偏压叠加正甜言号，LTPD=5 12/0 1=50 Hz. VRM=30 V. I阳=15mA.t=340h 终点测试见表8步骤1.3. 4 B5分组热阻GB厅6570-86TA=25C LTPD=15 6/0 150 3.10 h= 100 mA. tw= 1 s KI呐?B6分组高温寿命10

9、32 TA=200 C. t=340h LTPD=7 12/0 终点测试见表8步骤1.3. 4. 5 B7分组a亘定加速度2006 196000 mis2 LTPD=10 6/0 PIND 2052 试验条件A终点测试见表8步骤1.2. 5 未指明的分组不适用。a 仅对JT和JCT级器件。表6C组检验试验或检验GJB 128A-97 鉴定检验和大批量的质量小批量的质量方法条件一致性检验抽样方案一致性检验n/c C1分组LTPD=15 6/0 物理尺寸2066 技图l要求C2分组热冲击1056 试验条件A密封1071 同筛选步骤14a) 细检漏LTPD=10 6/0 b) 粗检漏耐湿1021 省

10、略预处理外观检查2071 终点测试见表8步骤1.2 4 SJ 50033/ 165-2003 表6(续试验或检验方洼G18 128A-97 条件鉴定检验和大批量的质量|小批量的质量一致性检验抽样方案|一致性检验n/c C3分组冲击变频振动恒定加速度a终点测试C6分组稳态工作寿命2016 2056 川11960川s二见表8步骤1，2. 5 LTPD=10 6/0 且呈一化一变一阻一阻一量一电一电一化一分一分一变一验微一微一容一检门口一向一电一现正一正一总一外2-3-4-5 1026 =10 12/0 终点测试未指明的分组不适用。极限值最大150KlW 步骤测单位反问电流nu ? ? A Q 3.

11、5 VR=30V.产500kHzI I 6. COI(-30) I 见G1833A-97中4.7.80.2 0.02 Q FA P 本测试超过A组检验极限值的器件不应接收。5 交货准备包装及贮运要求应按GJB33A-97的规定。6 说明事项6. 1 预定用途符合本规范的器件供新设备设计使用和现有设备的后勤保障用。6. 2 分类5 SJ 50033/165-2003 6.2. 1 器件的等级按B33A-4J7中1.3的规定，提供的质量保证等级为普军、特军和超特军三级，分别用字母JP、JT和JCT表示。6. 2. 2 型号对照本规范规定的器件型号与原企业规定型号对照如F:原企业型号本规范型号6.

12、3 订购文件应明确的内容订购文件应规定下列内容:a) 本规范编号和名称:b) 型号和等级:c) 数量:d) 需要时，其他要求。附一6 的OON-mCF凹的OOmd中华人民共和国电子行业军用标准PIN0003型PIN二极管详细规范SJ 50033/165-2003 版刷行出印发* 中国电子技术标准化研究所中国电子技术标准化研究所中国电子技术标准化研究所电话:(010) 84029065 传真:(010) 64007812 地址:北京市安定门东大街1号邮编:100007 网址:阳w.cesi. ac. cn * 字数:18千字2004年8月第一版2004年8月第一次印刷印数:200册定价:10元9 16 印张:1/16 开本:880X 1230 版权专有不得翻印举报电话:(010) 64007804