SJ 50033 164-2003 半导体分立器件PIN0002型PIN二极管详细规范.pdf

《SJ 50033 164-2003 半导体分立器件PIN0002型PIN二极管详细规范.pdf》由会员分享，可在线阅读，更多相关《SJ 50033 164-2003 半导体分立器件PIN0002型PIN二极管详细规范.pdf（9页珍藏版）》请在麦多课文档分享上搜索。

1、J 中华人民共和国电子行业军用标准FL 5961 SJ 50033/164-2003 半导体分立器件PIN0002型PIN二极管详细规范Semiconductor discrete devices Detail specification for type PIN0002 PIN diode 2003-12-15发布2004-03-01实施中华人民共和国信息产业部批准刚吕本规范是GJB33A-97 25C时，按11.4mWIK线性降额。3. 3. 2 主要电特性(TA:25.C)主要电特性见表2。我三，数符号反向电流IR 正向微分电阻rF PIN0002A PIN0002B 总电容Ctot(.

2、3Q) 热阻R th j-a 反向恢复时间trr 3. 4 电测试要求表1最大额定值正向电流JFA 2 表2主要电特性条件TR =200 V IF=30 mA. f=50Hz VR =30 V. f= 500 kHz IF= 100 mA. tw=l s IF= 10 mA. IR = 100 mA 电测试应符合GB厅6570-86及本规范的规定。3. 5标志贮存温度T咆C -65200 规范值最小本器件极性标志见图1，器件外包装上的标志应符合GJB33A-97的规定。4 质量保证规定4. 1 抽样和检验除另有规定外，抽样和检验程序应按GJB33A-97和本规范的规定。4. 2 筛选(仅对JT

3、和JCT级)工作温度Top -65150 单位最大A Q 1.42 1.3 8 0.27 pF 90 KlW 90 ns 在鉴定检验和质量致性检验之前，全部器件应按GJB33A-97和本规范表3的规定进行筛选，其测试应按本规范表4的规定进行，超过本规范表4极限值的器件应予以剔除。表3筛选要求筛选GJB 128A-97 条件和要求方法号JCT和JT内部目检2074 仅对JCT级器件2 高温寿命1032 200C , 72 h : 3 温度循环1051 试验条件C，20次4 恒定加速度2006 Yl方向，不要求保持1min , 196000 mls2 2 筛选10 高温反偏门中间测试12 功率老炼

4、13 最后测试14 密封16 a) 细检漏粗检漏4. 4质试验或检验AI分组外观及机械检验A2分组反向电流总电容正向微分电阻PIN0002A P卧W002BSJ 50033/164-2003 表3(续G1B 128A-97 I 条件和要求方法号I JCT和JT1038 I试验条件A.几=150.C.几=160V.48 h IR、C，OI(-J町、rF+3 1038 I试验条件B.TA= lOO j .C.负偏压叠加正弦信号/=50Hz. 表6和表7的A、B矛0_c GB/T 6570-86 极限值抽样方案符号单位方法条件最小最大G1B 128A-97 LTPD=5 2071 TA=25.C 3

5、.2 VR=200V JR A 3.5 /=500恬1z.C101(-3 0j 0.27 pF 116 VR=30 V (c=O) 3.4 /=50 Hz. rF Q h=30 mA 1. 42 1.38 3 SJ 50033/164-2003 表4(续)GBrr 6570-86 极限值试验或检验抽样方案符号单位方法条件最小最大A3分组高温士作TA=150C 反向电流3.2 VR=200V 116 IR 20 A 低温工作TA:-65C Cc=O) 反向电流3.2 VR=200V IR 10 A A4分组116 反向恢复时间8.5 IF= 10 mA trr 90 ns Cc=O) IR= 1

6、00 mA 表5B组检验GJB 128A-97 鉴定检验和大批小批量的质极限值试验或检验量的质量一致性量一致性检方法条件检验抽样方案验n/c最小最大B1分组可焊性2026 LTPD=15 6/0 耐溶剂性1022 82分组温度循环1051 试验条件C.25次，密封1071 同筛选步骤14a) 细检漏LTPD=10 6/0 b) 粗检漏终点测试见表8步骤1.2. 5 83分组稳态工作寿命1027 TA=100; C.负偏压叠加正5主信号.=50 Hz. LTPD=5 12/0 V阳=80V. IFM=30 mA. t=340 h 终点测试见表8步骤1.3. 4. 5 85分组热阻GBrr 657

7、0-86 TA=25C LTPD=15 6/0 90 3.10 h= 100 mA. tw= 1 s KlW 86分组高温寿命1032 TA = 200C. t= 340 h LTPD=7 12/0 终点测试见表8步骥1.3. 4. 5 87分组a恒定力I啤度2006 196000 mls2 LTPD=10 6/0 PIND 2052 试验条件A终点测试见表8步骤1.2. 5 未指明的分组不适用。a 仅对JT和JCT级器件。4 表6C组检验GJB 128A-97 试验或检验方法条件Cl分组物理尺寸2066 |按图l要求C2分组热冲击密封a) 细检漏b) 粗检漏耐湿外观检查终点测试C3分组冲击变

8、频振动恒定加速度a终点测试终点测试未指明的试验或检验El分组温度循环终点测试E4分组热阻E5分组1056 1071 GB厅6570-863.10 低气压I 1001 终点测试未指明的分组不适用。同筛选步骤14t=1000h TA=25.C. IF= 100 mA. tw= 1 s 试验条件C.比=200V. 5 min 见表8步骤1.5 SJ 50033/164-2003 |鉴定检验和大批量的小批量的质量质量一致性检验抽样一致性检验方案n/c LTPD=15 6/0 LTPD=10 6/0 6/0 12/0 极限值最小一最大LTPD=10 90KlW LTPD=15 5 SJ 50033/16

9、4-2003 表8B组、C组和E组检验的终点测试GBIT 6570-86 极限值步骤测试符号单位l方法条件最小最大反向电流3.2 VR =200 V IR A 正向微分l也阻2 PIN0002A 3.4 IF=30 mA. f=50 Hz rF 1. 42 Q P卧W002B1.38 正向微分电阻3.4 fF=30 mA. f= 50 Hz 1 rF 1 0.2 Q 3 变化量4 总电容变化量3.5 VR=30V. f=500旺-:!z1 C，卧到)1初始值的10%pF 5 外观检验见GJB33A-97中4.7.8本测试超过A组检验极限值的器件不应接收。5 交货准备包装及贮运要求应按GJB33

10、A-97的规定。6 说明事项6. 1 预定用途符合本规范的器件供新设备设计使用和现有设备的后勤保障用。6. 2 分类6.2. 1 器件的等级接GJB33A-97中1.3的规定，提供的质量保证等级为普军、特军和超特军三级，分别用字母JP、JT和IJCT表示。6.2.2 型号对照本规范规定的器件型号与原企业规定器件型号对照如下:口可一口可型一型业一范企一规原一本WP0002A PIN0002A WP0002B P卧W002B6. 3 订购文件应明确的内容订购文件应规定下列内容:a) 本规范编号和名称:b) 型号和等级;c) 数量;d) 需要时，其他要求。6 的OON-咛F凹的OOm., 中华人民共和国电子行业军用标准PIN0002型PIN二极管详细规范SJ 50033/164-2003 版刷行出印发* 中国电子技术标准化研究所中国电子技术标准化研究所中国电子技术标准化研究所电话:(010) 84029065 传真:(010) 64007812 地址:北京市安定门东大街1号邮编:100007 网址:www.ces i. * 字数:18千字9 印张:百2004年8月第一版2004年8月第一次印刷印数:200册定价:10元1/16 开本:880X 1230 版权专有不得翻印举报电话:(010) 64007804