SJ 50033 145-2000 半导体分立器件.3DA503型硅微波脉冲功率晶体管详细规范.pdf

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1、s 中华人民共和国电子行业军用标准FL 5961 SJ 50033/145-2000 半导体分立器件3DA503型硅微波脉冲功率晶体管详细规范Semiconductor discrete devices Detail specification for type 3DA503 silicon microwave pulse power transistor 200010-20发布2000斗O20实施中华人民共和国信息产业部批准中华人民共和国电子行业军用标准1 范围半导体分立器件3DA503型硅微波脉冲功率晶体管详细规范Semiconductor discrete devices Detail

2、specification for type 3DA503 silicon microwave pulse power transistor 1. 1 主题内容SJ 50033/145 2000 本规范规定了3DA503刑旺微波脉冲功率晶体管（以下简称器件）的详细要求。1. 2 远用范罔本规范适用于器件的研制、生产和l采购。1. 3 分类本规范根据器件质最保证等级进行分类。1. 3. 1 器件的等级按GJB33A-97半导体分立器件总规范1.3条的规定，提供的质敢保证等级为将军级、特军级革II超特军级。分别用字母JP、JT矛IIJCT表示。2 引用文件GB!f 4587 94 1气导体分立器件

3、和i集成电路第7部分：现极刑晶体管0日厅758187中导体分立器件外形尺寸GJB 33A 97 、飞导体分立器1：总规范GJB 128A-97 中导体分立器11：试验方法3 要求3. 1 详细要求各项要求同按GJB33A手II本规范的规定。3. 2 设计幸纣构器朴的设计和纣构问战GJB33A丰本规范的规定。3. 2. 1 号山端材料和l坡、涂层发射极和集电极引山端材料为可伐合金帘，基极引山端沟伺恫。引山端表面镀金。中华人民共和国情息产业部2000”10-20发布2000叩10叩20实施SJ 50033/145-2000 3. 2.2 器件结构本器件是采用ft外延平面结构的NPN刑晶体管，并且有

4、阻抗匹配网络。3. 2. 3 外形尺寸外形尺寸基本上.！.jGB厅7581日2-09B相间，仅有L、Q、Ui不间，外形尺寸见圄loti;, 只-t) 1叫悴时B l (:). 符A b, by c K L JP Q q u, F E一发射极8一基极C一集电极3. 3 最大额定假和主要也特性3. 3. 1 最大额)J;:在乎可P,o11) Vceo Tc=25 C v w 3DA503 51 65 回l外形阁VEBO le 过撒！曲v A dB 4 1f.: I) Tc25 C时报0.29WIK线件降慨。VSWR2 输tf端3: I 2）食相位抗失配I:540 MHz和610MHz树点拉驻披P0

5、?;?0W）。闷币, mm 尺寸口tinno1 max 一6.0 3.4 3.8 3.4 3.8 0.10 0.15 10.5 2.0 一一3.1 3.4 2.9 3.2 16.5 22.7 23.3 1.5 2.0 飞汇lg 200 65 200 SJ 50033/1452000 3. 3.2 主要电特性（几口25C) h I) FEI VcEsat fceo v mA VcE=5 V lc=2 A Vc9=37 V 2A 儿300mA0 扇小最大段，大最大当王J.I 90 0.6 ft: I)直流法测试。3.4 测试要求也测试应符合GJB33A及本规范的规定。3.5标志器件上应有如F标志：

6、a. 器件月1号：b. 质量保证等级：c. 承制方标志；d. 极性标忐。4 质量保证规定4. 1 抽样平u检验Gp le 顶降dB % dB Vcc=31 V, /: 540610 MHz P1=10W tp=SOO川，D叫5%扇小最大培小敢太8.0 9.5 50 I 0.5 抽样和检验按GJB33A和i本规mA、日、C、E细检验的规定。4. 2 鉴定检验鉴定检验按GJB33A平日本规范的规定。4.3 筛选（仅对JT和JCT级）R 由0-c)I) VSWR KJW 输入端也2ARF士作VcE口17V状态tw=I ms ；最小I 最大3.4 I 2: I 筛选应按本规范的规定。其测试用按本规范表

7、1的规定进行，超过本规范农1极限值的器件由剔除。3 SJ 50033/145-2000 筛选要求GJB 128A 条件和要求筛选方法甘JT和JCT级l内部口枪2070 3.温度循环1051 试验条件c.20次4.相定加速度2006 9800 mls2, YI方向，不要求保持lmin 8蝙序列号见GJB33A 3.7.9 9中间测试l1参数挤车；规范表1的2分组规定10.向掘反偏1039 几叫50C. VcE=37 V, t=48 h I i中间测试hFEI lceo1 12.功率若炼1039 吁187.5士12.s0c.Vc8=12V. P1012ow. I60h 13.终点测试l:!i. l

8、ceo:h初始值的100%成O.SmA取较大者，Il:!i. hFE I乓初始值的20%14.密封1071 (a）纠检漏试验条件HJ,?=51715 kPa 漏斗5mPa.cm3/s (b）有i检漏试验条件C16. !:j悦检查2071 打标点之后进行: 2、5,6、15、16项筛选试验不要求，第7项由第17项完成。4. 4 质撞一致性检验质挝一致性检验Jill按GJB33A和l本规范的规定进行。4. 4. 1 A组检验A细检验应按GJB33A和本规范表1的规定进行。4.4.2 日细检验B细检验网按GJB33A和l本规？在表2的规定进行。4.4.3 C组检验C细检验应按GJB33A手II本规范

9、表3的规定进行。4. 5 检验和i试验方法检验和！试验方法所报本规范相陆的表中规定的方法进行。4. 5. 1 ：在流参数测试丰脉冲测试用分别按GB!T4587不IIGJB 128A相何方法测试。4 SJ 50033/145-2000 表lA组检验GB厅4587除非另有规定，TA=25C 符号极限值单位抽样方案I)检验成试验方法条件mm 町iax1分组GJB 128A LTPD且5外观及机械检验2071 2分组集电极4在极市穿IV, 10.2 发射极开路V(BR)CBO 65 一v 电！长非IOmA发射极一幕极才f穿IV, 10.2 集电极开路V(BR)EBO 4 v 1且If非IOmA集rg极

10、.在极战止IV. 2.2 发射极开路/CBOI mA 116 11!流Vce37 V （俨0)正向电流传输比IV, 2.7 Vc1吨飞I/,l -2 A 10 90 集电极发射极饱IV, 1.4 2A VcEs削一0.6 v 和f:最le产0.3A 发射极;I幸极截止IV, 2.3 集电极开路/EBO 3 mA u流几日2.5v 3分组商活1工作IV, 2.2 凡叶剑。clceo2 10 mA 集电极一基极ii&止Vc837 V, 116 电流低温工作TA=-55 C hFEO 5 （俨0)一正向电流传输比IV, 2.7 Ve俨SY，非2A直流法4分组功率增益GJB 128A Vcc=37 V

11、 Gp 8.0 9.5 dB 3320 /: 540610MHz 116 P;=IOW （俨0)tp=SOO s D=l5% 注：I）吗样本大小等于此超过批量时向盯分之盯柿验。，、，w检验现试验方法！分组口J焊忡2026 耐前剂性1022 2分组制i度循环1051 密封试验1071 (a）纬检揣(b）相柑漏搀点测试3分组稳志士作寿命1027 终点测试4分割2)开帽内部目检2075 （设计核实）键仓强度2037 5分组GB厅4587热阻（EBiE向法）IV.门6分组r:J出寿命（-1丁作）1032 股后测试SJ 50033/145一2000农aB细检验抽样方案GJB 128A 鉴定检验和大批小批

12、最的攘的质戴一致性质量致检验性检验条件LTPD nlc 15 4/0 10 610 试验条件F,25次试验条件阳，户口517士15kPa 同h漏;f.5mPa.cm3/s 试验条件C表5步蝶l, 3, 4 5 1210 340 h 斗187.5士12.5C, VcE=IO V, ptot二：2ow表5步辑2.5 l:im掠将品的每批1个描件失放设计F产30mN, F2=50 mN LTPD叫O,c=I VCE=l 7 v, /E=2 A 15 610 25 c：三Tc：二70Ctw I ms 7 12/0 凡200吃，340h 表5步骤2.5 在：I）术指明的分组斗.；求。2）此细试稀可用电参

13、数不合格的器件。6 极限值段小最大3.4 K/W 检验或试验方法l分组外形尺寸2066 2分组热冲击1056 （玻璃应力）创出端强度2036 密封：1071 (a）纫！柿漏(b）粗检漏耐湿1021 外观放机械检验2071 终点测试3分组冲击2016 扫颇振动2056 恒定加速度2006 终点测试6分组稳态工作寿命1026 终点测试注：米指IYJ的分姐不要求。SJ 50033/145-2000 表3C细检验J)GJB 128A 条件见图1规定尺寸试验条件A试验条件A,F=S N, t=IO s 受试引线数：1试验条件HJ,P=517士15kPa, 1-4 h，漏率运5mPa.cm3/s 试验条件

14、C不要求预处理表5步骤I,3, 4 在XI、YI和ZI的每个方向上各冲击5次，9800m/s2, 0.5 ms 9800 m/s2, XI, YL Zl方向表5步骤，3, 4 1000 h. friJ 83分组表5步碟2,5 抽样方案鉴定检验和大批量小批量的质量的质景一致性检验致性检验LTPD nlc 15 610 10 610 to 610 A信l0 12/0 叩7一SJ 50033/145一2000表4卫组检验（全部质攘等级）（仅供鉴定用）GJB 128A 抽样方案极限值柿验方法条件LTPD 最小最大l分组I)20 I品应循环1051 试验条件c.100次（斗才气一吧飞）终点测试见表5步骤

15、1.3, 4 4分组10 3.4 K/W 热阻GBIT VcE=l7 V，2A, (EB E向出）4587, 25 C忍Tc70C IV. 11 fw I ms rt：术指明的分姐不适用。I ）口J用阳分组试验合格样品接着进行El分组试验。表5B组、C姐和E姐的终点测试GBff 4587 极限值步骤方法条件符号最小最大单位检验集电极鹅极截止I:!即，2.2发射极开路fceo mA 流Vc8=37 V 2 集电极摆棋截止电IV, 2.2 发射极开路fceo 2 mA 流Vc9=37 V 3 集电极！一发射极饱和IV, 1.4 2A VcEsar 一0.6 v Ill！五l日出0.3v 4 正向电

16、流传输比凹，2.7VcE出sv，2AIO 90 5 iE向Ell流传输比IV, 2.7 Ve俨sv，儿出2AI !:i. hFEl)I 相始值的士30%注：I)对于本试验，甜tHA组检验极限值的器件不应接收。5 3(:货准备5. 1 包装要求包被要求同按GJB33A的规定。5.2 贮存要求贮存要求应按GJB33A的规定。5.3 届输要求运输要求向按GJB33A的规定。6 说明事项6. 1 预定时途符合本规范的器fI供新院各设计使用和供现有设备的后勤保附肘。6. 2 订货文fI：内容8 SJ 50033/145 2000 合间或订单向规定下列内容：a. 本规范的名称和编号：b. 等级（见1.3.l);c. 数撞：d. 需要时，对顶降、过撒励、抗失配检验符其他要求。附加说明：本规部由中国电子技术标准化研究所归口。本规范由信息产业部电子第十二研究所负责起草。本规范主要也草人：挫波、顾振球、黄辙光。计划项目代号：B81007o 9一