SJ 50033 143-1999 半导体光电子器件.GF1120型红色发光二极管详细规范.pdf
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1、咱盹-一翩翩翩翩翩中华人民共和国电子行业军用标准半导体光电子器件GF1120型红色发光二极管详细规范SJ 50033/143-1999 Semiconductor optoelectronic devices Detail specification for type GF1120 red emitting diode 1 范围1. 1 主题内容本规范规定了GF1120型红色发光工极管的详细要求。1. 2 适用范围本规范适用于GF1120型红色发光二极管(以下简称器件)的研制、生产和l采购。1. 3 分类1. 3. 1 器件等级按GJB33人一9710 min 句JM nMMm quw甲句3川
2、一表一续 -dm na-步GJB 128A 数值珊检验就试验方法号*件符号最小最大单位4 恒定力日速度(不适用)7 密封 (不适用)9 中间测试(不适用)10 高温良偏(HTRB)(不适用)11 PDA的中间测试和()变化囊(见筛选13)iE向电压SJ 2355.2 儿嚣20mAVF 一2.0 V 反向电流SJ 2355.3 VR=4 V 一10 V 发光强度GB厅15651儿=20时,测试条件3儿100 一mcd 阳,1.112 功率老炼1038 试验条件B,(iE向偏置)IF=30 mA t嚣96h 13 终点测试PDA中间测试的必规去掉者炼条件脂光电参数和()变的96h内究成全部中化量间
3、光电参数和()变化蠢的测试正向电压变化摄的SJ 2355.2 伊20mAI VF I 一50 mV 绝对值发光强度变化量的GB厅15651护20mAI儿i一0.2IVD mcd 绝对值凹,1.1测试条件314 宿封(不适用)4.3 鉴定检验鉴定检验应按GJB33A和本规范表4、我5、表6和我7的规定。4.4 质撞一致性检验质量一致性检验应包摇A组(见表的、B细(见我们和C组(见表6)中规定的检验和试验,以及下面的规定。4.4.1 C细检验应在初始批时开始进行,然后在连续生产过程中每隔6个月进行一次。4.4.2 如果合同中已作规定(见6.2条),制造广应将质量一致性检验数据连间产品一起提供。叫4
4、币SJ 50033/143一19994. 5 检验和l试验方法检验和试验方法按表4、农5、表6和农7的规定。我4A细检验条件数值检验成试验何号方法号除非另有规定最小最大单位抽样方案凡mb=250CA1分组(PPM3)GJB 128A 无气梅、无裂LTPD=5 目怡和机帧检验2071 纹、外观无缺损.A2分组(PPM2)116(C=0) iE向电压Vp 5J 2355.2 价20mA 2.0 V 反向电流IR SJ 2355 .3 VR=4 V 一10 A 发光强度Iv GB/T 15651 儿出20mA100 mcd IV , l.l 测试条件3A3分组(PPM-2)116(C=0) iE向l
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