SJ 50033 142-1999 半导体光电子器件.GF4112型绿色发光二极管详细规范.pdf
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1、S.J 中华人民共和国电子行业军用标准FL 5980 SJ 50033/142一1999半导体光电子器件GF4112型绿色发光二极管详细规范Semiconductor optoelectronic devices Detail specification for type GF4112 green emitting diode 1999-1卜10发布1999斗201实施中华人民共和商倍息产业部批准中华人民共和国电子行业军用标准半导体光电子器件GF4112型绿色发光工级管详细规范SJ 50033/142-1999 Semiconductor optoelectronic devices Deta
2、il specification for type GF4112 green emitting diode 1 ?在围1. 1 主题内容本规范规定了GF4112型绿色发光二极管的详细要求。1. 2 适用泪围本规范适用于GF4112型绿色发光二极管(以下简称器件)的研制、生产和采购。1. 3 分类1. 3. 1 器件等级报GJB33A-97 10min 句、w。叩句34表一续nUF nUnb咱步GJB 128A 数值3罪检验和试验方法号条件符号小瑕大单位4 假定加墙皮(不适用)7 密封(不通用)9 中间测试(丰适用)10 高温反偏(HTRB)(不通用)11 POA的中间测试和(6)变化最(见筛选
3、13)正向电服SJ 2355.2 儿=20rnA VF 一2.5 V 反向电流SJ 2355 .3 VR二6VIR 一10 A 发光强度GB/T 15651 IF=20 rnA,测试条件3Iy 80 一rncd IV , 1.1 12 功率者炼1038 试验条件日,(正向偏置)儿=30 rnA t带96h 13 终点测试POA中间测试的必须去掉老炼条件启光电参数和(11)变的96h内完成全部中化最问光电参数和(11)变化盘的测试正向电压变化壤的SJ 2355.2 乌=20 rnA 111 Vf I 50 rnV 锦对值发光强度变化璋的GBIT 15651 IF= 20 rnA 16Iy I 0
4、.2IVD rncd 绝对值IV , 1. 1 测试条件314 密封(不适用)4.3 鉴定检验鉴定检验应按GJB33A和本规范农4、表5、表6和表7的规定。4.4 质最一致性检验质量一致性检验应包指A组(见农4)、日组(见表5)和C组(见表6)中规定的检验和试验,以及下面的规定。4.4.1 C组检磁应在初始批时开始进行,然后在连续生产过程中每隔6个月进行一次。4.4.2 如果合同中已作规定(见6.2条),制造广应将质量致性检验数据边问产品起提供。叫4叩SJ 50033/142一19994.5 检验和l试验方法检验和试验方法按表4、表5、表6和表7的规定。我4A组检验条件数值检验就试验符号方法号
5、除非另有规定单位抽样方案最小最大凡mb出250C., Al分组(PPM3)GJB 128A 无气泡、无裂LTPD嚣5口枪和机械检验2071 纹、外观无缺损。A2分组(PPM-2)116(C=0) 正向电压Vp SJ 2355.2 出20mA一2.5 V 反向电流IR SJ 2355.3 VR咱6V一10 IlA 发光强度Iv GB/T 15651 乌黑20mA80 一mcd 凹,1.1测试条件3A3分组(PPM-2)1l6(C=0) IE向电V, SJ 2355.2 几mb嚣町550C 3.0 V If出20mA反问电流儿SJ 2355 .3 T.mb=100 oC 一100 IlA 凡口6V
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