SJ 50033 116-1997 半导体分立器件 2CK29型硅大电流开关二极管详细规范.pdf

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1、B.J 中华人民共和国电子行业军用标准FL 5961 SJ 50033/11697 半导体分立器件2CK29型硅大电流开关二极管详细规范1997.06翩17发布Semiconductor discrete devices Detail specification for type 2CK29 silicon large current switch diode 1997侧10嗣01实施中华人民共和国电子工业部批准中华人民共和国电子行业翠用标准半导体分立器件2CK29型硅大电流开关二极管详细规范1 范围1. 1 主题内容Semiconductor discrete devices Detail

2、specification for type 2CK29 silicon large current switch diode SJ 50033/11697 本规市规定了2CK29型陆大电流开关二极管(以下简称器件)的详细要求。1. 2 适用班回本规?自适用于器件的研制、生产和来购。1. 3 分类本规沼根据器件质最保证等级进行分类。1. 3.1 器件的等级每种器件按GJB33-85(半导体分立器件总规范)1.3的规定，提供的质盘等级为普军、特平和相特竿级三个等级，分别用字母GP，GT、GCT表示。2 引用文件GB 4023-86 半导体分1L器件第二部分:整流二极管GB 6571-86 小功卒

3、倚号二极管、稳压反基准电压二极管测试方法GJB 33-85 半导体分立器件总规范GJB 128-86 半导体分立器件试验方法3 要求3.1 详细要求各项求应符合GJB33及本规范的规定。3.2 设计和结构器件的设计和结构应符合GJB33和本规范的规定。3.2.1 引出端材料和涂恩引出端材料应为可伐，引出端我丽锻涂层为锻锐层。对引出端材料和涂层另有要求时，在合同或订货单中应明确规定(见6.2)。中华人民共和国电子工业部1997-06斗7发布1997.101实施时50033/116973.2.2 器件结构器件采用磁外延平回错掬，芯片表团采用钝化膜保护，芯片与引出端之间采用超声键合。3.2.3 外形

4、尺寸外形尺寸符合本规随团1的规定。R, 飞正极2/ 智;负极u, 3.3 最大额定值和主要电特性3.3.1 最大额定值一2飞因1外形因!离A bl b， D d F L 1.1 p q Rl R2 S U1 Uz 即一01Bmm no口1max 9.8 1. 52 0.9 1. 1 15.0 3.0份3.0 8.5 10.5 1. 5 4.0 4.2 22.8 23.2 9.5 4.3 13.1份31. 4 19.0 SJ 50033/11697 VRWM IY 。IFSM Tjm 型号Tc= 100 C Tc= 100C tp口10msv A A 2CK29A 500 2CK29B 600

5、5 100 175 2CK29C 700 2CK29D 800 注:1) T c 100C时，按67mNC战性降额。3.3.2 主要电特性(TA口2St)VF IR1 IR2 t h=5A VR = VRWM VR口VRWMIF=0.5A 型号TA=150 C IR= lA V P.A A ns 最大值最大值最大值最大值2CK29A 2CK29B 1. 3 4 500 800 2CK29C 2CK29D 3.4 电测试要求电测试应符合GB4023、GB6571及本规范的相应规定。3.5 标志器件的标志应符合GJB33和本规洁的规定。3.5.1 极性器件的引出端1和2为正级，管座为负极。4 底盘

6、保证规定4.1 抽样和检验抽样和检验符合GJB33和本规班的规定。4.2 鉴定检验鉴定检验符合GJB33的规定。4.3 筛选(仅对GT和GCT级)T 呻丁盛阳 叫65-175问65-175Ctot RCth)j-c VR=12V IH= 4A, t = Is f口lMHz1M 10mA pF K/W 最大值最大值50 2.5 筛选按GJB33表2和本规甜的规定进行，其测试应按本规市表1的规定进行，超过本规施农1极限值的器件应予剔除。3一时50033/116-97筛选筛选GJB 128 测试或试验(见GJB33裴2)方法号(GT和GCf银)3.热冲击1051 除高温150t.循环20次外，其余间

7、试输条件C(温皮循环)5.密封a制检捕b粗栓漏7.中问电参数和(，;1)参数测试8.老炼9.最盾测试11.外观及机械按验4.3.1 者炼条件者;陈条件按如下规定tTc= 1001O t f=50日zlE弦半波Io=5A t =96h 4.4 质量一致性检验1071 试瞌条件日试验条件CIR1、VFIVFIO.lV MR11A或100%初始值，取较大者1038 试验条件8见4.3.1IR1 VF、IRZ、tfTI VFIO.IV MR11或100%初始值，取较大者2071 见附最A质量一段性检验应按GJB33和本规班的规定进行，由A组、B组和C组检验和试验组成。4.4.1 A组检验A组检验按GJ

8、B33和本规?臣表1规定进行。4.4.2 B组检验日组检验按GJB33和本规?臣表2规定进行。4.4.3 C组检验C组检验按GJB33和本规?臣表3规定进行。4.4.4 B组和C组电测试日组和C组电测试技GJB33和本规范表4规定进行。4.5 检验和试验方法检验和试验方法应按本规?也相应的我和下列规定进行。4.5.1 脉冲测试脉冲测试条件按如下规定: 4 脉宽tp=500s士20%; 占空比:0.10%-0.15%0 4.5.2 反向恢复时间测试SJ 50033/116-97 反向恢复时间测试按如下规定进行。1F=0.5A，、1RM=1.0A，irr=0.25A;反向恢复时间(trr)是从电流

9、为零的瞬间到反向电流减小王IJ0.25A的时刻之间的时间问阳(见回2所示)。+O.5A 。-0.25A -l.OA 因2t rr7试波形4.5.3 浪涌电流测试浪涌电流测试按如下规定进行。IrSM口100A，T c:;:;100 C tp江10ms，正弦半快，1min 1次脉冲，加6次。10口5AVR=O 检验或试验方法号人1分组GJB 128 外观.&机械检验2071 A2分组正向电服N GB 4023 条见附录AIF=5A 1 A组检验. LTPD 件5 5 极限值符母单位最小值最大值一一VF 一1. 3 V 一5创50033/11697结表1GB 4023 极限值检验就试验LTPD 符号

10、单位方洁号条件最小值最大值1. 2.3 (脉冲法)反向电流W一VR嚣VRWMIRI 4 P.A 1. 4.1 (直梳法)A3分组5 高瓶工作反向电流N一TA = 150土2tI R2 500 A 1. 4.1 VR出VRWM11流法)A4分割GB 6571 5 反向恢复时间2. 1. 4 见4.5.2tft 800 ns 总电睿2. 1. 3 VR=12V CI01 50 pF j= lMHz A6分组10 1良捅电流N -3.1 见4.5.3IFSM 100 A 最后酣试:间A2分组表2B组检验GJB 128 极限值检验或试验LTPD 符号单位方法号条仲最小值最大值Bl分组15 可焊性202

11、6 际志的耐久性1022 四分组10 热冲击1051 除高温150t外，(幅度循环)其余肉试验条件C-l锚封1071 a细检捕试验条件Hb粗检漏试验条件C最后测试:见表4步黯1和2B3分组5 稳态工作寿命1027 T.= 1000_10 t 1。草5A，j嚣50日z正弦半梳，t口340h最后测试:见费4步骤3和4-6一SJ 50033/11697 续亵2GJB 128 极限值检验就试验LTPD 符号单位方法号条件最小值最大值日4分组每批一开帽内部观检2075 个器件(设计验证)/0失效键合强度2037 试验条件AO(C: 0 BS分组GB 4023 15 热阻N钳I日出4A，lM= 10mA,

12、 R(由lj-e2.5 K/W 2.2.2 136分组7 高由寿命1032 TA = 175土5t(不工作)t: 340h 最后测试;见褒4步黯3和4我3C组周期检验(所有质量等级)GJB 128 极限值试验LTPD 符号最小值最大值单位方法号条仲Cl分组15 外形尺寸2066 见图1口分组10 热冲击1056 试验条件B(玻璃股力)引出端强度2036 拉力试验条件A:如力=20N，t: 15土s密封1071 a细检漏试瞌条件日b粗检捕试验条件C综合也皮/1021 省略预处理温度周期试验外观及机械2071 见附溃A拉验最后测试:见表4步黯1和2c3分组10 冲击2016 14700mJs2 变

13、颇振动2056 按规定惦定加班皮2006 98000m/s2 最后测试:见我4步黯1和2c4分组15 一7旧50033/116-97续表3GJB 128 极限值试跄LTPD 符号单位方法号条件最小值最大值盐气1041 按规定(仅对悔用)C5分组15 低气压1001 压力时间测试电压lXl03Pa 60s V R = V RWM 试验期间测试GB 4023 反向电流N -1. 4.1 IR1 4 人c6分组.l = 10 稳态工作寿命1026 Tc= 100-?o 10= 5A. f= 50Hz正弦半披t = 1000h 最后测试:见我4步骤3和4表4日组和C组电测试GB 4023 极限值步骤检

14、验符号单位测试方法条仲最小值最大值正向电压1 N IF耻5AVF 1. 3 V 1. 2.3 (脉冲法)2 反向电流N一VR = VRWM lRl 4 A 1. 4.1 (直流法)3 正向电压1V一IF=5A 变化嚣1. 2.3 (脉冲法)IAVFl l) 一0.1 V 4 反向电流变化最W 1. 4.1 VR = VRWM AI Rl l) lfLl或100%初始傻，(直流法)取较大者位;1)本测试中超过A细检验极限值的器件不应接收。5 货准备5.1 包装要求包装要求符合GJB33的规定。5.2 贮存要求贮存要求应按GJB33的规定。5.3 运输要求一8一时50033/116-97运输要求应

15、按GJB33的规定。6 说明事项6.1 预定用途符合本规范的器件供新设备设计使用和供现有设备的后勤保障用。6.2 订货资料合同成订货单中应有下列内容:a. 本规范的名称和编号;b. 等级(见1.3.1);C. 数最;d. 需要时，其要求。6.3 对引出端材料和涂鹿有特殊要求时，见3.2.106.4 如使用单位需要时，典那特性曲线可在合同或订货单中规窟。9一时50033/116-97附最A外观及机械检验要求(补充件)A1 用5倍双目立体显微镜骂骂放大镜检查。A2 外观尺寸捋合本规范因1的规定。A3 玻璃与企崩密封处按GJB128中2074方法3.2.4.5规定进行。附加说明:本规范由中国电子技术标准化研究所归口。本规跑出附加演晶体管厂负责起草。本规抱起草人:日秀昭、荒岛龙、邹秩芝。计划项目代号:B51046o一10一