SJ 50033 115-1997 半导体分立器件 2CK28型硅大电流开关二极管详细规范.pdf
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1、B.J 中华人民共和国电子行业军用标准FL 5961 8J 50033/115 97 半导体分立器件2CK28型硅大电流开关二极管详细规范1997唰06翩17发布8emiconductor discrete devices Detail specification for type 2CK28 silicon large current switch diode 1997.10翩。1实施中华人民共和国电子工业部批准中华人民共和国电子行业军用标准半导体分立器件2CK28型础大电流开关工极管详细规范1 范围1. 1 主题内容Semiconductor discrete devices Detail
2、 specification for type 2CK28 sillcon large current switch diode SJ 50033/11597 本规市规定了2CK28型硅大电流开关二极管(以下简柏:器件)的详细要求。1. 2 适用班回本规范适用于辅件的研制、生产和采购。1. 3 分类本规泡根据器件质量保证等级进行分类。1. 3.1 棉件的等级得种器件按GJB33-85华导体分立器件总规范)1.3的规定,提供的质量等级为营军、特军和姐恃事银三个等级,分别用字母GP,GT和GCT表示。2 引用文件GB 4023 86 半导体分立榄件第二部分:整榄二极管GB 6571 86 小功事馆
3、号二级管、稳压及基准也压二极管测试方法GJB 33-85 半导体分立器件总规?也GJ 128一86半导体分立器件试验方法3 黯求3.1 详细要求各项要求应符合GJB33及本规陋的规定。3.2 设计和销协器件的设计和结构应符合GJB33和本规范的规定。3.2.1 引出端材料和涂层引出端材料应为可伐,引出端表团镀涂层为镀锦底。对引出端材料和涂层另有要求时,在合同或订货单中应明确规定(见6.2)。中华人民共和回电子工业部1997幡06翩17发布1997-10-01实施SJ 50033/115-97 3.2.2 器件锚掏器件采用磁外延平阳错楠,芯片表团果用钝化膜保护,芯片与引出端之间采用超声键合。3.
4、2.3 外形尺寸外形尺寸符合本规ft1图1的规定。卜气。寸X*, 忏吧;11Jl& l次即一01Bmm nom max A 9.8 bl 1. 52 b2 0.9 1. 1 D 15.0 d 3.0* F 3.0 L 8.5 10.5 L, 1. 5 p 4.0 4.2 q 22.8 23.2 R, 9.5 Rz 4.3 S 13.1* U1 31.4 U2 19.0 pnu ,主/脏因1外形图3.3 最大额定值和主要电特性3.3.1 最大锁店值一2一SJ 50033/11597 VRWM 1) 。lFSM Tjm 型号Tc嚣100tTc目100ttp口10msv A A 2CK28A 100
5、 2CK28B 140 5 100 175 2CK28C 180 2CK28D 220 惊:l)TclOOt时.按67mA/t线性降额。3.3.2 主要电特性(TA=25t) VF lR1 IR2 lF= 5A VR白VRWMVR= VRWM IF=0.5A 型号TA= 150t lR坦lAV A A ns 最大值最大值最大值最大值2CK28A 2CI28B 1. 2 4 500 80 2CK28C 2CK28D 3.4 电测试要求电测试应符合GB4023、GB6571及本规施的相应规定。3.5 标志器件的标志应符合GJB33和本规甜的规定。3.5.1 极性器件的引出端1和2为正级,管鹿为负极
6、。4 质量保证规定4.1 抽样和检验抽样和检验符合GJB33和本规洒的规定。4.2 鉴定检验蝶定检验符合GJB33的规定。4.3 筛选(仅对GT和GCT级)T 叩T 耐r 同65-175明65-175CtoI R(thlj耐CVR= 12V lH 4A, t = 1s f= lMHz lM= 10mA pF K/W 最大值最大值80 2.5 筛选按GJ日33亵2和本规范的规定进行,其测试成按本规范表1的规定进行,超过本规施表1极限值的器件应予剔除。一3时50033/115-97筛选筛边GJB 128 测试或试揄(见GJB33褒2)方法号(GT和GCT级)3.热冲击1051 除高晦150t,循环
7、20次外,其企同试验条件C(翻皮帽环)S.密钳a细检漏b粗钝捕7.中间也参数和(.1)参数测试8.老炼9.最后耐试11.外观及机械检监4.3.1 老炼条件者炼条件按如下规定:Te口100_oCf=50Hz正弦半波Io=SA t =96h 4.4 质量一致性检验1071 试验条件B试验条件CIR1、Vy16VFI0.IV 6RI1A或100%初始值,取较大者1038 试脸条件B见4.3.1IR1、VF、IR、trr16VFI0.lV MRIl/-(A或100%初始慌,取较大者2071 见附录A质量一致性检验应按GB33和本规范的规定进行,由A组、日组和C组检验和试验组成。4.4.1 A组检验A组
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