GB T 6462-1986 金属和氧化物覆盖层 横断面厚度显微镜测量方法.pdf
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1、中华人民共和国国家标准金属和氢化物覆盖层横断面厚度显微镜测量方法Metallic and 11xide c。atings- Measurement coating thickness - Microscopical method UDC ”.058531 .717.1 GB 6482 86 本标准详细说明了运用金相显微镜对金属镀层、氧化物覆盖层的局部厚度作横断面显微测量的方法。本标准还可以测量抽瓷或搪瓷覆盖层的局部厚度及测量薄的厚度,用金相显微镜进行测量,其绝对精度可达到0.8m。本方法可作为金属镀层、氧化层厚度测量的仲裁方法。本标准等效采用国际标准ISO1463-1982(金属和氧化物覆盖层
2、横断面厚度显微镜测量方法注局部厚度E在试样上指定的部位肉,作规定次数的测量,其厚度取平均值。1 方法根述从待测件上指定的位置切吉I一块试样,镶嵌后,对横断面进行适当的研磨、抛光和漫蚀。用校正过的标尺测量覆盖层横断面的厚度。2 影响测量精度的因素2. 1 表面粗糙度若覆盖层或覆盖层的基体表面是粗糙的,则与覆盖层横断面接触的一条或两条界面线也是不规则的,以致不能精确测量见附录A补充件中A.4 J, 2.2 横断面的斜度横断面必须垂直于待测覆盖层,若有偏差,则测得的厚度将大于真实厚度。如垂直度偏差10则测量值比真实厚度大I.5 i。2.3 覆盖层变形镶嵌试样和制备横断面的过程中过高的温度和压力将使软
3、的或低熔点的覆盖层产生变形,在制备脆性材料横断面时,过度的打磨也同样会产生变形。2.4 覆盖层边缘倒角制备试样时不正确的镶嵌、研磨、抛光和浸蚀都会引起覆盖层横断面的边缘倒角,或者不平整,采用显微镜测量则得不到真实厚度,因此在镶嵌之前,试样常要附加镀层,这样可使边缘倒角减至最小(见A.1 l。2.5 附加镀层在制备横断面时为了保护覆盖层的边缘,以避免测量误差,常应在试样上附加镀层。附加镀层前,应注意不要损坏待测量的镀层并且t免因除池、酸洗或形成合金而使镀层减薄。2.6 漫蚀适当的浸蚀能在两种金属的界面线上产生暗细而清晰的界面线g过度的浸蚀会使界面线不清晰或线条变宽使测量产生误是。2.7 遮盖国蒙
4、标准局198606 11发布1987-05们实施320 GB 6 6 2 8 不适当的抛光会使一种金属遮盖在另一种金属上,造成两种金属的真实界面线模糊或不规则,这不到平直分明的要求。为了证实遮盖是否存在,可反复地进行抛光、漫蚀和测量厚度。着测量结果有比较明显的变化,回说明测量中存在遮盖。2.8 戴大倩戴对于待测定的任何一个覆盖层厚度,测量误差一商量是随放大倍数减小而增大。一量远4放大倍徽时应使视场直径为覆盖层厚度的I.5至3倍。2. 载物台测徽计的串串定载物台测微计若未经比较严密的标寇,则会产生百分之几的误差,而测徽计标定的银差都将反映到试样的测量中。常用的标定方法是2以满标尺的度为正确,然后
5、使用螺丝游动测徽计测量4摩格怅度,根据比例算出每格刻度值。2. 10 目镜泊l徽计的标定螺丝带动自由l徽计可提供精确的测量结果。目镜的标定应高于测量精度,目镜的标定应由测量厚度的操作者完成。目镜测微计重复标定误差应小于I%。标定载物台测徽计的两条线的问距应在0.2m或0.1% 以内(有些载物台测徽计的精度是经制造厂验证过的s有些载物台测徽计在测量距离为2mm时,误差为l或2田,当测量距离为O.lmm和O.Olmm时,其误差为o.4m或者更大。若载物台测徽计未作精度验证,则应标寇)。目镜测徽计具有非线性特征,也能使短距离的测量误差达1%。2. 11 对位目镜测徽计移动的回程间隙也能引起测量误差。
6、若在对位过程中,始终朝向一方向移动,该误差就会消除。2. 12 放大倍戴的截住放大倍数在整个现场内可能不一致,因此如果没有将界面处于光袖中心,就对视场的同一段进行你在相测量,也会出现误差。2. 13 透镜的质量因象不清晰也是产生不正确测量值的因素之一。质量差的透镜难于作出精确的测量。可用单色光啦改产干图象清晰度。2. 1 目镜的方位目镜的准线在对线Rt移动的过程中必须与擅盖层横断面的界面线垂直,若偏离10、真误差为1.5% 0 2. 15 镜筒的长度镜筒长度的变化会引起放大倍数的变化,若此变化发生在标定和测量过程中则测量不准。目镜在镜筒内重新定位时,改变目镜镜筒焦距时,以及在进行显微镜微词时,
7、镜筒长度均可能发生变化。3 横断面的制备在镶嵌、研磨、抛光、浸蚀试样过程中真要求为23. I横断面垂直覆盖层s3.2 覆盖层表面平整其图象的整个宽度应在测量时所取的放大倍数下同时聚焦83.3 由于切割和制备横断面所引起的变形材料要消除掉。3.4 檀盖层横断面上的界面仅由外观反差就能明显地确定或由条易于分辨的细线确定。制备横橱面的方法除上述内容外在附录A中有详细叙述。些典型的浸蚀剂列于附录B补充ft) 321 GB &2 88 测量I 应注意第2章和附录A中所列的各种因素对测量的影响。,2 用验证或标走过的载物台测微计技推显微镜及其测量装置。. 测量覆盖层横断面图象的宽度,在显微断面上沿长度至少
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