GB T 26598-2011 光学仪器用透明导电薄膜规范.pdf
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1、ICS 17.180.01 N 30 中华人民=iI工./、gB 和国国家标准GB/T 26598-2011 光学仪器用透明导电薄膜规范Transparent conductive thin film speciation for optical instruments 2011-06-16发布数占W1)伪/ 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会2011-11-01实施发布目。吕本标准由中国机械工业联合会提出。本标准由全国光学和光子学标准化技术委员会(SAC/TC103)归口。本标准起草单位:中国船舶重工集团公司七一七研究所。本标准主要起草人:熊长新、朱谧、刘水心。G
2、/T 26598-2011 I GB/T 26598-2011 光学仪器用透明导电薄膜规范1 范围本标准规定了光学仪器用透明导电薄膜的分类、要求、试验方法及检验规则。本标准适用于在光学玻璃上镀制全介质透明导电薄膜。2 规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包含勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。GB/T 1185 光学零件表面疵病(GB/T1185-2006 , IS0 10110-7 :1 996 , N
3、EQ) GB/T 2423. 1 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验A.低温(GB/T2423. 1一2008 ,IEC 60068-2-1 :2007 ,IDT) GB/T 2423.3 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Cab:恒定湿热试验(GB/T 2423. 3-2006 ,IEC 60068-2-78:2007 ,IDT) GB/T 2423. 17 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ka:盐雾(GB/T2423. 17-2008 ,IEC 60068-2-11: 1981 , IDT) GB/T 2828. 1 计数抽样检验程序第1部分:按接收质量限(AQL
4、)检索的逐批检验抽样计划(GB/T 2828. 1-2003, IS0 2859-1: 1999 , IDT) GB/T 2829 周期检验计数抽样程序及表(适用于对过程稳定性的检验)3 术语和定义3. 1 3.2 3.3 下列术语和定义适用于本标准。全介质透明导电薄膜all dielectric transparent conductive coating 采用介质材料作膜料镀制的具有一定可见光波段透过率和一定电导率的光学薄膜。普通透明导电薄膜general transparent conductive coating 在零件表面仅镀制单一膜料的透明导电薄膜。增透透明导电薄膜antirefl
5、ective transparent conductive coating 为提高零件的透过率,在零件表面镀制两种及以上膜料的透明导电薄膜。4 技术要求4. 1 总则膜层的个性化要求应符合本标准和相关图样的要求。若本标准的要求与相关图样要求不一致,应以相关图样要求为准。4.2 镀膜面积应在整个零件表面或在图样规定的区域镀膜。1 GB/T 26598-2011 4. 3 镀膜后零件的光学与电学性能4.3. 1 光学性能指标光学仪器用透明导电薄膜的光学性能应与零件导电性能相匹配。透明导电薄膜所适用的波长范围见表1,单面镀制透明导电薄膜的光学与电学性能的匹配见表2。表1波长范围最小值2最大值膜系n口
6、1nm 普通透明导电薄膜425 -2 增透透明导电薄膜400 注1:样品厚度不大于1mm。注2:中心波长A。由式(1)给出:212 。-+2表2方电阻R口/(0/口)R口运二88100二85二主92一二膜层能经受压力为4.9N外裹脱脂布的橡皮摩擦头摩擦50次(25个来回),应元擦痕等损伤迹象。4.6 环境适应性4.6. 1 低温元包装情况下,在-40.C :l: 2 .C的环境中保持2h,样品透过率损失应小于1%,膜层表面质量应符合4.4.1和4.4.2的要求。4.6.2 湿热元包装情况下,在温度为40.C土2.C,相对湿度为90%95%的条件下保持时间24h,样品透过率损失应小于1%,膜层表
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