GB T 26594-2011 无损检测仪器 工业用X射线管性能测试方法.pdf

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1、ICS 19. 100 N 78 GB 和国国家标准11: ./、中华人民GB/T 26594-2011 无损检测仪器工业用X射线管性能测试方法Non-destructive testing instruments一Properties test methods of industrial X-ray tube 2011-06-16发布2011-11-01实施数码防伪中华人民共和国国家质量监督检验检菇总局中国国家标准化管理委员会发布GB/T 26594-2011 目次前言皿1 范围2 规范性引用文件3 术语和定义4 测试条件.2 4. 1 测试设备24.2 测试原理图.3 4. 3 测试规则5

2、 试验方法.4 5. 1 灯丝特性测试.4 5.2 X射线管最高工作管电压的测试45.3 X射线管最高反向峰值电压的测试.45.4 X射线管超电压的测试45.5 X射线管灯丝发射特性的测试.45.6 X射线管阳极电流稳定性的测试45.7 X射线管最大功率的测试5.8 X射线管有效焦点尺寸的测试5.9 X射线管辐射能通量密度均匀性的测试.5.10 X射线管X射线剂量率的测试5.11 X射线管固有滤过的测试5.12 X射线管光谱纯度的测试5. 13 栅控X射线管阳极电流截止特性的试验5. 14 栅控X射线管灯丝栅极间耐压试验.8 附录A(规范性附录)焦点针孔射线照相法.10 附录B(规范性附录)焦

3、点狭缝射线照相法.14 附录c(资料性附录)电气原理简图.16 附录D(资料性附录)焦点标称值的容许值.20 I GB/T 26594-2011 目IJi=i 本标准附录A、附录B为规范性附录。本标准附录C、附录D为资料性附录。本标准由中国机械工业联合会提出。本标准由全国试验机标准化技术委员会(SAC/TC122)归口。本标准负责起草单位z辽宁仪表研究所、丹东市荣华射线仪器仪表有限公司、深圳市华测检测技术股份有限公司。本标准参加起草单位:丹东市元损检测设备有限公司、丹东市万全元损检测仪器厂。本标准主要起草人:徐波、荣吉萍、钱峰、董殿刚、张宏。皿GB/T 26594-20门无损检测仪器工业用X射

4、线管性能测试方法1 范围本标准规定了对测试条件的要求和对工业用X射线管(以下简称X射线管)的技术参数的测试条件和测试方法。本标准适用于各种类型工业用X射线管(不包括脉冲式)。2 规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。GB/T 2421-1999 电工电子产品基本环境试验规则第1部分:总则GBjT 25758.5-2010元损检测工业X射线系统焦点特性第5部分:小焦点和

5、微焦点X射线管的有效焦点尺寸的测量方法3 术语和定义下列术语和定义适用于本标准。3. 1 灯丝特性filament character X射线管灯丝电流与灯丝电压的关系。3.2 最高工作管电压maximum working tube voltage 在半波自整流电路中，X射线管在额定阳极电流下，阳极与阴极之间所允许的最高正向阳极电压峰值。3.3 最高反向峰值电压highest reverse peak voltage X射线管在规定的阳极电流下，阳极和阴极之间允许承受的最高反向峰值电压。3.4 超电压overvoltage 在规定的阳极电流和试验时间下，在X射线管阳极和阴极之间加上按规定的超电

6、压系数所确定的峰值电压。3.5 灯丝发射特性filament emission character X射线管在给定的管电压条件下，阳极电流与灯丝电流(电压)的关系。3.6 阳极电流稳定性stability of anode current X射线管在规定工作条件下，并在规定的时间内，阳极电流最大变动量与其额定阳极电流值比值。G/T 26594-2011 3. 7 3.8 3.9 最大连续功率maximum continuous power 能连续加载的最大功率。最大短时功率maximum short-time power 每次短时间加载的最大允许功率。光学焦点尺寸optics focus si

7、ze X射线管的实际焦点在与有用线束中心X射线方向相垂直的平面上的投影尺寸。3. 10 固有滤过inherent filtration X射线管本身部件对X射线的过滤。用相当于等量过滤的镀、铝或铜的厚度来表示。3. 11 辐射能量通量密度均匀性radiation energy f1ux uniformity of dose M-N X射线管在特定的有用射线输出区域上辐射强度的不均匀性。以E=一甫一XI00%来表示(其中M为各测量点中辐射强度最大值，N为最小值)。3. 12 剂量率dose rate 在规定的距离及方位上，在规定的电压、电流下测得的单位时间内空气比释动能率数值，单位为Gy/ho

8、3. 13 3. 14 3. 15 灯丝栅极间耐压grid voltage bearing of filament 栅控X射线管的灯丝和栅极之间能承受规定的电压。阳极电流截止栅压cut-off grid voltage of anode current 栅控X射线管在最高工作管电压并规定了灯丝电流(或电压下，使阳极电流截止时的栅极电压。X射线光谱纯度X-ray spectrum pnr四ess单色工作的X射线管靶面材料杂质谱线对特征谱线K.l的相对强度，以最强杂质谱线积分强度与靶面材料特征谱线K.l积分强度之比来衡量，其比值称为杂质谱线相对强度，是衡量X射线光谱纯度的重要指标。4 测试条件4.

9、 1 测试设备4. 1. 1 X射线管电气测试用的各种设备应符合电气设备的规定标准，每台设备应有使用说明书、仪表校验卡及有关技术资料。4.1.2 X射线管阳极与阴极接点之间的绝缘电阻应大于5000MO o 4. 1. 3 测试设备应满足被测管的冷却要求，X射线管冷却方式有z2 a) 自然冷却:X射线管附近不应有任何隔板屏蔽以及会引起X射线管过热的其他零部件。若被测管封闭在箱体内，则箱体上应有通风孔。b) 强制风冷z若在测试标准或产品标准中没有专门规定冷却方法时，则气流应沿X射线管轴向GB/T 26594-2011 流过，冷却系统应有测量气体流速、流量的仪器，其散热条件应符合在相关产品标准中的规

10、定。c) 强制水冷:对强制水冷的X射线管，应装有水的循环系统和测量进水温度及水流量的仪器，其散热条件应符合在相关产品标准中的规定。d) 自然油冷:其散热条件应符合产品标准的规定。e) 强制油玲:对强制油冷的X射线管，应装有油的循环系统和测量进油温度及油流量的仪器，其散热条件应符合在相关产品标准中的规定。油的绝缘强度不应低于3臼5kV/2. 5 m旧nrr口m丑14. 1.4 测量灯丝特性时，应使连接管子同管座之间的导线以及连接电压表与管座之间的导线电阻足够小，使其在导线上的压降不超过规定值的0.2%。当灯丝电流为产品标准规定值时，灯丝电压误差不应超过规定值:1:10%。4. 1. 5 当灯丝用

11、交流供电时，电源的非线性失真系数如影响到测量灯丝电压的最大允许误差C士1%)时，应进行修正。4. 1.6 对测试电源的要求4. 1.6. 1 电源频率为50Hz的交流电，当负载从零增加到最大值时，电源电压的变化应不大于10%。4. 1. 6. 2 电源频率变动值应在规定值的士0.5%以内。4. 1. 6. 3 电源在无负载时，电源电压的变动值应在规定值的土5%以内，而在一个项目的试验过程中，变动值应在士0.5%以内。4. 1. 6. 4 电源元负载时，电压波形的瞬时值和相应的理想正弦波形瞬时值之差与理想的正弦波形相应瞬时值之比应在土5%以内。4. 1. 6. 5 应用三相电源时，每两根相线间的

12、阻抗和其他两根相线间的阻抗的差与该二阻抗平均值之比应在土10%以内。4. 1. 6. 6 电源的高压装置应接地良好，接地电阻应不大于4004. 1.7 用于测量X射线管的阳极电流、灯丝电流、灯丝电压用的交流、直流电表的准确度不低于1.5级，其他电表的准确度不低于2.5级。其他测试设备选用的仪表量程，应保证被测值的读数大于满刻度的1/30测量灯丝电流(电压)的仪表应使被测值的读数大于满刻度的1/2。4.1.8 X射线管电气测试用设备应符合有关安全技术要求。4. 1.8. 1 测试设备应装有门开关及高压泄漏保护装置。4. 1. 8. 2 测试设备应有防X射线措施，其泄漏的X射线剂量不应超出国家规定

13、的安全范围。4.2 测试原理圄4.2.1 X射线管阳极电压的测量，在具体产品文件中未规定时，可采取下列方法之一:a) 从高压发生器的初级测出初级电压，然后根据高压发生器的负载特性曲线，得出X射线管的阳极电压;b) X射线管的阳极电压经分压器分压后，用峰值表或示波器等测出X射线管的阳极电压。4.2.2 测试X射线管技术参数时常用的电原理图参见附录C。4.3 测试规则4.3. 1 在测试X射线管时，各电极电压应按下列顺序接通:a) 灯丝电压;b) 栅极电压;c) 阳极电压。电极电压的断开应与接通时的相反顺序进行或同时断开。4.3.2 测试强制冷却的X射线管时，应先接通冷却系统，方可加上各极电压，测

14、试完毕时，应先断开各3 GB/T 26594-2011 极电压。如无规定时，至少3rnin后方可断开冷却系统。4.3.3 旋转阳板X射线管在阳极加高压前，应使阳极靶转速达到正常值。测试栅控X射线管时，如没有说明栅极与灯丝间施加电压，则认为栅极与灯丝同电位。4.3.4 测试应在GB/T2421-1999中规定的正常试验条件下进行。4.3.5 在最高工作管电压，最高反峰压和超电压试验前，应对X射线管进行预热。5 试验方法5. 1 灯丝特性测试施加在产品文件中规定灯丝电流，待电流表读数稳定后，读出电压表相对应的灯丝电压值。原理见图C.6o5.2 X射线管最高工作管电压的测试施加在相关产品标准规定的灯

15、丝电流(电压)，按规定的预热时间预热后，施加最高工作管电压的一半时，调节灯丝电流(电压)，使阳极电流达到产品标准规定的数值。然后以不大于10kV /rnin的速度升至最高工作管电压，与此同时调节灯丝电流(电压)，保持阳极电流不变，并维持在产品文件中规定的时间。原理见图C.1图C.5中符合在相关产品标准中规定的任何一种。采用自整流电路时，X射线管接受的反向峰值电压不应超过产品文件所规定的最高反向峰值电压。5.3 X射线管最高反向峰值电压的测试在半波自整流电路中，施加产品文件规定的灯丝电流(电压)，按规定的预热时间预热后，施加最高反向峰值电压的一半时，调节灯丝电流(电压)，使阳极电流应达到产品文件

16、规定的数值，以不大于10 kV /rnin的速度升至最高反向峰值电压，与此同时调节灯丝电流(电压)，保持阳极电流不变，并维持产品文件中规定的时间。原理见图C.L5.4 X射线管超电压的测试将X射线管装在X射线管测试台上按照规定的工作规程使其达到表l中的规定，进行超电压试验。表1X射线管超电压试验持续时间额定管电压U超过额定管电压百分数口unkV % 试验管电流直接强迫循环冷却非直接强迫循环冷却300 2 5 3 5.5 X射线管灯丝发射特性的测试将高压时间控制器调在允许条件下，调节灯丝电流(电压)至某一值，施加给定的管电压，如管电压在加载时下跌，则应提高管电压，再次加载，直至管电压在加载时仍符

17、合给定的数值，并读取相应阳极电流值。用同样方法可测出在(一组)给定管电压下的(一组)，阳极电流Ia= !Uf)(灯丝电流)曲线。原理见图C.1图C.5中符合产品文件规定的任何一种。5.6 X射线管阳极电流稳定性的测试施加产品文件规定的灯丝电流(电压)值，按规定预热时间预热后，升高管电压至规定值，同时快速调节灯丝电流(电压)使阳极电流应达到产品文件规定值，开始计时，在规定的时间内，读出阳极电流最4 大变化量。实验原理见图C.1图C.5中符合在相关产品标准中规定的任何一种。灯丝电源电压稳定度为:!:0.2%。5.7 X射线管最大功率的测试5.7.1 最大连续功率的测试GB/T 26594-2011

18、 施加产品文件规定的灯丝电流(电压)，按规定的预热时间预热后，施加产品文件中规定的管电压的一半时，调节灯丝电流(电压)，使阳极电流达到在规定的管电压下最大连续功率所确定的电流值，然后以不大于10kV /min的速度升至规定值，同时调节灯丝电流(电压)，使阳极电流保持不变。5.7.2 最大短时功率的测试参数预调:将高压时间控制器调在比特定时间略小的时间上，参照产品文件中规定的I.=f(If)曲线选定的灯丝电流(电压)，经预热后，再加上产品文件规定的管电压，同时根据仪表指示的管电压和阳极电流值进行多次调节，使之符合产品文件规定值，然后切断高压。测试z保持预调参数，将高压时间控制器调在产品文件中规定

19、的特定试验时间上，然后接通高压进行试验。试验时间及间隔次数应在产品文件中规定。5.8 X射线管有效焦点尺寸的测试5.8. 1 焦点针孔射线照相法见附录Ao5.8.2 焦点挟缝射线照相法见附录Bo5.8.3 小焦点、微焦点有效焦点尺寸测试见GB/T25758.5-2010 注:定向辐射X射线管可按附录A、附录B所规定的测验方法进行，周向辐射X射线管按具体型号产品文件规定的测定方法进行，出厂检验可查试验记录。5.9 X射线管辐射能通量密度均匀性的测试5.9. 1 结构分析用X射线管各输出窗辐射强度均匀性的测试。5. 9. 1. 1 将X射线胶片放置在紧靠射线输出窗口的不透光盒子内。5.9. 1.

20、2 在产品文件中规定的条件进行一次曝光。5.9. 1. 3 用密度计测量各窗口辐射场胶片密度的平均值(取34点)来测定该窗口辐射能量密度的大小，测量时应使每个测定点的区域不超过最大照射场尺寸的5%，胶片密度的拍摄要求见附录A中A7。5.9.1.4 由各窗口测得的辐射场胶片密度的平均值来确定各输出窗辐射能量密度的不均匀性。5.9.2 周向辐射X射线管射线强度均匀性的测试。在周向管测试台上进行，在l.2 m圆筒状器具圆周上排布胶片，使周向管轴线与圆筒器具中心重合，胶片中心线与周向管X射线辐射角中心面重合，在圆筒器具的圆周选四个均匀分布位置放胶片，选用适当的曝光参数拍片，使底片密度在1.11.5之间

21、，用密度计测量四张胶片中线的密度值，取最大值与最小值之差。原理见图C.1图C.5中符合产品文件规定的任何一种。5.10 X射线管X射线剂量率的测试将剂量仪的探头放在产品文件规定的距离及位置上，在规定的电压、电流下测试，当剂量仪有稳定的指示后读取剂量率值。原理见图C.1图C.5符合产品文件规定的任何一种。注:如在产品文件中尚未指定测试点的方位，则认为测试点位于射线束中心线上，并且认为在管外元其他衰减材料情况下测试(大气除外)。5.11 X射线管固有滤过的测试测试装置原理图如图1所示。单位为mm。5 G/T 26594-2011 被测管图1固有过滤测试原理图其中镀窗管与被测管的靶材和靶角相同。如靶

22、角不同，可以通过使射线束倾斜得到相同靶角。当被测管输出窗主要由镀或其他类似物质组成时，滤片宜用镀。当被测管最高工作管电压不超过200kV时，滤片宜用铝。当被测管最高工作管电压从150kV 400 kV时，滤片宜用铜。测量时被测管与镀窗管测试条件完全相同(包括管电压、电流、距离、位置)。管电压为被测管最高工作管电压的一半(或由产品文件规定)，阳极电流应在产品文件中规定。5. 11. 1 测出不同厚度滤片(Be、Al、Cu)与第一半价层的关系曲线(如图2所示)。5. 11. 2 测出被测管的第一半价层值A。5. 11. 3 由图2曲线找出其相应的滤片厚度B。即B值为被测X射线管的固有过滤。第半价层

23、A B 滤片岸/mm圄2滤片厚度与半价层关系注:另一种测试方法是找出被测X射线管窗口组成的代用物质。由该物质取代滤片，测出其第一半夹层值，由图2曲线找出其相应滤片的厚度，即得到被测管的固有过滤值。5.12 X射线管光谱纯度的测试光谱纯度的测试是在电压和电流稳定度应不大于0.2%的X射线衍射仪上进行。也可以采用电压和电流稳定度不大于0.2%的应用X射线衍射原理(n=2dsin8)制成的其他装置上进行。6 X射线光谱纯度测试的光路结构如图3所示。其中za) 光源、分光晶面与接收狭缝4之轴线互相平行;b) 分光晶面与衍射仪轴心相重合;c) 光源与接收狭缝4应位于衍射仪圆周上;d) 光源F、狭缝1、S

24、l、2固定不动，狭缝3、S2，4及计数管V以2倍于分光晶面的角速度同步旋转。GB/T 26594一-2011F F一一光源;SI、S2索洛狭缝;1 第一狭缝(开放); 2 发散狭缝(1/60或0.02mm); 3 收敛狭缝(同2); 4 接收狭缝(0.01mm); V一计数管。图3光谱纯度测试光路结构示意图将待测X射线管装在衍射仪上(图3F位置)，在相关产品标准中规定的电参数条件下，测绘该X射线管的谱线图，如图4或图5所示。Kal Kal K a2 。 图4单色X射线管谱线a图5单色X射线管谱线b5. 12. 1 检查谱线图测得的谱线中，各特征线积分强度相对值应符合表2的规定(检查任意两个波长

25、即可)。各谱线所在角，可按n=2dsin8计算，1.为波长。表2特征谱线积分强度对比值(K系)特征谱线相对强度(K系)及波长(10-10m) 靶材1 z 1 强度波长强度波长强度波长铜100 1. 540 5 46.0 1. 544 3 15.8 1. 392 1 铅100 2.2896 50.6 2.293 5 21. 0 2.0848 7 GB/T 26594-2011 表2(续)特征谱线相对强度(K系)及波长(10-10m) 靶材1 2 I 强度波长强度波长强度波长铁100 1. 935 9 49. 1 1. 939 9 18.2 1. 756 5 钻100 1. 788 9 53.2

26、1. 792 7 19.1 1. 607 5 鸽100 0.2089 47.0 0.213 8 18.1 O. 184 3 姥100 。.613251. 1 0.617 6 25.3 0.5455 银100 0.5593 51. 7 0.563 7 24.0 0.4976 铝100 0.7092 50.6 0.713 5 23.3 0.632 2 镇100 1. 657 8 47.6 1. 661 17.1 1. 500 1 d为分光体晶格常数.L:F200之2d=4. 028。如果各特征谱线相对强度偏离表2应有比例数10%以上时，则应重新调整测绘。如锚靶管K2大于60.6或小于40.6时，应

27、如衰减片重测。5.12.2 计算方法杂质谱线相对强度按式(1)计算H二元X1. ( 1 ) 式中zH一一杂质谱钱相对强度;A，-一最强杂质谱线积分强度;A, -一靶材特征谱线K.I积分强度。注1:某波长谱钱的积分强度，应以该线峰包线包围的面积计弈，可用积分仪测量或以矩形近似法计算。每一矩形之宽度不应大于3mm，也可以取衍射仪记录纸每一小格的宽度作为矩形宽度。对图5可先算出K.(即1十2 )总积分强度，再按表2比值折算出K.I强度后，按式(1)计算杂质谱线相对H值。也可以先算出K1积分强度，再按表2比值折算出K.I强度。如果K.I和K.，在其高次波(n=2dsin8中取=2以上时)可以分开，则可

28、在大角度(8)处，扫描出高次谱线图，利用其同次波峰包线积分强度计算杂质谱线相对强度H值。注2:如果所得谱线图中，杂质谱线很小而难以计算积分强度时，可在该杂质谱线所在角附近，减小衰减率重新小范围扫描，利用其较大峰包线算出积分强度后，再缩小相应倍数即可。注3:本方法也适用于点焦点X射线管光谱纯度测试。注4:若被测管之外形尺寸或冷却方式与现行衍射仪管套不相适应时，应设计配置专用管套。实验电路的电气原理见图C.1图C.5中符合产品标准规定的任何一种。5.13 栅控X射线管阳极电流截止特性的试验依次施加产品文件规定的灯丝电流(电压)、阳极电流截止栅压及最高工作管电压，然后用X射线计量仪观察阳极电流是否截

29、止。实验电路的电气原理见图C.505.14 栅控X射线管灯丝栅极间耐压试验把测试电源输出电压从零逐步上升到产品文件规定值，并维持规定的时间，观察有无绝缘破坏的异常现象。实验电路的电气原理见图608 GB/T 26594-2011 测试电源图6灯丝栅极间耐压试验电路 9 GB/T 26594-2011 附录A(规范性附录)焦点针孔射线照相法A.1 针孔照相机针孔照相机的针孔尺寸见表A.10 表A.1针孔尺寸尺寸(mm)焦点标称值f直径D高度hm口1m1 o. 31. 0 O. 100士0.0050.500士0.010针孔光阔的主要尺寸如图A.1所示由.H80士1。ts 图A.1针孔光阑的主要尺寸

30、针孔光阑应用下列材料之一制造:鸽、坦、含铅10%的金铝合金、含妹10%的鸽镰合金、含钝10%的钱铝合金。A.2 胶片应用射线摄影用微粒胶片拍摄，不用增感屏。A.3 针孔照相机的准直基准轴线与针孔轴线所成的角度小于或等于10-3rad，见图A.2010 GB/T 26594-2011 图A.2针孔照相机的准亘A.4 针孔照相机的位置针孔光阔的入射面与焦点的距离应使实际焦点范围内的放大倍率变化在基准方向不超过:1:5%，分别按式(A.l)、式(A.2)、式(A.3)计算zE 一-n-m .( A.1 ) _n_ 0.95E m +k 0-一二旦一1.05E m一、.( A.2 ) ( A.3 )

31、式中zE一一放大倍率;h一一基准面至实际焦点离光阑较远边缘的距离;一一基准面至实际焦点离光阑较近边缘的距离;n一-光阑至胶片的距离;m一基准面至光阑的距离，此距离不应小于100ffiffio 见图A.3011 GB/T 26594-2011 图A.3基准面和尺寸A.5 胶片的位置实际焦点的距离基准面有效焦点的距离射线摄彭用胶片胶片应与基准方向垂直，胶片至针孔光阑人射面的距离根据放大倍率按表A.2确定(放大倍率E的最大允许误差应在士3%以内)。表A.2焦点针孔射线照片的放大倍率A.6 负载因素焦点标称值ff 150 50%最高工作电压载因注:若规定不符合X射线管正常使用的条件，则可在产品文件中另

32、行规定。A.7 焦点针孔射线照相的拍摄放大倍率E素E二三2E二三1阳极电流mA 对应于焦点最大功率50%的阳极电流胶片的曝光程度应使充分显影后的密度最高区域的局部密度在1.0-1.4之间。12 胶片灰宴度和片基本底的密度不得超过0.2，A.8 测量焦点尺寸由焦点射线照片的长度和宽度尺寸除以放大倍率E来确定。GB/T 26594-2011 焦点射线照片从背面说明，照度约3000 lx.通过10倍放大镜用目力检查，放大镜上有间隔为0.1 mm的网格。如照片相失真，则宽度方向可以选择与辐射强度最高区域方向相垂直，通常是焦点宽度显现最小的方向，见图A.4。长度方向A.9 焦点标称值的容许值参见附录D。

33、图A.4焦点失真时测定的方向13 GB/T 26594-2011 附录B(规范性附录)焦点狭缝射线照相法B.1 狭缝照相机狭缝照相机的狭缝光阑尺寸见图B.1。?5 图B.1狭缝光阑的基本尺寸制造狭缝光阑的材料与针孔光阑相同。B.2 胶片同A.20B.3 狭缝照相机的准直基准轴线应通过狭缝光阑人射面中心，与狭缝光阑对称轴线所成的角度小于或等于10-3rad，见图B.20 狭缝对称轴图B.2狭缝照相机的准直B.4 狭缝照相机的位置同针孔照相机，见A.40B.5 狭缝光阑的方位拍摄焦点的狭缝射线照片时，狭缝光阑的方向应使狭缝的长度对测定的两个方向垂直，偏差在土0.09rad(士50)范围内。为了测量

34、焦点的长度，测定的方向应与X射线管的纵轴平行。为了测量焦点的宽度，测定的方向应与测量焦点长度时的方向相垂直。光学焦点失真时的测定方向见图A.40B.6 胶片的位置GB/T 26594-2011 胶片应与基准方向垂直，由狭缝光阑入射面算起的距离根据放大倍率按表B.1确定(放大倍率的最大允许误差应在士3%以内)。表B.1焦点狭缝射线照片的放大倍率焦点标称值ffO.4 O. 5运fl.O 1. 1 B.7 负载因素同A.60B.8 焦点狭缝射线照片的拍摄同A.7。B.9 测量放大倍率EE二月E二2E二三1焦点尺寸应根据两张焦点狭缝射线照片确定。对每一张焦点狭缝射线照片，在狭缝的影像长度的中点处，狭缝

35、影像宽度的1/3或1/2中心部位密度最高区域测量胶片密度。测量时从照片背面照明，照度约30001x.通过10倍放大镜用目视检查，放大镜上有间隔为0.1mm 的网格。焦点尺寸由焦点狭缝射线照片的长度和宽度尺寸除以放大倍率E来确定。15 GB/T 26594-20门被测管a)单端接地附录C(资料性附录)电气原理简图圈C.l自整流电路被测管了否?A B V1-VS一二整流元件。图C.2单相全波整流电路16 被测管b)中心接地GB/T 26594-2011 B B V, 一一飞/ :飞;子1斥-OBV，-飞一一整流元件ER，-R.一一限流电阻;C 倍压电容器。注1:虚线连接时，左边电路为单端恒倍压电路

36、。注2:直流输出波纹系数应小于5%。注3:阳极电压为200kV以下时，阳极接地可采用单端恒倍压电路;阳极电压为200kV-400 kV时，采用中心接地，对称恒倍压电路。图C.3恒倍压电路被测管R, B R2 B 口口川一飞/_. :1 (; 气气斥BR，-R2一一限流元件;V，-V2一一一整流元件。虚线连接时，右边的电路为单端(阳极接地)脉动倍压电路。图C.4脉动倍压电路17 G/T 26594-2011 被测管R C R C 。A。Afhr。BV,-V, 整流元件;R 限流电阻;C 储能电容器。图C.5电窑放电电路(用于栅控X射线管)被测管E 电压表内阻值应保证流经电压表之电流小于流经灯丝电

37、流的1%。图C.6灯丝特性试验电路说明:a) X射线管阳极电压的测量，图C.lC.5仅画出了4.2. la)所述的测试方法，所用的测量仪表为交流电压表。b) 4.2.1b)所述的用分压器、示披器等仪器测量X射线管阳极电压的测量电路如图C.7所示。c) 图C.l图C.5中灯丝电流表如位于高压端，应可靠绝缘或可采用耐高压的电流互感器引出经放大后由电表指示，此时整个测量系统的准确度应满足4.1.7的规定。18 。被测管GB/T 26594-2011 分压器+r一-1同llR 10 lR i R L一一一b)中心接地电路19 分压器一一1 1 1 1 1 1 1 1 1 IIR 1 1 Y 1 1 1

38、 1 l 被测管R 1 L_一a)单端接地电路图C.7阳极电压测量电路GB/T 26594-2011 附录D(资料性附录)焦点标称值的窑许值焦点标称值的容许值见表D.L表D.1焦点标称值的容许值焦点尺寸容许值焦点标称值口1mf 宽度长度0.1 0.15 。.150.15 0.23 0.23 0.2 0.30 0.30 0.25 0.38 0.38 0.3 0.45 0.65 0.4 0.60 0.85 0.5 O. 75 1. 10 0.6 0.90 1. 30 0.7 1. 10 1. 50 0.8 1. 20 1. 60 0.9 1. 30 1. 80 1. 0 1. 40 2.00 1.

39、 1 1. 50 2.20 1. 2 1. 70 2.40 1. 3 1. 80 2.60 1. 4 1. 90 2.80 1. 5 2.00 3.00 1. 6 2.10 3.10 1. 7 2.20 3.20 1. 8 2.30 3.30 1. 9 2.40 3.50 2.0 2.60 3. 70 2.2 2.90 4.00 2.4 3.10 4.40 2.6 3.40 4.80 2.8 3.60 5.20 3.0 3.90 5.50 20 FFON-叮白白NH阁。华人民共和国家标准无损检测仪器工业用X射线管性能测试方法GB/T 26594一2011国由l* 中国标准出版社出版发行北京复兴门外三里河北街16号邮政编码:100045网址电话:6852394668517548 中国标准出版社秦皇岛印刷厂印刷各地新华书店经销晤印张1.75 字数43千字2011年10月第一次印刷开本880X12301/16 2011年10月第一版 27.00元如有印装差错由本社发行中心调换版权专有侵权必究举报电话:(010)68533533书号:155066. 1-43535定价GB/T 26594-2011 打印H期:2011年10月27日F002