GB T 12822-1991 摄影反射密度测量的几何条件.pdf

《GB T 12822-1991 摄影反射密度测量的几何条件.pdf》由会员分享，可在线阅读，更多相关《GB T 12822-1991 摄影反射密度测量的几何条件.pdf（3页珍藏版）》请在麦多课文档分享上搜索。

1、中华人民共和国国家标准摄影反射密度测量的几何条件Geometric conditions for photographic reflection de皿itymea.surement G8/T 12822-91 本标准参照采用国际标准ISO5/4一1983，与绝对反射通量之比，由公式(1)表示:R=在(1 ) 3.2 反射密度(或反射因数密度)DR ，反射因数的倒数取10为底的对数，由公式(2)表示:DR=lztz地.( 2 ) 4 标准反射密度4.1 入射和出射几何条件环状反射测量模式可用一个环状照明和一个垂亘取向探测器或者与此倒置的照明一探测系统完成。这种光路布置分别称为环状入射模式或环状

2、出射模式。环状入射模式已在下图中说明。若将指示通量方向的箭头反向时，则该图表示环状出射模式。其几何条件可分别用环状角分布和垂直角分布描述这两种模式，视模式不同，角分布又可分为辐亮度分布和响应度分布两种。而响应度分布应包括探测系统中所有光学元件的影响。国家技术监督局1991-04-30批准1992-03-01实施-4.2 采样孔GB/T 12822-91 / 略T、环状入射模式几何条件Y Z X 世样仪器的光学系统的几何状态确定了试样的测量区域，这一确定的区域称为采样孔.采样孔应由探测器所探测的角度范围来确定。如果在试样平面上放置一个机械孔，则其面积应大于采样孔，它的边界至少应位于采样孔边界2m

3、m之外的位置。探测器对采样孔内每点的响应度应该相同，而且对采样孔之外点的响应度为零。可通过一个小而稳定的辐射源放在采样孔及其周围的不同点上，测量探测器的响应度变化。该光源的面积应等于采样孔面积的1/10，当光源位于采样孔内的任一点上时，探视.器的响应度都不应小于最大值的90%.当光源位于采样孔周围的任一点时，探测器的响应度应不大于光源位于采样孔内最大值的0.1%。采样孔的最大尺寸取决于测量反射因数或反射密度所用探测器的光学系统的尺寸。只要采样孔内每-点都满足4.4和4.5条中规定的条件，可以采用任何尺寸的采样孔。但是它不能小到不得不考虑粒度、试样表面结构和衍射效应的程度囚对于均匀性不好的试样，

4、应该规定采样孔的尺寸(由生产和应用部门自定)。4. 3 照射面积试样被照射的面积应该大于采样孔径，而且它的边界应至少位于采样孔边界2mm之外。最理想的情况，在被照射面积上的照度应是均匀的。由一个光电探测器测量该照度的均匀性，要求探测器的孔径形状与采样孔相似，而尺寸为采样孔的1/4，在被照射面积上任意一点上的照度至少应为最大值的90%。4.4 环状发布入射光束辐亮度的角分布或者探测器响应度的角分布应在与采样孔中心的法线夹45角时取最大值，而在与该法线的夹角小于40。或者大于50的圆上任何一点的值应小到可以忽略的程度。应采用GB/T 12823-91中5.2条规定的函数表示法表示入射通量的环状分布

5、。用F列方法可以测量探测器响应度的角分布:一个小孔光栏放置在试样平面上，在给定距离上用一个尺寸合适的稳定光源照射，移动光源改变探测器的照明角，并记下相应的响应值。对于模拟纤维表面结构而模压成型的材料，如果环状照射或者环状探测沿方位角不均匀时，则测得的密度值与试样表面结构方位角的取向有关。若将试样在其自身平面(X-y平面)内绕Z轴旋转，如果GB/T 12822-91 测值在允许范围内变化，则对于这种试样来说环状分布沿方位角是足够均匀的囚4.5 法线方向分布入射光束亮度的角分布或者探测器的响应度的角分布应在采样孔的中心垂直于采样孔的方向上达到极大值。而且在偏离法线50以外采样孔上任意一点的分布均应

6、小到可忽略的程度。可以采用4.4条中描述的方法测量这种角分布。4. 6 杂散通量使用清澈的光学元件，合适的档屏以及对面向试样的那些表面作适当的黑化处理，以减少杂散通量到可以忽略的程度。4. 7 衬底材料本标准规定，试样应与一片衬底材料相接触。该衬底应由无光谱选择性的漫反射材料制做，而且应具有1.50以上的标准反射密度值。4.8 参比标准标准反射密度是由完全漫反射体作参比标准而定义的。由于这种完全漫反射体作参比标准而定义的。由于这种完全漫反射材料是不存在的，因此常用一种标准反射板(例如硫酸顿板)等进行校准。这种材料与完全漫反射之间的密度关系应是己知的，且用于确定标准反射密度，国家计量实验室一般可以提供这种反射材料的标准反射密度。4. 9 标记使用上述技术规范得到的密度值，可以称它为标准反射密度或简称为反射密度飞在函数表示法中，可把这种密度表示为D，(400500; S: 50;8)或者DR(50; S : 400 500 ,8 )，这里8和s分别定义为入射通量和光探测器的光谱特性。附加说明g本标准由中国计量科学研究院提出并归口。本标准由中国计量科学研究院负责起草，中国电影科学技术研究所和化工部第一胶片厂参加起草。本标准主要起草人蒋昌桂、李在清、金驾东、纪家麟、唐志健。