GB T 12802-1996 电容器用聚丙烯薄膜.pdf

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1、中华人民共和国国家极准GB/T 12802-1996 电容器用聚丙烯薄膜代替GB12802-91 Polypropylene film for capacitors 1 主题内容与适用范围本标准规定了电容器用双轴定向聚丙烯薄膜的产品分类、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装，运输和贮存。本标准适用于由等规聚丙烯树脂熔融挤出，经管膜法或平膜法双轴定向制得的聚丙烯薄膜(以下简称薄膜勺。2 引用标准GB 1033-86 塑料密度和相对密度试验方法GB 2410-80 透明塑料透光率和雾度试验方法GB 2828-87 逐批检查计数抽样程序及抽样表(适用于连续批的检查GB/T 13541 92 电气

2、用塑料薄膜试验方法GB 13542-92 电气用塑料薄膜定义及一般要求3 产品分类根据薄膜成型加工方法及用途，将产品按表l要求进行分类。表1产品分类类别型号代号成型方法用途5B 管膜法成型光面膜6011 主要用于膜、纸复合介质电容器5P 平膜法成型RB 管膜法成型主要用于膜、纸复合介质电容器单面粗化膜6012 或全膜介质电容器RP 平膜法成型RRB 管瞧法成型主要用于全院仆晴电容器，也可双面粗化膜6013 RRP 平膜法成型用于膜、纸复合介肮屯在器MB 管膜法成型电晕处理光面膜6014 主要用于金属化瞧电容器MP 平膜法成型MRR 管膜法成型主要用于金属化膜、纸复合介质电晕处理粗化膜6015

3、MRP 平膜法成型电容器或全膜介质电容器性=内侧电晕处理附加字母A.外侧电晕处理附加字母Bo产品代号举例，MP-A表示平膜法成型，内侧电晕处理，光面膜。国家技术监督局1996-05-20批准1997-01-01实施92 4 技术要求4. 1 外观GB/T 12802-1996 薄膜应表面光洁，无折皱、裂纹、气泡、颗粒、外来杂质等缺陷。薄膜应紧密卷绕，不应出现脱简现象，并且卷绕均匀一致。4.2 尺寸4.2.1 厚度与厚度允许偏差4.2.1.1 薄膜标称厚度为4.0.5.0.6.0.7.0.8.0.9.0.10.0.12.0.15.0.18.0.20.0.22.0及25.0m。其他规格由供需双方协

4、商确定。4.2.1.2 薄膜厚度允许偏差应符合表2规定。表2厚度允许偏差允许偏差.%标称厚度6011 ,6014 6012 ,6013 ,6015 m 批平均值批个别值批平均值批个别值4. 06. 0 土4:1: 12 士5士146. 012. 0 士4士11士5士1312. 025.。土4士10士5士124.2.2 宽度与宽度允许偏差薄膜宽度规格由供需双方协商确定。薄膜宽度允许偏差及膜卷端部串膜高度应符合表3规定。表3宽度允许偏差mm 宽度宽度允许偏差腹卷端部串膜高度50150 士O.5 运1.5150300 :1:1. 0 2.0 300 士2.0运2.5 4.2.3 长度或卷外径及接头数

5、薄膜长度或卷外径由供需双方协商确定。每卷接头处应有明显标志。当薄膜宽度大于50mm时，每卷接头数及最短长度应符合表4规定。管芯内径推荐为76.152mmo 表4接头数及最短长度标称厚度接头数，个最短长度m 卷外径250mm及以下卷外径250mm以上m 4. 012. 0 3 运4二月0012. 025. 0 运2运二44.3性能指标薄膜物理、机械及介电性能应符合表5表10的规定。5 试验方法5. 1 取样、预处理条件和试验条件按GB/T13541中第3章有关规定进行。5.2 外观外观检查应在自然光或40W日光灯条件下目测和手感。9:) GB/T 12802一1996表5性能指标指标值序号项目单

6、位6011 6014 6012 6013 6015 1 密度g/cm3 0.905士0.0052 熔?i， 165-175 纵向二140120 3 拉伸强度MPa 横向二三150:;140 二三130二三140纵向二404 断裂伸长率% 横向二30纵向运5.05 收缩率% 横向运4.0 元件法见表66 介电强度V/m 50点电极法见表77 体积电阻率。.m 注1.0XI015介质损耗因数48-62 Hz 自;3. OX 10 23士2C1.0 kHz 相对介电常数48-62 Hz 9 2.2:t0.2 23 :t2C 1.0 kHz 10 电弱点个/m见表811 空隙率% 见表912 浊度%

7、见表1013 表面粗糙度R.m 0.25-0.65 卷绕性宽度4.0-8.0m 运0.214 % :;:150 mm 8.0m O. 1 15 湿润张力mN/m 二主33二三33注2密度仅适用于厚度12.0m及以上的薄膜.表面粗糙度与浊度由供需双方协商选定。表6直流介电强度(元件法V /p.m 标称厚度6011.6014 6012.6013.6015 m 中值21个结果中允许有1个低于规定值中值21个结果中允许有1个低于规定值4.0 二三12040 注10040 5.0 二三15060 130 60 6.0 二三19080 注17080 7.0 二三230100 注210100 8.0 注25

8、0120 ;:;:230 120 9.0 二270145 二月50130 10.0 290 165 二注270145 12. 0 二300175 )280 155 15. 0 二注320185 300 165 18.0 二主300195 二三280175 94 GB/T 12802-1996 续表6标称厚度6011.014 m 中值21个结果中允许有1个低于规定值中值20.0 二三300200 二三28022.0 300 200 二三28025.0 二注300200 二三280表7直流介电强度(50点电极法标称厚度601 1,6014 m 平均值最低值4. 0.5. 0 , 6. 0.7. 0

9、 二三370二三2508.0，9.0，10.。400 王三30012.0 二450370 15. 0 二三480380 18.0.20.0 二注470二三37022.0.25.0 二主440二340表8电弱点标称厚度，m标称厚度，m4.0-12.0 12.0-25.。5.3 厚度标称厚度，m4.0-12目。12.0-15.0 15.0-25.0 4.0 5.0 6.0 7. 0 8.0 9. 0 10.0 : 12.0 平均值9.0士3.010士3.0按GB/T13541中第4.1条进行.表9空隙率表10浊度平均值二18注30二三35最高值运15运17V/m 6012.6013.6015 21

10、个结果中允许有1个低于规定值180 180 180 V /Im 6012.6013.6015 平均值最低值二注340二三250二400二300420 二月20主470二三370二470二370主主440二340指标值，个1m运二2.5 运2.2 1. 8 运1.5 1.0 0.8 运O.6 毛主O.5 最低值二哥O 注5.0 最低值二三24二25% % 5. 3- 1 每批薄膜抽取5%8%的膜卷做为试样，按以下规定对膜卷厚度进行测量。a. 6011、6014薄膜按GB/T13541中第4.1. 1条进行。b. 6012、6013、6015薄膜按GB/T13541中第4.1.2条进行。5. 3.

11、2 每批薄膜厚度平均值与允许偏差的计算按以下规定进行。5.3.2.1 试样中每个膜卷厚度测试中值的算术平均值即为该批薄膜的厚度平均值，精确到O.1m， 5. 3- 2.2 该批薄膜厚度平均偏差百分率按(1)式汁算.95 GB/T 12802-1996 .-. d-d D.d.=一万一X100 式中242批薄膜厚度平均偏差百分率，%J d 批薄膜的厚度平均值，m，d 薄膜的标称厚度，m。5.3.3 每批薄膜厚度个别值与允许偏差的计算按以下规定进行。5. 3. 3. 1 将膜卷厚度测试中值从小到大依次排列，找出的最大值和最小值即为批个别值，精确到( 1 ) O. 1m， 5. 3. 3. 2 批个

12、别值偏差百分率按(2)、(3)式计算。cd z a m JU A X 100 ( 2 ) d -d Admm=旦L了一一X100 式中.dma:!批个别值上偏差百分率，%;Mmm 批个别值下偏差百分率，% ; d， 批测试中值的最大值，m，dmin一一批测试中值的最小值，m;d一一薄膜标称厚度，m，5.4 宽度按GB/T13541第6章有关规定进行。膜卷端部串膜高度用精度0.5mm的直尺E游标卡尺测量。5.5 长度，卷外径及接头数5. 5. 1 薄膜长度由自动记米器测定。( 3 ) 5. 5. 2 薄膜卷外径用精度0.5mm的直尺或游标卡尺测量。5.5.3 接头数的判定，由目测记数。5. 6

13、密度按GB1033方法C规定进行，溶剂为甲醇加水或乙醇加水。试样悬浮在液体中部为判断终点。5.7 熔点按GB/T13541第8章规定进行。5.8 拉伸强度与断裂伸长率按GB/T13541第11章有关规定进行，拉伸速度为100mm/min，夹具间距为100士1.0 mm，计算夹具间断裂伸长率。5.9 收缩率按GB/T13541第22章规定进行。烘1培温度120士2C.烘熔时间10min, 5.10 介电强度5. 10. 1 元件法介电强度按GB/T13541第18.2条进行，厚度的测量按本标准第5.3. 1条有关规定进行。测试21点。将低于指标值的试样打开观察，试样击穿点在最内两层中的击穿值无效

14、，同时补充相同数量的试样进行测试。报告21个测试值的中值及舍掉?个最低值后的最低值。5.10.2 50点电极法直流介电强度按以下规定进行。5.10.2.1 试样取不小于450mm X 650 mm长方形试样两张，当宽度小于450mm时，可取若干张，以保证能做50个击穿点。试样要保持清洁、平整、无折皱、无损伤.5.10.2.2 电极96 GB/T 12802-1996 上电极为直径25mm，但l角半径为2.5mm，高度120mm的黄铜柱形电极，工作面粗糙度R圄小于1. 25m。在平台t铺一张厚约3mm的橡皮，其邵氏A硬度为6070度，在橡皮上铺一张退火铝箱作为下电极。保证电极工作面平整光滑、无伤

15、痕。5.10.2.3 击穿装置高压试验变电器的容量应保证次级额定电流不小于0.1A。直流电源的电压脉动系数不应超过5%，保护电阻为O.20. 5 O/V 0调压器应能均匀调节电压。过电流继电器应有足够的灵敏度、保证试样击穿时在O.1 s内切断电源。动作电流应选择适当值，避免发生击穿后不动作或未击穿而产生误动作。电压测量误差不超过4%。5.10.2.4 试验步骤任何厚度规格，均采用单层测试。将试样置于下电极上，采用连续升压法，其升压速度为O. 21. 0 kV /so均匀等距离测量50点，读取试祥击穿电压值。厚度按本标准的第5.3. 1条进行测量。5.10.2.5 试验结果在50点击穿测定值中分

16、别去掉最大值，最小值各5点，计算其余40点的算术平均值并找出最小值。将击穿电压平均值和最小值除以试样厚度，即为该批薄膜介电强度的平均值和最低值。精确到个位。5. 10. 3 介电强度的出厂检验及用户的验收试验可采用5.10. 2条进行，型式检验及有争议时的仲裁试验采用5.10.1条进行，也可按供需双方签订的商业合同进行。5. 11 体积电阻率按GB/T13541中第16章规定进行，采用方法l时测量电压不大于250V.试样数量3个，有争议时采用方法2模型电容器法进行仲裁试验。电化时间2mino 5.12 介质损耗因数与相对介电常数按GB/T13541中第17章规定进行，采用方法1时测量电压不大于

17、250V.试样数量3个，有争议时采用方法2模型电容器法仲裁。4862Hz及1.0 kHz任选其一进行测试。5.13 电弱点推荐按GB/T13541第19.3或19.1条进行，受试面积至少5时或由供需双方协商确定，测试电压200V /mo 5. 14 空隙率按GB/T13541第34章有关规定进行，试验结果用平均值表示。5.15 浊度浊度按以下规定进行。亦可按GB2410有关规定进行。5.15.1 测试原理薄膜粗化后形成微小凹凸不平的表面，受光照射时产生散射和漫反射，凹凸得越多则散射光也就越多，通过测量薄膜受光时入射光和散射光的比例，按公式换算出薄膜表面粗化程度。浊度创)=搏击X100 5. 1

18、5. 2 试样沿薄膜横向取5060mm宽薄膜试样一条(膜卷的宽度即为试样的长度5. 15. 3 试验设备推荐使用NDH-20D型浊度计或性能相似的其他装置。5. 15. 4 试验步骤( 4 ) 在长度方向间隔约100mm均匀测定，将试样粗化面对着光源并靠近受光器位置，读取浊度值。5.15.5 试验结果97 GB!T 12802-1996 取各试样测量值的算术平均值的平均值为试验结果，同时报告最小值(精确到个位数5.16 表面粗糙度表面粗糙度按以下规定进行。5. 16. 1 测试原理薄膜经粗化后，形成微小的凹凸不平的表面、利用仪器的触针(或探头)在薄膜表面上移动，从而测出薄膜的平均粗糙度儿。5.

19、 16. 2 试验仪器和用品B. 能满足薄膜试样的平均粗糙度测试范围及精度要求的表面粗糙度测试仪器均可使用，仪器误差不大于土10%。b. 丙酬少许及端部包有脱脂棉花的棉签。5. 16. 3 试样从样品上纵、横向各取3块试祥，其尺寸以能完全覆盖与仪器配套的测试小平面为准。试样表面必须洁净，无损伤、折皱。5.16.4 试验步骤用棉签醺上丙嗣清洗仪器的测试平面。将试样放在仪器的测试平面上，试样耍完全贴紧平面，无气泡存在，试样的被测面朝向测试触针，读出3块试样纵、横各向6个R.的数值。5.16.5 结果的汁算与表示薄膜的表面粗糙度以3个试样的6个R.的算术平均值表示，单位为微米。5.17 卷绕性按GB

20、!T13541第7.3条方法2进行。5.18 湿润张力按GB!T13541第10章有关规定进行。6 检验规则6. 1 批量以相同材料同一工艺条件连续生产的同一规格成品为一批.管膜法生产每批最多不超过5t。平膜法生产每批最多不超过20t. 6. 2 出厂检验每批产品均应进行出厂检验。出厂检验项目为本标准第4.1、4.2及4.3条和表5中3、4、5、6、10、11、12或13 工页。6.3 型式检验型式检验每三个月至少进行一次，当薄膜的原材料或工艺条件改变时，亦须做型式检验。型式检验项目为本标准技术指标的全部项目。6.4 取样规定a. 第4.1、4.2.2及4.2. 3条逐卷检验。b 第4.2.

21、1条及表5中11、12项按5%抽取试祥后对每个试样逐卷检查。 表5中110及13、14、15各项每批任取一卷进行试验。d. 对膜卷宽度为200mm及以上规格的产品，同一出厂批量按分切顺序，每一大膜卷在不同行列中任取两个试样。6.5 判断规则6. 5. 1 平膜法生产的判断规则试验结果中任何一项性能不合格时，应在另外两个膜卷上取试样重复试验z若两个试样都合格时，该批薄膜为合格品，并剔除不合格膜卷e若仍然有一个试样不合格时，则该批薄膜为不合格品。98 GB/T 12802-1996 6. 5. 2 管膜法生产的判断规则试验项目中任一项性能不合格时，应在不合格膜卷同一纵向列的其他膜卷中任意取两个试样

22、，重复该项性能的试验。试验结果合格时，剔除不合格膜卷，如再有一个试样不合格时，剔除该纵向列所有的膜卷，同时在同一大膜卷另两列膜卷各取一个试祥再进行试验，若都合格，则其他列为合格，若再有一个不合格，则该大膜卷所分切的膜卷均为不合格品。6.6 用户验收试验使用单位可按本标准规定的全部或部分项目进行验收，抽样数量应为一次进厂薄膜总量的5%，不足100膜卷的抽样数应不少于5卷，判断规则按第6.5条进行。6.7 仲裁试验6. 7- 1 当供需双方对产品质量发生异议时，由供需双方商定复检，复检方法按GB2828一次抽样办法。其中检查水平采用水平E。合格质量水平(AQL)值为gB类不合格品，AQL值为1.O

23、，C类不合格品，AQL取值为4.0。6.7.2 B类不合格是指单位产品的物理机械及介电性能不符合规定。C类不合格是指单位产品尺寸规格、外观及卷绕性能不符合规定。6.8 其他应符合GB13542有关规定。7 标志、包装、运输、贮存7. 1 膜卷的电晕处理面，粗化面应有明显标志p膜卷内及包装外应分别有合格证及注册商标、标志，其内容应符合GB13542第7.2条规定。7.2 产品自出厂之日起贮存期为一年。?3 其余应符合GB13542奋关规定。附加说明z本标准由全国绝缘材料标准化技术委员会提出。本标准由机械工业部桂林电器科学研究所归口。本标准由东方绝缘材料厂、桂林电器科学研究所、桂林电力电容器总厂、广东新会电容薄膜厂等单位联合起草。本标准主要起草人z侯明、齐雪萤、崔巍、李兆林、柯庆毅。99