GB T 11071-1989 区熔锗锭.pdf
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1、中华人民共和国国家标准区熔错键GB 11071- 8 9 Zone-refined germanium Ingot 主题内容与适用范围本标准规定了区熔错键的产品分类、技术要求、试验方法及检验规则等本标准适用于以还原错饺及铐单晶返料为原料,经区熔提纯而制得的错键产品供制备半导体错单品、光学用错晶体和错合金等用2 3 3. 1 引用标准GB 4326 GB 5253 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法错单品电阻率直流两探针测量方法GB 11070还原错绽产品分类牌号表示为zZGe口2 I J二ZGe表示区熔错珑,Z一阿拉伯数字表示产品等级3. 2 错链的横截商为梯形,其外形尺寸如表10同
2、根键的最大与最小裁面之差不大于平均截丽的15%。3. 3 3. 4 表1对错键尺寸和%状有特殊要求时,供需双方可另行商定,产品按物理参数分为ZGe-1和ZGe-2两个牌号4技术要求mm 4. l 产品的牌号、电阻率和检测单晶的载流子浓度和载流子迁移率应符合表2的规定。中国有色金属工业总公司1989。1-28批准1990-02 01实施4 4. 2 4. 3 5 GB 11071- 8 9 表2电阻率检测单品参数(77K 牌军J王Qcm 载流子放度(23士0.5cm-3 ZGe-1 )47 ). 5 1012 ZGe-2 二岁47ZGe-1牌号区熔错锐的原料应符合GB11070中RGe-0和RG
3、e-1牌号的规定错绽表面应呈银灰色金属光泽,无明显氧化膜,无裂纹和夹杂物试验方法载流于迁移翠cm/(V s) 二三3.7XIOs. 1 区熔错锐的电阻率按GB5253方法在镜底表面的中心线沿锐的纵向测量测点问距不大于30町1ffi0s. 2 检测单晶按附录A(补充件制备s. 3 5. 4 检测单晶的载流子浓度和载流子迁移率按GB4326进行。测量样品从单晶头部切取错键的表面质量用日视检查6 检验规则s. 1 检查和验收6 1. 1 产品由供方技术监督部门进行检验,保证产品质量符合本标准规定,并填写产品质量证明书。s. 1. 2 需方可对收到的产品进行检验,若检验结果与本标准的规定不符时,在产品
4、收到之日起两个月内向供方提出,由供需双方协商解决s. 2检验项目区熔错绽应逐根进行电阻率和表面质量等的检验。6 3取样数量ZGe-1牌号的错镀每批不大于100kg,随机任取一根,取样300500g制备成检测单品,测量载流子浓度和载流子迁移率6. 4 重复检验如检验结果有一项不合格,则从该批中加倍取样进行该不合格项目的复验,若仍有一项不合格时,则重新组批验收。7 7. 1 标志、包装、运输和贮存每根区熔错绽密封于聚乙烯薄膜袋中,并附有产品质量证明书,注明z供方名称z b. 产品名称pc. 产品编号:d. 产品牌号ge. 产晶莹莹,f. 各项检验结果及检验部门印记zg. 本标准编号ph. 生产日期
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