GB T 11068-2006 砷化镓外延层载流子浓度电容-电压测量方法.pdf
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1、ICS 77.040.01 H 17 道自中华人民共和国国家标准GB/T 11068-2006 代替GB/T11068-1989 呻化镣外延层载流子浓度电容-电压测量方法Gallium arsenide epitaxial layer-Determination of carrier concentration voltage-capacitance method 2006-07-18发布中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会2006-11-01实施发布.o.c. . 目。自GB/T 11068-2006 本标准是对GB/T11068-1989(呻化嫁外延层载流子浓度电
2、容电压测量方法的修订。本标准在原标准基础上,参考DIN50439(电容电压法和录探针测定半导体单晶材料掺杂剂的浓度剖面分布编制的。本标准与原标准相比主要变动如下:一一原标准规定,在制作高阻衬底样品的欧姆电极时,要在氮气保护及4000C下合金化5min,而经验表明,在3500C450oC的温度下合金化,都可得到好的欧姆接触电极,故将此项要求改为在3500C 400oC及氮气保护下,合金化5min10 min; 取消了原标准对环境的要求,因为在通常的实验室条件下,所用仪器和测试方法本身对环境温度和温度并不十分敏感,特别是成套仪器。但由于载流子浓度与温度有关,故应在测量报告中标明测量时的环境温度;一
3、一简化了原标准关于电容仪校准的文字表述。本标准自实施之日起代替GB/T11068-19890 本标准由中国有色金属工业协会提出。本标准由全国有色金属标准化技术委员会归口。本标准起草单位:北京有色金属研究总院。本标准主要起草人:王彤涵。本标准由全国有色金属标准化技术委员会负责解释。本标准所代替标准的历次版本发布情况为:GB/T 11 068-19890 I 1 范围呻化镣外延层载流子浓度电容-电压测量方法G/T 11068-2006 、测量方法,适用于呻化嫁外延层基体材料中载流子浓度的测量。测量范围:lXI014c 2 术语和定义2. 1 2.2 2. 3 2.4 势垒电窑半导体内势垒宽度3 原
4、理式中:X一一-势垒扩展宽度,单位m;C一一势垒电容,单位F;t.v-反向偏压增量,单位V;t.C-势垒电容增量,单位F;N(X)一一载流子浓度,单位cm3; C3 X r一车主N(X) =、Aru,.( 2 ) 1 GB/T 11068-2006 A 乖呻化嫁接触面积,单位cm2;E。一一-真空介电常数,其值为8.859 X 1012,单位F/m;E 呻化嫁相对介电常数,其值为13.18; r 单位电荷,其值为1.602X10凹,单位C。4 试剂4.1 硫酸(1.84 g/mL) ,浓度95%98%,优级纯;4.2 过氧化氢(1.00 g/mL) ,浓度30%,优级纯。5 仪器5. 1 电窑
5、仪或电窑电桥:量程为1pF 1 000 pF,误差不大于满刻度的1%,测量频率为O.1 MHzl MHz,测试讯号小于25 mV。5.2 数字电压表灵敏度不低于1mV,误差不大于满刻度的0.5%,输入阻抗不小于10Mn。5.3 直流电源电压oV100 V,连续可调,波纹系数不大于0.03%或波纹电压小于3mV。5.4 晶体管特性图示仪灵敏度不低于10A/cmo5.5 标准电容A和B电容A和B分别为10pF和100pF,在测量频率下误差不大于0.25%。5.6 *探针样品台应能屏蔽光和电磁干扰,束探针能上下调节。5. 7 测量显微镜标尺误差不大于满刻度的0.5%。6 样品和电极6.1 呻化镣单晶
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