YD T 926.3-1998 大楼通信综合布线系统 第3部分:综合布线用连接硬件技术要求.pdf
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1、YD/T 926. 3-1998 前言本标准非等效采用国际标准化组织/国际电工委员会标准ISO/IEC11801,1995O. 1 O. 1 2. 1 某些频率点的衰减,耳目大于ndB 10.0 Q. 23) O. 1 O. 1 16目。O. 23) 0.2 0.2 20.0 O. 2 O. 2 一一一340 YD/T 926. 3-1998 表2(完)要求序号传输特性单位频率f连接硬件类型lMHz 3类4类5类31.25 0.2 某些频率点的衰减,不大于dB 62.5 0.3 2. 1 100 0.4 频串/采用对数JElJ度,所有点的测量值全频带的衰减dB 1-100 不应商于以上各点连成
2、的折线以向上作为正方向)1.0 58 65 65 4.0 46 58 65 10.0 38 50 60 16.0 34 46 56 3在些频率点的近端串音衰减,不小于dB 20.0 44 54 2. 2 31. 25 50 62.5 44 100 40 频率f采用对数刻度,所有点的测量值圭频带的近端串音衰减dB 1-100 不应低于以上各点连成的折线(以向上作为正方向113.2.4 导体数, 2n(n=1、2、3)13.2.5 电缆外径mm 13.2.6 屏蔽性能创见表2的2.4且表11的2.4 13.3 燃烧性能由有关产品标准规定13. 4 耐久性试验13.4.1 插头与插座的擂台次数次75
3、0 1 000 13.4.2 导体端接次数日次200 200 13. 5 机械试验13.5.1 插入力和拔出力N 由有关产品标准规定13.5.2 连接器连接装置的效果由有关产品标准规定1)导体直径小于O.5mm的电缆可能需要特殊的连接硬件。2) 1000非通信引出端连接硬件,一般适用于绝缘外径不大于1.4mm的电缆。3) 1500非通信引出端连接硬件,一般适用于绝缘外径本大于1.9mm的电缆.的采用屏蔽对称电缆布线时,应使用专门端接屏蔽的连接硬件.应注意,端接且屏蔽电缆的连接硬件与端接既有,(,1.屏蔽卫高单位屏蔽的电缆的连接硬件不同。5)或按有关产品标准规定.4.4.4 电气特性a) 100
4、0.非通信引出端连接硬件的传输特性应符合表2规定的要求。注z对不用接插软线和交接跳线进行交接的连接器(例如z带在内部转换接点的转换连接器).其衰减、直流电阻和转移阻抗(暂定)平应超过同类的2个连接器和5m软电缆的等效值.同时,这类1000非通信引出端连接硬件的近端串青衰减劣于表2中2.2款的差值,不应超过6dB(暂定).b) 1500.非通信引出端连接硬件的传输特性应符合表11规定的要求。注g对不用接插软线和交接跳线进行交接的连接器(例如g带有内部转换接点的转换连接器).其衰减、直流电阻和转移阻抗(暂定不应超过同类的2个连接器和5m软电缆的等效值。同时,这类1500非通信引出端连接硬件的近端串
5、青衰减劣于表11中11.2款的差值,不应超过9dB(暂定)。c)非通信引出端连接硬件的其他电气特性应符合表14规定的要求。349 YD/T 926.3一1998表14非通信引出端连接硬件的其他电气特性(20C)序号项目单位要求1000非通信引出端连接硬件1500非通信引出端连接硬件14. 1 直流电阻,不大于mO 300 在考虑中初始接触电阻,平大于zmO 插头与插座的接点间2. 5 14.2 连接器与电缆导线间2. 5 连接据与电缆屏蔽间20 环境试验中间及试验后的接触电mO 阻,丰大于.插头与插座的接点间7.0 14.3 连接椿接点与电缆导线间7. 0 连接器与电缆屏蔽间20 连接器与电缆
6、导线重新端接后5. 0 绝缘电阻,不小于zMO 14.4 任一簧片对其余簧片及安装板或100(暂定,试验电压直流500Vl屏蔽间14. 5 耐压试验V 由有关产品标准规定14.6 电冲击试验由有关产品标准规定。这些要求只适用于带屏蔽的连接硬件。4.4.5 环境试验序列4. 4. 5. 1 总则非通信引出端连接硬件,按照生产厂要求进行正常安装与连接时,它们应能通过图4所示的环境试验序列。对于插合使用的连接器(插头与插座),除非另有规定,应以描合方式进行试验。环境试验的全部试样称为F组。P组试样再分为5组,分别称为A、B、C、D和E组。撞舶电阻P组A组B组C组D组E组绝缘电阻耐久性试验据动庸蛐试验
7、电冲击试验l 弗冲击曲冲击温度/温度循环温度/温匮循环图4非通信引出端连接硬件的环境试验序列350 YD/T 926.3-1998 4.4.5.2 初始试验P组的全部试样应先通过表14所规定的初始试验。初始试验按表14中的试验阶段依次进行。表15非通信引出端连接硬件的初始试验试验阶段试验项目试验矗件初始检验要求外观检查目力检查应无可能影响正常运行的缺陷l 应符合有关产品标准的规定尺寸检查2 定位方式应符合有关产品标准的规定3 接触电阻见表14的14.24.4. 5. 3 分组环境试验各组试样应分别通过相关组所规定的环境试验,这些环境试验按下列各表中列出的试验阶段依次进行。表16A组环境试验试验
8、阶段试验项目严酷等级或试验条件中间检验或最终检验项目要求Al 绝缘电阻见表14的14.4低温(TA),(-40:l: 2)(: 高温(T,),(70:l:2)C最小平均变温速率:3C/minA2 热忡击持续时间(t,) ,每个温度30min循环次数,100次对于擂台使用的连接器(插头与插座) 半数试样铺告,另半数试样不插告低温,(25:l: 2)C 高温,(65土2)C 冷冻子循环,(一10土2).C 温度/湿度相对湿度(高低温下),93%:l:3%持续时间,24hA3 组合循环循环次数,21次对于擂台使用的连接器(插头与插座) 半数试样擂台,另半数试样不插告在标准大气条件A4 绝缘电阻下,恢
9、复lh后,绝缘电阻应不小于100MO外观检查目力检查应无可能影响正A5 常运行的缺陷351 YD/T 926.3-1998 表17B组环境试验试验阶段试验项目严酷等级或试验条件中闻检验或最终检监项目要求导体端接次数,100次1000 用O.5mm导线1500 先用Q.5mm导线端接10耐A性试验次,再用O.65mm导线端B1 接90次插头与插座擂台次数21000 375次1500 500次B2 接触电阻且表14的14.3低温,(-40士2)C 高温,(70:l:2)C热忡击最小平均变温速率:3C/mn(50士5)次端接循环后测见表14的14.3 B3 持续时间(tl):每个温度30min量接触
10、电阻循环次数,100次低温,(25:1:2)c 高温,(65:1:2)C冷冻于循环川一10土2)c 相对湿度(高低温下),93%士3%持续时间,24h温度/湿度循环次数21-tx. B4 组合循环在试验进行7天、14天后备进行导体端接,33次耐久性试验后见表14的14.3 1000 用O.5mm导线测量接触电阻1500 用O.65mm导线导体端接次数,34次1000 先用O.5mm导线端接24次,再用O.65mm导线端耐久性试验接10次B5 用O.65mm导线1500 插头与插座插合次数.1000 375次1500 500次B6 接触电阻见表14的14.3I 目力检查应无可能影响正B7 外观检
11、查常运行的缺陷352 试验阶段试验项目C1 振动C2 外观检查试验阶段试验项目Dl 腐蚀D2 D3 外观检查试验阶段试验项目E1 应力松弛E2 外观检查4.5 光纤连接硬件4. 5. 1 一般要求YD/T 926.3-1998 表18C组环境试验严酷等级或试验条件中间检验或最终检验项目要求频率范围.1055Hz振幅:0.75mm 每一轴线循环扫频振动完在3个互相垂直的轴线上进行,每一轴见表14的14.3 成后,测量接触电阻缉的循环扫频次数,20每一轴线持续时间:105mm目力检查应无可能影响正常运行的缺陷表19D组环境试验严酷等级或试验条件中间检验或最终检验项目要求混合气体,SO,(0.5土O
12、.l)PPMH,S(O. 1:t0. 02)PPM 温度,(25土2)C相对湿度,75%+3%持续时间$10d接触电阻见表14的14.3目力检查应无可能影响正|常运行的缺陷表20E组环境试验严酷等级或试验条件中间检验或最终检验项目要求试验温度,(70士2)C 每间隔068土10)h测量见表14的14.3 试验时间,500h接触电阻自力检查应元可能影响正常运行的缺陷下列要求适用于光缆布线的所有连接硬件。这些连接硬件可用于水平光缆布线和主干光缆布线。工作区中的光缆应采用光纤双芯连接器(SC-D)连接到水平布线,这种SC-D连接器应符合IEC60874-14的规定。对于已安装了IEC60874-10
13、规定的连接器和适配器(BFO/2.5)的布线系统,仍可继续使用这类连接器和适配器。4.5.2 标志与代码采用颜色作连接硬件和适配器的标志时,应保证不同型号的光纤不致混淆。为保证双芯光纤链路连接的正确极性,光纤双芯连接器宜采用必要的极性标志与定位销。参见附录A(提示的附录)。注这些标志不能代替YD/T926. 1或其他标准要求的标志。4.5.3 机械物理性能与光学传输要求光纤连接硬件应符合表21规定的机械物理性能与光学传输要求。353 YD/T 926.3-1998 表21光纤连接硬件的机械物理性能和光学传输要求序号机械物理性能单位要求21. 1 物理尺寸21. 1. 1 通信引出端IEC 60
14、874-14 21. 1. 2 其他连接硬件由有关产品标准规定21. 2 适用光纤21. 2. 1 标称包层直径m 125 21. 2. 2 标称缓冲层直径21. 2. 3 光缆外径口1口121. 3 耐A性试验次二注50021. 4 光学传输要求接头衰减运O.3 21. 4. 1 其他连接最大值dB 乓0.75硬件衰减平均值运0.5多模二2021. 4. 2 回波损耗dB 单模注264.5.4 光纤连接器的连接方式光纤连接器在连接时应使用颜色标志和标签以区分各种型号的光纤。注s建议用颜色标志区分连接器和适配器是单模光纤用或是多模光纤用,另外还需采用其他附加颜色标志或标签来区分多模光纤的不同型
15、号。光纤双芯连接器的极性规定应在布线系统中保持一致,可以用定位销或适当的管理方式例如s标签)或两者都采用。极性排列如附录A(提示的附录)的图AHU图A3所示。光纤连接的系统设计导则见附录A(提示的附录)。5 试验方法5. 1 对称电缆布线用连接硬件的试验方法对称电缆布线用连接硬件的试验方法见表22和表23。除非另有说明,试验应在GB/T2421规定的标准大气条件下进行。一个连接硬件称作一个试样。对于插合使用的连接器(插头与插座),除非另有规定应以插合方式进行试验。表22对称电缆布线用连接硬件电气特性试验方法序号试验项目试验方法本标准条款22. 1 衰减5.2.4 表2序号2.1、表11序号11
16、.1、4.4. 4 22.2 近端串青衰减5. 2. 4 表2序号2.2、表11序号11.2、4.4. 4 22. 3 回波损耗5.2.4 表2序号2.3、表11序号11.3、4.4. 4 22.4 转移阻抗IEC 61196(暂定)表Z序号2.4、表11序号11.4、4.4. 4 22. 5 直流电阻GB 11327.1 表3序号3.1、表12序号12.1、表14序号14.1354 YD/T 926.3-1998 表22(完)序号、试验项目试验方法本标准条款5. . 1的时表3序号3.2、3.322.6 接触电阻IEC 60807-8 表12序号!2.2、12.35. 1. 1的b)表14序
17、号14.2、14.322.7 绝缘电阻GB/T 5095第2部分试验3.方法A表3序号3.4、表12序号12.4、表14序号14.422.8 耐压试验GB/T 5095第2部分试验也方法A表3序号3.5、表12序号12.5、表14序号14.5电冲击试验ITU-T建议表12序号12.6、表14序号14.622. 9 簧片与簧片K.20试验1、2表3序号3.6 插头与插座K.20试验31)虽然IEC61196-1的试验方法适用于同轴电缆,但当信号载频按共模方式激励肘,该方法也可用来测量端接带有且屏蔽的对称电缆用的连接硬件。表23对称电缆布线用连接硬件机械与环境性能试验方法序号试验项目试验方法丰标准
18、条款IEC 60603-7 表1序号1.1 22. 1 接口尺寸IEC 60807-8 表10序号10.1 由有关产品标准规定表13序号13.1 导体直径GB/T 4909.2 表l序号1.2. 1、表10序号10.2.1、表13序号22.2 13.2.1 22.3 绝缘外径GB/T 2951. 4 表1序号1.2. 3、表10序号10.2.3、表13序号13. 2. 3 22.4 电缆外径GB/T 295 1. 4 表1序号1.2. 5、表10序号10.2.5、表13序号J3. 2. 5 22.5 燃烧性能GB/T 5169.7 表1序号1.3、表10序号10.3、表13序号13.3外观检查
19、目力检查GB/T 5095.2试验1.表4、表5、表6、表7、亵8、表9、表15、表16、表17、表18、表19、表2022.6 尺寸幢查GB/T 5095. 2试验lb表4量规检查5. 1. 2 表4、表1522.7 定位方式GB/T 5095.7试验13e表4、表15耐久性试验插头与插座的插合次数GB/T 5095.5试验h者6、表1722.8 导体端接次数GB/T 5095.5试验h表17销定装置寿命试5. 1. 3 表6验355 YD/T 926.3-1998 表23(完)序号试验项目试验方法本标准条款机械试验插入力和拨出22.9 力GB/T 5095. 7试验13b表5连接器连接装G
20、B/T 5095.8试验151表5置的效果22.10 温度急变GB/T 5095. 6试验11d表522.11 气候顺序试验GB/T 5095.6试验l1i试验Ba表522. 12 交变湿热GB/T 5095. 6试验11m表522.13 低温GB/T 5095.6试验11j试验Ba表522.14 干热GB/T 5095. 6试验11i试撞Ba表5、表622. 15 恒定湿热GB/T 5095.6试验11c表722. 16 电负载和温度GB/T 5095.5试验9b表822. 17 载流容量GB/T 5095.3 表922. 18 热冲击GB/T 2423. 22试验Nb表16、表1722.
21、19 温度/摄度组合GB/T 2423. 34试验Z/AD表16、表17循环22.20 振动GB/T 2423.10试验Fc表1822. 21 腐蚀。IEC 6口068-2-60TTD方法C表1922.22 应力松弛GB/T 2423.22试验Ba表201)在条件不具备的情况下,暂允许按GB/T2424. 11和GB/T2424.12把两种气体分开进行两次试验。5. 1. 1 接触电阻测量5.1.1.1 1000通信号l出端连接器接触电阻测量测量接触电阻肘,连接点应如图5所示。接触电阻的试验步骤如下:a)根据计算或测量确定图5中A、B两点间固定连接器(简称插座的体积电阻RABb)根据计算或测量
22、确定图5中B、C两点间自由端连接器(简称插头)的体积电阻Roc。A点B点插座接舶电阻测量点图5接触电阻测量的连接方法和测量点c,点c)依据GB/T5095.2试验2a的要求和步骤,测量插头和插座A、C两点间的总电阻RACod)从插头和插座的总电阻中减去插座和插头的体积电阻,接触电阻的计算公式如下:356 YD/T 926.3一1998接触电阻=RAC-(RA+R皿)5.1. 1. 2 非通信引出端连接硬件接触电阻测量依据GB/T5095.2试验2a的要求和步骤,测量接触电阻,当电压探头不能置于距接触点1.3mm范围内时,参照5.1.1.1的方法进行。5. 1. 2 量规检查a)插座采用IEC6
23、0603-7规定的通过量规试验,插入和取出时施加力不超过8.9N。b)插头采用IEC60603-7规定的非通过量规试验,施加力8.9N沿正面插入,插入深度应不超过1. 78mm 采用IEC60603-7规定的通过量规试验,施加力20N或松开锁定装置后用更小的插入力,插头应易于插入通过量规并锁定。然后松开锁定装置,施加释放力20N或在有利的方向施加更小的力,插头应易于取出。5. 1. 3 锁定装置寿命试验a)目的这种寿命试验的目的是评价连接器的锁定装置的机械操作次数的极限值。b)试样的预处理准备并适当固定试样,以便锁定装置容易进行寿命试验。连接器不应有不必要的动作。c)试验方法对锁定装置施加力的
24、速率不应超过每分钟20次。应使用正常的方式操作试样,并且按下锁定装置时,应使它与插头的主体相接触;松开锁定装置时,应使它自然回复到原位。可以采用模拟正常操作的机械辅助装置,但要防止产生反常的应力。d)最终测量在完成规定的操作次数后,试样应无明显的疲劳现象,锁定装置上应无裂纹。5. 2 对称电缆布线用连接硬件的传输特性试验方法本条规定了连接硬件传输特性试验的试验参数、试验方法和试验装置的要求。在测量对称电缆布线用连接硬件的衰减、近端串音衰减和回波损耗时应使用扫频测量。采用对数频率间隔,扫频测量所用的频率点数应不少于规定频率范围覆盖的十倍频程数的100倍。5.2.1 适用范围本条适用于标称特性阻抗
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