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SJ T 10837-1996 电子元器件详细规范 3DG131A、3DG131B、3DG131C型高频放大环境额定双极型晶体管（可供认证用）.pdf

上传人：unhappyhay135

文档编号：238259

上传时间：2019-07-13

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1、检验戎试验C5分组侃度快速变化(D)交变温热最后测试同C4分组C6分组恒定加速度最后测试同C4分组C8分组电耐久性最后测试问B8分组Cg分组高温贮存(0)最后测试同C8分组Cll分组标志耐久性CRRL分组试验方法GB 4931的3. 1.1条温度快速变化法)IEC 68-2 30 GB 4937的2.5条GB 4938 GB 4937的3.2条GB 4937的4.2条GB 7151 87 续表条件Tam b = 25C (见总规范的第4条)T. = - 55C TB = 175C t1=lomin 紫t 2 = 2 - 3 rni n 循环次数:5次试验Db严酷度:25 - 55C 6次试验期

2、间试钱样品的状态z非工作状态温热方式:2 恢复条件:在标准大气条件下恢复，应在试验后的4h内泯ij完所有规定的参数度:19600 m/ s 2 加速度轴和方向:X , Y方向，y方向为管脚向内1000 h Ptot = 700mW 民E=15V(A)，只E二20V (B )，民E= 25V CC) 1000h 1 st g = 175 C 按方法2进行C2，C3，C!，C5，C6军口C 9的属性资料，C 8试验前后的测量数据检验要求极F民最小值j最120 标志应保持清晰180 单位十9 H类TPD 20 20 10 15 30 GB 7151 87 -9 D组鉴定批准试验D组期D组电耐久性GB 4938 PtOt =700mW VCE =15V(A) , 民E=20V (B), VCE = 25V (C) 时间s至少3000hCRRL 分组记录。组前后1CBO (1 )和hFE(1)、V CE (时)的测量结果D组试验每年进行一次，仅为了提供资料，不作验收依据，在CRRL分组中记录试验结果。10

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