SJ 50597 59-2003 半导体集成电路.JB523型宽带对数放大器详细规范.pdf

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1、FL 5962 2003-06-04发布共和国SJ 50597/59 2003 、l!BT 器详细规范Semiconductor integrated circuits Detail specification for type JB523 wide-band Logarithmic amplifier 2003斗2-01实施中华人民共和国信息产业部批准/一一一目IJ本规范是GID597A一1996 而三二_2c、Icc 4 3 8 SJ 50597/59-2003 表IJB523电特性条件极限值特性符号除另有规定外，几c=6V, TA=-55C-125C) 最小最大f= 30 MHz h=1

2、25C 20.0 26.0 的=-42 dBm h=25C 22.0 26.0 电压增益Av TA=-55 C 22.0 28.0 f=60任Izh=125C 19.4 26.6 VI二42dBmh=2SC 21.4 26.6 -j-TA=-55C 21.4 28.6 TA=25C、-55C120 上截止频率!H i= -42 dBm TA=125 C 100 TA=55C，25，1251P 15 下截止频率fL .民也、毛.也. 叫=气42dErn哝、htF:?:在岳叫检波电流I凹丰时0叫的付之:与|、，82.4 最大RF输出幅度Vom (IJ5 t. !r;,o, w瓦、42.0结E喝、，

3、时t_，_啕-.-，-.，凡、94，也, 延迟时间声是7r，fMtdkV:气f严J如l 6C)随迁九二白、马。川J1 KJLJ10 w 丘O，i，1、 .,v._., .,_;. 中间老炼前)冶测试沟吁:?223A电kA司-、中间(老炼r后注电测试飞机、Al、A4、最终电测试b 钱.、, 町rJ/ h唱、地、A3.)5、1l.E电hA组试验要求昌i 挝、A2、泊、4，A5、A6C组终点电测试、扑叉劝若、咛旷唱，、气Al、iA4，飞飞r, s / r 认IA4D组终点电测试、，可平飞专+4Jt-vFM、ft.; 吨a 该分组要求PDA计算。，、F俨啊、A 、呐h气吨吭.3, 6 标志器件上应打上

4、下列标志:a) 标志点(见GJB597A-1996中3.6.1); b) 器件编号(见6.2.2);c) 检验批识别代码(见GJB597A-1996中3.6.3)。单位dB h任Izh任IzmA V dB Vrms mA ns 3 SJ 50597/59-2003 表3JB523电测试组符喜dZ 测试方法条件极限值单位分附录A除另有规定外V，=6V) 最小最大-+-A1 lcc A. 1 23.0 38.0 mA h=25C A2 1巳巳A. 1 19.0 38.0 mA h=125C A3 lcc A1 23.0 42.0 mA TA=-55 C A4 Av A2 Vr= -42 dBm f

5、= 30 MHz 22.0 26.0 dB h=25C f=60 MHz 2 1.4 26.6 fH A3 的=-42 dBm 120 b任fzJL A3 15 岛1Hzlrv A5 f=60任Z，V nns= 0.5 V 1.8 2.4 mA Vom(pp) A.6 f=60任fz1.0 V N穿A4 f=60世fz.Rs = 450 Q 5.25 dB 斗VIM A7 1.8 Vnns ID A8 f=601店也6.0 ns A5 Av A2 问j=-42 dBm f=30 MHz 20.0 26.0 dB h =125 C f=60孔1Hz19.4 26.6 fH A3 f= -42 d

6、Bm 100 MHZ /L A3 15 MHZ + -卡A6 Av A2 只j=-42 dBm f=30 MHz 22.0 28.0 dB TA=-55C f=60任Jz21.4 28.6 /H A3 f= -42 dBm 120 h怔fzfL A3 15 MHZ 4 质量保证规定4. 1 检验分类本规范规定的检验分类如下:a) 鉴定检验见4.3); b) 质量一致性检验见4.4)。4.2 筛选在鉴定检验和质量一致性检验之前，全部1I件应按表4的规定进行筛选。4 SJ 50597/59-2003 筛选袤4明说(GJB 548A) BI级器件条件试验条件B2010A 212石磊B筛选项目方法件试

7、验条件c1008A 试验条件CI008A 内部目检(封时)t稳定性烘培求要和条件千可用方法IOIIA试验条件A替代(I50.C, 24 h) 试验条件CIOIOA (150.C, 24hl 试验条件CIOIOA )试一测一由主点一悼一求一环要-循不一度(m沮试验后进行自检，引线断落、外壳破裂、封盖脱落为失效(10次循环)试验条件D200lA 200lA Yl方向.;- -, 产2注271ft;二和主主革敲敲三:W，-:l4喘吁怕在M咽pmi 110%:*规法法1，A4分组，如合格、品率不超过20%时，I AI. A4分组的失效也应计可重新提垠PB入PDA飞只允许-I;.驳议1, , t本筛道后

8、，飞若引线涂镀改变A6分组立毛主i江三-二:这挝i叫!飞01叫Lt布:?吉它jfiq吧:1吨 $ 1吨11，1咀刁，-!AA3川仁忡过TTtJ叫组;iJ:I了KJ粗检漏Uttpfj飞叫试验条件CI叫At我验条件dh外部自检飞7Lzdq以丰按规定们兴仁飞二:J，z号。以1被烧经J31川v, mA 土:4:. mA唁j .,. 、;4条、件v和要F求(G)BS4M) 样品数1，、项目气B级器件。B1级器件(接收敛说明或LTPD方法条乒f牛，, 方法条件f D!分组、介,! 1 S 二、. I ，.，伽护俨), 手_，.，.lJ.按规定J J、2016飞.吨叶，华. r 、. 尺寸2016 按规定

9、飞、严-岭A飞可，、，!: 、d 孔P 寸D2分组仲6冒y飞.JT d 川又10 I LTPD系对引线致而 飞V试验条f平B2言，应至少抽取3个器|引线牢固性2004A 试验条件B2I 2004J 密封1014A !014A f中细检漏试验条件Al试验条件A1粗检漏试验条件C1试验条件C1 3 J 二月7表总草药弄点制IJ试(h250C)J i泸3 主告卡帕只儿，.飞AJC叩注trn-f 亏M 4.4.4 D组检验、j1飞芝、二气丁;只飞;毛主ft43ur:1kji ;二D组检验应按表哥的规定ayq)矿、心川吃1hzf21工手D7分组可用阿兰检验批中电性能不注祀的器件作为样本baiyby 7

10、SJ 50597/59-2003 表9(续)条件和要求(GJB548A) 样品数f项目B级器件B1级器件(接收数)说明方法条件方法条件或LTPDD3分组15 热冲击1011A 试验条件B.1011A 试验条件A.15次循环15次循环温度循环1010A 试验条件C101 0A 试验条件C(100次循环)(100次循环耐湿1004A 按规定1004A 按规定目检按方法1010A和技方法1010A和lO04A日检判据14A目检判据密封101 4A 1014A 细检漏试验条件A1试验条件A1相检漏试验条件C1试验条件Cl终点电测试本规范A1.A4分组本规范A1.A4分组D4分组15 用于D3分组的样品

11、可机械冲击2002A 试验条件B2002A 试验条件B用在D4分组扫频振动2007 试验条件A2007 试验条件A恒定加速度2C口lA试验条件E.2001A 试验条件D.Yl方向YI方向密封1014A 1014A 细检漏试验条件Al试验条件Al粗检漏试验条件Cl试验条件CI日检技方法1010A目检技方法10l0A日检判据判据终点电测试本规范Al.A4分组本规范A!.A4分组D5分组适用时15 Bl级可在订货合同上盐雾l009A 试验条件A要求日检技方法1009A日检判据密封1014A 细检漏试验条件Al粗检漏试验条件C1D6分J:l3/(0)或当试验3个器件出现1内部水汽含量1018 100C

12、时最大5叫1)个失效时，可加试2个水汽含量为器件并且不失效.若第5000 X 106 一次试验未通过，可在鉴定机构认可的另一试验室进行第二次试验，若试验通过，则该批被接收。D7分组15 号l线涂覆202SA 按规定2025 按规定LTPD系对引线数而言粘附强度8 SJ 50597/59一20034.5检验方法检验方法应符合相应表格的规定，本规范绘出的或GJB548A-1996涉及的试验方法和试验线路均可使用，其它的试验线路应由鉴定机构批准。4.5.1 电压和电流所有给出的电压均以器件GND端为基准:给定的电流以流入引出端为正。4.5.2 老炼和寿命试验冷却程序器件进行工作寿命或老炼试验后，应先

13、将器件冷却至室温才能去除偏置，然后边行25C下测量。交货准备5 5. 1 包装要求包装要求应按GJB597A-1996中5，1的规:o说明事项6 6. 1 预定用途符合本规范要求的器件预定用于军事部门。6.2分类J 仁川-; -、罗、i6. 2. 1 器件编号JJ二r13心户MWdV州如二YJdJrde、电W2td气?2伊飞气热Y气也器件编号应符合GJB597A-9i)6，(半导体集成电路总规范中3.6:2袅的规:二6.2.2 器件型号r r/ JJ t 器件型号如下:/6也F 严守uid41 名二A号王称一、f件fl川云空Ji;二三费宽带对数放大器刊在乌二二局3千F JA仆。去6叫1., 、

14、与咱当飞6.2.3 器件等级frig 立?;二气了?it山川:11:毛二器件等级应为GJB597A9:ij-i、古4，规定的a线和B1级。引二三; 二二、川- 飞俨川气，川队(VVJC总，-_._._ 飞飞6.3 订购文件应汩确的内容- ,_: _ X )-，J，: 1; 7川机川气才子:v川:伊1号。劣订购文件应娩宠下列内容仁;二:71;写川v a) 本规范的编号了看称。、)飞nb叫Jif尘4飞;红三:1、4 子b) 完整的器件型号:(鬼飞掉头JJJ;Juur 飞Jttr二三叹15! 。)需要时，对器件制造打提供与所交付器件相应的检验批质量一致性检验数据的要求。d) 需要时对合格证书的要求o

15、fvf e) 需要时对产品或工艺的更改通知采购单位的要求。/ J亨-.)_, f) 需要时，对失效分析(包括GJB54SA:199R方法5003要求的试验条件、纠正措施和结果提供报告的要求。Jj 伫ih7:号?三号飞Jj 飞a沪、。对产品保证选择的要求。川i , y小需要时，对特殊载体、引线氏度或引线形式的要求。岛对认证标志的要求。包装和包装箱的要求。需要时的其他要求.术语和定义GJB 597A-1996确立的术语和定义运用于本规范。卢咱-型扩号件器1、，-. ，、可是JB523 $ ) ，。.口-a，.，JLMR6.4 9 SJ 50597/59-2003 、附录A(规范性附录)电参数测试方

16、法电源、电流IccA. 1 A. 1. 1 目的器件在电源电压6V时所消耗的总电流。A. 1. 2 测试原理Vcc6 V 1所示。工o1 lk 0.1 工Vo 。13 4 2 DUT 6 7 V, 斗。1F 电fi器误差小子或等于:!:10%，电容器误差小于或等于土10%。应采用性能良好的稳压电源，其误差小子或等于土10% 测试电路图B 图A.l5 A. 1. 3 ;lJ试条件F气二c=6V, TA=-SSC , 2SC , 12SC. A. 1. 4 测试程序a) 按图A.l连接好系统，电源输入端串接数字万用表:b) 插入被插件，加上电源电压:c) 数字万用表的显示值町l为电源电流。电压培益

17、AvA.2 A. 2. 1 目的器件输出电压与输入电压的比值。A. 2. 2 IJ试原理测试原理如图A.l所示nA.2.3 测试条件Vcc=6 V, T.久=-SSC，2SC , 12SC , f=30 MHz、60MHz，只i42dBm。A.2.4 测试程序a) 按图A.l连续好系统，校正网络分析仪，设置测试条件，输入、输出端分接网络分析仪的输出、输入端:插上被测器件，加上电源也压.网络分析仪的显示值即为器件的电压增益。b) c) n l 俨SJ 50597/59-2003 上截止频率元，下截止频率JLA.3 A. 3. 1 目的器件在直流增益下降3dB对应的输入信号频率范围。A.3.2测试

18、原理测试原理如图AI所示。A.3.3测试条件Vcc=6 V.几=-55C.25C. 125C. vr =-42 dBm A.3.4测试程序a) 按图A.l连接好系统，校正网络分析仪，设置测试条件，输入、输出端分别接网络分析仪的输出、输入端:插上被测器件，加上电源电压:测出f=60MHz的电压增益:从60MHz增益下降3dB所对应的频率.NP为上截止频率与下截止频率。VF 叫山认、业、式与民矿、ULj专业 勺旷J渤dV LA?:毛、句在气JFUuF F二协A. 4. 1 目的。矶V飞AfFMOVALtj吨沟KAJmt、主系数是器件输Ai击时语族/沪.飞t.4.2测试原理yyya 、测试原理如图A

19、.1所示飞卢.旷f二丰川矿W川F卢汗川勒飞!气仆、立立川气叮伫?归?斗士;f:芝?汁衷?土:穴、气;汉命飞丸二;迟辽f泣二A.4目3i9!测IJ试条f俘守Ph毛cc=斗6V.J户=60阳阳t二扩主T非云淤4立妇扮5，吃tb主沂rR二4剧5到盯-引沁a沁三拮3盯乌趴二A. 4.4 丑泪测删IJ肘IB试武程t炜苦二飞如:拴b3怡v号;二:叫:;二牛气儿a) 按图hiiE接好系统i放眼睛数阳仪，设置测试条件:喝采输出端分别按每声系数仪的输出勒入端:!专J慧芳叫:吃袭制啦!哈叹:、3 ydd FEj&出t唤占24吨乒二、斗加上电源电EEJJd心?!三字啦!i:飞333飞13J八:;JJ立即为噪声系数汇

20、气衍芬兰么二仁:YCJ丁三:冬之二二、三三飞j?千三号:三f 汲器，屹号主输币dtW俨到电源端，则检波电ii在电阻器1kQ士的压阵即为检波电流值。，A.5，2测试原理v;公、测试原理如图A1所示。、仇扩忍Y川飞JJJJ三J ，吹民飞飞;U A.5，3测试条件JL4 Cc= 6 V, T_,=25C , f= 60 MHz. ，气im=05VA.5.4测试程序a) 插上被测件接通电源;b) 数字万用表的读数即为检波电流1，.，0) bcd 噪声系事A.4 b) c) .5 最大RF输出幅度Vom.电A. 6. 1 目的最大RF输出电压是指器件限脑时的最大输入信号，取峰峰值。11 SJ 50597

21、/59-2003 A.6.2 测试原理测试原理如图A.l所示。A.6.3测试条件Vcc=6V, TA=25C , f=60MHz A.6.4 a) b) c) 插上被测件接通电ifOC;调节输入信号，使RF输出为最大:用示波器测出此时输出信号峰峰值。A.7 最大未过载输入信号Y剧A. 7. 1 日的最大未过我输入信号VIM是指输入晶体管B-C结发生正偏时的输入信号电压。A.7.2 测试原理测试原理如图A.l所示。A.7.3 jV!rj试条件Vcc=6 V, TA25C A.7.4 测试程序a) 插上被测件接通电源:b) 测出输入晶体管的基极电位，即为最大未过我输入信号。A.8 延迟时间tDA.

22、 8. 1 目的延迟时间tD是指电路的输入信号的波峰与输出信号的波峰或输入信号的波谷与输出信号的汲谷之间的时间差，A.8.2 测试原理测试原理如图A.l所示。A.8.3 测试条件Y6 V，几25C，f= 60 MHzo A.8.4 测试程序a) 插上被测件接通电源:b) 调节输入信号，使RF输出波形不失真:。)用示波器同时测出输入信号的波峰与输出信号的波峰或输入信号的波谷与输出信号的波谷之间的时间差。即为被测件的延迟时间tDo12 的。Nllmmhomomm中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路JB523型宽常对数放大器详细规范SJ 50597/59-2003 * 版刷行出印发中国电子技术标准化研究所中国电子技术标准化研究所中国电子技术标准化研究所电话，(010) 84029065 传真，(010) 64007812 地址s北京市安定门东大街l号邮编，100007 网址:WW.ceS * 字数，30千字15 印张z一16 2003年11月第一次印刷1/16 开本，880 X 1230 2003年11月第-版版权专有不得翻印举报电话:(010) 64007804 L