SJ 50597 54-2002 半导体集成电路JW431精密可调电压基准源详细规范.pdf

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1、共和FL 5962 SJ 50597/54 2002 JW431精密可调电压基准源iSemiconductor integrated circuits Detail specification for JW431 prefision adjustable voltage reference 2002-01-31发布2002-05-01实施中华人民共和国信息产业部批寸目次范围. 1 1.1 主题内容.11.2 适用范围1.3 分类.1.4 绝对忽大额定值. l 1.5 推荐工作条件.2 1.6 功率和热特性.2 2 引用文件. 2 3 要求.2 3.1 详细要求.川.川.23.2 设计结构和外形

2、尺寸.3 3.3 引线材料和涂覆.3 3.4 电特性川.33.5 电试验要求.4 3.6 标志.8 4 质量保证规定.8 4.1 抽样和检验.8 4.2 筛选.84.3 鉴定检验.10 4.4 质量一致性检验.10 4.5 检验方法. 14 5 交货准备. 14 5.1 包装要求.-. 14 6 说明事项. 14 6.1 预定用途. 14 6.2 订货文件内容. . 14 6.3 缩写词、符号和定义.15 6.4 替代性.15 中华人民共和国电子行业用标准半导体集成电路JW431精密可调详细SJ 50597/54-2002 Semlconductor Integrated clrcults D

3、etall Ipeclficatlon for JW431 adjustable precuion voltage I由rence1 范图1. 1 主题内容本规范规定了硅单片集成电路JW431精密可调电压基准源(以下简称器件的详细要求.1. 2 适用范围本规范适用于器件的研制、生产采购.1. 3 分类本规范给出的器件按器件型号、器件等级、封装形式分类.1. 3. 1 器件编号器件编号应按GJB597A-96 (半导体集成电路总规范第3.6.2条的规定.1.3. 1. 1 黯件型号器件型号如下:黯1.3. 1. 2 器件等级件型lW4Jl 号黯件名称稠密可谓电压基准源器件等级为GJB597A第3

4、.4条所规定的产品保证等级中的B级和Bl级.1. 3. 1. 3 封装形式封装形式按G7581-85 (半导体分立器件外形尺寸3和GB厅7092-93(半导体集成电路外形尺寸.封装形式如下:封装型式外形代号A AJ-02A A AJ-02B 108S2 1. 4 绝对最大额定值绝对摄大额定值如下z中华人民共和国信息产业部却02-01-31发布2002-05-01实施阴极一阳极电压，Vf25.C.t主8.4mVIC线性降额.1. 5 推荐工作条件推荐工作条件如下2阴极一阳极电压，VfVREF 测试电黯4 VIA 7 截止电流测试电路5 一一节二A 注z测试时间1=20ns. SJ 50597/5

5、4-2002 100F + +1队1E 自K10.01F 100n 15.4K 凡的测量设定在低频段或0.1Hz.并依据放大器OP-07的不同放大量而测得.6 ift频眼声测试电路3.6 标志器件标志应按Gffi597A第3.6条的规定-4 质量保证规定4. 1 抽样和检验Vo 除本规范另有规定外，抽样和检验程序应按GJB597A和GJB548A方法5005A的规定-4.2 筛选筛边应按Gffi548A方法5004A和本规范表4的规定，并应在鉴定检验和质量一致性检验之前对全部器件进行.表4筛选若无其它规定，表中引用的试验方法指GJB548A. 条件和要求JJli 目B级器件方法条件方法内部目检

6、2010A 试验条件B20lOA (封装前)稳定性烘培1008A 试验条件C1008A 不要求终点电(ISOC. 24h) 测试温度循环10lOA 试验条件C10lOA 循环10次恒定加速度200lA 试验条件E.200lA YI方向s 81级器件说明条件试验条件B试验条件C(ISOC.24h) 试验条件C循环10次试验条件D.Yl方向SJ 50597/54-2002 袋4(续若无其它规定，表中引用的试验方法指GJB548A. 条件和要求项目B级黯件B1级嚣件方法条件方法条件目检初始老炼前本规范A1分组本规范A1分组电测试老炼101SA 试验条件C101SA 试验条件C(l2S.C. 160h

7、) (l2S.C. 160h) 中间老炼后)本规范A1分组本规范A1分组电测试允许不合格品率5%，本规范A1分组，当10%.本规范A1分组.当(PDA)计算不合格品率未超过20%时，不合格品率未超过20%时，可重新提交老炼，但只许-可重新提交老炼，但只许一次.次.最终电测试本规范A2，A3 , A4、AS，本规范A2，A3 , A4 , AS、A6分组A6分组密封IOl4A 试验条件z1014 试验条件细检漏A1或A2A1或A2粗检漏C1或C2C1或C2外部目检2009A 第3.1条2009A 第3.14民鉴定和质量一致SOOSA 第3.S条SOOSA 第3.S条性检验的试验样品抽取说明可在密

8、封试验后进行.引线断落，外壳破裂，封壳脱落为失效.自承制方决定是否进行本筛选.采用本规范图7线路.不进行反偏老炼.若老炼前未进行中间电测试，则老炼后电测试A1分组的失效也应计入PDA. 本项筛选后.若改变器件引线涂覆或返工，则应再进行A1分组测试可在装运前技批进行.9 SJ 50597/54-2002 R1 K D.U.T 用A Vcc 注2R严21.Sl社1%.0.250 W, R，-1.7811土1%.0.250 W, R，-1.2711士1%.0.250 W，均为金属膜电阻.Vcc叫ojv. 图7老炼和寿命试验线路4.3鉴定检验鉴定检验应按GJB597A第4.4条的规定，所进行的检验应符

9、合GJB548A方法5005A和本规范A、B、C和D组检验(见本规范第4.4.1至第4.4.4条)的规定.4.4质量致性检验质量一致性检验应按GJB597A第4.5条的规定.所进行的检验应符合GJB548A方法5005A和本规范A、B、C和D组检验见本规范第4.4.1至第4.4.4条)的规定.4.4. 1 A组检验A组检验应按本规范表5的规定.电试验要求按本规范表2的规定.各分组的电测试按本规范表3的规定.各分组的测试可用同一个样本进行.当所要求的样本大小超过批的大小时，允许100%检验。各分组的测试可按任意顺序进行.合格判定数(c)最大为2.表5A组检验试验LTPD A1分组250C下静态测

10、试2 A2分组1250C下静态测试3 A3分组-550C下静态测试5 A4分组250C下动态试验2 A5分组1250C下动态试验3 A6分组5 -550C下动态试验4. 4. 2 B组检验B组检验应按本规范表6的规定。Bl-B5分组可用同一检验批中的电性能不合格的器件为样本.10 SJ 50597/54-2002 表6日组栓验若无其它规定.表中引用的方法指GJBS48A. 余件和要求样品数/试险B级揭件81级窑件(接收数)说明方法条件方法条件成LTPD81分组21(0) 尺寸2016 技规寇2016 按规定82分组3/(0) 抗部剂性2015A 按规定2015A斗按规定83分组15 LTPD仅

11、对引线数而可焊性2003A 焊接温度g2003A 焊接温度z言，至少应选3个嚣245士5.C245士击。c件.84分组1/(0) 内部目检和2014 按规定2014 按规定机械性能+ 85分组10 LTPD仅对键合拉力试键合强度20llA 试验条件D20llA 试验条件D验数而言，至少应选4超声焊个嚣件.4.4.3 C组检验C组检验应按本规范表7的规定.表7C组俭验若无其它规定，表中引用的试验方法指GJBS48A. 条件和要求样品数/项日B级器件81级器件(接收数说明方法条件方法条件或LTPDCI分组5 采用本规范图3线路初始电测试本规范AI分组本规范AI分组稳态寿命试验1005A 试验条件C

12、1005A 试验条件C(l250C. 1 000 h) (1250C. 1000h) 终点电测试本规范AI分组本规范AI分组和和表B的A极限表8的A极限11 SJ 50597/54-2002 褒7(续)若无其它规定，表中引用的方法指GJB548A. 条件和要求项目B级革量件BI级器件方法条件方法靠件C2分组初始电测试本规范AI分组本规范AI分组温度循环10lOA 试验条件C10lOA 试验条件C循环10次循环10次恒定加速度200lA 试验条件E200lA 试验条件EYI方向YI方向密封1014A 试验条件g101 4A 试验条件z细检漏AI或A2AI或A2粗检泊CI或C2CI或C2目检按方法

13、10lOA的按方法1010A的目检1IJ据目检判据终点电测试本规范AI分组本规范AI分组和和表8的A极限表8的A极限表8终点电测试(TA=250C)样品数/(接收数或LTPD15 A极限规范值特性符号l:小值最大值基准电压VF 士0.015V 2.44 2.55 基准电流I.F 土1.0A-0.1 3.0 注，1)6极限适用于测量值见Gffi597A中的A极限定义).4.4.4 0组检验D纽检验应按本规范表9的规定.说DI. D2. D5、D6和D7分组，可用同一检验批中电性能不合格的器件作为样本.12 明单位V A SJ 50597/54-2002 袋9D组检验若无其它规定，表中引用的试验方

14、法指GffiS48A. 条件和要求样品数/试验B怨嚣件81 m器件(接收数说明方法条件方法条件成LTPO01分组15 尺寸2016 按规定2016 按规定02分组15 LTPO仅对引线数而引线牢固性2004A 试验条件A2004A 试验条件A言，至少应选取3个密封1014A 试验条件g1014A 试验每件，黯件细检渴AI或A2AI或A2粗检漏CI成C2CI成C2D3分组15 热冲击10llA 试验条件B10llA 试验条件A15次循环15次循环温度循环10lOA 试验条件C10lOA 试验条件C循环100次循环100次耐湿1004A 按规定1004A 按规定密封101 4A 试验条件z101

15、4A 试验条件，细检澜AI戚A2AI成A2粗检漏CI威C2CI成C2目位技方法1004A和技方法14A和10lOA的目位判据10lOA的目检判据终点电测试 本规范AI分组本规范AI分组04分组15 用于03分组的样品机械洲击2002A 试验条件B2002A 试验条件B可用在04分组扫频振动2007 试验条件A2007 试验条件A恒定加速度200lA 试验条件E200lA 试验条件EYI方向YI方向密封1014A 试验条件g1014A 试验条件g细检漏AI或A2AI或A2粗检漏CI或C2CI或C2目捡技方法2002A和技方法2002A和2007的目检判据2007的目检判据终点电测试本规范AI分组

16、本规范AI分组m分组15 81级黯件可在订货盐雾1009A 试验条件A合同上要求雷封1014A 试验条件z细检漏AI或A2适用时粗检漏CI或C2目检技方法IOO9A的目检判据Il SJ 50597/54-2002 亵9(续若无其它规定.表中引用的方法指GJBS48A. 条件和要求样品数/试验B级器件B1级嚣件(接收数说明方法条件方法条件或LTPO06分组3/(0) 当被测3个黯件出现内部水汽含量1018 100 .C时是大水汽不要求成1个失效时，可如试含量为I5000 ppm (1) 两个嚣件试险，并且不失效.若第一次实验未通过时，可在鉴定机构认町的另-试验室进行第二次试验，若试验通过.J!

17、该批应被接收.07分组15 引线徐覆2025 按规定202M 按规定LTPO系对引线数而粘附强度言.B8分组51(0) 封盖扭矩2024 J型按规定2024 J型按规定A形不适用A形不适用4.5检验方法检验和试验方法应符合本规范的规定.4.5.1 电压和电流所有给定的电压均以外部电源电压零点为基准:给出的电流以流入器件引出端为正。4.5.2 老炼和寿命试验冷却程序器件进行工作寿命或老炼试验后，应先将密件冷却至室温，才能去除偏置，然后进行2S.C测量.5 交货准备5. 1 包装要求包装要求应按GJB597A第5.1条的规定.6 说明事项6. 1 预定用途符合本规范的半导体集成电路供新设备用和供现

18、有设备的后勤保陪用-6.2 订货文件内容订货合同规定下列内容z8. 完整的器件编号(见本规范1.3.1条);b. 需要时，对稳件制造厂提供与所交付的器件相应的检验批质量一致性数据的要求:C. 需要时，对合格证书的要求:d. 需要时，对新产品或工艺更改通知采购单位的要求:14 L SJ 50597/54-2002 e. 需要时.对失效分析包括GID548A方法5003要求的试验条件、纠正措施和结果提供报告的要求gf. 对产品保证选择的要求g1. 需要时，对特殊载体引线长度或引线形状的要求，这些要求应不影响器件编号，h. 包装和包装箱的要求gi. 需要时，其他要求.6.3 缩写词、符号和定义本规范

19、所有的缩写词、符号和定义按GB3431.2、SJ厅10734和GJB597A的规定-6.4 替代性本规范规定的器件其功能可替代普通工业用器件.普通工业用楼件在军用温度范围内不具有与军用器件等效的特性和性能，因此不允许用普通工业用器件替代军用嚣件.附加说明g本规范由中华人民共和国信息产业部提出.本规范由信息产业部电子第四研究所归口.本规范由北京市半导体器件五厂负责起草.本规范主要起草人g张宝华、沈琪、蔡光宏.计划项目代号:B 91005. 15 中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路JW431精密可调电压基;佳源详细规范SJ 50597/54一-2002事中国电于技术标准化研究所出版中国电子技术标准化研究所印刷中国电子技术标准化研究所发行电话(010) 84029065 传真，(010) 64007812 地址北京市支定门东大街1号邮编，1007 网址:阳wcesi, 开本880X1230 1116印张1土字数，34千字16 2002年4月第一版2002年4月第一次印刷权专有不得翻印举报电话:(010) 64007804 NOON-曾因homom-d