SJ 50597 50-1997 半导体集成电路.JT54F74型FTTL双上升沿D触发器详细规范.pdf

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1、B.J 中华人民共和国电子行业军用标准FL 5962 SJ 50597/5097 半导体集成电路JT54F74型FTTL双上升沿D触发器详细规范Semiconductor integrated cicuits Detail specification for type JT54F7 4 FTTL dual D positive edge-triggered flip“ flops 1997-06-17发布1997翩10心1实施中华人民共和国电子工业部批准中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路JT54F74到FL双上升沿D触发器详细规范SJ 50597/5097 Semiconductor

2、 integrated circuits Detail specification for type JT54F7 4 FTTL dual D positive edge唰triggeredflip-flops 1 范围1. 1 虫题内容本规范规定了半导体集成电路JT54F74那盯TL双上升沿D触发器（以下简称器件）的详细要求。1.2 适用范围本规范适用于器件的研制、生产和采购。1.3 分类本规范始出的器件按器件等级和封提形式分类。1. 3. 1 器件编号器件编号应按GJB597A（半导体集成电路总规范3.6.2的规定。1.3.1.1 器件等级器件等级应为GJB597中3.4规定的B级和Bl级

3、。1.3.1.2 封族形式封装形式应按GB丁7092（半导休集成电路外形尺寸的规定。封装形式如下：封坡形式外形代号D mM D一盯一阳F-H 14臼c C20F3 1.4 绝对最大制定值中华人民共和国电子工业部19976-17发布1997“10-01实施SJ 50597 /50 “- 97 绝对最大概定假如下：数值项自符号最小最大电糠电压Vee 0.5 7.0 输入电压Vi 1.21) 7.0 功耗Po 一88 贮存温度Tstg 65 150 蜡温T; 一175 引线耐焊接由度(10s)Th 300 战；l)I, Z由18mA1.5 推荐工作条件推荐工作条件如下：散值项目符号最小最大电糠电压V

4、ee 4.5 5.5 输入高电-if电压VIH 2.0 输入低电平电压Vn, 0.8 时钟商电平4.0 一时钟低电-if6.0 脉冲宽度tw 预最4.0 一情零D(H) CP 3.0 建立时间t., 。（L）斗CP4.0 一。（H）CP保持时间t问2.0 一D(L）叫CP恢复时间So CP t re 97我1电特性条件规施值t在特性符号若无其他规定，由55）A125最小最大位Ycc=4.5V, V1L =0.8V 输出高电平电压V棚2.5 一v V1tt= 2.0V, OH叩1.0mAVcc=4.5V, VIL =0.8V 输出低电lf-电压VOH 一0.5 v Y1tt=2.0V, I倒20

5、mA输入钳位电压V1K Vcc=4.5V, I,= 18mA 一币1.2v Tc=25 v，口2.7VVee 5.5V 20 输入高电平电流VIH A V1=7.0V Ve5.5V 100 V出5.5VD,CP为测试端一0.3-0.6 输入低电平电流In, rnA Vu. =0.5V Ro. So为测试端叩0.9叩1.8 电惊电流Ice Vee= 5 5V, V11. =OV 一16 rnA 输出短路电流I)/C1:l Ycc=5.5V, V0=0V 时60叩150rnA 输出驱动电流loo Vee口4.SV,V1拮5.SV,V0=2.5V 60 一rnA 最高工作频率!mu. 80 一MHz

6、 tp1.H 3.8 8.5 CP Q ns tPHI. Vcc=5.0V 3.8 10.5 tp1.H C1. =50pF土10%3.8 8.5 CP Q ns f PHL 3.8 10.5 So什Qtp1.H Ycc=5.0V Ro Q 3.2 8.0 传输延迟时间C1. =50pF土10%CP接2.7VSo Q IPHL 3.2 11. 5 Ro叶Qns 比Qtp1.H Ycc=5.0V 3.2 8.0 Rn Q C1.扭50pF士10%CP接ov岛QlPHL 3.2 11. 5 Ro叫Q注：1）悔改只能个输出端短路。3.5 电试验要求器件的电试验要求应为本规范表2所规定的有关分组，各个

7、分组的电测试按本规范表3的规定。 5 时50597/5097表2电试验要求分组（见表3)项目8级器件Bl级器件中问（老炼前）电测试Al Al 中间（者炼脂）电测试A11 Alu 最终电测试A2、A3、A7、A9A2、A3、A7、A9A组检勘电测试Al、A2、A3、A7、AS、Al、A2、A3、A9、AlO、AllA7、AS、A9C组终点电测试Al,A2、A3Al、A2、A3C细检验增加的电测试分组一AlO、All。组终点电削试Al、A2、A3Al,A2、A3tt :1）该分组要求PDA计算（见本规部4.3）。表3电测试引用标准条件规市值且在分组符号（若无其他规定，TA出25GB 3439 最小

8、最大位Ycc=4.5V, Iott 甲l.OmAV份42.2 Y11.=0.8V, Ym=2.0V 2.5 一v 一一一Vee= 4.5V, loL 20mA Yo1. 2.5 Yu.= 0.8V I1H= 2.0V 0.5 v 一Y1K 2.1 Yee=4.5V, I, Z叩18mA 由1.2v Vee 5.SV, Y1口2.7V 20 Al Ym 2.12 A Ycc=5.5V, V !=7.0V 一100 Ycc=5.5V 。，CP为测试端-0.3 由0.6I u. 2.13 mA Yu.=0.5V Rn, Sn测试端-0.9 1.80 lee .:.25 Yec=5.5V, Y11.=

9、0V 一16 mA Ios 2.21 Yee 5.5V, Yo=OV 时60叫150mA Ion 2.22 Ycc=4.5V, Y1=5.5V, Y0=2.5V 60 一mA A2 TA= 125除Y1K不测外，其作参数、条件、规ill值间表loA3 TA黑白55除Y1K不由1外，其余参数、条件、规施值问我loA7 先在Yn：目4.SV，后在Yce=5.5V下分别进行功能测试。功能测试按本规程3.2.2。TA 125 先在V4.SV，后tVe口5.SV下分别进行功能测试，功能测试撩本规A8 TA Z咄55施3.2.2o 6 创50597/50时97续费3引用标准条件规施值分组符号GB 3439

10、 （若无其他规定，TA=25单位最小最大f mu. 3.10 100 MHz tpun 3.4 Vee且5.0V3.8 6.8 CP Q ns tpHLJ 3.5 C1. =50pF土10%4.4 8.0 、tp1.ff2 3.4 瓦、句撞2,7V 3.8 6.8 （见固的CP Q ns tpff(.2 3.5 4.4 8.0 Vee= S.OV 口tpoo 3.4 3.2 6.1 A9 CL出50pF土10%议。Qns CP接2.7VSo叫Qlpfft.3 3.5 （见回3)3.5 9.0 Ro斗Qlp1114 3.4 Vee= S.OV So叫Q3.2 6.1 Ct.= 50pF立10%R

11、o Q ns CP接OVSo叫QtPHIA 3.5 （见罔3)Ro Q 3.5 9.0 AlO TA= 125，所有开关参数，条件问A9分组，规范值按表1。All TA叩55，所有开关彝数、条件问A9分姐，规范值按费loVee SY 个2.7Vn.u.T Vo R CL 图2开关测试原理图按：R=499土l0%;C1产50pF士10%（包描探头电容与央具电容）7一p Q 0 SJ 50597/50-97 SD RD输入、5V;_if Qi Q输出lFHl. 3 f Pl-Ol. 4 因3拥戴和精零开关时间测试波形图twz tsucH tpLJi:! tPHL! tp1哑2罔4开关时间被形测试图

12、由：f1 =to 2. Snso 输入情号特性：f!;.(1提l为摇液，q= 50士10%。 当测出Jmax时，输出频率应为输入频率的一半。8一1:5V 3.0飞ov 3.0V ov 3.6 标志标志应按GJB597A3.6的规定。4 质量保证规定4. 1 抽样和检验SJ 50597/50幽幽97除本规殖另有规定外，抽样和检验稳序应按GJB597A和GJB548A方法5005A的规定。鉴定和质量一致性栓验中，承制方可采用GJB597A附录C结构相似性程序，假糯经鉴定机构批准。4.2 筛选在鉴定检验和质最一致性检脸之前，全部器件应按GJB548A方法5004A和本规范表4的规定进行筛选。表4筛选

13、若无其他规定，表中采用的方法系指GJB548A的试验方法。条件和要求筛选明白日级器件Bl级器件说明方法条件方法条件内部目幢（封装前）2010A 试验条件82010A 试验条件B稳定性烘熔试瞌条件C情验条件C（不要求终点1008A 撒度：1501008A 氓度：150电测试）时间：24h时间24h可用方法lOllA试由度循环lOlOA 试验条件ClOlOA 试验条件C验条件A替代。试脸条件E试验条件D试磁后进行自幢，假定加速度2001A 2001A 引钱断地外壳破Yl方向Yl方向裂，封盖脱落为失效。中间（者炼前）本规程Al本规范Al电承制方选择是否电测试分组分组进行。试验条件D试验条件D按本规范

14、围6电路老炼1015A 温度：1251015A 蹦度：125或等效电路。时间：160h时间：160h中间（老炼后）本规拖Al本规范Al电测试分组分组5%，本规范10%，本规若老炼前来进行中允许不合格Al分组，当？自Al分组间电测试，则老炼品率（PDA)不合格品率当不合格晶后中问电测试Al分及其计算超过20%时Z挥越过20%组的失娘数也应计 9 SJ 50597/50叫97续表4条件和要求筛选项目B银器件Bl银器件说明方法条件方法条件可重新提交时，可熏新入PDA内。者炼，扭只提交老炼，允许一次。但只允许最终电测试本规榄A2本规市A2本项筛选后，若改变A3,A7,A9分组A3,A7,A9分组器件的

15、引铺镀榆或者返工，则服再进行Al分组测试。i!封1014A 试验条件：1014A 试验条件：细检漏Al或A2方法Al或A2，了法粗检捕Cl方法Cl方法外部目检2009A 2009A 可在发货前按批进行鉴定或质量一致性检验试验SOOS A 3.5 SOOS A 3.5 样品的选取R3 SD lQ R1 ？十。R1 , . 幽幽RD 2Q R1 . 2CP lRD 因6老炼和寿命试验电路阁一10一SJ 50597/5097 注：输入倍号特性：f A= lOOkHz土50%,fR = SOkHz土50%，占空比q口50立15%m=2.0S.5V, V11, =O.S o.sv R1 =2400士5%

16、,R2=510立5%R3=1k0士5%V和R4值的选择应使老炼器件V端至少为5.SV4.3 鉴定检验鉴定检验成按GJB597A.中4.4的规定。所进行的检验应符合GJB548A方法5005A和本规市A、B、C、和D组检验（见本规范4.4.14.4.4）的规定。静电就电敏感度（ESDS）等级鉴定应在筛选之前按GJB597A中3.4.1.4规定进行。4.4 质量一致性检验质量致性检验应按GJB597A中4.5的规定和本规范的规定。所进行的检验应按GJB548A方法5005A和本规范A,B、C和D组检验（见本规班4.4.14.4.4）的规定。4.4. 1 A组检验A组检验要求按本规班表5的规定。电试

17、验要求应按本规施表2的规定，各分组的电测试按本规范表3的规定。各分组的测试可用间一个样本进行。当所要求的样本大小超过批的大小时，允许100%检验。各分组测试可t曾任意顺序进行。合格判定数（C）最大为2o表5A组检验LTPD 试验日银器件Bl银器件Al分组25下静态测试2 2 A2分组125下静恋削试3 3 A3分组”55下静态测试5 5 A7分组25下功能测试2 2 AS分组125下功能测试5 5 叫55下功能测试A9分组25下开关测试2 2 AlO分组125下开关测试3 All分组明55下开关制试5 4.4.2 日细检，验日组检验应按本规施表6的规定。BlBS分组可用向一检验批中电性能不合格

18、的器件作为样本。一11一时50597阴阳97表6B细检验若无其他规定，表中采用的试验方法系指GJB548A的试验方法。条件和要求样品数试验B银器件Bl银器件（接收数）说明方法条件方法条仲或LTPDBl分组尺寸2016 按规定2016 按规定2/(0) 82分扭耐溶剂性2015A 按规定2015A 按规定4/(0) B3分组2022A 2022A LTPD系对引线数可焊性就焊料翻度：或焊料温度：15 而言，烹少应选2003A 245土52003A 245土5取3个器件。B4分组内部自检和2014 按规定2014 按规定1/(0) 机械检查BS分组可在封辑工序前锦合强度2014A 试验条件：201

19、4A 试验条件：的内部因幢筛选朋芦焊C或DC或D10 后，随机抽取样品进行本分组试揄。4.4.3 C组拉验C组检验应按本规施表7的规定。表7C组检验若无其他规定，表中采用的试验方法系指GJB548A的试验方法。品件和要求样品数试验日银器件Bl银器件（接收数）说明1i 盖条件方法条件或LTPDCl分组稳态寿命1005A 试验条件D1005A 试瞌条件。5 来用本规125，lOOOh 125，lOOOh 抱回6的终点电测试本规拖Al、A2本规范川、A2电路。和A3分组和A3分组（见本规市亵2（见本规施表2和表3)和费3)C2分组翻度循环1010A 试验条件C1010A 试验条件C15 假定加速度2

20、001A 试验条件E2001A 试验条件DYl方向Yl方向4密封1014A 试验条件：1014A 试膛条件：细幢漏Al或A2方法Al或A2方法 12 创50597150-97续表7条件和要求样品数试揄B银器件Bl缎带件（接收数）说明方法条件方法条件或LTPD粗检漏Cl方法Cl方法目揄按1r法1010A按方法1010A的自检判描的目检判据终点电测试本规范Al、A2本规范Al、A2和A3分组（见和A3分组（见本规榄袋2和本规范表2和寰的我3)C3分组本规范AlO分125下开不要求组（见本规施3 关棚试费2和表3)C4分组本规拖All分-55下开不要求组（见本规范5 关测试我2和我3)4.4.4 0

21、组检验D组检验应按本规施表8的规定。川、四、D5、D6、D7和m分组可有问一幢验批中电性能不合格的器件作为样本。表8D组检验若无其他规范，表中采用的试验方法系指GJB548A的试验方法。条件和要求样品数试脆B级锦件Bl银器件（接收数）说明方法条件1r法条件或LTPDD1分组尺寸2016 按规定2016 按规定15 D2分组引线牢阻性2004A 试瞌菇仲822004A 试验条件m10 曲封1014A 试瞌条件：1014A 试磁条件：细检漏Al或A2方法Al或A2方法粗检捕Cl方法Cl方法D3分组热冲击lOllA 试验条件BlOllA 试验条件A15次循环15 循环掘皮循环1010A 试验条件C1

22、010A 试验条件C100 循环100次循环耐棍1004A 按规定1004A 按规定一13一SJ 50597/50-97 续亵8条件和要求样品数试跑8银器件Bl银器件（接收数）说明方法条件方法条件或LTPD自检按方法1004A按方法1004A和1010A的自和1010A的自检判据检判据带封1014A 试磁条件：1014A 试验条件：细检桶Al或A2方法Al戒A2方法粗偷漏Cl方法Cl方法终点电测试本规范Al、A2本规施Al、A2和A3分组（见和A3分组（见本规范表2和本规班费2和袤的我3)D4分组用于03分组的机械冲击2002A 试揄条件B2002A 试瞌条件A15 样品可用在D4扫猢振动20

23、07 试验条件A2007 试脸条件A分组。恒定加速度2001A 试验条件E2001A 试翰条件。Yl方向Yl方向f曹封1014A 试验条件：1014A 试峨条件：细被捕Al或A2方法Al或A2方法粗检捕Cl方法Cl方法目幢，按方法2002A按方法2002A和2007的目检和2007的自检判据判据终点电测试按本规范Al、按本规拖Al、A2和A3分组A2和A3分组（见本规范表2（见本规施表2和袭3)和表3)。5分组盐检1009A 试验条件A适用时间总银15 Bl级器件可目检按方法1009A器件在订货合同的目榆判据上要求。密封1014A 试验条件；细检揣Al或A2方法粗检漏Cl方法时分组1008A

24、100时最大1008A 当试验3个器件内部水汽水汽含最为不要求3/(0) 出现1个失效时，含量SOOOppm 或5/(1)可加试2个器件并且不失效。若一14一SJ 50597/50-97 练表8条件和要求样品数试验日银器件Bl银器件（接收数）说明方法条件方法条件就LTPD第一lX试瞌米过时，可在鉴定机构认可的另个试磁窒进行第二次试验，若试验通过，则横批应被接收。D7分组引线镀涂2025A 按规定2025A 按规定15 LTPD系对柏附强度引线数而宵。D8分组仅适用于婚对封豫扭辄2024 按规定2024 按规定5/(0) 陶瓷外壳4.5 检验方法检验方法应按下列规定。4.5. 1 电压和电流所有

25、电应以被测耀件（DUT）的GND端为基准，电流以流入器件引出端为正。5 3C货准备5. 1 包装要求包装要求应按GJB597A中5.1的规定。6 说明事项6. 1 订货资料订货合间应规定下列内容：a. 宪整的器件编号（见本规部1.3.1);b. 需要时，对器件承制方提供与所交付器件相应的检验批质撞一致性检验数据的要求；c. 需要时，对合格证书的要求；d. 需要时，对产品或工艺更改时通知采购单位的要求；e. 需要时，对失效分析（包括GJB548A方法5003要求的试验条件）、纠正措施和结果提供报告的要求；f. 对产品保证选择的要求；g. 需要时，对特殊载体、引线民度或引线形状的要求：h. 对认证标志的要求；一15一臼50597/50-97i. 需要时，其他要求。6.2 缩写词、符号和定义本规榄所用的缩写词、符号和定义按GB3431.1、GB3431.2和GJB597A的规定。6.3 替代性件。本规拖妮定的器件其功能可替代普通工业用器件，不允许用普通工业用器件替代军用器附加说明：本规范由中即电子技术栋准化研究所归口。本规拖由国营第八七一厂负责起草。本规范主要起草人：刘文兵。计划项目代号：B51022o一16一