SJ 50597 31-1995 半导体集成电路.JC4007型CMOS双互补对及反相器和JC4048型CMOS8输入多功能门（可扩展）详细规范.pdf

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1、中FL 5962 SJ 50597/31 1995 口uctor integrated circuits I)IJ Detail specification for type JC4007 CMOS dual complementary pair plus inverter and type JC4048 CMOS muIti function expandable 8 input gate 1995-05-25发布1995-12-01实施中华人民共和国电子工业部批准中华人民共和国电子行业军用标准导体集成电路JC4007型CMOS双互补对及反相器和JC4048型CMOS8输入多功能门(可扩展)

2、详细规范町50597/311995 1 范围Semiconductor integrated circuits Detail specification ror type JC4007 CMOS dual somplementary pair pl皿inverterand type JC4048 CMOS multi function expandable 8 input gate 1. 1 主题内本规范规定了半导体集成电路JC4007型CMOS双互补对及反相器和J048型CMOS8输入多功能门(可扩展)(以下简称器件)的详细要求。1. 2 适用范围本规范适用于器件的研1. 3 分类本规范给出

3、的1.3. 1 器件编号器件编号应按GJB597 1. 3. 1. 1 器件型号件型号如下:件型号JC 4007 JC 4048 1. 3. 1. 2 器件等级、生产和采阴。号、封装形式分咒。电路总规范第3.6.2的规定。件名称双互补对及反相8 入多功门(可扩) I 一一为GJB597第3.4条规定的B级和本1. 3. 1. 3 封装形式范规定的马级。封装形式按GB/T7092( 电路外形尺寸的。中华人民共和国电子工业部1995-05-25发布1995-12-01 一1一J SJ 50597131一1995封装形式如下z类型外形代号D 01453.016臼F F14X2. F16X2 H H1

4、4X2. H16X2 J 14臼.J16臼1. 4 绝对最大额定值定值如下:项自符号数值最最大电源电压Voo -0.5 18 |输入电压V. -0.5 Voo+0.5 输入电流II .1 10 功耗PD 200 贮存温度T.嘻-65 175 结温Tj 175 1. 5 推荐工作条件推荐工作条件如下:数值项目符号最最大电源电压工作环挠温度2 引用文件3 GB 3431. 1 82. GB 3431. 2 86 GB 3439 82 GB 3834 83 GB4590 84 GB 4728.12 85 GB/T 7092 93 GJB 548 88 GJB 597, 88 GJB 1649 93

5、3. 1 详细要求V 3 15 叶TA -55 125 半导体集成电路文字符号电参数文字符号半导体集成电路文字符号引出端功能符号半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理半导体集成电路机械和气候试验方法电气图用图形符号二进制逻辑单元半导体集成电路外形尺寸电子器件试验方法和程序电路总规范电子产品防静电放电控制大纲各项要求应按GJB597和本规范的规定。2一一单位v V mA mW 单位v A e D SJ 50597/31 1995 范规定的B1级器件仅在产品保证规定的筛选、鉴定和质量一致性检验的某些项目和要求上不同于B级。3.2 设计、结构和外形尺寸

6、设计、结构和外形尺寸应符合GJB597和本规范的规定。3.2. 1 逻辅符号、逻辑图和引出端排列逻辑符号、逻辑图和引出端排列应符合图1的规定。引出端排列为俯视图。逻辑符号符合G.134728.12的规定。由于J007通过引出端的不同连接可实现不同的逻辑功能，本规范仅给出最基本的一种能，其引出端连接为C接B; E接F;GJ接VDD;HK接Vss。JC4007 逻辑符号引出端排列逻精图D、F、H，J型JC4048 V踊k 逻辑符号引出端排列逻辑图D、F、H，J型 , 民- 1 l I ;声1 y nl 16口V 回ENn2 U IlEX l l.p 14 A 民Kc 寸Ii l , HU4 13口

7、B 立v f1、I ,Il.;.N,J v.由G 12 C . IA1 s -2 F e 11 D lkU1 10U K. VssU .8 Kb Vw Rt 图1逻辅符号、逻辑固和引出端排列3.2.2 功能表功能表应如下:一3一SJ 50597131 1995 a. JC4007 输入1-L H 注t不适用于互补对。b. JC4048 几KbKc EN EX1) 逻表达式L L L H Y=A+B+C+D+ F+G+H+ 1+ (EX) L L H 日或Y=A+B+C+D+F+G+H+ 1+ (EX) L H L H或非Y=(A+B+C+D护(F+G+日+I).(EX)L H H 日或非Y=

8、(A+ B+ c+ D).(F+ G+ H+ 1). (EX) H L L H与非Y= (ABCDFGHO.(EX) H L H 日与非Y= (ABCDFGHO.(EX) H 日L H与Y= ABCD+ FGHI + (EX) H H H H与Y= ABCD+ FGHI + (EX) x x x L x Y=2 注:1)此栏系指扩展输入端外接的逻辄形式3.2.3 电路固造厂在鉴定前应将电路图提交给鉴定机构存档备查。3.2.4封式应符合本规范1.3.1.3条的规定。3.3 引线材引线材料和涂覆应按GJB597第3.5.6条的规定。3.4 电特性电特性应符合表r的规定表11 JC4007电特性条件

9、特俊符号TA= -55t (着, vss=OV) v (V) 最小最大入正籍位电压V1K Vss开 出端开 接地llK = l mA 入负箱位电压V1K-Vss 出开, 开路l1K= -lmA 电电流1m V1L =OV, VDf= 15V 15 出高电平电压VOK V比=OV，IOK=O15 14.95 一4一输出Y H L 出功NOR OR OR!AND OR!AND AND NAND AND/NOR AND/OR 范TA=25t TA=125t惮叫最小最大最小|最大1.5 v -6 v 0.2 4 A 14.95 14.95 V SJ 50597/31 1995 续表11 拖值条件特性符

10、号TA= -55t TA=25t TA= 125t (若无其他规定，vss=OV) Voo (V) 最小最大最小最大最小最大出低电平电压VOL VH= 15V, 101. =0 15 0.05 0.05 0.05 v 入高电平电压VH V 01. = O. 5V, 110 1运1A5 3.5 3.5 3.5 v VQL=IV, IIol1A 10 7 7 7 VoL= 1. 5V, IIol1A 15 11 11 11 入低电平电压VL VoH=4.5V, 1101l 5 1.5 1.5 1.5 v VoH=9V, 1101运1A10 3 3 3 V佣=13.5V, 1101运1A15 4 4

11、 4 出低电平电流IOL V,=5V, VoL=0.4V 5 0.64 0.51 0.36 mA V, = 15V, VOL = 1.5V 15 4.2 3.4 2.4 出高电平电流I佣V,=OV, VOH=4.6V 5 -0.64 -0.51 -0.36 mA V, = OV, VOH= 13.5V 15 -4.2 -3.4 -2.4 输入高电平电流IH VH= 15V 15 10 100 nA 入低电平电流IL VL=OV 15 -10 输入试电压VZAPI C1 = 100pF R2 = 1.5kO (见本规范4.5.3)400 V 入电容C1 f=lMHz 。12 pF 传输延迟时间t

12、pHL CL = 50pF, RL = 200kO 5 110 110 155 ns tpLH (见本规范图2)出转换时间t,1fL CL = 50pF. RL = 200kO 5 200 200 280 ns tTLH (见本规范图2)表12 JC4048电特性规范值条件特性符号TA= -55t TA=25t TA= 125t 位(若无其他规定.vss=OV) I V -t (V) 最小最大最小最大最小最大入正街位电压V1K+ Vss开 出端开, 接地1.5 v IIK=lmA 输入负箱位电压V1K-Vss接地，出端开路，开路-6 VI IIK = -lmA 电电流100 V1L = OV.

13、 vlH = 15V 15 1 30 A 输出高电平电压V佣V1L =OV. V佣=OV15 14.95 14.95 14.95 v 5一SJ 50597131 1995 1 2 规范条件特性符号TA= -55C TA=25C TA= 125C 位(若, vss=OV) V (V) 最小最大最小最大最小最大+ 出低电平电压VOL V1H= 15V, VQL =OV 15 0.05 0.05 0.05 v 入寓电平电压V1H VQL=0.5V, 1101运1A5 3.5 3.5 3.5 v 寸VQL= lV, 1101岳王1A10 7 7 ._, 7 V QL = 1.5V, 1101;1A 1

14、5 11 11 11 入低电平电压V1L VOH=4.5V, 1101;1A 5 1.5 1.5 1.5 v V= 9V, 1101;1, 10 3 3 3 VOH= 13.5V, 1101运1A15 蝠4 4 4 输出高阻态时高I惆fVo= 15V, V1H= 15V, 15 0.04 1.2 mA 电平电流V1L = OV 出高阻态时低lozL VO=OV, VIH= 15V, 15 -0.04 -1.2 电平电流VIL=OV 入高电平电llH VIH= 15V 15 10 100 nA 输入低电平电流llL VIL=OV 15 -10 -100 nA 电压VZAP C, = 100pF.

15、 R2 = 1.5kn 400 v (见本规范4.5.3)输入电容CI f= lMHz 。12 pF 传时间tp阻，CL=50pF. 5 600 685 800 ns 或非门RL=200kn 、tpLH 475 535 640 tpHL (见本范2 555 635 755 及功能表门tPLH 550 620 750 -t tpHL 665 760 905 与门tpLH 490 650 655 tPHL 570 650 670 与非门tpLH 610 695 830 tpt咀4575 665 775 或/与门tpLH 485 540 645 tp阻，或/与540 640 755 tpLH 非门5

16、20 585 700 6一町505971311995 表12 规范条件特性符号TA= -55t TA=25t TA罩125t(若无其定，Vss=OV) Voo (V) 最小最大最小最大最大传识时间tPHL CL= 50pF, 与/或5 590 675 790 ns tpLH RL=200kO 非门550 675 730 tPf哑，(见本范固2630 715 840 与/或门tpLH 535 600 720 tPf哑，595 690 760 K-Y tpLH 555 625 730 tp阻，460 535 615 4 Kb y tPLH 465 515 605 tp阻，360 420 475 民

17、Y 句U量340 380 445 tPHZ ENY 350 350 490 tpLZ tpZH 450 450 630 tPZL 出转换时间非门5 115 135 160 旦规图2ns tTLH 100 115 140 3.5 电试验要求器件的电试验要求应为本规范表2所规定的有关分组，各个分组的电测试按本规范表3的规定。表2电试验要求B级器件Bt 器件项目分组(见表3)变化量极限分(见表3)变中间(老化前:A1 A1 电l中间(老化后)电试A11) .:12) Al1) .:12) 最终电Al, A2, A3, Al,A2,A3, A9 A9 Al,A2,A3, A1 ,A2,A3, A组电测

18、试A4,A9, A4,A9 AI0, A11 一7一SJ 50597/31 1995 2 B级器件B1级f牛项目分组(见表3)变化量极分组(见表3)变化量B组检验电试Al Al C组终点电测试Al. A2. A3 .12) Al. A2.A3 .12C组检验增加的电AI0.All D组终点电测试Al,A2.A3 Al. A2.A3 注:1)该分组要求PDA计算(见本规范4.2条)。2)老化和寿命试验要求变化量(.1)测试，变化量极限按本规范4.5.2条的规定。表31 JC4007电测试I用标分组I :符号E条件(若无其他规定Vss=O) Al (TA =25C) 8一GB 3834 ，被V1K

19、-Voo开路Vss接地，输出端开路，被测输入IDD I 2.15 I Voo= 15V. VIL=OV. VIH=肝，输出端开路VOH 2.7 VOL 2.8 Voo= IV.被测门输入V1L=OV.被测输出I佣=0.逐一测试每个门的输出V= 15V.被测盯输入V1H=15V.被测输出IoL=O.逐一测试每个门的输出端VIH I 2.1 I V=5V.被测输入端按叭，其他输入1. 5V. 测输出端IIol1A.Vo=0.5V VOO= 10V.被测输入端接町，其他输入端接3V.被测输出端1101运lt-tA.VO= lV VOO= 15V.被测输入端接叭，其他输入端接4V.被测输出端1101

20、1A. VO= 1. 5V V1L I 2.2 I V=5V.被测输入端接町，其他输入端接3.5V.出端1101运1A.Vo=4.5V VOO= 10V.被测输入端接町，其他输入7V. i Iollt-tA. VO= 9V VOO= 15V.被测输入端接V1其11V. 输出端1IollA. VO= 13.5V 范最忑丁豆豆1.5 v 一。引二14.95 一v 0.05 v 3.5 7 11 一一1.5 I V -3 一4 SJ 50597/31 1995 3 1 范最IJI .买条(若无件, v=O) I用标符号1GB 3834 分组V，=5V，被测输出端V，=0.4VVH= ISV, .!I

21、!I年m=5V, 0.51 一Al 11饥(TA=25t) 2.12 3.4 一=1.SV 1011 2.11 出端VOII=4.6VI -0.51 V,=OV, Vm=SV, 一出v nHV V 端入输VF，J d3 A-Ea -= m vv -3.4 一入端并接VH=ISV(仅2St条1.1) H ISV, 2.9 I V1 件60 -nA 逐一测VL=ISV, Vm= ISV, 地10 -VH=OV(仅25t条件IL1) I 2.10 Vnn= ISV, ) Vm= ISV, 1SV - nA -VL= OV，其接-10 一A2 TA= 125t 按表10VK不测外，所有参数、条件同Al

22、 A3 TA= -sst VK不测外，数、条件同Al1。 A4 别测，f=IM出( T A = 2St ) I C, 3.1 I Vm=OV, 12 I pF 一A7 功能测试按本规范3.2.2条(TA=2St) A9 (TA=2St) V=SV，非A Y 入撞地.见本规范固20tPf也110 ns 一tPLH tTHL I 3.15 I Vm=SV，非tT山I3.16 I A Y 入接地.见本规范围20200 I ns 一参数、条件同A9分组，表1。AI0 TA= 125t 参数、条件同A9范All TA= -sst 1。注11)2St条件下测IH、IL时，可量的方法。9 -SJ 50597

23、/31 1995 表32 JC4048电测试条件分组I用标符号GB 3834 , Vss=O) 范可(若Al v 出嘀JI町， , . 1.5 IV ) I V胁=lmA(T.=25t) I . 1GB 3439 2.1 izh开, Vss接地，出-.I H. ,IA -6 IV VK-I rlK= -lmA 100 I 2.15 Iv= 15V, VL = OV, V Df = 15V, 一0.4 IA V佣I2.7 mz15V, 0, VL=OV, 门的输出端出I侃14.95 -v Voo= 15V，被测门输入VH=15V, QL=O，逐一测试每个门的输出出一0.05 v VOL 2.8

24、VH 2.1 v=5V， 出入端接叭，其I Iollp.A， Vo=0.5V, 1. 5V, 3.5 一v VJX)= 10V，被测输入端接V其他输入端接3V，出端I10 I运1A，Vo=IV7 一Voo= 15V，被测输入端接叭，其他输入端接4V，出端IIol1A， Vo= 1. 5V 11 一VL 2.2 IVoo=5V，被测输入端接叭，其出端IIol1A， Vo=4.5V 3.5V, - 1.5 v = 10V，被测输入端接叭，出瑞IIollA，Vo=9V7V, 一3 V= ISV，被测输入端接町，出端IIolIp.A，Vo=13.5V 11V, 一4 V,=5V, 出m=15V. .S

25、V I ., 11 1V00=SV, I倒I2.11 I I V= 15V, 入川-hnv-=一端hE 0.51 一IOL 2.12 IV1=SV， VH = 15V，被3.4 一V，=OV，被V,=OV, 出端VOH=4.6VI -0.51 I 一出端V佣=13. svI - 3. 4 I 一I锢I2.13 IV1= 15V，输入端vIH=lSV, I阻I2.14 IVoo = lSV，输入端VH=ISV, 一w-v A-n 问一飞端一端山山-山山IEHI I 2.9 IVI= lSV, 入端并接VH=lSV(仅2st条一0.04 IA -0.04 IA 130 I nA V= 15V，输入

26、端逐一测VH=ISV，其他输入端- 10 一10一SJ 50597/31 1995 续表32 规范|用标条件值分组符号G83834 (若无其他, vss=O) 最小最大ILEJ 2.10 VOO= 15V，所有输入-130 nA 监主-10 A2 V 外.所有件同Al分组，范值按表1。(TA = 125C) A3 V 外，所有件同Al分组，规艳值按表1。TA= -55C A4 C. 3.1 V=OV， , 1= lMHz 12 pF (TA =25C) A7 功试按本规范3.2.2条。(TA =25C) A9 tPHL 3.10 V=5V，非入地，见本规范2及功685 ns (TA =25C)

27、 8，C，O，F，G，日，1Y(或非门)tPl且3.9 535 tPHL 3.10 Voo=5V，非入接池，范图2及功能表。635 tPUf 3.9 8 , C, 0, F, G, H, 1Y(或门)620 tPHL 3.10 Voo= 5V，非入接地，图2及功760 。tpUf 3.9 8 , C, O, F, G, H, I Y(或门)650 tPHL 3.10 Voo=5V，非被入接地.见本范图2及功650 。tpu冒3.9 8 , C, O, F, G, H, 1 Y(与非门)695 tPHL 3.10 Voo=5V，非被入接地，范图2及功能表。665 tPUf 3.9 队，8，C,

28、0, F, G, H, 1 Y(或/与门)540 tPHL 3.10 Voo= 5V, ，见范图2及功能表。640 tpUf 3.9 8 , C, 0, F, G, H, 1 Y(或/与非门)585 t阱钮，3.10 VlJ)=5V，非被见本规范围2及功675 。tPUf 3.9 8 , C, 0, F, G, H, 1-Y(与/非门)675 tPHL 3.10 V=5V，非被入接地.见本规范围2及功715 。tpUf 3.9 8 ,C, O, F, G, H, I Y(与/或门)600 tptn. 3.10 Voo=5V，非被见本规范图2及功。690 tpUf 3.9 .y 625 tPHL

29、 3.10 Voo=5V，非入范图2及功能表。535 tpUf 3.9 .y 515 一11一分AI0 (TA= 12St All TA= -sst 臼50597/311995 符号111G83834 条(若无其tPHL I 3.10 Ivoo=sv.非被tPLH I 3.9 Y 3 2 件vss=O) 市图2及功tPHZ I 3.10 Ivoo=sv.非被接地，见本规范围2及功SPLZ I 3.9 sPZH 3.10 S阳.I 3.9 Y 3.15 Iv=SV.非接地.3.16 jA.8.C.O.F.G.比IY参数、条件同A9分组，规范值按褒1。，数、条A9分组.规范10 范见图20注;1)

30、2St条件下满IIH，IIL时.可选取分G J工 12一50% h 90 50% 马wtTL自.Wi、Voo OUT 波形困Voo 缸.fhflL 40HL 。v. VOL V 饵，一一一3S0 一I4S0 一13S I ns 一I1S 臼50597/311995 图21 JC4007开关测试电路和波形图注2脉冲发生糯:Vm=VDJ)土lCJ6;t.运10ns;tf1Ons; =200kHz;占空比:50CJ6。负载Rl.= 200kn. Cl. = 50pF(包括探头夹具电容)。G DUT .J_Jt . RL t 10% tTHL t1Ul t啊.H,tTHL % J-岛50% t tlU

31、 .tPZl. tPHZ tPZM 10% CL 图21 JC4048 试电路和波形图注:脉冲发生器:Vm= VDI)士1CJ6 ; tr 1Ons; tf10ns; =200kHz;占空比:50 CJ6。负载Rl.= 200kO. Cl. = 50pF(包括探头央具电容)试点一VooV圄VOH Vo V倒Vo也Voo V皿VDD Voc. v恤V盟一13一臼505971311995 3.6 标志件标志应按GJB597第3.6条的规定。3.6.1 总剂量辐射强度标志总剂量辐射强度标志应按GJB597第3.6.2.6条的规定。3.6.2 标志的正确性所有器件在标上器件编号后，应经受表2规定的最终

32、电测试，也可以经受特殊设计经认可的电测试，以验证器件编号标志的正确性。3.7 微电路组的划分本规范所涉及的器件为第36微电路组(见GJB597附录E)。4 4. 1 抽样和本规范另有规定外，应按GJB597和GJB548方法5005的。4.2 在鉴定进行和一检验之前，全部器件应按GJB548方法5004和本规范表4。若无其他规定，表中引用的OOE AUTE JE B一求q一要4指一和系一件条。B 自s. 说明条件条件B 2010 内部目(封装前)烘烙(不要求终点2010 B 1008 !试验条件C) ! ! (1sot , 24h) 1008 I试验条件C(IS0t , 24h) 环1010

33、C 1010 C 恒定加2001 I试验条件EYl方向2001 I试撞条件DY1方向可用方法1011A替代。进行目栓，引线断落、外壳为失效。中间老化)电试范Al范Al静态101S B 101S B 采用本范3或固4老!12St , 160h 12St , 160h 可恋者化的IJI、祖宗tTD或EI其中种方式。化件D或EI动态125.160hl !12st, 160h 中阿(老化后)电本规范Al分组和表1M本规范Al分组和袤10.4极限品一14一臼50597/311995 目允许不合格晶(PDA)及其计算电测试密封目的试验样品B级器件方法|条件596.本规范Al分组，当不合格晶率不超过2096

34、时.可重新提交老化.但妇允许一次。本规范Al、A2，A3、A9分组1014 本规范3.5条范值和A件除以提交老化的器件数即为PDAo不只允许一|大于规定的P队时该批接收.Bt级器件方法王一件1096.本规范Al分组.当不会精品率不超过2096时.化，次。明用老化失效数包过Al分本规范Al、A2、I:本项筛选后，若引A3、A9分组|改变或返工，则应再进行条件gA.或AlG或乌范3.1条I ;发货商按批进行1014 卿一附范3.5条Al分组。一15一SJ 50597/31 1995 JC 4007 Voo A 1 Voo D 协七Voo/22 1 SI 一I JC4048 Voo 2 1 E马注1

35、二注1c-D 2 V田穹vl.!S 1 2 Voo/2 一图3静态老化试验电路图注:静态老化1:所有输入端接OV.即开关SI置1。静态老化11:所有输入端接Voo即开关SI置2。除Voo和Vss端外，每个引出端应通过一个2-47kO的电阻器相连接。由于使用、受热或老化，所选电阻的实测值应不超过其标称值的土20%。输出端开关s2可以置1或2。( Voo= 15V. Vss=OV。一16一1C4007 1C4048 G .JL G A D 1 D SJ 50597/31 1995 Vpp 1 Y V国二1I 1 Y 言V图4动态老化和稳态寿命试验电路注:除Voo和Vss端外，每个引出端通过一个2-

36、47kn的电用电阻器的实测值应不超过其标称值的土20%。对输入信号的要求:8. 刀源，占空比50%; b. 频率:25kHz-IMHz;c. t r和tf1问:d. 幅度:最小值为:Vss-0.5V. + 10% VZ 为:V.0.5V.-10% V。( Voo= 15V. Vss=OV。4.3 鉴定检验Vpp/2 Voo/2 由于使用、受热或老化，所选鉴定检验应按GJB597第4.4条的规定。所进行的检验应符合G1B548方法5005和本规范A、B、C、D和E组检验(见本规范4.4.1条至4.4.5条)的规定。4.4 质量一致性检验17一SJ 50597131 1995 一致性检验应按GJB

37、597第4.5条的规定和本规范的规定。所进行栓的验应按GJB 548方法5005和本规范A、B、C、D和E组检验(见本规范4.4.1条至4.4.5条)的规定。4.4.1 A组检验A组检验应按本规范表5的规定。电试验要求应按本规范表2的规定，各分组的电测试按本规范表3的规定。各分组的测试可用同一个样本进行。当所要求的样本大小超过批的大小时，允许100%检验。各分组测试可按任意顺序进行。合格判定数(c)2。表5A组检LTPD 试B级Al分组25t下静态测试2 A2分组125t下静试3 A3分组-55t下静试5 A4分组25t下动态测试(C1)1) 2 A9分组25t下开关试2 AI0分组125t下

38、开3 All分组-55t下开关测试5 注:1)仅在初始鉴定和工艺、设计改变时才进行该分组测试(.Ilp在b1出的电容)。4.4.2 B组检验B组检验应按本规范表6的规定。BI-B5分组可用同一检验批中电性能不合格的器件作为样本。一18一Bt级器件2 3 5 2 2 量指定Vss间SJ 50597131 1995 表6B组若无其他规定，表中引用的试验方法系指GJB548的试验方法。条件和要求样品数/试B 件阶级器件(接说明方法条件方法条件或LTPDBl分组2/(0) 尺寸2016 2016 按规定+ B2分组4/(0) 抗溶性2015 定2015 按规定F B3分组15 LTPD系对引线数而可得

39、住2022 焊接温度:2022 焊接E 言，被试器件应不少于或245土5t245 :t 5t 3个。2003 2003 B4分组1/(0) 2014 按规定2014 按规定B5分组15 可在封装的内部自合强度2011 C或D2011 C或D检选后.机抽取!超声焊样品进行本分组试验。B8 15/(0) 初始鉴寇或产品熏新(a)电测试本规范Al分组本规市Al分组设计时应进行。(b) 电放电GJB GJB 灵度等级1649 1649 (c)电试本规范Al分组本规范Al分组B9分组15 入Ia压初始鉴定或产品重新(VZAP)试验本范4.5.3条范4.5.3条设计时应进行。4.4.3 C组检C组本规范表

40、7的规定。若无其他规定，表中引用的表7C组检验方法系指GJB548的试验方法。条件器级B 如如回品收U样情或说明试验方法条件方法条件Cl分寿命5 1005 I试验条件D或试验I1005 I试验条件D条件EI I条件E采用本规范围4电路一19一臼50597/311995 续表7条件和要求B级辘件| 乌方法l条件|方法|条件OD 剧阳DA晶收口样啤或试说明终点125t , 1000h 本规罹Al、A2，A3分组见本规施表3)和表10. 125t: , 1000h 市Al，A2、A3分组(见本规范表3)和表10. Al分组要求测试并计算A极限值(见本4.5.2条)分15 度1010 C I 1010

41、 I C 恒定加速度2001 f牛E2001 件DYt方向Yt方向密封1014 1014 件gf牛zAt或AzAt Az 钱G cz Ic.或G自检按1010的自|按1010的目检C3分125t:下试点电测试Al，A2、A3(见本规范表3)本规范Al、A2，A3分组(见本规范表3)3 不要求本规范AI0(见本规范表3)c4 -55t:下开关5 不要求本规范All分组(见本规范表3)4.4.4 D组检验D组检验应按本规范表8的规定。Dl、D2.D5、时、D7和四分组用同一检验批中电性能不合格的器件作为样本。表8D组检验若无其他规定，表中引用的试验方法系指GJB548的试验方法。条件和要求样品数/

42、试B 件s. 器件(接收数)明条件方法条件或LTPDDl 15 尺寸2016 按规定2016 !按规定m 15 一20一8J 50597/31 1995 条件和要求试B级器件方法条件引线牢固性I 2004 I试验条件Bz密封I 1014 细粗03分组抗潮温密封粗检目检终点电E间分组冲击密封粗检目检终点05分组盐雾密封粗检度件zA或AzG或乌1011试B 15 环1010 I 条件C100次110例|按规定11014 1 试验条件zA)或AzG或G按方法1004和和1010的自检判据范Al、A2和分组(见本范表3)2002 试B 2007 试验条件AI 2001 I 件E，Y)方向11014 1

43、 A)或AzG或G按方法2002或2007的目检|本范A1、A2和分组(见本范表3)1009 件A11014 1 f牛:A)或Az14或G方法2004 1014 1011 1010 1004 1014 2002 2007 2001 I 1014 I 1014 续表8B) 条件条件马条件zh或AzG或乌试A 15次环条件C10次环条件gA) Az G或G按方法1004和1010的目检判本范Al、A2和分组见本规条件A试验条件A试0 , Y)方向A) Az G或G按方法2002或2007的目.本规范Al、A2和3) 分组(见本规范表3)适用时间B级嚣件样晶收数)或LTPO15 15 15 叫说明

44、件可按GB 4590 3.6条l严格度D用于03分组的祥品可用在D41 21一SJ 50597131 1995 8 条件和要求方法条件方法B1级器件条件样品数/(接收数JLTPD 说明试8 目捡按方法1009的自检时分组内部水汽含量11018 1100C时最大水汽含量为5000ppm不要求3月0)或|当试险3个器件出5/(1) 11个失效时，可加试2个器件并且不失效。若第一次试验未通过时，可在鉴定机构认可的另一试验室进行第二次试坠，若试过.Jltl该批应被接收。15 ILTPD系对引线数言。四分组引线涂覆粘m 封2025 I按规定2025 5/(0) 2024 I按规定2024 I按规定仅用于

45、熔封陶瓷外壳4.4.5 E组检验仅对有幅射E组检验应按本规范器件进行E组检验(见本规范3.6.1条)。9的规定。表9E组检验若无其他规定，表中引用的试验方法系指GJB548的条件和要求。B级器件方法|条件s.级器件方法|条件即如m口明增U样强说明试E2分组E E I E :按本范4.5.5条电试 E 总剂射11019 1 T A = 25C 1019 TA=25C VOO= 10V VOO= 10V (a) 1 15/(的b个品片批，每批5件(b) 11/(0) 按晶片批终点电A7分组及表14A7 14 4.5.5条4.5 检验方法检验方法按下列规定z4.5. 1 电压和电流一22一SJ 50

46、597131 1995 所有电压以器件Vss端为基准，电流约定以流入器件引出端为正。4.5.2 老化和寿命试验被试器件(DUT)在完数终点测试并按试验之后，应先冷却到25土3t才变化量(.1)值，见表10。表10变化量极限(TA=25t)去掉电压，然后再进行电参数E】V 变化量极限.4)100 lSV 士100nA10L SV 土20%I佣5V 一-一一-一一一士20%注:1)老化和寿命试磁前后应记录参数值，以确定变化量(.)。4.5.3 输入保护电路的高压(VZAP)试器件(DUT)的所有输入端(每次最多4个)应经受由充电到VZAP为400V的100pF产生的电压脉冲。该破坏性试验应采用图5

47、试验电路，按下列规定进行。输入端的IILlUI IH在最犬Voo下每个被试输入端的试验规范值为士100nA。25t下件(DUT)的Im在最大V下范值加表3的I规的20%。b. 高压试验方式见表11，每种试验要求首先将S1置于位置1，使G充电JlJVZAP, 后将S1置于位置2，将VZAP加到被试器件(DUT)。表11高压试验的方式正端负同一引出端的Ioo、IIL、IIH如果VZAP则该器件视为失效。后器件c. 在24h内按上述操作重复(DUT)的电流超过规定的试验规范+ R1 1 2 + Vl.AP DUT 高压电一C1 -图5高压(VZAP)试验电路图V ZAP = 400V (C1充电电压

48、)1MOR1500MO R2 = 1.5kO C1 = 100pF SI为水银无回跳继电器4.5.4 电摞电流(Ioo)的进行电源电流测量时，电表4.5.5 辐射强度保证(RHA)试验使全部过该电表。句品SJ 50597/31一1995PHA试验应按GJB548方法5005表V和本规范表9规定的试验程序和抽洋进行。a. 辐射前，抽取的样品应经过25t下的A1分组电测试合格:并进行阔值电压(VTN、VTP)的测试以便计算辐射后阔值变化值(.1VT)。样品应放置在合格的包装之中。b. 固值电压测试电路和条件应按图6和表12的规定。阔值电压也可采用GJB548 1022的试验方法。在实测静态电流I的基础上增加10A或20A(电流增量法)，分别测出VrN、VTPOc. 对于被试的RHA等级，器件应经受GJB597中规定的总剂量辐射，辐射期间，器件应按表13的规定加偏置电压，且在整个过程中，始终保持附且Jd. 辐射后，器件应进行原位