JB T 7406.2-1994 试验机术语.无损检测仪器.pdf

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1、中华人民共和国机械行业标准1 主题内容与适用范围试验机术语无损检测仪器JB/T 7406. 2-94 本标准规定了无损检测仪器的基本概念、产品名称、性能参数、零部件、附件和材料、试验方法等方面的术语和定义。本标准适用于元损检测仪器标准制定、技术文件编制、教材和书刊编写以及文献翻译等。注z本标准方括号J内的字.是在不致混滑的情况F可省略的词.阴括号(I内的宁，除作说明外为前者的同义词。2 基本概念2. 1 元拈!f古训non-destructt v( testing( j nspect ion) 不破坏检测对象，检查其表面及内部的各种缺陷z测量其某些物理性能和儿何特性。2.2 元损检测仪器non

2、-destructi ve testing( inspectin ) instrument 以电磁、超声、射线等各种物理学原理为基础而设计的，用于元损检测的仪器。目前泛应用的有磁粉探伤机、涡流检测仪、超声探伤仪、超声测厚仪、射线探伤机及声发射检测仪器等。3 渗透探伤3. 1 基本概念3. 1. 1 润湿作用wcttJng actlOn 液体向固体表面扩展或附着的能力e3. 1. 2 毛细1牙作用capillary action 在渗透探伤中，表面开口的微小缺陷如裂纹和缝隙等类似于毛细管.渗透液由于表面张力和附着力的作用而渗入此类缺陷的现象。3. 1. 3渗出bleedout 液体渗透液从缺陷向

3、表面浸润，形成显示的作用。3. 1. 4 吸出blotting 显示剂将渗透液从缺陷吸至表面加速显影的作用。3. 1. 5 背景background 渗透探伤时，试件被检验表面的外观状态(亮度和颜色)，它可以是试件的自然表面也口以是表面上的显示剂涂层。3. 1. 6 对比度contrast 显示后的缺陷迹痕的可见性与背景的可见性(亮度或颜色)相比的差别程度。3. 1. 7 渗透探伤pcnctrant inspection, flaw detection 借助于显示剂的作用，观察从材料或零部件表面缺陷中吸出的渗透液显示缺陷的探伤，包括着色渗透探伤和荧光渗透探伤。3. 1. 8 着色渗透探伤ye-

4、penetrant inspection dye f1 aw detecton 中华人民共和国机械工业部1994-08-23批准1995-05-01实施186 JB/T 7406.2-94 采用着色渗透液，在可见光线照射下观察缺陷的指示迹痕的渗透探伤。根据渗透液的性质分为水洗性着色渗透探伤法s后乳化性着色渗透探伤1.1;溶剂去除性着色渗透探伤法c3. 1. 9 荧光渗透探伤f1 uorescent pcnctrant inspection. fJllor(Cellt flaw detection 采用荧光渗透液，在紫外线照射F通过激发出的荧光观察缺陷迹痕的渗透探伤。根据渗透液的性质分为水洗性荧

5、光渗透探伤法;后乳化性荧光渗透探伤法;溶剂去除性荧光渗透探伤法。3. 1. 10 黑光black lght 又称紫外线。近紫外区域的电磁辐射。波长约为(3.:l:l. 9) X 10- m. 3. 1. 11 荧光fl uorescence 、可某些物质受到黑光辐射时，在吸收黑光的过程中发出的可见光。3. 1. 12 预清理precleaning 渗透检验前，将试件表面清理以除去可能影响检验结果的表面污物及金属碎屑。3.1.13 浸渍冲洗lmmers10n r111时将试件浸渍在搅动的水池或清洗槽中清除多余渗透液的方法。3. 1. 14 超乎L化Qverem u lsi fj ca t on

6、由于过多的乳化剂和(或)过长的乳化时间，导致缺陷中有用的渗透JiJ被除掉的现象。3. 1. 15 超清洗overwashing 由于过氏和(或)太用力的冲洗，导致缺陷中高用的渗透fIlJ被除掉的现象。3.2 探伤设备3. 2. 1 渗透探伤装置penetrant flaw detecton unt 在渗透探伤试验中使用的设备。通常由渗透装置、乳化装量、显示装置、清洗装置及干燥装置等构成。在荧光渗透探伤中除使用上述装置外，还配有祟光灯及检查暗髦。3.2.2 黑光灯black light lamp 又称紫外线灯。荧光探伤仪在荧光渗透探伤或磁粉探伤中，发射黑光的装置。二般由带波:光片的高压在银石英灯

7、和控制器等组成。3.2.3 黑光滤光片black light flter 又称紫外线滤光片。能透过近紫外辐射，同时吸收其他波长辐射的滤光器件c3. 2. 4 预清洗装置precleaning unit 渗透探伤检验前，清洗和干燥被检试件的设备。一般由除油装置、榕剂清洗楠、冲洗喷枪等组成。3.2.5 除i由装置degrcasing unit 盛放除油液的装置。通常底部装有加热器，上部装有蛇形管冷凝器及支撑零件的格栅等。3.2.6 渗透装置penetrating ul)it 渗透探伤时，装渗透液的装置。设有滴藩台及支撑试件用的格栅等。3.2.7 乳化装置emulsifier unit 在渗澄探伤时

8、，装乳化液的装贵。通常由不锈钢板或铝合金板制傲，底部装有格栅和排液孔。3.2.8 清洗装置wIJ达时差.p符合时间。当两个换能器接收信号的时差小于符合时间，数据接收门常开着，接纳信息数据，大于符告时间，数据接收门被封锁，拒纳信息数据。如此便形成了只接收垂直于两换能器连接直线并过其中点的平面附近的声发射源的鉴别器z7. 1. 16 上升时间鉴别rise-time discrimination 义称前沿鉴别。根据声发射事件波形包络上升时间，进行空间的鉴别。注:声发射源放射出瞬息陡峭的弹性波.国在空间传播的衰减和频散现象，引起声发射事件披形包络上升时间随传播距离的增大而变缀，根据波形包络上升时间限定

9、监视区域的大小，而起到空间剃噪的作用。7.1.17阵array又称阵列。为计算声发射源的位置，检测系统允许换能器按一定几何关系配置的一组排列。7.1.18 线阵linear array 按一维空间定位声发射源的一种换能器排列。7. 1. 19 平面阵planar array 在平国内定位声发射源的一种换能器排列。可分为三角阵、方阵和菱形阵a7. 1. 20 兰角阵three angular array 王个换能器按三角形三个顶点布置的阵，或四个换能器按等边二角形三个顶点和中心四个点布置成的阵。吁按时差、根据圆方程组成双曲线方程组求解。7. 1. 21 方阵quad array 四个换能器按正方

10、形顶点布置的阵。7. 1. 22 菱形阵diamond array 四个换能器按菱形顶点布置的阵E7. 1. 23 桂面阵cylinclrical array 在柱体表面t布置的四个换能器阵。换能器的周向间距为900，纵向间距可以因各个柱面阵而异。7.2 检测仪器7.2. 1 声发射舱测系统acoustic emssion detection system 拾取材料的声发射信号，测量、分析、定位并显示其声发射源的位置及表征参数的仪器、组件系统。-般包括换能器、前置放大器、信号处理器、时差测量单元、表征参数测量单元(放射率、总数、幅度及能量等).计算机及其接口和外围装置部分，分为声发射检测仪、声

11、发射分析系统、声发射源定位系统以及声发射源定位与分析系统。7.2.2 声发射检测仪acoustic emission detector 拾取声发射信号并测量其表征参数的仪器a一般指单通道、双通道的声发射测量仪器。7.2.3 声发射分析系统acoustic emission analysis system 对声发射信号进行分析和统计分析等的系统。7.2.4 声发射源定位系统acoustc emission source location sy.stem 确定未知声发射源坐标位置的测量系统。一般包括换能器、前置放大器、信号处理器、时差测量器及处理计算机及其外围设备。它是多通道声发射源测量系统。7噜

12、2.5声发射源定位及分析系统acoustic emission source location and analysis system 确定未知声发射源坐标位置并对其进行性能分析的检测系统。包括声发射分析系统和源定位系统。7.3 零部件206 JB/T 7406. 2-94 7. 3. 1 声发射换能器acOust1 c emls日ontransducer(sensor) 将弹性波转换为电信号的转换接收元件。一般用压电元件制成。7.3.2 单端换能器.s ngJe ended transducer 一个压电元件制成的单芯端子输出信号的换能器。7.3.3 差动换能器differential tr

13、ansducer 二个压电元件极性反接制成的输出差动信号的换能器。7.3.4 声发射被导杆acoustic emission wa veguide 高保真声波导出器件(具儿当换能器不能直接接触材料表面(如高温或远距离)时，借助于该器只一端接触材料表面，另一端与换能器糯合，实现检测的目的。7.3.5 声发射前置放大器acousttc em阻Slonpreamplifier 为提高信噪比以及与换能器阻扰匹配而近置于换能器的低噪声放大器。有单端和差动前置放大器c7.3.6 差动前置放大器diHerential preamplifer 为差接换能器提供的一种放大差动信号的前置放大器。它具有很高的抗共模

14、干扰能力。7.3.7 声发射信号处理器acoustic emission signal processor( condition) 处理前置放大器输出信号并形成振铃计数脉冲和事件脉冲的电子系统。般包括衰减器、主放大器、滤波器及鉴幅整形器等。7.3.8 门槛单元thre.hold unit 加权于声发射信号幅度的电子剃除噪声单元。包括浮动门槛和固定门槛两种。注:设置一门槛(阀值)，声发射信导报幅超过此门槛(阔值者形成振铃脉冲或事件脉冲，作为有效数据处理，低于阀值者视为噪声剃除。7.3.9 浮动门槛flonting threshold 阀值随噪声浮动的门槛。7.3. 10 固定门槛fixed th

15、reshold 固定电平的门槛，7.3.11 振幅检测组件amplitude detector module 测量声发射信号的峰值幅度的检测组件。多以分贝度量。7.3.12 能量处理组件energy processor module 声发射事件的相对能量测量组件。注2相对能量是通过计数脉冲得到的这些计数脉?中的重复频率正比于输入电压的振幅的平方，而该振幅必须超过预置之门槛n7. 3. 13 监昕器audio monitor 将超声频的声发射信号变为声频信号的电子组件。借以监昕声发射源的活动性。7. 3. 14 空间滤波器spatial filter 按声发射源的空间位置辨别真伪信号的剃噪装置。

16、有主从、符合和t升时间等鉴别方式。7. 3. 15 时差计时单元delta-T timin自umt按一定逻辑关系设计的时间测量系统。由该系统的时差计数器，计算事件到达一个阵的各个换能器的时间与最先到达换能器的时间之差。7.3. 16 电压控制门组件voltage controlled gate module(VCG) 使声发射信号数据计数部份，通过试验周期电压信号的控制，只在试验周期的预选部份工作的电压控制组件。多用于材料的疲劳试验。7. 3. 17 J宫发射脉冲发生器acoustc emssion pulser 又称声发射模拟源。207 JBjT 7406.2-94 产生声发射源模拟信号的组

17、件。7.4 性能参数7.4. 1 事件计数(Ne)event count(Ne) 声发射检测系统在次试验中可鉴别的声发射事件矩形脉冲的个数a7.4.2 事件计数率(Ne)event count rate(Ne) 单位时间的事件计数。7.4.3 声发射计数(N)acoustic emission count( N) 又称振铃计数。在一次试验中声发射信号超过阀值的振铃脉冲次数。7.4.4 声发射计数率(N)acoustic emission CQunt rate(N) 又称计数率。每秒钟超过限定阀值的振铃脉冲数。7.4.5 .t升时间nse tlme 声发射事件波形包络从穿过第一个门槛起到达峰值(

18、或预置的第二个门槛)时的时间间隔。7.4.6 持续时间duration 又称事件宽度.一个事件脉冲的持续时间，即一个事件的宽度。7.4.7 声发射振幅(时acoustic emission amplitude(v) 声发射波包络的幅度。7.4.8 振幅积分(累积)分布F(v) cumulativeCacoustic emission)amplitude distributon F( v) 声发射信号超过某一任意振帽的声发射事件数为振幅v的函数。7.4.9 振幅微分分布f( v) differentialCacoustic emission)ampltude distribution f( v)

19、 声发射信号振幅在v和v+LIv之间的事件数为振幅v的函数。f(v)是振幅积分分布F(v)微商的绝对值。7.4.10 闸值积分(累积)分布Ft(v) cumulative(acoustic emission) threshold crossing distributon F, ( v) 声发射信号超过某一任意门槛的次数为阑值的函数。7.4. 11 阑值微分分布L(v) differential(acoustc emissionthreshold crossng distrihution Fl (V) 声发射波形所具有的峰值在阀值v和v十LIv之间的次数为阔值的函数。f，( v)是闽值积分分布J

20、F, (v)微商的绝对值。7.4. 12 声发射频谱acoustic emission spectrum 声发射信号中各频率成份的幅度分布。一般用于声发射检测的频率范闹为几十干赫兹到几兆赫兹。7. 4. 13 声发射能量acoustic emission energy 声发射源释放的弹性能量。系指从材料表面测得的经过传播衰减后的剩余弹性能量，多以振幅平方计数表示。7. 4. 14 时间差delta-T 又称到达时间闯隔。一个事件信号先后到达一个阵的每两个不同换能器的时间差。7. 4. 15 信号过载点signal overload point 当信号超过放大器线性工作范围肘，输出信号振幅与输入

21、信号振帽的比和在线性工作范围内所得到的输出与输入的比相差3分贝的点。7.4.16 过载恢复时间overload recovery time 208 J8/T 7406.2-94 由于声发射事件振幅超过仪器的线性工作范围，在仪器中引起非线性电压或电流的时间。7. 4. 17 延迟时间delayed time 仪器在检测到的声发射事件结束之后，人为设置的时间间隔，在此时间间隔内不允许接收新事件。7.5 试验方法7. 5. 1 点定位point locaton 以坐标点标定声发射源的位置。般采用求以时间差为参量的特征函数曲线(圆或双曲线之间的交点的方法计算源点位置。7.5.2区域定位盯ealocat

22、ion 以声发射源存在的小区域标定声发射源的位置。一般采用逐次逼近法求出源点存在的小区域。7.5.3 线定位linear location(one-dimensionallocation) 又称一维空间定位。换能器接线阵布置来确定声发射源在一维空间的位置。7.5.4 平画定位planar( quad) location( two-dimensional locationl 又称二维空间定位。换能器按平面阵布置来确定声发射源在三维空间的位置。7.5.5 球丽定位spherical location 在球丽上布置换能器，根据球面坐标公式求解胃、定位的定位方法。7.5.6 桂固定位cylindric

23、al location 在校园t布置换能器，根据柱面坐标公式求解源定位的定位方法。8 射钱探伤机8. 1 基本概念8. 1. 1 X射线X-rays , Rontgenray.s 又称伦琴射线。由高速电子撞击物质的原子所产生的电磁波(波长约为10-8-10- m)。8. 1. 2 白色X射线white X-rays 具有连续光谱的X射线。8. 1. 3 特征X射线characterstc radiation 具有标志靶材原子特征的非连续能谱的X射线。8. 1. 4 高能X射线high energy X-rays 电子能量越过一百万电子伏特时产生的X射线。通常由电子加速器产生。8. 1. 5 软

24、X射线soft X-rays 对波长较长，穿透能力较弱的X射线的一种定性描述。8. 1. 6 硬X射线hard X-rays 对波长较短，穿透能力较强的X射线的一种定性描述。8. 1. 7 射线gamma-rays 由核子蜕变过程中发射的一种电磁波(波长约为10-11-10.-m) , 8. 1. 8 一次射线primary radiation 直接来自辐射源的射线。8. 1. 9 二次射线secondary radiation 由一次射线照射的物质所辐射的射线。8. 1. 10 射线检测radiographc inspection 利用射线对付料或试件进行透照，检查其内部缺陷或根据衍射特性对

25、其晶体结构迸行分析的技术。209 8. 1. 11 散C乱射线scattered radaton 与一次射线方向不同的射线。8. 1. 12 背散射back-scatter 与人射线方向成大于900角的散射。8. 1. 13 电子J焦点Celectron) focus 电子束撞击靶的区域。8. 1. 14 线焦点line focus 长方形的焦点。J/T 7406. 2-94 8. 1. 15 X射线辐射圆锥角angle of X-rayJ projection 在通过X射线束中心线的平面上，X射线束发射的角度。辐射困锥角之半称为半圆锥角。8. 1. 16 X射线管负荷特性曲线X-ray tu

26、be rating charts X射线臂的阳极工作电压、阳极工作电流和工作时间三者之间的关系曲线。8. 1. 17 X射线管灯丝特性heater characteristic of X-ray tube X射线管灯丝电压与灯丝电流的关系。8.1.18 高压回路high tension loop X射线探伤机高压变压器次级绕组连接的电路。8. 1. 19 低压回路low tension loop 与供电线路、高压变压器初级绕组连接的回路。8. 1.20 曝光曲线图exposure table 表示某种材料在不同厚度时需要的射线曝光量的图表。8. 1. 21 曝光最exp05ure 射线透照材料

27、时，使胶片产生潜影的过程称为曝光。曝光时间与管电流的乘积为曝光量。8. 1. 22 增感系数intensifying factor 当其他条件不变时，无增感屏和有增感屏时所需的曝光时间之比。8, 1. 23 几何不清晰度geometrical unsharpness 由于辐射源具有定的尺寸，导致图象边缘的模糊。这种模糊也取决于缺陷到辐射源和胶片的相对距离。8. 1. 24 移动不清晰度movement unsharpness 由于辐射源，被照射物体和胶片在曝光过程中的偶然相对运动造成的不清晰度。8. 1. 25 荧光屏不清晰度8creen unsharpness 一般是由于荧光屏和胶片之间接触

28、不当或荧光乳剂中晶位散射而引起的不清晰度。8. 1. 26 散射不清晰度scatter unsharpness 由于被照射物质的晶粒对射线的散射丽造成的不清晰度。8. 1. 27 固有不清晰度inherent unsharpness 由于一次射线在乳剂中产生二次射线而引起图象扩展，造成的不清晰度。8, 1. 28 灰雾fog , fog density 除形成图象的射线的直接作用外，由于其他原因所造成的底片的光学密度的增加。主要有照相灰雾、曝光灰雾等。8, 1. 29 照相灰雾photographic fog 由于乳剂和冲洗条件造成的灰雾。即胶片固有灰雾与显影时的化学灰雾的总和。8. 1. 3

29、0 曝光灰雾expOSUTe fog 胶片由于受到不需要的电离辐射或光波的曝光而造成的灰雾。8, 1. 31 半衰期radioactive half-lifo 210 JBfT 7406.2-94 放射源的强度衰减到它的原来数值的一半所用的时间。8. 1. 32 半价层half-value layer( H V L) 能将已知射线强度减弱-半的某种物质的厚度。8. 1. 33 十倍衰减层tenth value layer( T V L) 能使已知射线强度减小到十分之一的某种物质的厚度。8. 1. 34 吸收absorption 一束射线通过物质时所发生的强度的降低。某主要原因是由于光电吸收，散

30、射引起的吸收和电子对的产生所引起的吸收。8. 1. 35 辐射剂量radiation dose 材料或生物组织在一定时间内所吸收的电离辐射量。可以是吸收剂量、照射量或剂量当量。8. 1. 36 剂量率dose tate 单位时间的射线照射剂量e用戈瑞每秒(Gy!s)。库仑每千克衫、(c/kg.s)、希沃特俘和、(Sv/s)表示。8. 1. 37 衰变曲线decay curve 表示自发衰变的放射源强度随时间变化的关系曲线。8. 1. 38 特性曲线characteristic curve 在一定的处理条件下.以常用对数表示的胶片曝光量与底片黑度之间的关系曲线。8.2 探伤设备8.2. 1 X射

31、线探伤机X-ray detecton appaTatus 用X射线管产生的X射线束透照试件来检测其内部缺陷的装置。8.2.2 挽带式X射线探伤机portable X-ray detection apparatus 便于搬运、携带的X射线探伤机。通常出X射线管头、控制器和低压电缆三部分组成。8.2.3 移动式(固定式)X射线探伤机mobile(stationary) X-ray detection apparatu.s 一般指在有射线防护设施的场所使用的，能在-定范围内移动固定)的X射线探伤机。通常由X射线管头、高压发生器、控制器和玲却装置等组成。8.2.4 工业X射线电视装置X-ray tel

32、evision apparatus for industry 对试件进行X射线探伤并将缺陷显示在电视监视器上的整套装置。8.2.5 电子回旋加速器betatron 又称电子感应加速器。沿圆周轨道加速的高能电子撞击靶产生高能X射线的设备。8.2.6 直线加速器linear accelerator 用很高的脉冲电压加速的高能电子撞击靶产生高能X射线的设备。8.2.7 射线探伤机gamma-ray detection appara tus 用放射性问!t.素的射线检测内部缺陷的设备。通常用钻(CO川、做(V川、绝(Cs)等作为射线源。8.3 零部件、附件及材料8. 3. 1 X射线管X-ray tu

33、be 又精X光管。借助于阳极和阴极之间电位差的作用加速电子束轰击阳极而产生X射线的真空管。注z接结构形式可分为固定阳假、旋转阳极、栅控和玲阴极场致发射等的X射线管e按用途可分为工业探伤、医疗诊断、医学治疗、结构分析和光谱分析等的X射线管.8.3.2 旋转阳极X射线管rotating target X-ray tube 工作时阳极靶旋转的X射线管。其焦点瞬时能量密度比固定阳极的高。211 JBfT 7406.2-94 8.3.3 栅控X射线管grid-controlled X-ray tube 在阳极靶与阴极之间装有控制栅极的X射线管。8.3.4 小焦点X射线管small focus X-ray

34、 tube 定性地描述焦点尺寸较小的X射线管。8.3.5 双焦点XJ射线管dual-focus X-ray J tube 具有两个不同焦点尺寸的X射线管。8.3.6 长阳极管long anode tube, rod anode tube 又称棒阳极X射线管。靶位于民管状阳极端部的X射线管。其X射线束一般呈周向发射，适用于管道口环形焊缝等的探伤。8.3.7 金属陶瓷X射线管metal-ceramic X-ray tube 用金属做套管和用陶瓷做外壳的X射线管。由该管装成的整机具有体积小、重量轻、坚固耐用等特点。8. 3. 8 X射线高压发生器X-ray high-Voltage generato

35、r 将电源电压、电流变为X射线管电压、管电流的装置。8. 3. 9 X射线控制器X-ray controller 操纵、控制X射线探伤机工作的电器装置。8. 3. 10 X射线管头X-ray tube head 由X射线管、防护件及其外部金属壳体等组成的部件，携带式X射线操伤机的管头中通常还装有高压发生器a8. 3. 11 X射线管防护X-ray tube shield 具有防护作用的X射线管头外部的金属壳体。8.3.12 X射线管窗口X-ray tube window X射线臂上透过X射线的窗口.8. 3. 13 阳极anode X射线管中产生X射线的正电极。8.3. 14 阴极cathod

36、e X射线管中产生电子流的负电极，一般由灯丝等构成。8. 3. 15靶targetX射线管用极上受电子束撞击而产生X射线的金属片。8. 3. 16 滤光板filter 为了有选择地减少某一段波长或能量范围的射线强度，而放置在射线通路中的保证滤光的吸收性材料薄板。8. 3. 17 增感式胶片screen-type film 又称屏式胶片。专门与荧光增感屏一起使用的X射线胶片。对于X射线或Y射线作用在这类增感屏上而发出的荧光有很高的敏感性回8. 3. 18 非增感式胶片non-screen-type film 又称元屏式胶片。一种X射线胶片，可与金属增感屏一起使用或单独使用。但不宜与荧光增感屏一起

37、使用。8.3. 19 晴盒cassette 一种不透光的盒子或袋。面向射线的一面，应易于透过X射线及射线。曝光时装带增感屏或不带增感屏的射线照相胶片。12 8.3.20 辐射源radiation source 能辐射电离辐射的设备或物质。8.3.21 密封源sealed source J8fT 7406.2-94 封装在密封容器中的或者安装在密闭壳体中的放射性源e8.3.22 源容器saurce holder 用作Y射线照相的密封源容器，可分为照相曝光用的容器和贮藏用的容器。且3.23剂量计dosemeter 测量射线剂量的仪器.8.3.24 剂量率计dose rate meter 测量射线剂

38、量率的仪器E8.3.25 黑度汁densitometer 测量底片黑度的仪器。8.3.26 图象增强器image ntensifier 能增强图象亮度的器件，产生的图象亮度高于X射线作用在一般荧光屏上所得的图象亮度。8. 3. 27 像质计image quality indicator , penetrameter 又称透度计。根据显示在射线底片上的图象情况，来比较和判断各种条件下的射线透照质量的器件。拉2原则上透度计的材质应与试件相同。型校有针状、孔状、阶梯形或槽形等。8. 3. 28 射线准直器collimator 为了限制射线束的方向和发散角度而使用的仪器。一般用吸收性很强的材料制作。8

39、.3.29 增感屏intensifying screen 用增感材料制成的薄片或薄膜，将其附在胶片上可增强人射线的感光作用，减少曝光时间。常用的有荧光增感屏、金属增感屏、荧光金属增感屏等回8.3.30 荧光增感屏fluorescent screen 由某种材料(例如鸽酸钙)制成的增感屏。这种材料在射线作用下会发出荧光。8.3.31 金属增感屏metal screen 一种由金属偌制成的增感屏(通常用铝或氧化铝等)。在射线作用下会发射二次辐射。8.3.32 荧光金属增感屏f1 uorescent-metallic screen 综合荧光增感辱和金属增感扉的某些增感特性的一种复合增感屏。通常用涂有

40、荧光材料的金属宿制成。8. 3. 33 参比黑度reference density 检查X射线底片黑度时作参考用的一系列不同等级的黑度值。8. 3. 34 标志beacon 指示规定区域中存在辐射的视觉或者音响信号。8.3.35 针孔pinhole 用薄片状吸收性材料制成的小直径通孔。8.3.36 曝光计exposure meter 测量曝光量的仪器。8.3.37 反散射栅antl scatter grid 由透光物质和吸收材料间隔带制成的器件。让一次射线通过，部分地吸收倾斜的二次射线。分为固定式反散射栅和活动式反散射栅。8. 4 性能参数8. 4. 1 焦点尺寸focus size 213

41、JBjT 7406.2-94 电子焦点在射线束轴向投影的面积08.4. 2 X射线管电压X-ray tuhe voltage 简称管电fLX射线管阴、阳极之间工作电压的峰值。常用单位千伏CkV) 8.4.3 额2i:管电压r川edtube voltagc 设计时所规定的最大工作管电压。8.4.4 X射线管电流x- ray t ube current 简称管电流。X射线管阴、阳极之间的工作电流的平均值。常用单位毫安CmAJo8.4.5 额定管电流rated tube current 设计时所规定的额定管电压下的最大工作管电流。8.4.6 额定工作规程rated operating叩ecifica

42、tion在额定管电压、额定管电流等规定条件下的工作规程。8.4.7 焦距focusto-film distance, source-to-film distance 射线照相时焦点到胶片的距离。8.4.8 缺陷灵敏度defect detection sensitivity 在规定条件下能发现缺陷的最小尺寸。8. 4. 9 分辨力resolution 在底片或荧光屏t可识别阁象之间的最小距离。通常用每毫米(厘米可辨认线条或线对的数目来表示。8. 4. 10 清晰度definition 底片或荧光屏图象细节轮廓的鲜明程度-8. 4. 11 光学密度optical density 又码:黑度。以常用

43、对数表示的人射线光通量与透射光通量的比值58.4. 12 图象对比度lmage contrast 又称反差。射线照相底片或荧光屏的图象上相邻区域的相对亮度(黑度或辉度)。8.4. 13 最大穿透力maximum penetration power 射线探伤机在额定条件下穿透物体的最大厚度。8. 4. 14 散射剂量dispersion dose 在射线探伤机的窗口处掩挡规定铅当量的屏蔽，在规定部位测得的单位时间内的散乱射线剂量。8.4. 15 X射线管寿命lile 01 X-ray tube X射线管不低于规定辐射剂量率的累积工作时间。8.5 检测方法8. 5. 1 闪光射线照相术flash

44、radiography 曝光时间极短，用以研究瞬态效应的射线照相法。8.5.2 荧光透视法fluoroscopy 以X射线透过物体(试件).在荧光屏I二形成可见图象。可直接观察的方法。8.5.3 层析X射线照相术tomography 对试件中预定层面的射线照相的技术。8.5.4 射线照相术gamma-radiograpl、y使用射线透照试件摄影的方法。214 JB/T 7406. 2-94 8.5.5 中子射线照相术neutron radiography 利用中子射线透照试件摄影的方法。8. 5. 6 X射线电视检查法television-f1 uoroscopy 将射线曝光的图象转换成视频信

45、号，并传递给电惧的检查方法。8.5.7 X射线照相术X-radiography 利用X射线进行射线照相的技术。8.5.8 全景曝光panoramlC exposure 又称周向照射。用圆心处或球心处的单一射线源同时对圆周或球面上的胶片作-次照射。8.5. 9 X射线管寿命试验life test 01 X-ray tuhc 在规定条件下测定X射线管寿命的试验。8. 5. 10 针孔摄影法aperture photographic method 用针孔成像的原理拍摄X射线管焦点尺寸的方法215 A却显示安C培匣数暗盒B型显示靶白色X射线板波法半价层半衰期保护膜曝光灰雾曝光计曝光盘曝光曲线阂背景背散

46、射比较测量法比较读出比较试块比较系统比较线圈边缘效应标志标准试块表面波表面波法表面被探头表面回波波前波型波列布拉格衍射声成像216 JB/T 7406.2-94 附录A汉语萦哥|(参考件)A A-scope ampere turns cassette B R-scope target white X-rays plate wave technique haH.value layer( H V L) radioactive half-life diaphragm exposure fog exposure meter exposure exposure table background hack

47、-scatter comparatlve measurements comparative read-out reference block comparahve system comparator coil edge effcct beacon standard test block.calibration hlock surface wave surface wave technique surface wave probc surface echo wave front mode wave tratn acoustical imaging by Hragg diffraction 6.

48、1. 52 4.4.4 8. 3. 19 6. l. 53 8.3. IS 8. 1. 2 6. 5. 8 8. 1. :1 2 8. 1. :n 6. J. 5 8. 1. 30 8.3.36 8. 1. 21 8. 1. 20 8. 1. 12 5. 5. 1 5.56 6. . 19 5. :1 .16 5. :1. 9 5. 1. 20 8. 3. 34 6.:l.J8 6. 1. -1 6. 5. 7 6. ;J. 9 6. 1. .,3 自.1.76. 1. 6 6. 1. 8 6. 6. 11 JB/T 7406. 2-94 C C型显示C-scope 6. 1. 54 参比黑度

49、reference denstity 8.3.33 参比试件reference test peces 5.3.20 参比线圈reference col 5. 3. 8 参考声柬reference wave 6.6.3 侧面side wall 6. 1. 28 层析X射线照相术tomography 8.5.3 差动测量法differential measurements 5. 5. 3 差功读出differental read-out 5. 5. 7 差动换能器differential transducer 7. 3, .i 差动前置放大器differential preamplifi盯7.3.G 差动系统differential system 5.3. 18 差动线圈differential coil 5. 3. 10 长阳极管long anode tube , rod anocle tube 8. 3. 6 超乳化