GB T 26218.1-2010 污秽条件下使用的高压绝缘子的选择和尺寸确定 第1部分:定义、信息和一般原则.pdf
《GB T 26218.1-2010 污秽条件下使用的高压绝缘子的选择和尺寸确定 第1部分:定义、信息和一般原则.pdf》由会员分享,可在线阅读,更多相关《GB T 26218.1-2010 污秽条件下使用的高压绝缘子的选择和尺寸确定 第1部分:定义、信息和一般原则.pdf(44页珍藏版)》请在麦多课文档分享上搜索。
1、ICS 29.080.10 K 48 GB 国家标准国不日11: ./、民中华人GB/T 26218.1-2010 代替GB/T5582-1993、GB/T16434-1996 污秽条件下使用的高压绝缘子的选择和尺寸确定第1部分:定义、信息和一般原则Selection and dimensioning of high-voltage insulators intended for use in polluted conditions一Part 1 : Definitions, information and general principles CIECjTS 60815-1: 2008 ,
2、MOD) 2011-01-14发布数码防伪中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会2011-07-01实施发布GB/T 26218.1-2010 目次前言.1 1 范围和目的-2 规范性引用文件3 术语和定义、缩略语.2 4 建议的绝缘子选择和尺寸确定方法45 绝缘子选择和尺寸确定的输入参数.6 系统要求.6 7 环境条件-8 现场污秽度的评定.8 9 绝缘选择和尺寸确定.12 附录A(资料性附录)设计方法流程图.16 附录B(资料性附录)污秽闪络机理.四附录C(规范性附录)ESDD和NSDD的测量21附录D(规范性附录)B类污秽度的评定26附录E(规范性附录)试验室试验
3、方法的使用.28 附录F(规范性附录)人工污秽试验污秽度和接收准则的非随机法和统计法29附录G(资料性附录)收集污秽地区绝缘子性能信息的调查表举例附录H(资料性附录)形状因数.34 附录1(资料性附录)爬电比距和统一爬电比距(USCD)间的关系附录J(资料性附录)本部分章条编号与IEC/TS60815-1 : 2008章条编号对照36附录K(资料性附录)本部分与IEC/TS60815-1: 2008技术差异及其原因37参考文献.39 GB/T 26218.1-2010 剧昌GB/T 26218(污秽条件下使用的高压绝缘子的选择和尺寸确定分为5个部分:-一一第1部分z定义、信息和一般原则一一第2
4、部分z交流系统用瓷和玻璃绝缘子一一第3部分z交流系统用聚合物绝缘子一一第4部分z直流系统用瓷和玻璃绝缘子一一第5部分:直流系统用聚合物绝缘子本部分为GB/T26218的第1部分。本部分修改采用IEC/TS60815-1 :2008(污秽条件下使用的高压绝缘子的选择和尺寸确定第1部分:定义、信息和一般原则)(英文版)。本部分根据IEC/TS60815-1: 2008重新起草。为了方便比较,在资料性附录J中列出了本部分章条编号与IEC/TS60815-1: 2008章条编号的对照一览表。本部分删除了IEC/TS60815-1 :2008中与使用定向灰尘沉积器(DDDG)测量污秽有关的内容(包括正文
5、中的所有有关内容和附录E)。这是因为我国现在不使用并且也不准备使用定向灰尘沉积器,而且在国际上只有个别国家使用定向灰尘沉积器。本部分对IEC/TS60815-1: 2008最主要的修改是根据我国的实践经验和试验数据重新绘制了图1A类现场污秽度参照盘形悬式绝缘子的ESDD/NSDD和SPS间关系。本部分还删除了IEC/TS 60815-1 :2008中的图2A类现场污秽度一一参照长棒形绝缘子的ESDD/NSDD和SPS间关系。这是因为我国长棒形绝缘子使用量很小,实践经验很少,试验数据几乎没有。因此,目前还无法绘制符合我国国情的这样的图。考虑到我国国情,在采用IEC/TS60815-1 :2008
6、时,本部分还做了一些修改。有关技术性差异己编入正文并在它们所涉及的条款的页边空白处用垂直单线(I )标识。在附录K中给出了这些技术性差异及其原因的一览表以供参考。为便于使用,本部分还做了下列编辑性修改:a) 本技术规范一词改为本部分;b) 用小数点代替作为小数点的逗号,;c) 删除IEC/TS60815-1: 2008的前言。本部分和第2部分代替GB/T5582-1993(高压电力设备外绝缘污秽等级、GB/T16434-1996 高压架空线路和发电广、变电所环境污秽分级及外绝缘选择标准儿本部分规定了现场污秽度等级及较全面的评定方法。GB/T5582-1993仅规定了户外外绝缘污秽等级(与本部分
7、规定的现场污秽度等级意义相同),但未规定评定方法。GB/T16434-1996规定了环境污区分级(与本部分规定的现场污秽度等级意义相同),但在评定污区分级时仅考虑了ESDD,未考虑NSDD,也未规定用SES来评定。GB/T 26218的第2部分与GB/T5582-1993和GB/T16434-1996相关的技术内容变化见该部分的前言。本部分的附录C、附录D、附录E、附录F为规范性附录,附录A、附录B、附录G、附录H、附录I、附录J、附录K为资料性附录。本部分由中国电器工业协会提出。本部分由全国绝缘子标准化技术委员会归口(SAC/TC80)。I GB/T 26218.1-2010 本部分负责起草
8、单位:国网电力科学研究院、西安高压电器研究院有限责任公司西安电瓷研究所。本部分参加起草单位:国家电网公司、中国电力科学研究院、河北省电力公司、清华大学、重庆大学、中国南方电网公司、中国电力工程顾问集团公司、华东电网公司、华中电网公司、上海超高压输变电公司、华北电网公司、华北电科院、山东电科院、广东中试所、东北电科院、青海电科院、中南电力设计院、西南电力设计院、陕西省电力公司。本部分主要起草人:杨迎建、孙西昌、王绍武、吴光亚、李大楠、宿志一、叶廷路、梁曦东、范建斌、舒立春、陈永华、苗桂良、钱之银、赵全江、张予、刘新平、刘仲全、刘亚新、肖勇、陈原、沈庆河、钟定珠、杨铁军、张仲秋、云涛。E GB/T
9、 26218.1-2010 1 范围和目的污秽条件下使用的高压绝缘子的选择和尺寸确定第1部分:定义、信息和一般原则GB/T 26218的本部分规定了通用定义、现场污秽度(SPS)的评定方法,并概括了在一定污秽环境中对某类绝缘子得出大致性能判断的原则。本部分适用于污秽条件下使用的高电压系统用绝缘子的选择以及相关尺寸确定。本部分一般适用于所有类型外绝缘,包括构成其他电器的部件的绝缘。后面使用的术语绝缘子指任何类型的绝缘子。绝缘子在污秽条件下的性能进行较深层次的研究可以参考CIGREC4文件lJ,2J,3J,这些文件对GB/T26218提供了有益补充。本部分不涉及雪、冰或海拔对污秽绝缘子的影响。虽然
10、这个题目与CIGRElJ , 4J有关,但现有知识很有限,实践也各不相同。本部分的目的在于: 了解和识别影响绝缘子污秽性能的系统、应用、设备和现场的参数; 根据得到的数据、时间和资源了解并选择合适的方法选取和设计绝缘子; 表征现场污秽的类型并确定该现场的污秽度(SPS); 从SPS确定参考的统一爬电比距(USCD); 考虑该候选绝缘子的特性(特别是绝缘子外形)将其参考USCD按现场、应用和系统类型进行校正; 确定可能解决方案的相对优点和缺点; 评定各种解决办法或减污措施的需求和优点; 如有要求,确定验证所选取绝缘子的性能的适当的试验方法和参数。2 规范性引用文件下列文件中的条款通过GB/T26
11、218的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分。GB/T 156 标准电压(GB/T156-2007 , IEC 60038:2002 , MOD) GB/T 2900.8 电工术语绝缘子(GB/T2900.8一2009,IEC60050-471 : 2007 , IDT) GB/T 4585-2004 交流系统用高压绝缘子的人工污秽试验(IEC60507: 1991 , IDT) GB/T 7253
12、标称电压高于1000V架空线路绝缘子交流系统用瓷或玻璃绝缘子元件盘形悬式绝缘子元件的特性(GB/T7253一2005,IEC60305: 1995 , MOD) GB/T 22707 直流系统用高压绝缘子的人工污秽试验(GB/T22707-2008 , IEC/TR 61245: 1993,岛10D)IEC 60433 标称电压高于1000V的架空线路用绝缘子一一交流系统用瓷绝缘子一一-长棒形绝缘子元件特性1 GB/T 26218.1-2010 3 术语和定义、缩略语下列术语和定义、缩略语适用于本部分。3. 1 术语和定义下面给出的术语和定义是GB/T2900.8中没有出现的或者是与GB/T2
13、900.8中给出的不同。3. 1. 1 参照盘形悬式绝缘子reference cap and pin insulator U120B或U160B盘形悬式绝缘子(按GB/T7253),通常用7个-9个这样的绝缘子组成绝缘子串来测量现场污秽度。3.1.2 参照长棒形绝缘子reference long rod insulator 用来测量现场污秽度的LlOO长棒形绝缘子(按IEC60433),这样的绝缘子的伞应平滑元棱,上表面倾角为140_240,下表面倾角为80,._.160,至少有14个伞。3. 1. 3 绝缘子主体insulator trunk 绝缘子的中间绝缘部分,伞由此伸出。注:对直径较小
14、的绝缘子也称作为杆体。3. 1. 4 伞sheds绝缘子主体上突出的绝缘部分,用以增加爬电距离。注:9.3示出了一些典型伞外形。3. 1.5 爬电距离creepage distance 绝缘子正常承载运行电压的两部件间沿绝缘件表面的最短距离或最短距离的和。注1:修改GB/T2900.8中471-01-04注2:水泥或其他非绝缘的胶合材料表面不能看作爬电距离部分。注3:如果绝缘子绝缘件部分地覆盖有高电阻层,例如半导电袖,那么这样的部分应考虑作为有效的绝缘表面并且其中的距离应包括在爬电距离内。3. 1. 6 统一爬电比距unified specific creepage dstance USCD
15、绝缘子的爬电距离与该绝缘子上承载的最高运行电压的方均根值之比。注1:此定义与使用了设备的最高电压为线对线值的爬电比距定义不同(对于交流系统通常为Um/4)。对于线对地绝缘,此定义产生的值将是GB/T5582-1993定义的爬电比距给出的值的4倍。注2:注3:它一般以口mm旷IkV表达并且通常表示为最小值03. 1. 7 绝缘子外形参数insulator profile parameters 对污秽性能有影响的一组几何参数。3. 1. 8 2 盐密salt deposit density SDD 在绝缘子一个给定表面(金属部件和装配材料不包括在此表面内)上为进行人工污秽试验而人工沉积的污秽物中的
16、氯化铀CNaCl)量除以该表面的面积,一般用mg/cm2表示。3. 1. 9 等值盐密equivalent saIt deposit density ESDD GB/T 26218.1-2010 溶解在给定的去离子水中时与从绝缘子一个给定表面清洗下的自然沉积物有相同体积电导率的氧化铀CNaCl)的量除以该表面的面积,一般用mg/cm2表示。3. 1. 10 不溶沉积物密度(简称灰密)non soluble deposit density NSDD 从绝缘子一个给定表面上清洗下的不溶残留物的量除以该表面的面积,一般用mg/cm2表示。3. 1. 11 现场等值盐度site equivalent
17、salinity SES 按GB/T4585盐雾试验的盐度,一般以kg/旷表示。该盐度能够在相同电压下在相同绝缘子上产生与现场自然污秽可比较的泄漏电流峰值。3. 1. 12 现场污秽度site pollution severity SPS 在经过适当的积污时间后记录到的ESDD/NSDD或SES的最大值。3. 1. 13 现场污秽度等级site pollution severity class 从很轻到很重现场的污秽度的分级,是按SPS的大小划分的。3. 1. 14 带电积污系数energy coefficient K1 相同型式绝缘子带电所测ESDD值与非带电所测ESDD值之比。3. 1.
18、15 形状积污系数profile coefficient K2 参照绝缘子所测ESDD值与某种绝缘子所测ESDD值的比值。3.2 缩暗语ESDD 等值盐密Ff 形状因数NSD 不溶沉积物NSDD 不溶沉积物密度SDD 盐密SES 现场等值盐度SPS 现场污秽度TOV 暂态过电压USCD 统一爬电比距3 G/T 26218. 1-2010 4 建议的绝缘子选择和尺寸确定方法4. 1 绪言推荐了3种根据系统要求和环境条件从样本上选取适宜绝缘子的方法(表l的方法1,方法2,方法3),附录A示出了这些方法的流程图。表l示出了各种方法需要的数据和决策。各种方法的适用性取决于该工程中可得到的数据、时间以及
19、经济情况。选取绝缘子型式和尺寸正确性的置信度也随过程中做出的决策而变化。如果在选取过程中想采取简捷办法,那么得到的解决办法将提供过设计而不是运行中具有较高失效风险的那种设计。实际上,绝缘子的污秽性能是由环境和绝缘子间的复杂的和动态的相互作用来决定的。附录B给出了污秽内络机理的简短的概述。4.2 方法1在方法1中,这种相互作用可以充分地在运行的线路或变电站体现,也可以在试验站体现。4.3 方法2在方法2中,这种相互作用不能由试验室试验即在GB/T4585-2004和GB/T22707中规定的试验完全地体现出来。4.4 方法3在方法3中,这种相互作用仅通过校正因数有限地体现和表示出来。对于选取和尺
20、寸确定过程,方法3是快速的和经济的,但可能会导致SPS的低估或由于过设计而导致不经济的解决方案。当从这3种方法中来选择时必须考虑包括强制性性能要求的总费用。只要情况允许,宜采用方法1或方法2。表1绝缘子选择和尺寸确定的3种方法方法l(使用已有经验)方法2(测量和试验)方法3(测量和设计) 使用相同现场、临近现场 测量或估计现场污秽度。 测量或估计现场污秽度。或条件类似现场的现场 用外形和爬电距离指南选取候选 使用该数据根据外形和爬电距离方式经验或试验站经验。绝缘子。指南选择绝缘的型式和尺寸。 选择适当的试验室试验和试验准则。 校验/调整候选绝缘子。 系统要求。 系统要求。 系统要求。输入 环境
21、条件。 环境条件。 环境条件。数据 绝缘子参数。 绝缘子参数。 绝缘子参数。 性能历史记录。 可得到的时间和资源。 可得到的时间和资源。 现有绝缘满足工程要求并 有时间测量现场污秽度吗? 有时间测量现场污秽度吗?且要采用相同的绝缘设计吗?是否有无有元使用相同使用不同的绝缘结测量估计测量估计决策的绝缘构、材料或尺寸。设计。利用经验预选新的解决办法或尺寸。 污秽类型决定所使用的试验室试验方法。 现场污秽度决定试验值。4 GB/T 26218.1-2010 表1(续)方法l(使用已有经验)方法2(测量和试验)方法3(测量和设计) 如有必要,使用外形和爬 选取候选绝缘子。 按指南根据污秽和气候类型选择
22、电距离指南,修正现有绝 如果没有候选绝缘子的耐污性能适当外形。选择缘的参数使其适应于使数据,则进行试验。 按指南根据污秽水平和绝缘的外程序用方法2或方法3。 如有必要,按试验结果调整选择形设计及材料的校正因数确定绝及尺寸。缘尺寸。 具有良好准确度的一种 准确度随对现场污秽度评定的误 与方法1或方法2比较可能是一选择。差程度和/或简化程度变化的一个尺寸过大或尺寸不足的解决种选择,与所选的试验室试验的办法。惟确度假设条件和/或局限性有关的一 准确度随对现场污秽度评定的误种选择。差程度和/或简化程度以及选取的校正因数的适用性变化的一种选择。这三种方法的时间长短如下: 对于运行经验(方法1),5年10
23、年的满意的运行时间是可接受的。根据气候和污秽事件的度和污秽度,此时间可能需要延长或缩短。 对于试验站经验(方法1),认为2年5年调研属于典型时间。根据试验的方案或试验污秽度,此时间可能会延长或缩短。对于现场污秽度的测量(方法2和方法叫S叫至少需要1年,ESD川叫时叫少需要3年5年(见8.2)。 对于现场污秽度的估计(方法2和方法3),对气候、环境进行研究并对所有可能的污秽源进行识别和分析是必要的。因此,这种估计并不能快速完成并且可能需要几周或几个月时间。 对于试验室试验(方法2),需要的时间是几周或几个月,这取决于试验类型和试验规模。后面的条款给出了关于系统要求、环境以及现场污秽度确定更多的信
- 1.请仔细阅读文档,确保文档完整性,对于不预览、不比对内容而直接下载带来的问题本站不予受理。
- 2.下载的文档,不会出现我们的网址水印。
- 3、该文档所得收入(下载+内容+预览)归上传者、原创作者;如果您是本文档原作者,请点此认领!既往收益都归您。
下载文档到电脑,查找使用更方便
5000 积分 0人已下载
下载 | 加入VIP,交流精品资源 |
- 配套讲稿:
如PPT文件的首页显示word图标,表示该PPT已包含配套word讲稿。双击word图标可打开word文档。
- 特殊限制:
部分文档作品中含有的国旗、国徽等图片,仅作为作品整体效果示例展示,禁止商用。设计者仅对作品中独创性部分享有著作权。
- 关 键 词:
- GB 26218.1 2010 污秽 条件下 使用 高压 绝缘子 选择 尺寸 确定 部分 定义 信息 一般 原则

链接地址:http://www.mydoc123.com/p-233129.html