GB T 25752-2010 差压式气密检漏仪.pdf
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1、ICS 23. 160 J 78 道国中华人民共和国国家标准G/T 25752-2010 差压式气密检漏仪Differential pressure air leak tester 2010-12-23发布数码防伪中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会2011-10-01实施发布GB/T 25752-2010 剧吕本标准由中国机械工业联合会提出。本标准由全国真空技术标准化技术委员会归口。本标准负责起草单位:博益(天津)气动技术研究所有限公司。本标准参加起草单位:浙江三花通产实业有限公司、沈阳金科精密仪器设备有限公司、合肥皖仪科技有限公司、安徽中科智能高技术有限责任公司、
2、北京拓奇星自动化技术有限公司、沈阳真空技术研究所。本标准主要起草人:陈乃克、艾子蔚、张伟明、王勇、李赫峰、黄文平、伍先达、万在新、彭光正、王学智。I GB/T 25752-2010 差压式气密检漏仪1 范围本标准规定了差压式气密检漏仪的术语和定义、分类、结构与基本参数、试验条件、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。本标准适用于以差压传感器为感压元件检测被测物和基准物之间压力差来确定被测物是否存在泄漏和漏率大小的各类差压式气密检漏仪(以下简称检漏仪)。2 规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版
3、均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。GB/T 191 包装储运图示标志CGB/T191-2008 ,IS0 780:1997 ,MOD) GB/T 15479一1995工业自动化仪表绝缘电阻、绝缘强度技术要求和试验方法3 术语和定义下列术语和定义适用于本标准。3. 1 差压式气密检漏仪differential pressure air leak tester 以差压传感器为感压元件检测被测物和基准物之间压力差来确定被测物是否存在泄漏和漏率大小的仪器或装置。3.2 基准物master 和被测物的形状
4、、材质及容积相同且其漏率和被测物相比可以忽略的参照物体。3.3 窑积校正器internal volume calibrator 通过精确、微小的容积变化量,使检漏仪产生不同压力差的装置。4 分类、结构与基本参数4. 1 分类检漏仪按测试压力分为:a) 真空检漏仪,测试压力低于1X105PaC表压压力范围为一100kPaO kPa) ; b) 微压检漏仪,测试压力范围为1X105Pa1. 5X105 PaC表压压力范围为okPa50 kPa); c) 低压检漏仪,测试压力范围为1.5 X 105 Pa3 X 105 PaC表压压力范围为50kPa200 kPa) ; d) 中压检漏仪,测试压力范
5、围为3X 105 Pa8 X 105 PaC表压压力范围为200kPa700 kPa); e) 高压检漏仪,测试压力高于8X105PaC表压压力高于700kPa)。4.2 结构检测带有充气口的被测物的一般检漏仪(结构示意图见图1)。检测没有充气口的密封元器件的检漏仪(结构示意图见图2)。1 GB/T 25752-2010 2 3 4 5 6 7 8 一一-一一一一一一一一一12 11 1一一气源;5 平衡阀;2一一减压阀;6一一差压传感器;3一一测试压力传感器t7一球阀;4一一加压排气阀;8一一基准物;注:虚线内为一般检漏仪标准气路。9一一被测物;10-一球阀11-容积校正器;12 平衡阀。圈
6、1一般检漏仪结构示意图2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 器感;传阀力气阀压排源压试压气减测加-AnLqAH立5一一平衡阀56-一差压传感器;9 基准物;10密封容器z13一一容积校正器;14一一大泄漏检测阀215一一配容容器;16一一平衡阀。7 配容容器;11 密封容器;8一一大泄漏检测阀;12一一被测物;图2密封元器件检漏仪结构示意图4.3 基本参数基本参数按表1规定。最大允许误差土5%稳定性士2%表1基本参数测试压力传感器误差士2%(相对于满量程)差压传感器误差士1%(相对于满量程)4.4 技术要求4.4. 1 正常工作条件a) 温度:(540)OC;b) 相对湿度:不大于85%
7、; 2 GB/T 25752-2010 c) 气惊:洁净、干燥且不含腐蚀性气体,露点温度不大于一25.C; d) 交流电源电压:(100240)V;e) 电源频率:50Hz或60Hz; f) 环境中元紊乱气流、紊乱热流、剧烈振动、强电场、强磁场。4.4.2 零点漂移检漏仪开机后,差压传感器的零点显示值应不超过满量程的士1%,其漂移量应不超过满量程的:1:1%。4.4.3 气密性检漏仪气密性应符合表2的规定。表2检漏仪气密性测试压力范围泄漏产生的压力差真空z低于1X 105 Pa( -100 kPaO kPa) 微压:lX105Pa1. 5X105 Pa(O kPa50 kPa) 士5Pa 低压
8、:1. 5 X 105 Pa3 X 105 Pa(50 kPa200 kPa) 中压:3X105Pa8X105 Pa(200 kPa700 kPa) 高压:高于8X105Pa(700 kPa) 士20Pa 注:括号中为表压压力。4.4.4 气源压力变化影响检漏仪在检测过程中,由于气源压力发生变化而引起的显示变化值应符合表2的规定。4.4.5 绝缘电阻检漏仪绝缘电阻应符合GB/T15479-1995中4.1的规定。4.4.6 泄漏电流在开机状态时,外壳与地之间泄漏电流应不大于2mA。4.4.7 绝缘强度检漏仪绝缘强度应符合GB/T15479-1995中4.2的规定。4.4.8 外观和附件a) 检
9、漏仪的显示装置应元影响读数的划痕,应有良好的表面处理,不应有镀层脱落、锈蚀、划伤、站污等痕迹。面板的标志、文字应鲜明、清晰。b) 检漏仪应标有产品名称、型号、测试压力范围、工作电压、制造厂名、出厂编号、制造年月等标识,并清晰可辩。检漏仪附件包括减压阀、过滤器、电源线应齐全。4.4.9 正常工作性能a) 开机后,检漏仪的自检功能、加压保持动作、减压阀的调节性能、报警功能应保持良好。b) 检漏仪上的开关、旋钮、功能键及连接件、接插件不应有松动现象,应能正常工作。4.4. 10 温度适应性在环境温度为5.C、20.C及40.C时,在每一温度上其最大允许误差、稳定性应符合4.3的要求。4.4. 11
10、抗运输环境性能检漏仪在包装条件下做连续冲击试验和跌落试验,试验后包装件元损坏,其最大允许误差、稳定性应符合4.3的要求。5 试验条件5. 1 主要试验设备5. 1. 1 流量计:最大允许误差应不大于士1%。3 GB/T 25752-2010 5.1.2 压力计:最大允许误差应不大于:f:1%。5.1.3 差压计:最大允许误差应不大于:f:0.5%。5.1.4 校准漏孔:最大允许误差应不大于土5%。5.1.5 容积校正器:最大允许误差应不大于士1%。5.2 附属设备5.2.1 温度计:最大允许误差为:f:1.C。5.2.2 湿度计:最大允许误差为:f:5%。5.2.3 气压计:最大允许误差为士1
11、00Pa。5.3 环境要求5.3.1 温度:15.C30.C。5.3.2 相对湿度:不大于85%。5.3.3 大气压力:以当地试验室气压为准。5.3.4 介质为洁净、干燥空气,露点温度不大于一25.C。5.3.5 环境中元紊乱气流、紊乱热流、剧烈振动、强电场、强磁场。6 试验方法6. 1 最大允许误差试验6. 1. 1 一般检漏仪最大允许误差试验6. 1. 1. 1 试验方法首先将检漏仪放置在检验场所至少1h,预热180s后,将校准漏孔连接至被测物侧,并保证基准物侧外接气路的容积与被测物侧的容积大小相同。然后调整测试压力至校准漏孔的标称压力,并按表3要求设置检漏仪的各时间参数后,启动检漏仪进行
12、测试,记录检漏仪漏率测量值。测试共进行三次,每次测试需间隔一定时间,以确保气路恢复到原始温度及形变状态。然后在同样的测试压力和环境条件下用流量计对校准漏孔检测。表3时间设定要求测试压力范围加压时间/s真空:低于1X 105 Pa( 100 kPa-O kPa) 微压:IXI05Pa-1. 5XI05 Pa(O kPa-50 kPa) 低压:1.5XI05 Pa-3XI05 PaC50 kPa-200 kPa) 10 中压:3 X 105 Pa-8 X 105 Pa(200 kPa-700 kPa) 高压:高于8X 105 Pa(700 kPa) 注z括号中为表压压力。6. 1. 1. 2 检漏
13、仪漏率测量值按照公式(1)计算检漏仪漏率平均测量值。式中:Ql +Q2 +Q3 一平衡时间Is检测时间/s5 10 C 1 ) 。一一检漏仪漏率平均测量值,单位为帕立方米每秒CPa m3/s)或标准大气压立方厘米每分钟Catm. cm3 /min); Ql一一检漏仪漏率第1次测量值,单位为帕立方米每秒CPa.m3/s)或标准大气压立方厘米每分钟Catm. cm3 /min); Q2一检漏仪漏率第2次测量值,单位为$自立方米每秒CPa.m3/s)或标准大气压立方厘米每分钟4 GB/T 25752-2010 (atm. cm3 /min); Q3一一检漏仪漏率第3次测量值,单位为帕立方米每秒(Pa
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