YS T 35.3-1992 高纯锑化学分析方法.发射光谱法测定铋量.pdf

《YS T 35.3-1992 高纯锑化学分析方法.发射光谱法测定铋量.pdf》由会员分享，可在线阅读，更多相关《YS T 35.3-1992 高纯锑化学分析方法.发射光谱法测定铋量.pdf（5页珍藏版）》请在麦多课文档分享上搜索。

1、YS 中华人民共和国有色金属行业标准YS/T 35. 135.4-92 高纯锦化学分析方法1992晒03-13发布1993-0个01实施中国有色金属工业总公司发布目录YS/T 35. 1-92 高纯锦化学分析方法Ag-DDC分光光度法测定呻量. ( 1 ) YS/T 35. 2-92 高纯锦化学分析方法化学光谱法测定铮、银、铜、铺、镰、铅、镜、金、铁和锤量.( 5 ) YS/T 35. 3-92 高纯锦化学分析方法发射光谱法测定铅量.(10 ) YS/T 35. 4-92 高纯锦化学分析方法极谱法测定硫量. . (12 ) 中华人民共和国有色金属行业标准高纯锦化学分析方法发射光谱法测定销量1

2、主题内容与适用范围本标准规定了高纯锦中铅含量的测定方法。YS /T 3 5. 3 - 9 2 本标准适用于锦(99.999%)中铅含量的测定。测定范围:0.000 03%0. 0005%。2 引用标准GB 1. 4 标准化工作导则化学分析方法标准编写规定GB 1467 冶金产品化学分析方法标准的总则及一般规定3 方法原理将粉末状试样置于普通孔形石墨电极中，直流电弧激发，光谱测定。4 试剂和材料4. 1 高纯锦粉，99.999%，归060m，光谱检查无链。4.2 三氧化二锡，99.99%。4.3 石墨电极，如mm。4.4 感光板，紫外E型。5 仪器5.1 平面光栅光谱仪:倒数线色散率不大于0.1

3、85nm/mm。5.2 光惊:直流电弧，电压220380V，电流530A。5.3 测微光度计。5.4 电极z下电极普通孔形，Xh，mm:4.5X2. 5，上电极半球形。6 分析步骤6.1 试料称取2g试样。6.2 光谱分析试样的制备在玛瑞研钵中将试料(6.1)研磨至4060目，压入普通孔形下电极(5.4)，装入量与孔口平，压实为限，以备摄谱。6. 3 测定6.3.1 标样制备将高纯锦粉(4.1)和三氧化二锵(4.2)按计算量配成0.1%的共标样，再用高纯锦粉按计算量依次稀中国有色金属工业总公司1992-03-13批准1993-0个01实施10 YS/T 35.3-92 释，制得一套标样，其含量

4、见表1。将部分标样装入孔形下电极(5.4)中。表1标样编号锵含量，%6.3.2 测定条件摄谱仪:波段范围250350nm，三透镜照明系统，狭缝宽10m，中间光栏高5mm。光源:电压220V，电流9A，直流电弧阳极激发。预燃时间:20s 曝光时间:60s 暗室处理:按感光板说明书配制显影液，在20(士l)OC显影4min，定影，水冲洗，干燥。黑度测量:S标尺，狭缝宽0.2mm. 分析线对:Bi306.77 nm Sb 271. 67 nm。7 分析结果的计算与表述基底空臼将S黑度值换算成W黑度值，计算t.W;以t.W一logC绘制工作曲线;从工作曲线上查得试料中馆、的百分含量。8 允许理实验室之

5、间分析结果的差值应不大于表2所列允许差。表2锁含量O. 000 030. 000 10 0. 000 100. 000 50 附加说明:本标准由中国有色金属工业总公司标准计量研究所提出。本标准由峨崛半导体材料研究所负责起草。本标准主要起草人邢文魁。% 允许差0.000 03 0.000 08 11 N|叮-mmlF.也(京)新登字023号回由问中华人民共和国有色金属行业标准高纯锦化学分析方法YS/T 35.1-35.4-92 中国标准出版社出版(北京复外三里河)中国标准出版社北京印刷厂印刷新华书店北京发行所发行各地新华书店经售版权专有不得翻印导开本880X 1230 1/16 印张174字数30000 1992年8月第一版1992年8月第一次印刷印数1-2000 定价2.10元193-41 书号:155066 2-8290 峰标目