GB T 5965-1986 半导体集成电路双极型门电路空白详细规范.pdf

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1、中华人民共和国国家标准半导体集成电路双极型门电路空白详细规范Blank detail specification for semiconductor integrated circuit bipolar gates (可供认证用)、UDC621.3.049 GB 5965-86 本周范规定(编制半导体集成电附政悦明门电路以F简称器件)rfl!l规范的基本原则。要求的资料下列项要求的内容与前时在:rr 1仔栏资料11:HJv:，编制诈细规范时!但与!写在相应的栏中.详细规范的识别(1)授权发布Ytlll ! 11出的国家标准化机构名称。但V1 EC(口nlj范的编。(副总规范J和年代口。详tll

2、l);j泣的国东标准编U、发布H月IH之间家机;准体系;后耍的资料。器件的识别。主器件类啊。典1归结构和!但jlJ资料。如果设计的器件是多m途的，1但在详细1JI范111说明。这比川途x，j器件所虫求的特性和1检验都应得到满丛。外)启用，有1(!.lj(;) l-j外形千1天的参考文件。质iit汗出类别。能在仔炎:器件之间迸fj-比较的址ifi:琪的性能参号数拙。小:);j111 11, tll拈U所扩IJ内容仅供JH忡，编制rtlll);JI 11点JIj，不必有二详细规也r!列出。本规范q1, ?l，j牛，:11: !j(;额立的活川时，x丘习之!但在详细规范11填写的值。国家标准局198

3、6-04-03发布1986-09-01试行GB 5965-86 一段哩( J 评f_器件质if1:的依据: GB 4589-84 (半导体集成电路总规范器件型讨)HIH规范订货、资料:见本规范第7审。1 机械说明( 2 外形依拍;:J EC 191 (半导体器件的机械书);准化CIECQ详细规范的编号、发布号和(或)EI期详细规范的同家标准编号若国家标准编.I.j1 ECQ编:土致，本栏可以不坝。)简要说明双极理集成门l路半叶-体材料:CSi) 封装:;封1I:气，;1才) 外形|冬1:C r吁在本规范第10市列出评1lI资料逻辑衍号、jQHI划和l功能在E见*规;11自引LH端识)JIJ:C

4、 1闯出引线恃列，包括|刽ij;柯:lJ江fiJ;忐z按G 4589-84第2.5条和l本规范第6IJ:C 1J在今:剧也第6市列出器件上标志的中j;U IJ 9IJ) 11年:品种z3 质量评定类别挂G4589-8-1第2.6条参考数据按牛;规范鉴定合格的器件，其制造单位的h关资料，可在合格产品-览在巾ft到4 极限值(绝对峙大额定伯;fVJ6其他规定，适用于全r:作温度范围。编制详细规范时.任何增加的值可在适叮处给出。最好在本规范寄HO平给:fl1111线。丁数击j 数件;TTL HTL ECL , (I.: 4.1.1 r.作环J;，U吃4.1.2 91:仔且告4.2 屯Jk(l) 一一

5、一一TA Ts 1M小i 扯大i过小x X x X X X 1J: I -J以小-，击欠i v 、x| X GB 5965 -86 条款)司气了|:111Jj划4.2.1 1 l也vhlj_U巨Vcc V EE 4.2.2 1 输入Jll Js V , 4.2.3 1 t-.dH极l/J休tT输入却:11 IJ 的JIlHiVJI 4.2.4 1 输出战IL，?电)仨VO()FF) 4.3 Jlli (注)品4.3.1 1 输入fll流I , 4.3.2 1 输fH山流Io 参数单位X X X x x X X X X X X n，者卡1i_U的HiEY舜态条件下会被超U:.!Jj川utrYJ容

6、许超出的数值和Jt持续时间.5 电工作条件和电特性E!.特性的检验妥求见本规范第8J;/l 0 编制详细剧范时，任何增加的特性可在适当处列出。75间，r到!IftiUI也Ifl;应f儿种器件时，相应的值JiY.连续列出，以避免相同值的重复。故好在规范市10市结H:f111线。5.1 电工作条件n JJtf也剧泣，边HJ于全1，作出应范用。款条;在王y 数数b且，a1 rJ TTL HTL ECL 单位L丁lkl飞/J一问kl豆/JI一一半了5.1.1 X X 5. 1. 2 5.1.3 5.1.4 5.1.5 5. 1.6 5.1.7 I 5.1.8 I 5.2 电特性主7元J他fi二，边Jl

7、JJ二全工作站，U主范围。fl!. l JlU 输入!，IJ山、VJl!.H 输入P，:;1江、1:111110:输入I，:jl叫il丛、V1l!.Ii 输入民间们也、f/IllJ 1; t命Illif&Jf.态rl!.lk输11:1，5Jl!.III G i命IllLf;Il!, 1 I也流V cc V E E V111 p I L V IIIT V ,l,l r() ( FF) lotl 10 r. X X X X X X X X X X X GB 5965-86 特性和条件条款ljaTTL HTL ECL 5.2.1 输出高电平电压川、c一最小JjV r:E (锄2JV 111 CM小J

8、V1!.二().;) lm一CM,;) 1011 , Clil)() CUd先5.2.2 输出1ft:电平电压V cc二CM小V111二CMl、丁10 J. C民j、5.2.3 输出寓阑值电平电压、lt、IJh儿大锁门以ufLrl-344 此二一-r、vvv 飞J大叫以rk V1 !. -524 !输出低阐值电平电EV 1:1二饰i江V1llT l J:过小V11.1批人1负轨l VLt.= 如:立V 1111二(占/J、11.1 CMJ:J 负载5.2.5 I输入钳位电EIIJ17| 5.2.6 I输出截止态电流Vc, 二占主才、i V 111 U;占4、J: 11, .,-c址JIVl)O

9、FF C放I J 5.2.7 I输入高电平电流VCCc. c1以idi Vc(二都t:J口IV F 1; Vj!j 士吵?，j巳J I VII1 一二lV(cIl!JX I V111 三|VliUULJ l i 输入低电平电流倒!立CM:)J 5.2.8 V c c (Jl;: J I V c c最大I V川斗二Cfffli.i二V1I 1 C)、见JI V11.VOLIU. I V IL C4+J 1/1L -Cm江J付习V 011 o vv VOIIT VOL1 V IK lo,orr) IlIl IL 止13:1而 X I X A3 A3 x A3 : A3 X A3 X X 人3X X

10、 X A3 GB 5965 86 规范值I TTL I HTL I ECL I单位i式捡l最恨大!最响大!最响大11 x I x : x 1 x I ; A3 口王符ECL ta ,aeE 条HTL 和11主特TTL 条款号1口三最大v CC -.4. 3 J 0 Z 输出高阻态电流最小1飞1Jll大小大E最最ER见UV rr cc V 111 -VJ二Vo 5.2.10 A马X X ICCII 输出商电平时电嚣电流5.2.11 规定V1二Vcc二最大A3 X ?民1 cc (. 输出低电平时电源电流5.2.12 V, = C规定最大V cc一A3 X 19日电琼电流5.2.13 I VEE

11、:C (额定Aii X X X X X X X X t 11. 11 t I! L 矶、c= c规定V El: = C规定JV 111 (规定JV IL二规定f = C规定q =c C规定t r = C规定t r C规定7VREF=规定负载1V11I = C规定f c, C规定t , = c规定VHECC规定RL=C规定传输时间i Vcc=C额定I V1 L工规定丁q = C规定tr二规定CL=C规定15.2.14 A 、，、X 1T(.l f Tl1 1. 规定J规定J规定规定规定q二f规定丁1，士规定I f = C规定VR川c规定L负载V ,._, CC VE1, V r 11 -, VI

12、.二f 转换时间5.2.15 ;111llll l i 国时|-输传出输态=一同S.2.14条5.2.16 GB 5965-86 6 标志(1;1;首页表栏(本规范第1章给出的资料外，其他特殊资料应在本章给出。)7 订货资料若无其他规定，订购器件至少需要下列资料:a. 准确的M号(需要时，给出额定电压值); b. 详细规范的国家标准编号:C. 质量评定类另IJ;d. 当有关时，有发布号和1/或日期的ICQ详细剧范，e. 其他细节。8 试验条件和检验要求编制详细规范时，下列表中的数值和确切的试验条件，应由器件型号并按有关标准中有关试验的要求而规定:两者择一的试验或试验方法应选取一种。当同一详细规

13、范中规定了几种器件时，相应的条件和(或)数值应连续列出，以避免相同条件和1(或)数值的重复。抽样要求t根据采用的质量评定类别，引用C13 .1fi89 .8，1第:.6. 2款表6和表7的规定。若无其他规定，A组采用AQL抽样方案。JA组一逐批所有试验均为非破坏性的(见GB4589 -R第3.6.6款)。检验或试验|件Al分组| 外部日检| !第:i.1. 1款A2分组| 功能验证| A3分组静态特性l川或A4a分组A4b分组最低工作温度下的静态特性(特性:同A3分组)A5分组动态特性一戎Cll 3141-82 GH 3刊9-82或G B 3416-82或CJB 313)-82或GB 3HO-

14、82戎GB 3141-82 GB 3439-82戎GB 3410-82或GB 3441-82 条件若无其他规定TA=25C(hlGIJ 15附-S，1第4章)按本规范第5.2.1款和5.2. 2款，试验按功能表进行:表中X二按规定l按本规范第5.2.1款至5.2.13款，本规范第10.2条T，J按本规范第4.1. 1款_I，同A3分组TAC按本规范第4.1. 1款J.同A3分组1 叩范础第5.2.11墩阳阳款挝扭至到5款，本规范第10.3条检验要求规范同本规范第5.2.1款和5.2. 2款同本规范第5.2.1款至5.2.13款同A3分组同A3分组同本规范第5.2.11款至5.2.16款GB 5

15、965-86 B组一嚣批标有(D)的试验为破坏性的见GB4589-84第3.6.6款。检验或试验引用文件G其条B他45规8 件无定TA=25C若(见89-84第4章)检验要求规?在-B1分组尺寸GB 4589-84 同木规范第1章第5.2条，附录CB4份组可焊性GB 4590-84第2.5条t安方法b(槽焊法浸润良好B5分组温度快速变化sGB 4590-84 两槽?去非空封器件)第3.2条温度按严格度A(O C -IOO C) 时间按严格度A(tl二351nin，)t2罢王310s或，两籍法(?甚封器件第3.1条温度按本规范第4.1.1款随后进行g加速潮热(D)(非空封器件)GB 4590-8

16、4第3.5条循环次数按严格度D(6次试验后测量I(同A2和A3分组)问A2和A3分组同A2和A3分组或g密封空封器件GB 4590-84 t去规足第3.12条和3.13条88份组也耐久性(168h) GB 4590-84 平均功耗为详细规范允许的最第4.7条大值，此时TA为详细规范允许的最大值，在上两条件下，电源电压为详细规范允许的最大值。同A2和A3分组，在96h内测完同A2平日A3分组试验后测量g(同A2和A3分组CRRL分组| 就B4、B5和B8提供计数检查结果C组一周期标有(D)的试验为破坏性的(见GB4589-84第3.6.6款)。检验或试验引用文件若见YlGj具B条他45规89定-

17、T8A4件二25C 检验要求规市第4章Cl份组尺寸GB 4589-84 同*-规范第l幸第5.2条，附录CCZb分组最高手口;最低工作温度下的动态GB 3439-82或TA按本规范第4.1.1款J，同AS分组特性GB 3440-82或同A5分组特性s同A5分组GB 3441-82 GB 5965-86 续表检验或试验引用文件若见无G其条B他4规58定9-TA8件4=第25t 检验要求规范(JX!.Gtl 4589-844章C3分组引线强度gGB 4590-84 弯曲(D)第2.2条按规定无损伤拉力(D)(仅对扁平封装第2.1条按规定无损伤C4分组耐焊接热(D)GB 4590-84 按方法A(2

18、60t槽焊第2.6条试验后测量，(同A2和A3分组)同A2和A3分组同A2和A3分组C6分组恒定加速度空封器件GB 4590-84 按规定第2.10条试验后测琶I(司A2和A3分组)同A2和A3分组同A2和A3分组C7分组稳态温热(D)(11空封器件)GB 4590-84 按严格度A(温度85:!:2t，相军3.7条对湿度80%-90%)试验后测量I(同A2和A3分组)同A2和A3分组同A2和A3分组C8分组电耐久性(1000的GB 4590-84 饲B8分组第4.7条试验后测量I(同A2和A3分组同A2和A3分组，在96h内测完同A2和A3分组C9分组高温贮存(0)GB 4590-84 10

19、00h，温度按本规范第3.3条第4.1.2款试验后测量，(!j,j AZ和A3分组同A2和A3分组同A2和A3分组C门分组标志耐久性GB 4590 84 按规定第4.3条CRRL分组就C4、C6、C7、C8和C9提供计数检查结果9 0组一鉴定批准当百要时，在详细规范中规定。检验或试验引用文件:若见无G其B条他45规89定-T8A4 件= 25t 检验要求规沱第4章)D8分组电耐久性(主g川)GB 4590-84 同B8分组m1 3000h B第44.7条，GB 4589-84 第3.6.1.5项GB 1881一10 附加资料10.1 (仅当器件规范和使用需要时才提供，例如，a. 有关规范值的温

20、度衰减曲线，b. 详细外形图。10.2 静态特性的测量【与GB4589-84、GB3439-82或GB3440-82或GB3441-82不同的特殊资料在此处列出o) 10.8 动态精性的测量10.3.1 基本测试线路在详细规范中规定。10.8.2 负载线路【在详细规范中规定。310.4 电耐久幢负戴罐踏C在详细规范中规定。10.5 电嚣崛声电压10.8 输入负戴系融10.7 输出电害10.8 操作注意11 型哥说明11.1 逻.符号和理帽圄11.2 功能襄GB 5965-86 附最A本规范适用的有关文件(参考件GB 4589.1-84 (半导体集成电路总规范GB 4590-84 (半导体集成电路机械和气候试验方法GB 3439-82 (半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理GB 3440-82 (半导体集成电路HTL电路测试方法的基本原理PGB 3441-82 (半导体集成电路ECL吨且路测试方法的基本原理b附加说明z本标准由中华人民共和国电子工业部提出。本标准由全国集成电路标准化技术委员会基础分会和数字电路分会共同负责起草本标准主要起草人孙仁杰、童本敏。