GB T 15972.50-2008 光纤试验方法规范.第50部分 环境性能的测量方法和试验程序.恒定湿热.pdf

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1、lCS 3318010M 33 a雪中华人民共和国国家标准GBT 1 5972502008部分代替GBT 1597251998光纤试验方法规范第50部分：环境性能的测量方法和试验程序恒定湿热Specifications for optical fibre test methods-Part 50：Measurement methods and test procedures for environmentalcharacteristics-Damp heat(steady state)(IEC 60793150：2001，Optical fibres-Part 1-50：Measurement

2、 methodsand test procedures-Damp heat(steady state)，MOD)2008-0410发布 2008-1 101实施宰瞀嬲鬻瓣訾糌瞥星发布中国国家标准化管理委员会厘19GBT 1597250-2008前言1范围2规范性引用文件3试验装置4试样和试样制备5试验程序6合格判定标准7结果目 次1223刖 罱GBT 15972502008GBT 15972光纤试验方法规范由若干部分组成，其预期结构及对应的国际标准和代替的国家标准为：第10部分第19部分：测量方法和试验程序总则(对应IEC 60793110至IEC 60793119；代替GBT 1597211

3、998)；第zo部分第29部分：尺寸参数的测量方法和试验程序(对应IEC 60793一l一20至IEC 60793-1-29；代替GBT 1597221998)；第30部分第39部分：机械性能的测量方法和试验程序(对应IEC 60793一卜30至IEC 60793-139；代替GBT 1597231998)；第40部分第49部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程序(对应IEC 60793140至IEC 60793149；代替GBT 1597241998)；第50部分第59部分：环境性能的测量方法和试验程序(对应IEC 60793150至IEC 60793-159；代替GBT 1597251

4、998)。其中GBT 159725由以下部分组成：第50部分：环境性能的测量方法和试验程序恒定湿热；第51部分：环境性能的测量方法和试验程序干热；第52部分：环境性能的测量方法和试验程序温度循环；第53部分：环境性能的测量方法和试验程序浸水；第54部分：环境性能的测量方法和试验程序伽玛辐照。本部分为GBT 15972的第50部分。本部分修改采用国际电工技术委员会标准IEC 60793150：2001光纤第150部分：测量方法和试验程序湿热(稳态)(英文版)。本部分与1EC 60793150：2001主要差异如下：适用范围由Ala至Ald类光纤改为A类光纤，B1至B4类光纤改为B类光纤最小弯曲直

5、径150 Film改为绕圈直径应大于150 mm；在进行基准测量前应使试验箱和试样稳定在标准大气条件下改为稳定在GBT 1597210一2008规定的标准大气条件下；在试验前后要对光纤涂覆层平均剥离力迸行测量改为对光纤涂覆层剥离力进行测量；纠正了某些不恰当的叙述。为了便于使用，对IEC 60793150：2001本部分还做了下列编辑性修改：按照我国标准的编排格式和表述要求，对一些内容安排做了调整，删除“第8章”；“IEC 60793的本部分”改为“GBT 15972的本部分”；对于IEC 60793-150应用的其他国际标准中有被修改采用为我国标准的，GBT 1597250引用我国的这些国家标

6、准或行业标准代替对应的国际标准。本部分由中华人民共和国信息产业部提出。本部分由中国通信标准化协会归口。本部分起草单位：武汉邮电科学研究院。本部分主要起草人：陈永诗、李海清、刘泽恒、程淑玲。本部分为第一次修订，它与GBT 159725其他部分一起代替GBT 1597251998。1范围光纤试验方法规范第50部分：环境性能的测量方法和试验程序恒定湿热GBT 15972502008GBT 15972的本部分规定了评估光纤在给定环境中湿热性能的测量方法和试验程序。本部分适用于确定A1类多模光纤和B类单模光纤在实际应用、贮存和(或)运输过程中可能发生的高温高湿度环境条件下的适应性能。注：该试验对其他类型

7、光纤的适用性在研究中。2规范性引用文件下列文件中的条款通过GBT 15972的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。GBT 242332006电工电子产品环境试验第2部分：试验Cab：恒定湿热试验(IEC 60068278：2001)GBT 1597210 2008 光纤试验方法规范 第10部分：测量方法和试验程序总则(IEC607931-1：2002，Optical fibres-Part 1-1：

8、Measurement methods and test procedures-General andguidance，MOD)GBT 15972322008光纤试验方法规范第32部分：机械性能的测量方法和试验程序涂覆层可剥性(1EC 60793132：2001，Optical fibres-Part 1-32：Measurement methods and test procedures-Coating strippability，MOD)GBT 1597240 2008光纤试验方法规范第40部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程序衰减(IEC 60793-140：2001，Optiea

9、l fibres Part 140：Measurement methods and test procedures AttenuationMOD)3试验装置31试验箱根据GBT 242332006中试验ca，试验装置包括一个环境试验箱。试验箱的大小应能够容纳试验样品和便于条件调节时的测量，它也能够维持规定的温度和湿度值在规定的容差内，可用空气循环维持试验箱内的均匀条件，同时，试验箱和相关附件的安置方式应避免凝结水滴落到试样上。32湿度调节器采用软化水或去离子水调节所需要的湿度，应没有生锈或腐蚀污染对试验设备中试样产生影响。给湿度调节器加水应按照操作说明书进行控制。33其他装置需要完成试验和测量

10、所必须的其他装置(如详细规范中规定的装置)。4试样和试样制备为达到所要求的衰减测量重复性，光纤试样长度，对A1类光纤应至少为1 000 m，对B类光纤应至】GBT 15972502008少为2 000 ITI。暴露在试验箱外面的光纡应尽可能短，如果暴露在外面的部分超过试样总长度的10，则宜记录说明。在试样的准备过程中不应有在测量环境下给光纤造成危害的影响。除非在详细规范中另有规定，建议将光纤试祥松绕，并且在试样光纤上涂一层例如滑石粉的材料使光纤问可自由滑动。将试样垂直或水平放置，为避免任何宏弯影响，绕圈直径应大于150 mm。如果试样涂有滑石粉，那么在试验环境中应有一段未涂滑石粉的光纤，该段光

11、纤的长度应足够长，使得能够在试验前和试验后便于进行任何物理检验。为了完成所要求的与试验后机械性能对比测量，进行对比测量样品长度在试验前应移去。用于机械性能对比测量的光纤上不应涂滑石粉。5试验程序51试验条件试验过程应遵循GBT 242332006中方法Ca，试验温度、湿度和试样放置时间见表1。表1试验温度、湿度和试襻放置肘问l 温度 相对湿度 试样放置时间I +ss +85 30 d52测量521传输特性测量在试验开始前，试验过程中(当试样稳定在规定温度和相对湿度条件下)和试验结束后都要对试样的衰减进行测量。测量方法和试验程序按照GBT 1597240-2008的规定，应记录衰减的变化量。注：

12、如果采用截断挂(GBT1597240-2008方法A)，则应注意记录一系列测量中截断的长度；如果采用插入损耗法(GBT 1597240一z008方法B)，则应证明整个过程中连接的稳定性；如果采用方法C(GBT 15972402008方法c)，则应注意确保结果的不漂移性；G13T1597240-2008方法D不可采用。522机械性能测量在试验前后都要对光纤涂覆层剥离力进行测量，用来评估涂覆层可剥特性的变化，测量方法和试验程序按照GBT 15972322008的规定。53预处理如有要求，试样应按照详细规范进行预处理。54条件调节在进行基准测量前应使试验箱和试样稳定在GBT 1597210一2008

13、规定的标准大气条件下。按照规定的严酷度调整试验箱的温度和湿度，使试样温度达到稳定，并在规定期间内维持该温度和湿度不变。试验完成后，让试样继续保留在试验箱内，直到试验箱温度降到标准大气条件。在最长5 rain时间内，平均降温速度应不超过1min。详细规范可要求在条件调节期问进行测量，如有此要求，详细规范应规定什么时候，进行哪些方面的测量，在做这些测量时不应将试样移出试验箱。55恢复如果没有特殊要求，试样应在标准大气条件下恢复12 h以上，但不得超过48 h。详细规范可要求在恢复阶段进行测量，如有此要求，详细规范应规定什么时候，进行哪些方面的测量。6合格判定标准试验前后衰减变化和剥离力变化的相关要求按有关产品规范的规定。27翁果71试验结果报告应包括下列内容：试验名称；试样识别号；试样长度；测量波长；衰减测量变化；剥离力测量变化；试验日期和操作人员。72根据要求报告中也可包括下列内容对关键测量装置的描述；合格判据；应报告的信息；应用程序中出现的任何偏差。GBT 1597250-2008